JPS5884404A - 薄膜サ−ミスタ - Google Patents
薄膜サ−ミスタInfo
- Publication number
- JPS5884404A JPS5884404A JP56182066A JP18206681A JPS5884404A JP S5884404 A JPS5884404 A JP S5884404A JP 56182066 A JP56182066 A JP 56182066A JP 18206681 A JP18206681 A JP 18206681A JP S5884404 A JPS5884404 A JP S5884404A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- film thermistor
- temperature
- shielding plate
- support container
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、温度を検出すべき対象物と機械的に接触して
温度を検出するサーミスタ、たとえば鍋 、物調理をす
る際・鍋底を通して鍋内部4理物の 2 ページ 温度を検出するサーミスタに関するものである。
温度を検出するサーミスタ、たとえば鍋 、物調理をす
る際・鍋底を通して鍋内部4理物の 2 ページ 温度を検出するサーミスタに関するものである。
従来、この種温度検出は第1図に示す如く鍋底1に高速
応答性薄膜サーミスタを機械的に接触させることによっ
てなされてきた。この高速応答性薄膜サーミスタは平板
状セラミック絶縁基板2の一方の表面に電極膜3と感温
抵抗体膜4とを形成して成る薄膜サーミスタチップと支
持容器6とをチタニウム(Ti)箔6もしくはジルコニ
ウム(Zr)箔6を介してロウ材層7で接続し、さらに
絶縁性被覆剤8で薄膜サーミスタチップを被覆して構成
される。なセ、リード線11は電極膜3と接続されてい
る。この高速応答性薄膜サーミスタは、熱容量の小さな
薄膜サーミスタチップと支持容器6とをロウ付接続して
いるので、鍋底1から感温抵抗体膜4に至る熱抵抗が小
さい。この結果1.高速応答性が得られる。通常、鍋物
調理の際に求められる応答性は、90チ応答時間(室温
T1℃に保たれたサーミスタに温度T′2℃の鍋底1が
突然機械的に接触したときを起点にして、サーミスタ温
度がT、 + o、e (T2−丁、)℃に到達するに
必要3 ベー) な時間)にして約8秒以下であることが要求される。こ
の高速応答性薄膜サーミスタの9o%応答時間は、絶縁
性被覆剤8がない場合3〜6秒であった。しかし、絶縁
性被覆剤8を形成した場合、90俤応答時間は相対的に
遅く、かつそのばらつきも大きくなり、4〜10秒にな
るという欠点があった。90チ応答時間が相対的に遅く
なることは絶縁性・被覆剤8の熱容量に起因するので、
技術的に避けられない。他方9o%応答時間の大小は絶
縁性被覆剤8の塗布量の大小、すなわち、熱容量の大小
に対応するので、絶縁性被覆剤8の塗布量を一定量に制
御することにより、そのばらつきを小さくすることが可
能である。しかし、従来の高速応答性薄膜サーミスタで
は、構造上絶縁性被覆剤8の塗布量を一定量に制御する
ことは困難であった。すなわち、この種絶縁性被覆剤8
は、通常、一定粘度の流動体、たとえば硝子粉末と有機
バインダーを混合したスラリーを塗布したのち硬化する
という過程を経て形成されるが、流動体が流れるために
薄膜サーミスタチップを完全に被覆し、かつその塗布量
を一定量に制御することは困難であった。
応答性薄膜サーミスタを機械的に接触させることによっ
てなされてきた。この高速応答性薄膜サーミスタは平板
状セラミック絶縁基板2の一方の表面に電極膜3と感温
抵抗体膜4とを形成して成る薄膜サーミスタチップと支
持容器6とをチタニウム(Ti)箔6もしくはジルコニ
ウム(Zr)箔6を介してロウ材層7で接続し、さらに
絶縁性被覆剤8で薄膜サーミスタチップを被覆して構成
される。なセ、リード線11は電極膜3と接続されてい
る。この高速応答性薄膜サーミスタは、熱容量の小さな
薄膜サーミスタチップと支持容器6とをロウ付接続して
いるので、鍋底1から感温抵抗体膜4に至る熱抵抗が小
さい。この結果1.高速応答性が得られる。通常、鍋物
調理の際に求められる応答性は、90チ応答時間(室温
T1℃に保たれたサーミスタに温度T′2℃の鍋底1が
突然機械的に接触したときを起点にして、サーミスタ温
度がT、 + o、e (T2−丁、)℃に到達するに
必要3 ベー) な時間)にして約8秒以下であることが要求される。こ
の高速応答性薄膜サーミスタの9o%応答時間は、絶縁
性被覆剤8がない場合3〜6秒であった。しかし、絶縁
性被覆剤8を形成した場合、90俤応答時間は相対的に
遅く、かつそのばらつきも大きくなり、4〜10秒にな
るという欠点があった。90チ応答時間が相対的に遅く
なることは絶縁性・被覆剤8の熱容量に起因するので、
技術的に避けられない。他方9o%応答時間の大小は絶
縁性被覆剤8の塗布量の大小、すなわち、熱容量の大小
に対応するので、絶縁性被覆剤8の塗布量を一定量に制
御することにより、そのばらつきを小さくすることが可
能である。しかし、従来の高速応答性薄膜サーミスタで
は、構造上絶縁性被覆剤8の塗布量を一定量に制御する
ことは困難であった。すなわち、この種絶縁性被覆剤8
は、通常、一定粘度の流動体、たとえば硝子粉末と有機
バインダーを混合したスラリーを塗布したのち硬化する
という過程を経て形成されるが、流動体が流れるために
薄膜サーミスタチップを完全に被覆し、かつその塗布量
を一定量に制御することは困難であった。
90チ応答時間が8秒以上になると鍋物調理の温度制御
には使用できないので、絶縁性被覆剤8の塗布量の大き
いものは歩留りの低下、価格の上昇などの欠点も派生し
た。
には使用できないので、絶縁性被覆剤8の塗布量の大き
いものは歩留りの低下、価格の上昇などの欠点も派生し
た。
本発明はこれら従来の欠点を解消するもので、温度応答
硅のバラツキの低減化を図ることを目的とする。
硅のバラツキの低減化を図ることを目的とする。
本発明は、この目的を達成するために、平板状セラミッ
ク絶縁基板の一方の表面に電極膜と感温抵抗体膜とを形
成して成る薄膜サーミスタチップと支持容器とをT1箔
もしくはZr箔を介在させて両者をロウ材層でロウ付接
続し、前記薄膜サーミスタチップの周辺を取り囲む如く
遮へい板を前記支持容器に設けるとともに、この取り囲
まれた領域内において前記薄膜サーミスタを絶縁性被覆
剤で被覆したものである。このように構成しているので
、絶縁性被覆剤を形成する際、一定粘度の流動体を塗布
しても遮へい板に妨げられて、流動体5 べ− が遮へい板を越えて流れないようにでき、塗布量を一定
量に制御できるようにしたものである。
ク絶縁基板の一方の表面に電極膜と感温抵抗体膜とを形
成して成る薄膜サーミスタチップと支持容器とをT1箔
もしくはZr箔を介在させて両者をロウ材層でロウ付接
続し、前記薄膜サーミスタチップの周辺を取り囲む如く
遮へい板を前記支持容器に設けるとともに、この取り囲
まれた領域内において前記薄膜サーミスタを絶縁性被覆
剤で被覆したものである。このように構成しているので
、絶縁性被覆剤を形成する際、一定粘度の流動体を塗布
しても遮へい板に妨げられて、流動体5 べ− が遮へい板を越えて流れないようにでき、塗布量を一定
量に制御できるようにしたものである。
以下本発明の一実施例について第2図により説明する。
第2図において前述と同番号は同部材を示し、9は遮へ
い板で、この遮へい板9は薄膜サーミスタチップの周辺
を取り囲む如く支持容器6に設けられ、かつ、この取り
囲まれた領域内において薄膜サーミスタチップが絶縁性
被覆剤8で被覆されている。
い板で、この遮へい板9は薄膜サーミスタチップの周辺
を取り囲む如く支持容器6に設けられ、かつ、この取り
囲まれた領域内において薄膜サーミスタチップが絶縁性
被覆剤8で被覆されている。
この構成による温度応答性について説明すると応答時間
の大小は絶縁性被覆剤8の塗布量の大小に対応してほぼ
決まり、薄膜サーミスタチップの表面上より約1襲の厚
さに絶縁性被覆剤8を形成したとき、90%応答時間に
して約4〜7秒であった。このとき薄膜サーミスタチッ
プには、アルミナ基板2 (1,8111WX6.5f
iLX0.5語t)の一方の表面にAu −Pt厚膜電
極膜3とSiこ、感温抵抗体膜4を形成したものが用い
られ、また支持容器6と遮へい板9の材質は5US−4
30板(厚さo、4m’)で、遮へい板9は支持容器5
にスポラ6 ・・ ゛ ト溶接で固定されている。薄膜サーミスタチップと支持
容器6とはTi箔7を介して銀ロウ材層7によりロウ付
接続されている。絶縁性被覆剤8には、低融点硝子、た
とえば軟化点636℃のZnO−B、、03−5in2
系硝子、あるいはアルミナ質系被覆剤、たとえば
液性加熱硬化型のアルミナを主成分とするペースト、な
どが用いられる。このようにして構成したサーミスタは
、前述の如く4〜7秒の90係応答時間が得られるとと
もに優れた安定性が得られた。すなわち、空気中sso
℃で1oOo時間放置後、あるいは空気中360℃、1
6分←室温、15分のヒートサイクルを3000サイク
ル印加後、空気中70℃で相対湿度eo%以上の雰囲気
中に1000時間放置後、抵抗値変化率は±3チ以下で
あった。
の大小は絶縁性被覆剤8の塗布量の大小に対応してほぼ
決まり、薄膜サーミスタチップの表面上より約1襲の厚
さに絶縁性被覆剤8を形成したとき、90%応答時間に
して約4〜7秒であった。このとき薄膜サーミスタチッ
プには、アルミナ基板2 (1,8111WX6.5f
iLX0.5語t)の一方の表面にAu −Pt厚膜電
極膜3とSiこ、感温抵抗体膜4を形成したものが用い
られ、また支持容器6と遮へい板9の材質は5US−4
30板(厚さo、4m’)で、遮へい板9は支持容器5
にスポラ6 ・・ ゛ ト溶接で固定されている。薄膜サーミスタチップと支持
容器6とはTi箔7を介して銀ロウ材層7によりロウ付
接続されている。絶縁性被覆剤8には、低融点硝子、た
とえば軟化点636℃のZnO−B、、03−5in2
系硝子、あるいはアルミナ質系被覆剤、たとえば
液性加熱硬化型のアルミナを主成分とするペースト、な
どが用いられる。このようにして構成したサーミスタは
、前述の如く4〜7秒の90係応答時間が得られるとと
もに優れた安定性が得られた。すなわち、空気中sso
℃で1oOo時間放置後、あるいは空気中360℃、1
6分←室温、15分のヒートサイクルを3000サイク
ル印加後、空気中70℃で相対湿度eo%以上の雰囲気
中に1000時間放置後、抵抗値変化率は±3チ以下で
あった。
なお、遮へい板9と支持容器6とは同一材質でTi 、
Zr 、 5US−430の郡から選ばれた一種であ
ることが望ましい。この理由は、遮へい板9は薄膜サー
ミスタチップの周辺を取り囲む如く支持容器6に固定さ
れるとき、溶接法で固定されるこ7ノN− とが最っとも容易であるが、溶接には両者とも同一材質
であることが溶接性の点で優れているからである。また
薄膜サーミスタチップの平板状セラミック基板2には、
アルミナ基板がよく用いられる。支持容器6の熱膨張係
数は、平板状セラミック基板2、すなわちアルミナ基板
の熱膨張係数と類似の値であることが望ましく、この点
で支持容器6の材質はTi 、 Zr 、 5US−4
30の郡から選ばれた1種が望ましい。
Zr 、 5US−430の郡から選ばれた一種であ
ることが望ましい。この理由は、遮へい板9は薄膜サー
ミスタチップの周辺を取り囲む如く支持容器6に固定さ
れるとき、溶接法で固定されるこ7ノN− とが最っとも容易であるが、溶接には両者とも同一材質
であることが溶接性の点で優れているからである。また
薄膜サーミスタチップの平板状セラミック基板2には、
アルミナ基板がよく用いられる。支持容器6の熱膨張係
数は、平板状セラミック基板2、すなわちアルミナ基板
の熱膨張係数と類似の値であることが望ましく、この点
で支持容器6の材質はTi 、 Zr 、 5US−4
30の郡から選ばれた1種が望ましい。
以上の説明から明らかなように本発明の薄膜サーミスタ
によれば次の効果が得られる。
によれば次の効果が得られる。
(1)薄膜サーミスタチップの周辺を取り囲む如く遮へ
い板を支持容器に設け、この取り囲まれた領域内におい
て薄膜サーミスタチップを絶縁性被覆剤で被覆している
ので、絶縁性被覆剤の塗布量を一定に維持することが容
易であり、温度応答性のバラツギの低減化が容易となる
。
い板を支持容器に設け、この取り囲まれた領域内におい
て薄膜サーミスタチップを絶縁性被覆剤で被覆している
ので、絶縁性被覆剤の塗布量を一定に維持することが容
易であり、温度応答性のバラツギの低減化が容易となる
。
(2)少量の絶縁性被覆剤でもって薄膜サーミスタチッ
プの水、はこシに対して、また外部応力に対する保護の
役目を十分に果す。
プの水、はこシに対して、また外部応力に対する保護の
役目を十分に果す。
第1図は従来の高速応答性薄膜サーミスタを模式的に示
した断面図、第2図は本発明の高速応答性薄膜サーミス
タの一実施例を模式的に示す断面図である。
した断面図、第2図は本発明の高速応答性薄膜サーミス
タの一実施例を模式的に示す断面図である。
1・・・・・・鍋底、2・・・・・・平板状セラミック
絶縁基板、3・・・・・・電極膜、4・・・・・・感温
抵抗体膜、6・・・・・・支持容器、6・・・・・・T
i箔もしくはZr箔、7r・・・・・ロウ材層、8・・
・・・・絶縁性被覆材、9・・・・・・遮へい板。11
・・・・・・リード線。
絶縁基板、3・・・・・・電極膜、4・・・・・・感温
抵抗体膜、6・・・・・・支持容器、6・・・・・・T
i箔もしくはZr箔、7r・・・・・ロウ材層、8・・
・・・・絶縁性被覆材、9・・・・・・遮へい板。11
・・・・・・リード線。
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名lI
1図
1図
Claims (1)
- (1)平板状セラミック絶縁基板の一方の表面に電極膜
と感温抵抗体膜とを形成して成る薄膜サーミスタチップ
と支持容量とをチタニウム(Ti)箔もしくはジルコニ
ウム(Zr)箔を介在させて両者をロウ付接続し、前記
薄膜サーミスタチップの周辺を取り囲む如く遮へい板を
前記支持容器に設けるとともに、この取シ囲まれた領域
内(2)遮へい板と支持容器とは同一材質で、Ti。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56182066A JPS5884404A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 薄膜サ−ミスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56182066A JPS5884404A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 薄膜サ−ミスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5884404A true JPS5884404A (ja) | 1983-05-20 |
| JPS6252926B2 JPS6252926B2 (ja) | 1987-11-07 |
Family
ID=16111747
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56182066A Granted JPS5884404A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 薄膜サ−ミスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5884404A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202501A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜サ−ミスタ |
| JPS62219502A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-26 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜サ−ミスタ |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01129411A (ja) * | 1987-11-16 | 1989-05-22 | Fujitsu Ltd | ウェーハ処理装置 |
| KR102455392B1 (ko) | 2018-07-30 | 2022-10-14 | 삼성전자주식회사 | 세정수 처리 장치, 플라즈마 리액션 탱크 및 세정수 처리 방법 |
-
1981
- 1981-11-12 JP JP56182066A patent/JPS5884404A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202501A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜サ−ミスタ |
| JPS62219502A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-26 | 松下電器産業株式会社 | 薄膜サ−ミスタ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6252926B2 (ja) | 1987-11-07 |
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