JPS5890177A - 基準電圧回路 - Google Patents

基準電圧回路

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JPS5890177A
JPS5890177A JP56188843A JP18884381A JPS5890177A JP S5890177 A JPS5890177 A JP S5890177A JP 56188843 A JP56188843 A JP 56188843A JP 18884381 A JP18884381 A JP 18884381A JP S5890177 A JPS5890177 A JP S5890177A
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Hideji Koike
秀治 小池
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Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/28Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/247Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the supply voltage
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
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    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/14Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature
    • H03K17/145Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature in field-effect transistor switches

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 この発明4−、l:基準電圧を発生する基準γに正目路
に関する。
発明の技術的背景 従来、集積回路内部の基準電用回路として、第1図に示
すようt「抵抗分割による基準電正目路が用いられてい
た。
背景技術の問題点 しかしながら、従来の回路は、電源電圧Vccの変動に
より基準電、圧VREFが変動するため、広い電源電圧
範囲における基準電圧回路としては適していない。
発明の目的 発生し得る基準電圧回路全提供することにある。
発明の概要 この発明は、一端が接地され、かっ他端が基準電圧端子
に接続され念第1の負荷と、一端が電源電圧91M子に
接続され、かっ他端が基準電圧端子に接続された第2の
負−荷と、ドレインが前記基準電圧端子に接続されると
共にソースが接地され、かつダートが前記電源電圧端子
に接続されたMO8型電界効果トランジスタとからなる
基準電圧回路であり、前記基準電圧端子から得られる基
準電圧は電源電圧の変動の影響を受狩ることがない。
発明の実施例 以下、図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。
第2図において、1ノは電源電圧Vccが供給される電
源電圧端子、12は基準電圧VREFが得られる基準電
圧端子である。基準電圧端子12と接地間には抵抗R0
が接続されている。電源電圧端子1ノと基準電圧端子1
2との間には抵抗R7が接続されている。また、1st
dエンハンスメント型のNチャンネルMO8(Meta
l0xideSem1conductor)型電界効果
トランジスタであり、このトランジスタ13のドレイン
は基準電圧端子12に接続されると共にソースは接地さ
ネ2、かつゲートは電源電圧端子1ノに接続されている
上記のような回路構成において、電源電、圧Vccが△
Vccだけ増加したとすると、抵抗R2を流れる電流I
、の増加分△工、け、 △Vcc ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(1)△
I2=■尤。
となる。
一方、基準電圧VREF=一定とし、抵抗R1を流れる
電流■、の増加分を△工1とすると、△■、二〇である
また、トランジスタ13のしきい値をVTとし、V(I
CVT>VREFとすると、トランジスタ13は三極管
動作をしており、トランジスタ13VC流れる電流■3
は次式で与えられる。
ここで、W:トランジスタ13のダート幅、L:トラン
ジスタ13のケ9−ト長、ε。X:ブート酸化膜の誘電
率、toX:)f′−ト酸化膜の厚さ、μ:移動度であ
る。
従って、電流工、の増加分△■3は1 、QL △’”””、3Vcc’△Vcc−βVREF△Vcc
−−(4)となる。寸だ、 △I2粘I、+△L・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・f51である。従って、(4)、(5)式よ
り”−W°゛°°“°°°°°°゛°°゛°゛°゛゛°
°(6)が得られる。
以上のことから、抵抗R1の値を式(6)のように設定
すれば、基準電圧VTIEFを電源電圧Vccに依存し
ないようにできることが解る。
また、抵抗R1の値は、基準電圧VREF%抵抗R2、
トランジスター3のβ、VT等から一意的に定まる。す
なわち、 I、=I、−I。
・・・・・・(7) 1、=hユ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・(8)R。
(71,(8)式から ・・・・・・(9) が成立する。従って、R1の値は(9)式から定まZ)
このように第2図の回路においては、抵抗R0゜R2の
値をそれぞれ(6)式、(9)式のように設定すること
により、電源電圧Vccの変動に影響されることのない
基準電圧vREF’(r得ることができる。
第3図は他の実施例を示すもので、第2図の抵抗R,の
代りに、ダートがドレインに接続されたエンハンスメン
ト型のNチャンネルMO8型電界効果トランジスタ14
を用いたものである。この回路も第2図の回路と同様に
、抵抗R2とトランジスタ13との間には(6)式の関
係が成立する。また、トランジスタ14の大きさは、基
準電圧vRPFs抵抗R2、トランジスター3の定数β
の値から一意的に定まる。
第4図はさらに他の実施例を示すもので、第3図の抵抗
R2の代りに、ケ゛−トがドレインに接続されたエンハ
ンスメント型のNチャンネルMO8m電界効果トランジ
スタ15を用いたものである。第4図の回路では(6)
式の関係は成立しない。しかし、トランジスタ15を線
形抵抗で近似することにより、(6)式と同様の関係式
を樽極ことができる。すなわち、トランジスタ15を流
れる電流■2け、電源電圧VCCの関数であるので、ト
ランジスタ15の微分抵抗r2は、で与えられる。但し
、Voは一定電圧で、通常5■である。
ここで、vcc=Voのどきのr2をR2とみなすと、
(611(1,0)式から、 なる関係式を得る。
01)式は、抵抗R7が非線形抵抗である場合に一般に
成立つ関係式であって、電源電圧Vccの変動幅が比較
的小さい場合にのみ有効である。
尚、上記第2図乃至第4図の実施例においては、基準気
圧端子と接地間に接続されるトランジスタをNチャンネ
ルMO8)ランジスタ13としたが、電源電圧Vccが
負の場合にはPチャンネルMOSトランジスタとすれば
よい。
また、第3図及び第4図の実施例において、負荷として
、ケ9−トがドレインに接続されたエンハンスメント型
のMDS)ランジスタ14゜tた第2図の実施例におい
て、抵抗R8が無限大になると、電流■、二〇となり、
R1は不要となる。
発明の効果 以上のようにこの発明によれば、広い電源電圧範囲に渡
って、一定な基準電圧を発生し得る基準電圧回路全提供
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の基準電圧回路の構成図、第2図はこの発
明の一実施例に係る基準電圧回路の構成図、第3図はこ
の発明の他の実施例に係る回路構成図、第4図はこの発
明のさらに他の実施例に係る回路構成図であZ)。 1ノ・・・電源電圧端子、12・・・基準電圧端子、1
3・・・エンハンスメント型NチャンネルMOSトラン
ジスタ、14.15・・・エンハンスメント型Nチャン
ネルMO8+−ランジスタ(負荷)、IRI−T’tt
・・・抵抗(負荷)。 出願人代理人弁理士鈴江武彦 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)一端が接地され、かつ他端が基準電圧端子に接続
    された第1の負荷と、一端が電源電圧端子に接続され、
    かつ他端が基準電圧端子に接続された第2の負荷と、ド
    レインが前記基準電圧端子に通続されると共にソースが
    接地され、かつダートが前記電源電圧端子に接続された
    MO8型電界効果トランジスタとを具備したこと全特徴
    とする基準電圧回路。 (2)前記@1の負荷は第1の抵抗であり、第2の負荷
    は第2の抵抗である特許請求の範囲第1項記載の基準電
    圧回路。 (3)前記第1の負荷はr−1がドレインに接続された
    エンハンスメント型電界効果トランジスタであり、前記
    第2の負荷は第2の抵抗である特許請求の範囲第1項記
    載の基準電圧回路。 (4)前記第1の負荷はp−)がソースに接続されたデ
    プリーション型電界効果トランジスタであり、前記第2
    の負荷は第2の抵抗である特許請求の範囲第1項記載の
    基準電圧回路。 (4)前記第2の抵抗の抵抗値R1、前記M6S型電界
    効果トランジスタの定数β、及び前記基準電圧端子から
    イ:Iられる基準電圧VREFの間に、 W:MO3型電界効果トランジスタのダート幅 L:MO8型電界効果トランジスタのデート長 εOX:MOS型電界効果トランジスタのダー)・酸化
    膜の誘電率 tox:MO8型電界効果トランジスタのダート酸化膜
    厚 μ:移動度 の関係式が成立する特許請求の範囲第2項、第3項又は
    第4項記載の基準電圧回路。 (6)前記第1の負荷及び第2の負荷は、それぞれf−
    )がドレインに接続されたエンハンスメント型のMO8
    型電界効果トランジスタである特許請求の範囲第1項記
    載の基準電圧回路。 (力前記第1の負荷及び第2の負荷は、それぞれデート
    がソースに接続されたデシリージョン型のMO8型電界
    効果トランジスタである特許請求の範囲第1項記載の基
    準電圧回路。 (8)前記電源電圧端子と前記基準電圧端子との間に接
    続された非線形素子の微分抵抗r2、前記MO8型電界
    効果トランジスタの定数β、及び前記基準電圧端子から
    得られる基準電圧VREFの間に、 3==辷 W:MO8型′T匠界効果トラン・ゾスタのダート幅 L:MOS壓電界効果トランジスタのr−ト長 ε。え:MO8型電界効果トランジスタのダート酸化膜
    の誘電率 tox:MO8型電界効果トランジスタのゲート酸化膜
    厚 μ:移動度 ■、:非線形素子を流れる電流 Vcc:電源電圧 の関係式が成立する特γFMat求の範囲第6項又は第
    7項記載の基準電圧回路。
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