JPS5890193A - 電子時計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

ものであり、その精度を長期に渡って紹持するような時
計の改良に関するものである。 従来、水晶振動子を用いた電子時計は比較的精度が良く
、月差で数秒、又年間誤差としても数１０秒程度のもの
が提供されてし・る。 しかＩ〜ながら、年間の誤差を１秒以内に高精度化する
ことは限られたスペースの電子時計では困難とされてい
た。 この理由として、ウォノチ用として普及しているＸＹタ
イプ水晶振動子を屈曲音叉振動子として用（・た場合と
、クロノク用として普及しているＡ′ｖカノト水晶振動
子の厚み滑り振動を用いた場合について、次の要因があ
げられる。 （］）ＸＹタイプの３２ＫＦＩｚ台の水晶振動子は、非
常にバラツキの少ない２次曲線的な周波数温度特性を有
するため温度補償機能を付加することでその温度特性を
比較的広い温度範囲にわたり良好なものとすることは可
能であるが、振動子の長期にわたるエージング特性の改
良は、その振動モード、支持などにより超高精度を達成
するという面からは困難であった。 （２）　　Ａ、ＴカットのＭ　ｌｌｚ帯の水晶振動子は
、その振動モード、及び高い発振周波数などの有利な点
に支えられて、非常に高い安定性を有しているが、はぼ
三次曲線であられされる周波数温度特性は、カット角誤
差などにより非常にバラツキ大となり、使用温度範囲で
フラットとすることは困難であり、又温度補償も三次曲
線のため困難であった。 以上に述べたようにＡＴ水晶振動子とＸＹ水晶振動子は
各々長所と短所をもつため上記水晶振動子のどちらか一
個を選択した場合では、時計の到達可能な精度はＡ、　
Ｔ水晶振動子を選別して特に良いものを選別した場合で
も年間誤差は数秒が限度であった。 本発明は」二記欠点を無くし、時間基準発振源に温度補
償の容易なＸＹ水晶振動子を用い、エージング誤差の補
正基準発振源としてＡ　Ｔ水晶振動子を用いて、高精度
を長期に渡って維持する電子時計を提供することを目的
としている。 具体的には、時計の温度変動に対してはＸＹ水晶振動子
を用いて温度補償を施すことにより温度の与える時計誤
差を吸収し、前記ＸＹ水晶振動子の時間経過にともなっ
て変動するエージング誤差に対しては長期安定性にすぐ
れているＡＴ水晶振動子の特定温度範囲（１例として２
４〜２５°Ｃ）のみの値を基準値として前記ＸＹ水晶振
動子を校正することにより、特訓に誤差を発生させる要
因のほとんどを取り除くことをめざしている。 次に本発明による電子時計の動作の概要について第１図
に示す電子時計のブロック図により説明する。 図中１はＸＹ水晶振動子を有し、基準信号を発生するた
めの低周波発振回路、２は低周波発振回路１の出力周波
数を補正する補正装置、６は分周回路３１及び表示１駆
動回路６２等により構成される時計回路ブロック、４は
温度センサを含を温度検出装置、５は時刻表示ブロック
、６はＡＴ水晶振動子を有し、校正用信号を発生する高
周波発振回路、７は前記高周波発振回路６０発振動作を
制御する発振制御回路、８は低周波発振回路１と高周波
発振回路６の出力周波数を比較する比較回路である。 上記構成による電子時計の動作を３動作に分けて説明す
る。 第１の動作は電子時計の通常動作であり、低周波発振回
路１からの信号が補正装置２を通って分周回路６１と表
示駆動回路６２を含む時計回路ブロック乙に印加され、
時刻表示ブロック５を駆動するようになっている。 第２の動作はエージング補正動作であり、温度検出装置
４は特定の温度、例えば２４°Ｃ〜２５°Ｃを検出した
ときに発振制御回路７と比較回路８に信号を送り、発振
制御回路７はこれを受けて高周波発振回路６を作動させ
、比較回路８は前記高周波発振回路６と低周波発振回路
１との周波数のズレを測定してエージング誤差情報を作
成し、補正装置２はこのエージング誤差情報を受は取っ
て低周波発振回路１の信号を補正して℃・ろのである。 第３の動作は温度補正動作であり、温度検出装置４より
補正装置２に対して直接温度情報が送られ、補正装置２
は、この温度情報により低周波発振回路１の温度補正を
行なっている。 以上の３動作より補正装置２は２つの機能を有すること
になる。すなわち、エージング誤差情報を受けとって、
全温度領域に渡って同量の補正を行う機能と、温度情報
を受は取って低周波発振回路１のもつ２次曲線的周波数
温度特性をフラットにすべく温度毎に異った補正をする
機能である。 以下では前者をエージング補正機能、後者を温度補正機
能とする。 第２図は上述した動作による温度特性の様子を示した特
性図である。横軸は温度θ（℃）、縦軸は周波数偏差ｐ
ｐｍをあられ丁。 ｆｌは高周波発振回路６の温度特性を示しており、はぼ
三次曲線といえるうねりを有している。この温度に関す
るうねりは前述したように容易に取り除くことはできす
、このためＡＴ水晶振動子といえども絶対基準発振源と
することが困難であった。 そこで、本発明は特定の温度、例えば図示の如く２４°
Ｃ〜２５℃においてのみ参照することでこのうねりを無
視できるようにしたのである。 なお、高周波発振回路６は前記特定温度でのみ動作する
ので、他の温度での周波数は参考用として図示しである
。 ｆ４は低周波発振回路１０周波数温度特性を示しており
、常温側近に頂点を有する二次曲線となっている。ｆ２
は前記温度補正機能により温度補正され広い温度範囲に
わたって誤差がわずかなものとなった温度特性曲線であ
り、ｆ３はエージング誤差が発生して遅れとなってしま
ったときの周波数温度特性曲線を示しており、ｆ２とｆ
３の差ｆ２−ｆ３が、補正すべきエージング誤差という
ことになる。したがって、本発明の比較回路８から補正
装置２に送られるエージング情報はこのｆ、、−ｆ３に
ほかならない。 そのため、比較回路８は２つの機能を有することになる
。すなわち、エージング誤差が零の初期データとしての
ｆ、−ｆ２をあらかじめ記憶しておく機能と、温度検出
装置４の動作指令が来たときにｆ、−ｆ、を測定して、
修正すべきエージング誤差ｆ２−「３を割り出す機能で
ある。以下では前者を初期データ記憶機能、後者を修正
データ割り出し機能と呼ぶことにする。 こうして、比較回路８が初期データ記憶機能と修正デー
タ割り出し機能を備えたことにより、低周波発振回路１
のみでは実現できなかったエージング誤差の補正が高周
波発振回路乙の特定温度における発振周波数を絶対基準
とすることにより可能となったのて゛ある。 ここで、具体例の説明に入る前に第１図における補正装
置２について説明を加えておく。 第１図では、低周波発振回路１の発振信号を分周回路６
１により分周し開時用の時間基準信号ｆ８を得て、これ
により時刻表示を行なう標準的な電子時計の発振・分周
・表示システムにおいて時間基準信号ｆｓを補正する補
正装置２が挿入されている。電子時計としてみるとき、
この補正装置２は結果的に言」時用の時間基準信号ｆｓ
を補正するものであればよく、実際にはこの観点から補
正手段が選ばれる。 この補正手段として主なものに発掘周波数を直接制御す
るものとして電圧制御発振回路を用いる手段、発振容量
の制御による手段など、又分周比を可変とするものとし
て分周回路へのパルス割込み手段などがある。次に説明
する実施例は補正手段として、このうち発振周波数を直
接制御する発振容量制御手段の一つである発振容量を時
分割で切換え平均発振周波数をこの時分割比で制御する
手段を採用している。 第３図は第１図における電子時計の具体的な構成を示す
回路図であり、第４図、第８図はこの第３図の電子時計
における要部回路図であり、これら第３図、第４図、第
８図により前記第１の動作、第２の動作、第３の動作を
それぞれ説明する。 第３図は第１図における低周波発振回路１と補正装置２
を具体的に示す電子時計の回路図である。 図中、低周波発振回路１と補正装置２は一体となって基
準信号発生装置９を構成ずろ。基準信号発生装置９にお
いて、低周波発振回路１は基本的なＣＭＯ８発振回路で
あり、帰還抵抗１１、発振用インバータ１２、水晶振動
子１６、入力側容量１４、出力側容量１５により構成さ
れ低周波発振信号ｆ１．を出力する。なお、この基本構
成のみによる出力信号を基準信号ｆＢとあられす。 補正装置２は比較回路８よりエージング情報信号Ｓ８が
供給されエージング補正信号ＳＡを出力するエージング
補正回路２１と、温度検出装置４より温度情報信号Ｓ４
が供給され温度補正信号ＳＴを出力する温度補正回路２
２と、前記工〜ジング補正信号ＳＡ１温度補正信号ＳＴ
を制御入力信号とする発振周波数制御回路２３．２４に
より構成されろ。なお発振周波数制御回路２６及び２４
と補正回路２１及び２２は第１及び第２の補正手段を構
成している。発振周波数制御回路２６゜２４は前記低周
波発振回路１の発振容量であるそれぞれ入力端容量１４
、出力側容量１５と並例にそれぞれスイッチング容量２
３２，２４２を配置し、それぞれエージング補正信号Ｓ
Ａ、温度補正信号ＳＴを制御入力信号とし、この信号の
論理Ｏで前記発振容量にスイッチング容量をプラスし低
周波発振信号ｆ３、の周波数を下げるためのそれぞれス
イッチ素子２３１．２３２により構成される。 」１記構成における前記第１の動作について説明する。 今、エージング補正信号ＳＡ、温度補正信号ＳＴが論理
１をとる時間割合を、それぞれψえ。 ψ１とおきり下エージング補正率、温度補正率とし１両
補正率ψについて　ψ二１　と　ψ二０の低周波発振周
波数ｆ□、の差をそれぞれｆ８ＷＡ、ｆＢＷＴ　　とお
く。 本実施例のＣＭＯ３水晶発振回路では％ｆＢＷＡとψ□
による周波数シフトとｆ８ＷＴと９７による周波数シフ
トは独立で働き、又ψよ、ψ、とこのψ。、ψＴによる
周波数シフトは線形とみることができることより、低周
波発振周波数ｆ１．は平均周波数で次式であられされる
。 ｆｔ　＝ｆａ−ｆＩＩＷ　Ａ　Ｘ（１−ψＡ）’８ＷＴ
Ｘ（］−ψＴ）・・　・（１） すなわち、基準低周波発振周波数ｆＩ＋にエージング補
正項　−ｆＳＷＡＸ（］−ψＡ　）　と温度補正項　−
ｆＳＷＴＸ（１−ψＴ　）　を加えた低周波発振周波数
ｆ１．が実現されることになる。 第４図は第３図における温度検出装＃４、高周波発振回
路６、発振制御回路７、比較回路８、エージング補正回
路２１の具体的な構成を示す要部回路図である。 第５図、第６図、第７図の電圧波形図を参照しながら第
４図につ（・て説明ずろ。 温度検出装置４において、４１は温度情報信号Ｓ４を出
力する温度レジスタ４０を備えた温度検出回路であり、
この温度情報信号Ｓ４はＴ。、ＴＩ、・・・・・・・・
Ｔ８の９ビットよりなり次式で示す温度情報値Ｔをあら
れす。 Ｔ＝Ｔｏ×２°十Ｔ１×２１＋・・・・・・・」−Ｔ８
×２８　　・・・（２）なお温度検出回路４１の内容に
ついては後述するがこの温度情報値Ｔは温度と比例する
ものである。 ４２は前記温度情報信号Ｓ、のうちＴ３、Ｔ、、Ｔ、、
Ｔ６とＴ７を入力とし全入力信号が同じ論理値のときの
み論理］を出力する ＥＸ　ｃ　］　ｕ　Ｓ　ｉ　ｖ　ｅ−ＮＯＲ（以下ＥＸ
ＮＯＲと略ず）回路４２１と、このＥＸＮＯＲ回路４２
１の出力信号と前記温度情報信号Ｓ４のうちＴ８をイン
バータ４２２により反転した信号を入力し特定温度条件
信号８４２を出力するＡＮＤ回路４２６よりなる特定温
度検出回路である。４６は２個のＮＯＲ回路よりなる公
知のセントリセット型フリップフロップ（以下Ｒ８ＦＦ
と略す）であり、セット入力端子Ｓには同期４時間信号
ｚ４ゎが供給され、リセット入力端子Ｒには後述の発振
タイミング信号Ｓ４５が供給され、出力端子Ｑより比較
時間条件信号Ｓ４３を出力する。なお本願では低周波発
振信号ｆ１．を分周した信号を同期信号とするとき、記
号ダにその周波数又は周期（秒はＳ、時間ばｈをつげる
）の概略値を添えてあられす。４４ばＡＮＤ回路であり
前記特定温度検出回路４２より特定温度条件信号Ｓ、２
を入力し、前記ＲＳ　Ｆ　Ｆ　４３より比較時間条件信
号Ｓ４．を入力し、比較条件信号Ｓ、４を出力する。４
５はＲ８ＦＦでありセント入力端子Ｓには前記比較条件
信号Ｓ４４が供給され、リセット入力端子Ｒには同期６
４秒信号グ。４８が供給され、出力端子Ｑより発振タイ
ミング信号Ｓ４５を出力する。４６はＡＮＤ回路であり
、この発振タイミング信号Ｓ４５　と同期３２秒信号グ
、□８を入力し比較タイミング信号Ｓ４［＋を出力する
。上記構成を有する温度検出装置４の動作について第５
図により説明する。 第５図において、（イ）は同期６４秒信号ｚ６４８、（
ロ）は同期３２秒信号ダ、□８、（ハ）は同期４時間信
号ダ。ｈ、に）は特定温度条件信号Ｓ、２、（ホ）は比
較時間条件信号Ｓ４３、（へ）は比較条件信号Ｓ４４、
（ト）は発振タイミング信号Ｓ４１、（イ）は比較タイ
ミング信号８４６をあられす。 温度検出回路４１の調度レジスタ４０ば（イ）に示す同
期６／１秒信号φ６４８の立下りのタイミングで流度情
報値Ｔをセットする。このとき特定温度検出回路４２ば
Ｔ、、Ｔ、　、Ｔ５．Ｔ６、Ｔ７が同値でＴ８か論理０
のとき、すなわち １２０≦ＬＴ＜］３６　　のとき特定温度条件信号Ｓ４
２を論理１とする。今り３時点で（ハ）に示す如く同ｌ
ｔＪ口時間信号ｌａｈ　が立上るときＲ８ＦＦ４６はセ
ットされ比較時間条件信号Ｓ４３ば（ホ）に示す如く論
理１となる。この比較条件信号Ｓ４３が論理１の状態に
於いてｔ２時点でに）に示す如（特定温度条件信号Ｓ、
２か論理ｌとなるときＡＮＤ回路４４により（へ）に示
す如く比較条件信号Ｓ４４は立上りＲ８ＦＦ４５により
（ト）に示す如く発振タイミング信号Ｓ４５が立上る。 この発振タイミング伯母Ｓ４．の論理１ば０うに示す比
較時間条件信号Ｓ４３をリセットし、これにより（へ）
に示す比較条件信号Ｓ４４も論理Ｏとなる。 ５４時点でＲＳ　Ｆ　Ｆ　４５ば（イ）に示す同期６４
秒信号戸。４８　Ｋよりリセットされ、（ト）に示す如
く発振タイミング信’ｊ’ｓ４５が論理０となる。この
（ト）に示す発振タイミング信号Ｓ７３．のＬ２〜も４
間の論理ＪのうちＡＮＤ回路４６により←）に示す同期
３２秒信号戸、２８　とＡＮＤがとられ（イ）に示す如
く比較タイミング信号Ｓ４＋、は後半ｔ、〜ｔ４の時点
で論理１をとることになる。（ホ）に示す如くｔ２時点
で論理０となった比較時間条件信号Ｓ４３はｔｌから４
時間後のも５時点で（ハ）に示す同１ｔＪｌ　４時間信
号グ、ｈ　が立上るまで論理０を維持することになる。 すなわち、温度検出装置４は温度情報値が　１２０≦；
Ｔ（］　３６　　となるとき最小時間間隔４時間毎に：
う２秒間論理Ｊとなる発振タイミング信号Ｓ４５を出力
するとともに、この発振タイミング信号８４５の後半の
１６秒間論論理表なる比較タイミング信号Ｓ４６を出力
する。 高周波発振回路６は発振用インバータ６１、帰還抵抗６
２．水晶振動子６３、入力側容量６４、出力側容量６５
と波形整形用インバータ６６からなり、高周波発振信号
ｆＩ＋を出力する基本的なＣＭＯ８水晶発振回路よりな
る。 発振制御回路７はプラス電源７１を前記高周波発振回路
６の発振用インバータ６１のプラス電源端子に供給し、
インバータ７２により前記温度検出装置４からの発振タ
イミング信号Ｓ４５を反転し発振インバータ６１のマイ
ナス電源端子に供給ずろ。 上記構成となる発振制御回路７と、高周波発振回路６に
おいて、今、温度検出回路４から論理０の発振タイミン
グ信号Ｓ４５が供給されるとき、この信号はインバータ
７２により反転され発振用インバータ６１のマイナス電
源端子に供給される。 これにより発振用インバータ６１のプラス電源端子とマ
イナス電源端子はともに論理１となるため電力が供給さ
れず、高周波発振回路６０発振動作は市まる。逆に、論
理１の発振タイミング信号Ｓ４５が供給されるときイン
バータ７２により論Ａ〃 理０が発振用インバータ６１のマイナス電源端子に供給
されるため、これにより発振用インバータ６１に電力が
供給され、高周波発振回路６は発振し高周波発振信号ｆ
Ｉｌを出力する。すなわち、高周波発振回路６は発振タ
イミング信号Ｓ１．の論理］で発振する間欠発振動作を
行う発振回路である。 比較回路８について説明する。 ８１はＤタイプｌ”　Ｆよりなり、位相検出手段を構成
する位相比較回路であり、クロック入力端子Ｃ１には基
準信号発生装置９より低周波発振信号ｆ０、が供給され
、データ入力端子りには高周波発振回路６より高周波発
振信号ｆＩ＋が供給され、出力端子Ｑより位相信号ｆ、
を出力する。 ８２ばＡＮＤ回路であり、この位相信号ｆ１．と前記温
度検出装置４からの比較タイミング信号Ｓ、６とを入力
し位相差パルス列信号Ｓ８２を出力する。 ８６ばＮＯＲ回路であり同期６４秒信号グ。４ｓと同期
：３２秒信号９６．２８を人力し位相差クリア信号Ｓ８
３を出力する。 ８４は１０桁のカラ／りにより構成される位相差カウン
タであり、クロック入力端子ダには前記位相差パルス列
信号Ｓ８２が供給され、リセノト入力端子Ｒには前記位
相差クリア信号Ｓ８３が供給され、１０桁目の出力端子
Ｑ、より補正符号信号８８４を出力する。 ８５は補正信号作成回路であり、前記比較タイミング信
号Ｓ、６をインバータ８５０により反転した信号を入力
端子Ｌ１より入力し同期２秒分号ｙ２８０反転信号φ２
ｓを入力端子Ｌ２より入力し出力端子Ｑより１パルス補
正信号Ｓ８５．を出力するラッチ回路８５１と、このＩ
パルス補正信号Ｓ８１．と同期８１１ｚ信号Ｖ８を入力
とし８パルス補正信号Ｓ８，２を出力するＡＮＤ回路８
５２と、前記位相差カウンタ８６の出力端子Ｑ３、Ｑ４
、・・・・・・・Ｑ７．Ｑ、の信号を入力し特定位相差
信号Ｓ８５．を出力するＥＸＮＯＲ回路８５３と、この
特定位相差信号５８５３を入力端子Ｃより入力し、入力
端子Ａより前記１パルス補正信号Ｓ８□を入力し、入力
端子Ｂより前記８パルス補正信号５８５２を入力し、出
力端子Ｑよりパルス補正信号Ｓ８５を出力するＡＢセレ
クタ８５４とにより構成されろ。なおランチ回路８５１
とＡＢセレクタ８５４は周知の回路で・あり、ラッチ回
路８５１は図示の如（ＡＮＤ回路１個とＮＡＮＤ回路２
個より構成され、入力端子Ｌ１からの入力信号の立上り
から、入力端子Ｌ２の入力信号の立下り時点まで論理１
となるパルス信号を出力端子Ｑより出力するものであり
、ＡＢセレクタ８５４は制御入力端子Ｃの入力信号が論
理１のとき入力端子Ａからの入力信号を出力端子Ｑに通
し、論理０のとき入力端子Ｂからの入力信号を出力端子
ＱＫ通ずものである。上記構成を有する比較回路８の動
作について第６図により説明する。 第６図において、（イ）は同ｊυ１６４信号号グ。、８
、（ロ）は同期３２秒倍号戸、□ｓ１（ハ）は位相差ク
リア信号Ｓ８３、に）は比較タイミング信号８４　ａ　
、１→は補正符号信号Ｓ８４、（へ）は１パルス補正（
ｎ号Ｓ８５１　、（＋’）は８パルス補正信号Ｓ８５２
　＋（イ）は特定位相差信号５８５３、（１力はパルス
補正信号Ｓ８５をあられす。 なおｔ１〜ｔ３間は３２秒、ｔ３〜ｔ４間は１秒である
。ビ）、（Ｏ）に示す同期信号に対しＮＯＲ回路８６に
より位相差クリア信号ＳＳＳは（→に示す如くｔ１〜ｔ
２で論理１となり位相差カウンタ８４はリセットされる
ため（６−）Ｋ示す如く補正符号信号Ｓ８４は論理Ｏと
なる。 次にｔ２からｔ５時点でに）に示す如く温度検出装置４
から供給される比較タイミング信号Ｓ４６が論理１とな
るとき、すでに説明の如く温度検出装置４はｔ、からｔ
３時点で発振タイミング信号Ｓ、５を論理１とし、これ
により高周波発振回路６は発振動作中であるため位相比
較回路８１は低周波発振信号ｆ、、をサンプリング信号
として高周波発振イＳ号ｆＩ＋の位相検出を行ない位相
信号ｆＰを出力しており、ＡＮＤ回路８２ばこの位相信
号ｆ、を通し位相差パルス列信号Ｓ８２　とし１位相差
カウンタ８４は、このｔ２からｔ３時点の１６秒間この
位相差パルス列信号Ｓ８２すなわち位相信号ｆＰをカウ
ントする。 （ホ）に示す位相符号信号８８４ば、位相差カウンタ８
４の最上位桁の出力信号であることから、２２時点で位
相差カウンタ８４のカウント数ゼロのとき論理０でスタ
ー　Ｉ□　Ｌ／％　　ｔ２０時点でカウント数５１２と
なるとき論理１に反転し、ｔ２□　時点でオーバーフロ
ーが起こりカウント数が４０２３からゼロとなるとき論
理Ｏとなる。ｔ２がらｔ。 時点で補正符号信号Ｓ８４は、このｔ２がらｔ２１まで
の動作を繰返すことになる。このときＥＸＮＯＲ回路８
５３の出力信号である特定位相差信号Ｓ８，３は位相差
カウンタ８４のカウント数が５０４以上５２０未満のと
き論理１となるため（ホ）に示す如くなる。ｔ３時点の
位相差カウンタ８４の内容を位相差カウント数Ｃ１とお
くとき、次式であられされる。 Ｃｐ　−〔ｆｐ　ＸＩ　６　〕２”　Ｘｎｐ　　　・・
’−１３）ここでｎ、はｔ２からｔ３間での位相差カウ
ンタはデジタル値化をあられす。 ｔ３時点の０９に示す補正符号信号Ｓ８４と（１）に示
す特定位相差信号Ｓ８，３ばこの位相差カウント数Ｃ２
により一義に決まり、１６時点（ハ）に示す位相差り１
，１ア信号Ｓ８３の論理１で位相差カウンタ８４がリセ
ットされるまで維持される。 ０う（ホ）は　Ｃ，−５］　５．　　”ｐ　＝１　　ノ
例テアリｔ３時点で補正符号信号Ｓ８４は　５１２≦Ｃ
１により論理１、特定位相差信号５８５３は５０４≦Ｃ
ｐ　＜　５２０　　により論理１となっている。次のｔ
３からｔ１時点ではラッチ回路８５１により（へ）に示
す１パルス補正量号Ｓ８６．に１パルスが出力され、又
ＡＮＤ回路８５２により（ト）に示ず８パルス補正量号
５８５２に８パルスが出力される。 ＡＢセレクタ８５４は（ホ）に示す如く特定位相差信号
Ｓ８，３が論理１のときは（へ）に示す１パルス補正量
Ｍ’ｓ８５．を（切に示す如くパルス補正信号３８５　
とする。なお逆に特定位相差信号５８５３が論理Ｏのと
きは（ト）に示す８パルス補正量号５８５１をパルス補
正信号Ｓ８．とする。すなわち、比較回路８は比較タイ
ミング信号８４６の論Ｎ〃 理１で高周波発振信号ｆＩ＋と低周波発振信号ｆＬとの
位相比較を行ない、これをカウントした値である位相差
カウント数ＣＰに応じてエージング情報信号Ｓ８として
の補正方向に対応した補正符号信号Ｓ８４を定めるとと
もに、同じくエージング［貴報信号Ｓ８とし７ての補正
量に対応した補正量信号となるパルス補正信号Ｓ８５を
出力する。具体的には補正符号信号Ｓ８４ば　５］２≦
ＣＩ、　　でルス補正信号ｓｓｉば　５０４≦Ｃｐ　＜
　５２０のとき】パルス、その他のときは８パルスより
なるパルス信号となる。 エージング補正回路２１について説明する。 ２１１は前記比較回路８で説明したラッチ回路であり、
入力端子り、には同期２秒分号の反転信号り２８　　が
供給され、入力端子Ｌ２には同期５　］　２１１ｚ信号
の反転信号ｙ、１２が供給され、出力端子Ｑよりエージ
ング補正同期信号戸、を出力する。 ２１２は１０桁のアンプダウンカウンタより成る切替化
記憶回路であり、クロック入力端子グには前記比較回路
８よりパルス補正信号Ｓ８５が供給され、アップダウン
モード入力端子ＵＤには前記比較回路８より補正符号信
号Ｓ８４が供給されろ。このアップダウンカウンタ２１
２はアンプダウンモード入力端子ＵＤからの人力信号が
論理１のときはアップカウンタ、論理０のときはダウン
カウンタとして働く公知のカウンタである。 ２１３はＡＮＤ回路であり後述する切替回路２１５の出
力端子点の出力信号と同期５１２　［（ｚ信号ダ６，２
を入力しカウントアツプ信号５２１３を出力する。 ２１４は１０桁のプリセッタブルカウンタであり、デー
タ入力端子り。、Ｄｌ、・・・・・・・・Ｄ、には前記
切替化記憶回路２１２の出力端子Ｑ。、Ｑ７、・・・・
・・・・Ｑ、の出力信号が供給され、プリセットイネー
ブル端子ＰＥ［は前記エージング補正同期信号戸、が供
給され、クロック入力端子ダには前記カウントアツプ信
号５２１３が供給され出力端子Ｑ。 よりオーバーフロー信号Ｓ２，４を出力する。このプリ
セッタブルカウンタ２１４はプリセットイネーブル端子
ＰＥの入力信号の論理ｌでデータ入力端子り。、Ｄｌ、
・・・・・・・Ｄ、の入力信号にプリセットされる公知
のカウンタである。 ２１５はトリガータイプＦＦより成る切替回路であり、
クロック入力端子グには前記オーツく−フロー信号５２
１４が供給され、リセット入力端子Ｈには前記エージン
グ補正同期信号ダ、が供給され、出力端子Ｑよりエージ
ング補正信号ＳＡを出力する。このトリガータイプＦＦ
はクロック入力端子グからの入力信号の立下りで出力信
号を反転するカウンタで用いられる公知ＯＦＦである。 上記構成を有するエージング補正回路２１の動作につい
て第７図を用い説明する。 第７図において、（イ）は同期５１２　ｆｉｚ信号り、
１□、（ロ）はエージング補正同期イｇ号ｇ、、ｅ→は
カウントアツプ信号ｓ、、　＋　３　％に）はオーバー
フロー信号ｓ２１４　ｓ（ホ）はエージング補正信号Ｓ
Ａをあられす。 Ｌｌからｔ１間は２秒となっている。０）に示す同期５
１２　ｆｉｚ倍号１２！１１１２に対し、ラッチ回路２
１１は←）に示す如（２秒同期のパルス信号であろエー
ジング補正同期信号グ、を出力する。ｔ１時点で（ロ）
に示す如くエージング補正信号ダえが論理１となるとき
プリセッタブルカウンタ２１４には切替化記憶回路２１
２の値がプリセットされろ。又。 切替ＦＦ２１５はリセットされ、０つに示す如（エージ
ング補正信号ＳＡか論理０となり、ＡＮＤ回路２１６は
以後（イ）に示す同期５　］　２　ｆｉｚ信号を（ハ）
に示す如くカウントアツプ信号５２１３とする。 次にｔ２時点でプリセッタブルカウンタ２１４かオーバ
ーフローしくニ）に示す如くオーバーフロー信号５２１
４が立下るとき切替ＦＦ２１５は０→に示ず如（エージ
ング補正信号ＳＡを論理］に反転させる。これにより以
後ＡＮＤ回路２１６は同期５　］　２　ｆｉｚ信号を通
さず（ハ）に示す如くカウントアツプ信号Ｓ２．、は論
理０となる。ｔｌからｔ３の２秒間の動作ばｔ３以後も
繰返し行なわね、る。ここでアップダウンカウンタのカ
ウント数すなわち切替化記憶回路２１２の記憶内容なＣ
ｃどお（。 このときり、からｔ２の時間は （］　０２４−Ｃｃ　）１５１．２　　となる。前に定
義した如くエージング補正率ψ□はエージング補正信号
Ｓ　Ａの論理１をとる時間割合てル〕ろこと、ｔｌから
Ｌ３か２秒間であること、ｔ２がらｔ。 で０つに示す如くニーシンク袖「Ｆ化刊ｓＡ′／Ｊ′−
論理１となることから結局次式が成立する。 ψ、　＝　Ｃｃ　／　］　０２４　　　　　　　−−−
（４）エージング浦ｉ１Ｅ率ψ９により低周波発振信号
ｆ１、の周波数が補正されることは、すでに前記（１）
式で示したか、（４）式により切替化記憶回路２１２の
記憶内容Ｃｃの変更によりエージフグ補ｉＪＥ率ψ３が
変更され、結果として低周波発振周波数ｆ、、を補正で
きることが示される。この切替化記憶回路２１２の記憶
内容Ｃｃの変更は、パルス補正伯珂Ｓ８５のパルス数だ
け補正符号信号ｓ８．の論理により行なわ」１．る。す
なわち、エージング補正回路２１は比較回路８より出力
されろエージング補正信号Ｓ８である補正符号信号ｓ８
４　とパルス補正信号Ｓ８５により切替化記憶ＦＵ路２
１２の記憶内容Ｃｃを補正するとともに、（４）式によ
るエージング補正率ψ□により低周波発振信号ｆ１、を
（１）式により補正するものである。 」二記栴成になる電子時計の第２の動作であるエージン
グ補正動作について説明する。 今、温度検出装置４が温度情報値Ｔが １２０≦Ｔ＜　１３６　　となる特定温度を検出すると
き、最低４時間の間隔で発振タイミング信号８４５を３
２秒間論理１とする。これにより発振制御回路７は高周
波発振回路６を発振動作状態とする。又温度検出装置４
はこの３２秒間の後半の１６秒間比較タイミング信号８
４６を論理】とする。これにより比較回路８は低周波発
振信号ｆＬとすでに発振１〜ている高周波発振回路６の
高周波発振信号ｆ１１との比較を行なう。 ここで、高周波発振周波数ｆＩＩと低周波発振周波数ｆ
１４について説明する。 高周波発振周波数ｆＩ＋の標準値を ｆｕｓ　＝４１９４３０４　（ｆｉｚ）、低周波発振周
波数ｆＬの標準値を　ｆ　ｒ、ｓ　＝３２７６８　（ｌ
（ｚ）　　と設定するとき、このｆＩＩｓ　とｆＬ８　
　には次の関係が成立する。 ｆｎｓ　　＝　ｆ＋、ｓ　　Ｘ　　ｍ−−−（５）ｍは
正の整数、本実施例では１２８である。このｆＩｔｓが
ｆＬ８の整数倍であることにより低周波発振周波数ｆＬ
と高周波発振周波数ｆＩ＋との比較は位相比較により行
なわ、ｉｌ、ることになる。 比較回路８０位相比較回路８１ばこの位相比較を行なう
回路であり、その出力信号である位相信号ｆ、の周波数
は次式となる。 ｆＰ＝＝ｌ　ｆＨ−ｆＬｘｍ　ｌ　　　　　　−・（６
）ここで　１１　は絶対値記号である。 高周波発振周波数の発振周波数ｆ１１の前記標準高周波
発振周波数ｆＩＩ８　　対する周波数偏差ｄＩＩを次式
により設定する。 ｆ□Ｓ　　　　ｆＩｔｓ　　　ｆ１１８ｎＰは前記比較
回路８で説明した位相差カウンタ８４のオーバーフロー
の回数であり、本実施例では高周波発振周波数ｆＩＩか
その標準値ｆ９．８　から大きくズレない範囲で適当な
正の整数値をとる。 このときｆｌｌ、　＝　ｆＴ、Ｂの条件で（６）式の絶
対値記号が不要と７、

【ろことと、（６）式、（７）式
と前記（３）式を用いるとき位相差カウント数ＣＰは次
式であられされる。 Ｃｐ　：Ｃ（ｆｕｓ　　−ｆｔ、　Ｘｍ　）　ＸＩ　６
　）＋５１２・・・・・・・・（８） ｆｏ、＞　ｆ＋、ｓ　　となった場合について説明する
。 このとき（８）式よりＣＰ＜５１．２となり比較回路８
は補正符号信号Ｓ８４を論理０とし、Ｃ２≧５０４ブ工
ら１パルス信号が、Ｃ，（５０４なら８パルスイｇ号が
パルス補正信号Ｓ８５に出力され、このパルス数だけエ
ージング補正回路２１は切替化記憶内容ＣＣをマイナス
する。これにより前記（４）式によりエージング補正率
ψ□が減少（〜前記（１）式により低周波発振周波数ｆ
Ｌは結局減少する様に補正される。すなわち低周波発振
周波数ｆＬの標準周波数ｆＬｓＶＣ対するプラスのズレ
はエージング補正動作によりマイナス方向に補正される
ことになる。 逆に、ｆ＋、＜ｆｌ、ｓとなる場合は　ＣＰ≧５１２と
なり補正符号信号Ｓａ４は論理１となり切替化記憶内容
ＣＣは　Ｃｐ＜５２０　　ならプラス１、Ｃ，＞５２０
　　ならプラス８され、（４）式に」二りψ９が増加１
〜、（１）式によりｆＬが増加する様に補正されろ。す
なわち低周波発振周波数ｆ０、の標準周波数ｆＬｓに対
するマイナスのズレはエージング補正動作によりプラス
方向に補正されることになる。 よって低周波発振周波数ｆＬはエージング補正動作によ
り標準低周波発振周波数ｆＬＳに補正されろ。すなわち
（５）式より低周波発振周波数ｆ１．は標準高周波発振
周波数ｆＩＩ８に補正されるσ）で、結局（７）式から
高周波発振回路の精度となる。 なお、１回のエージング補正動作において、位相差カウ
ント数Ｃ１，が　５１２士８　の範囲外の時、アンド回
路８５２．ＥＸＮＯＲ１路８５６、ＡＢセレクタ８５４
によりパルス補正信号のパルス数は８に制限され、こね
、により切替化記憶回路Ｃｃの変更量が決まり（４）式
（１）式により補正量か決まる。すなわちアンド回路８
５２．ＥＸＮＯＲ回路８５６、ＡＢセレクタ８５４は１
回のエージング補正動作における補正量の上限を制限す
る補正量制限手段を構成している。 この補正量の制限は、エージング補正誤動作、例えば外
部温度の急激な温度変化による温度検出装置Ｗ４の検出
温度と外部温度のズレによる誤動作などに対し１回の誤
動作による補正量が制限されるので、その影響を最小限
に押える効果をもつ。 又本実施例では位相差カウント数Ｃ１が５１２±８　の
範囲内でもパルス補正信号のパルス数を１に限定してい
るが、もちろん位相差カウント数Ｃ１，と５】２との差
である　１から７　までのパルス数をパルス補正信号の
パルス数とする方法もあることは言うまでも／、「い。 次に、エージング補正動作の分解能と補正幅について説
明する。 温度検出装置４における比較タイミング信号Ｓ４６の論
理１をとる時間幅を位相比較時間ｔＰ（本実施例では１
６秒）とし、比較回路８における位相差カウンタ８４の
桁数を位相差カウンタ桁数Ｋｐ（本実施例では１．０）
とする。これを用い高周波発振信号ｆＩＩのｆｌｌｌｌ
に対する周波数偏差ｄ１１を次式により設定する。 このとき位相差カラン！・数Ｃ２は次式となる。 Ｃｐ　””Ｃ（ｆ＋＋ｓ　　　ｆ　Ｌ　　Ｘ　ｍ　）ｘ
ｔＰ：ｌｌｌ＋２１（”・・・・・・・・・００） この（９）式、（１０）式は本実施例では（７）式、（
８）式となる。 これにより比較回路８による分解能をｄＰ、補正幅をり
、とすると となる。本実施例では、おおよそ ｄＰ＝ｏ、ｏ１４９（卿）・１ＩＰ＝１５．２６（窄）
である。次にエージング補正回路２１の切替化記憶回路
２１２の桁数をＫＡ　（本実施例では１０）と１−、エ
ージング補正同期イ菖号褒、の周期をエージング補正周
期ｔＡ　　（本実施例では２秒）とおく、このとぎ白熱
プリセッタブルカウンタ２１４のクロック入力とランチ
回路２１１０入力端子Ｌ２の入力の周波数はＫＡ／ｌＡ
となる。この時エージング補正回路２１による理論上の
分解能をｄＡ、補正幅をｈＡとすると、前記（］）式を
用い、となる。このうち低周波発振周波数ｆＬで実現さ
れる分解能はｄｐ、ｄＡのうち大きい方をとり、補正幅
ばｈＰ、ｈＡのうち狭い方をとる。よってｄ、とｄＡ％
　ｈ、とｈＡは一致するように設定するのが望ましく、
この条件は旧）、（１２）式と（５）式を用（１て Ａ ＫＡ＝ＫＰ　　−ｆ８ＷＡ−２／（ｔＰＸｍ）・・・・
・・・・・（１３） となる。本実施例では　ＫＡ＝ＫＰ＝１０　であり　ｔ
ｐ　＝１６．ｍ＝ｔ　２８よりｆ８ＷＡ　＝　０．５０
（ｚ）と設定する。但しこのｆ８ＷＡは少々バラツキが
あっても前記エージング補正の分解能と補正幅に影響を
与えるがエージング補正動作自体には問題とならない。 第８図は第３図における温度検出装置４と温度補正回路
２２の具体的な構成を示す要部回路図である。 従来より電子時計等の小型電子装置に温度センサを搭載
し携帯中の温度を感知して時間基準信号ｆ８の温度補償
を行なう方法は数多く提案されている。 本願における温度補正は、これらのどれを採用しても良
いことは言うまでもない。 本実施例は、これらのうち温度清報をデジタル値として
とらえるものであり、さらにはこのデジタル温度情報を
感温素子例えばザーミスタ、又は別の水晶振動子などの
外利は部品を用いずモノンリノク１．　Ｃ化された温度
検出回路により摺るものである。すなわち、第９図の温
度特性図を参照に第８図について説明する。 温度検出装置４において１．′黒度検出回路４１は温度
レジスタ４０よりＴ。、Ｔ７、・・・・・・・Ｔ８より
なる温度情報信号Ｓ４を温度補正回路２２に供給する。 温度補正回路２２はこの温度情報信号Ｓ４より温度補正
信号ＳＴを作成し周波数制御回路２４に供給する。 温度検出回路４１において４７は感温発振回路、４８１
はこの感温発振回路４７の出力信号を所定個数だけ数え
るゲート信号カウンタ、４８２ばあらかじめ所定の値に
セントされたのち前記ゲート信号カウンタ４８１と同じ
期間だけ計数動作して基準信号発生装置９の出力信号ｆ
Ｌ又はその分周信号を割数する比較カウンタ、４０はこ
の比較カウンタ４８２の最終値を記憶する温度レジスタ
、４８３は前記構成部分を時系列制御する制御回路、４
９１はゲート信号カウンタ４８１に対して計数すべき数
値Ａを与える数値Ａ記憶回路、４９２は比較カウンタ４
８２に対してあらかじめセットしておくべき数値Ｂを与
える数値Ｂ記憶回路である。 なお、本実施例において数値記憶回路４９１．４９２は
同−ＩＣ内の記憶回路にて構成されるが、ＩＣチップ外
に設けられた選択接続パターンを用いることもできる。 −に記構成を有する温度検出回路４１の動作を説明する
。 前述の如く温度検出回路４１は同期６４秒信号の立下り
で温度情報値Ｔを温度レジスタ４０にセットする回路で
あり、制御回路４８６はこれと同期して一定の時間間隔
すなわち６４秒毎に温度検出動作を制御するものである
。この温度検出すべき時間がくると、まずゲート信号カ
ウンタ４８１及び比較カウンタ４８２にそれぞれ数値Ａ
、数値Ｂがセットされ１次にゲート信号カウンタ４８１
には感温発振回路４７を信号源とする周期τの信号ＰＴ
が入力され、比較カウンタ４８２には基準信号発生装置
９を信号源とする周波数ｆｃの同期Ｃ信号ｚｃが入力さ
れる。さらに比較カウンタ４８２はカウント内容か数値
Ｂの状態から計数動作を開始し、ゲート信号カウンタ４
８１と丁度同じ期間だけ動作するように制御回路４８乙
により制御され、ゲート信号カウンタ４８１が周期τの
信号ＰｒをＡ個計数し終えた時、すなわちＡ×τ秒後に
停止する。この間比較カウンタ４８２は何回かオーバー
フローするか、最後に残った値が温度情報値Ｔとなり、
制御回路４８乙によって同期６４秒信号ｙ３６４　Ｓの
立下りのタイミングで温度レジスタ４０に転送され記憶
される。この結果得られろ温度情報値Ｔは次の式であら
れすことかできる。 Ｋ、　ｔ Ｔ＝［ＡｘｒＸｆｃ　］十Ｂ−２Ｘｎ　ｊ・＝０４）こ
こでＫＬは温度レジスタ４０のビット数、ｎ（はオーバ
ーフローの回数をあられす。 次に温度検出回路４１の温度センサである感温発振回路
４７について説明する。 ４７１は周囲温度に従ってその出力電圧■８が直線的に
変化する感温型定電圧回路、４７２は前記出力電圧を電
流に変換する電圧電流変換回路、４７３は前記電圧電流
変換回路４７２に直列に接続されたリング発振回路、４
７４は発振信号の波形整形回路、４７５は発振周期を適
当な長さにする分周回路、４７６は前記各回路の電源を
入れるためのスイッチング用インバータで゛ある。上記
構成を有する感温発振回路４７の動作について説明ずろ
。 今、スイッチ用インバータ４７６は論理］が入力さね、
るとき、感温型定電圧回路４７１％電圧電流変換回路４
７２、波形整形回路４７４の動作電流か通るように働く
。υノブ発振回路４７乙の発振周期は電流に依存し、電
流は電圧電流変換回路４７２に用いられるｎチャンネル
ＦＥＴのシキ℃・値電圧Ｖ　？　１１と前記感温型定電
圧回路４７１の出力電圧■□の関係に依存する。ずなわ
ち、温度が高くなる程、前記■Ｔ１１と■８との差が小
さくなるため電流も小さくフ３「す、発振周期τが長く
なる。この発振周期τの温度特性はほぼ一定の傾斜をも
った直線であり、次の式で表わすことができる。 τ＝α×θ十て。　　　　　　　　　・・・・・・・・
・（＋５）但し、θは温度、τ。ば０℃での周期τを表
わし、αは温度係数を表られしている。 したかって、（１＝１）式（１５）式より温度情報値Ｔ
は次式で゛あられされる。 ・・・・・・・ｔｌｌｊフ （１６）式はオーバーフロー環　２　　ｔｘｎ、　　を
除くと温度情報値Ｔは温度θの一次関数となっており、
かつこの−次間数は数値Ａと数値Ｂにより自由に調整で
きることを示している。 次に温度補正回路２２について説明する。 図に示す如く温度補正回路２２は同期信号として分周回
路３１の出力信号を用いている。分周回路６１を連続し
た分周回路６１１．３１２．６１３．６１４に分け、こ
のうち６１２を第１分周回路、３１３を第２分周回路と
し、各７ビノし構成の分周回路とする。この分周回路３
１２の７ビノトの出力信号を第１同期信号Ｃｌ　ｌｌｂ
分周回路３１６の７ビツトの出力信号を第２同期信号ダ
２ｒｉｄとする・ 温度補正回路２２において、２２１は温度レジスタ４０
からの温度情報信号Ｓ４のうち下位７ビノー・であるＴ
。からＴ６と、前記第１同期信号ｙ３　）　Ｂ　ｔとを
比較して、この第１同期信号戸、８．の７ビノトか全ビ
ットゼロからＴ。からＴ６の７ビノトと一致するまで論
理１となるパルス信号Ｐ１を出力する第１比較回路、２
２２はやはり温度レジスタ４０からのＴ。からＴ６の７
ビントと、前記第２同期信号５’２ｎｄ　　とを比較し
、この第２同期信号９！６２ｎｄがゼロからＴ。からＴ
６の７ビノトと一致するまで論理１となるパルス信号Ｐ
２を出力する第２比較回路、２２３は両比較回路２２１
．２２２からの信号と前記温度レジスタ４０からの温度
情報信号Ｓ、の上位２ビツトであるＴ７ｍＴ８より温度
補正信号ＳＴを合成するパルス合成回路である。上記構
成を有する温度補正回路２２の動作を説明する。 温度レジスタ４０の下位７ビノトＴ。からＴ６か示す値
をｎとし、前記第１分周回路６１２０入力信号の周期を
１とするとき、両比較回路２２１．２２２の出力パルス
Ｐ１、Ｐ２の周期はそれぞれ１２８．１６３８４であり
、信号波形のデー−ティ、すなわち周期に対する論理１
の時間割合は共に　、２８　となる。パルス合成回路２
２６は温度情報信号Ｓ４の最上位ビットＴ８が論理］の
とき、塩度補正信号ＳＴを論理］とする。すなわち温度
補正率ψ７は次式となる。 ψＴ　−１，（２５６≦Ｔ（５１２）　　　・・・（１
７）Ｐ、とＰ２の論理積信号　Ｐ、・　２　を温度補正
信号ＳＴとして出力する。このとき温度補正信号８丁の
１６３８４の期間中に論理１をとる時間はｎ２であり温
度補正率ψ、は次のようになる。 の論理、ｆＪＩｖ＠号　Ｐ、・Ｐ２　を温度補正信号Ｓ
７として出力する。この温度補正信号ＳＴの１６３８４
の期間中の論理１をとる時間は（１２８−ｎ）２となる
。ただし前記ｎは温度レジスター０の温度情報値Ｔと次
の関係になる。 ｎ＝Ｔ　　　　　　　（Ｑ≦Ｔ＜１２８）ｎ　＝Ｔ　−
］　　２８　　　　（１２８ＳＴ（２５６）従って温度
補正率ψアは次式となる。 ・・−・　・・・（１８） すなわち、温度補正回路２２は温度レジスタ４０からの
温度情報値Ｔに対して、（１７）式（１８）式で示され
ろ温度補正率ψ７を有ずイン温度補正信号ＳＴを出力す
る回路で・ある。 上記構成に７．ｃイ）′Ｐ１１゜子時計の第３の動作で
ある温度補正動作について第９図を用いて説明する。 第９図は横軸に温度θ（”Ｃ）をとる各温度特性図であ
り、第９図（ａ）は基準信号４（ξ生装置９の温度特性
図、第９図（ｂ）は温度補正率ψ７の温度特性図、第９
図（Ｃ）は温度）青報値Ｔの温度特性図である。 基準信号発生装置９の出力周波数ｆ　、は前記（］）式
であられされるが、この（１）式において温ｊＷ補正率
ψ７が０のときと１のときの＋＝ｉ波数をそれぞれｆ　
、。、ｒＬｌ　　とおくとと、 ｆｌ、ｏ−ｆｎ　　’ｓｗＡＸ　（１−ψＡ）　　’Ｂ
ＷＴ・・・・・・（１９） ｆＬｌ−ｆｌ、。＋　ｆＢＷＴ　　　　　　　　”’　
”’　”’　（２０）とあられされる。前記（１）式で
温度補正率ψ７とエージング補正率ψ□が独立に低周波
発振周波数ｆ□４に働（ことが示されている。ここでは
さらに温度補正を論じるためエージング補正率ψ９を一
定とする。 又基準低周波発振周波数ｆＢは温度に対し上に凸の２次
特性を示し、ｆＢＷＡとｆ８ＷＴは温度に対して一定と
みなすことができる。これより、ｆＢの２次曲線の頂点
温度を０２Ｔとし、２次温度係数をａとし、θ２Ｔにお
けろｆｏ、０を標準低周波発振周波数ｆ１．５すなわち
３２７６８１（ｚに設定するときｆｌＯｓ　　ｆＬＩの
このｆＬ８に対する周波数偏差をｄｏ、ｄ、　　とする
と、次式であられされる。 ・・・・・（２渇 値となる。図に示した具体例は　θＺＴ　＝　２　Ｆｌ
　”Ｃ１ａ　＝−０，０３３Ｋ”／”Ｃ２，ｄ、ＷＴ＝
３０ｐＩＩＩｎである。 第９図（ａルは縦軸にこのｆＬ８に対する周波数偏差１
１１ＸＩをとったものである。曲線ｄ。、曲線ｄ。 は前記（２１）式（２２）弐に対応する。ここでｄｌが
零となる温度をθ７、θ２と１．　（２２）式でｄ、−
〇とおき求めると次式となる。 ・・・・・・・・・（２３） 具体例では　θ、−−５．１．５°、θ２＝５５．１５
゜である。 第９図（Ｃ）に示す如く温度清報値Ｔはこのθ１、θ２
でそれぞれ０，２５６となる様に調整される。すなわち
温度情報値Ｔは次式に調整されろ。 具体例では　Ｔ二４．２４５３Ｘθ−ト２１８７　であ
る。温度ＩＨ報値Ｔを（２４）式のθの一次関数に調整
ずろのは前述の（固成における数値Ａ１数値Ｂにより行
なわれろ。この時、温度情報値Ｔは９ビットなのでデジ
タル誤差を無視すると第９図（Ｃ）に示す如くなる。こ
のとき前記（Ｉ７）式、（１８）式より温度補正率ψ７
は第９図（ｂ）に示す如くなる。一方、低周波発振周波
数ｆ、は前記（１）式に０９）式を代入して次式となる
。 ｆｌ、　””　ｆＬＯ＋ｆＳＷＴ　ＸψＴ上式に（２１
）式、（２２）式を適用するとき低周波発振信号ｆ　、
の周波数偏差ｄ０．は次式となる。 ｄ、、＝ｄｏ十ｄｓｗＴ×　ψ、　　　　　　・・−−
−−（２５）この式に（１７）式を代入し次式か求まる
。 ｄｌ、＝　ｄｏ　　十ｄＳＷＴ　　　（２５６≦Ｔ（５
１，２）結局、次式が成立ずろ。 ｄｌ−＝ｄ＋　　　　　　　　　（２５６≦Ｔ＜５］２
）　　・・・（２６）又、（２５）式に（Ｉ８）式を代
入し次式が求まる。 ６３８４ この式に（２４）式の温度悄４値Ｔを代入１７次式が求
まる。 ｄ、、＝ｄｏ−ａ（θ−θＺ）２　（＋）て仏Ｔく２５
６）結局（２１）式より次式が成立ずろ。 ｄｌ、　””　０　　　　　　　（Ｏ＜Ｔ　（２５６）
・・（２７）よってこの（２〔ｉｊ式、（２７）式より
低周波発振周波数偏差ｄＬは第９図（ａ）に示す如くな
る。よってＯ≦Ｔ（２５６ずなわち（２３）式によろθ
１　と０２間の温度で湯度補正か達成されろことになる
。 以上で説明した３動作により本実施例による電子時計の
動作を第１０図により説明ずろ。 第１０図は横軸に温度θ（”Ｃ）をとるもので、第１０
図（ａ）は両発振回路１．６の周波数偏差の温度特性、
第１０図（ｂ）は温度情報値Ｔの温度特性を示す。 第１０図（ａ）［おいて曲線ｄ。、ｄ、、ｄＬは前記（
２１）式（２２）式、それと（２６）式（２９式に対応
する。曲？ｔＡｉ、　ｄｙは特定温度範囲θ３からθ、
で前記（７）式でｎ、−４としたときの周波数偏差とな
るように設定された高周波発振周波数偏差をあられず。 この曲線ｄＩＩは図に示ず如く３次曲線となり、このた
めθ３からθ、が狭いときｄｌｌのズレは非常に小さく
無視できることになる。ここで、このｎｌ、−４と、特
定温度範囲θ３からθ４について説明する。 ｎｐ−４は前記（７）式で説明した条件の他に比較回路
８におけるｆＩＩとｆｌすなわちｄｌｌとｄＬの位相比
較動作の安定化のためｄ□とｄＬをある程度離す必要が
あり、又ｄＬがｄ。とｄ、との時分割によることから具
体例では　ｎ、≧２　が絶対条件で、これよりさらに安
全をみて選らばれた値である。特定温度範囲は第１０図
（ｂ）により説明する。 前述の如く　１２０≦Ｔ＜１３６　　が特定温度範囲で
あり前記（２４１式より逆算しておおよそθ３　＝２３
．１、θ４＝２６．９　　となり、約２５゜±２°の狭
（・温度範囲となる。 以上に説明の如く、高周波発振周波数偏差ｄＨか設定さ
れ、かつ第１０図（ａ）に示す如く低周波発振周波数偏
差ｄ０．がゼロ、すなわち低周波発振周波数ｆＬを標準
低周波発振周波数ｆ８，８に設定するとき、前述したエ
ージング補正動作により、例えば低周波発振周波数偏差
が図に示す曲線ｄ１．′の如くスレるとき、速やかにｄ
Ｌに補正されろことになる。 以−Ｌ１本発明にノｆる電子時言１は、第１補正・１段
として低周波発１辰回路の発振周波数を直接制御する発
振周波数制御手段を用いており、これに３Ｌり比較回路
は前記修正データ割り出し機能としての周波数差を割算
する演算回路を用いずに、低周波発振信号ｆ１と高周波
発振信号ｆ１１とを位相比較ずろ位相検出手段とこの出
力である位相信号を言−１数する位相差カウンタとによ
る簡単な回路で修正データ割り出（〜機能を有する。す
なわち位相差カウンタの割数内容自体か修正データとし
て用いられる。 さらにこの位相差カウンタの計数内容により補正方向に
対応し−だ信号と補正量制限手段により上限が制限され
た補正量に対応した信号により（）＜周波発振回路の補
正手段を制御するとき前述の如く外乱などによる誤動信
の影響を最小限に押えろ効果をももつことになる。 本発明になる電子時計のもたらす波及効果は大きく次に
述べるようなメ１ノットを有する。 ■二年間の誤差を１秒以内として時計を提供できる。 ■：基準ＡＴ振動子は限定された温度範囲外での特性は
要求されないため、精度の高い振動子を低いコストで作
製することができる。 ■：前記ＡＴ振動子は限定された温度範囲でのみ動作さ
せれば良く、又その動作頻度はあまり多くする必要がな
いので、総合の消費電力は非常に小さく、従来の低周波
発振回路のみの電子時計の消費電力とほとんど同等であ
る。 かくして、本発明に１ｒろ電子時計によれば、従来の特
訓に対し、わずかな消費電力の増加で年間の誤差を１秒
以内に高精度化することが可能となり電子時計の商品力
向上に犬なる効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の電子時計のブロック図。第２図は第１
図の周波数温度特性図、第３図は本発明の具体例を示ず
′電子時計の回路図。館４図、第８図は、第３］ンｊに
おける要部回路図。第５図、第６図、第７図は第・１図
における電圧波形し１゜第９図は第８図の高度特性図。 第１０図は第３図、第４図、第８図の搗）Ｗ特性図であ
る。 １　・・低周波発振回路、 ２・・−・補正装置、 ４・・・−・温度検出装置、 ６−・・高ＩＡｉ波発振回路、 ７・・・・・・発振制御回路、 ８　・・・・比較回路。 第　１　図 第５図 第６図 ２０ｔ２１ 第７図 ｔ）、　　　ｔ２　　　　ｔ３ 第９図 第１０図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）基準信号を発生するための低周波発振回路、前記
   基準信号を分周して時間基準信号を作成する分周回路、
   前記時間基準信号により時刻表示を行う時刻表示手段を
   備えた電子時計に於て、前記時間基準信号を補正するた
   めの補正手段、校正用信号を発生する高周波発振回路、
   及び前記低周波発振回路と高周波発振回路との出力信号
   を比較する比較回路を設け、前記比較回路は前記低周波
   発振回路の出力信号と高周波発振回路の出力信号との位
   相比較を行う位相検出手段と該位相検出手段より出力さ
   れろ位相信号を計数する位相差カウンタと該位相差カウ
   ンタの計数内容に従って補正方向に対応した信号と補正
   量に対応した信号とを発生する補正信号作成回路により
   構成され、前記補正手段は比較回路よりの補正方向及び
   補正量に対応した信号により制御されろことを特徴とす
   る電子時計。 （２、特許請求の範囲第１項記載の比較回路は、位相差
   カウンタの割数内容に対応し、補正量信号の−１−限を
   制限するための補正量制限手段を有することを特徴とす
   る電子特訓。