JPS5891665A - パツケ−ジ - Google Patents
パツケ−ジInfo
- Publication number
- JPS5891665A JPS5891665A JP57143553A JP14355382A JPS5891665A JP S5891665 A JPS5891665 A JP S5891665A JP 57143553 A JP57143553 A JP 57143553A JP 14355382 A JP14355382 A JP 14355382A JP S5891665 A JPS5891665 A JP S5891665A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- piston
- substrate
- aperture
- semiconductor
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/70—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control
- H10W40/77—Auxiliary members characterised by their shape
- H10W40/774—Pistons, e.g. spring-loaded members
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/877—Bump connectors and die-attach connectors
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明の分野
本発明は、半導体素子によシ生じる熱エネルギを放散さ
せるための構造体に係シ、更に具体的に云えば、はんだ
接続部を用いて基板上に装着された集積回路半導体素子
を、それらの素子上に装着された冷却板を用いて冷却す
るための熱伝導システムに係る。
せるための構造体に係シ、更に具体的に云えば、はんだ
接続部を用いて基板上に装着された集積回路半導体素子
を、それらの素子上に装着された冷却板を用いて冷却す
るための熱伝導システムに係る。
高い回路密度を有する今日の集積回路半導体素子に於て
は、それらの素子の動作パラメータ全予定の範囲内に保
つ様な範囲内にそれらの素子の温度を維持し、又過熱に
よシそれらの素子が破壊されない様にするために、それ
らの素子の動作により生じた熱を効果的且つ迅速に除く
必要がある。
は、それらの素子の動作パラメータ全予定の範囲内に保
つ様な範囲内にそれらの素子の温度を維持し、又過熱に
よシそれらの素子が破壊されない様にするために、それ
らの素子の動作により生じた熱を効果的且つ迅速に除く
必要がある。
この熱除去の問題は、素子全基板上の適当な端子に電気
的に接続するはんだの端子を用いて素子が支持基板に接
続きれる場合には、更に大きくなる。
的に接続するはんだの端子を用いて素子が支持基板に接
続きれる場合には、更に大きくなる。
その様なはん屑接続された素子に於ては、はんだ接続部
を経て達成され得る熱の転送ハ゛、背面接続された素子
に比べて、限定されている。従って、動作中に生じた熱
の大部分が素子の裏側から除去でれねばならない。
を経て達成され得る熱の転送ハ゛、背面接続された素子
に比べて、限定されている。従って、動作中に生じた熱
の大部分が素子の裏側から除去でれねばならない。
半導体素子からの熱の冷却又は除去は多数の周知技術に
よって達成され得る。1つの一般的な技術は、素子を包
囲している空気が伝導及υ対流によシ熱を除去し得る様
にすることである。その熱の除去は、素子上及びその周
囲に空気を強制的に循環させることによって増加され得
る。しかしながら、この技術によシ除去され得る熱の量
は、極めて限定されておシ、概して高密度及び高性能の
半導体素子には不充分である。素子の冷却は又、素子を
適当な冷却液中に浸漬することによっても達成され得る
。しかしながら、冷却液ば、素子及び基板の金f!【上
領域を腐食させ、又パッケージが修理を要する場合に再
加工の問題を生じ伶る。冷却は又、素子の裏側とカバー
又は冷却板との間に′ 熱伝導性の連接材料
を設けることによっても達成され得る。しかしながら、
この一般的技術はその使用に関連して多くの問題を有し
ている、その材料が熱的グリースの場合の如く濃い粘性
流体である場合には、その材料は特に素子が加熱された
ときに移動しそして素子及び基板の金WA【ヒ領斌に浸
出して、腐食そして恐らく短絡を生ぜしめ得る。
よって達成され得る。1つの一般的な技術は、素子を包
囲している空気が伝導及υ対流によシ熱を除去し得る様
にすることである。その熱の除去は、素子上及びその周
囲に空気を強制的に循環させることによって増加され得
る。しかしながら、この技術によシ除去され得る熱の量
は、極めて限定されておシ、概して高密度及び高性能の
半導体素子には不充分である。素子の冷却は又、素子を
適当な冷却液中に浸漬することによっても達成され得る
。しかしながら、冷却液ば、素子及び基板の金f!【上
領域を腐食させ、又パッケージが修理を要する場合に再
加工の問題を生じ伶る。冷却は又、素子の裏側とカバー
又は冷却板との間に′ 熱伝導性の連接材料
を設けることによっても達成され得る。しかしながら、
この一般的技術はその使用に関連して多くの問題を有し
ている、その材料が熱的グリースの場合の如く濃い粘性
流体である場合には、その材料は特に素子が加熱された
ときに移動しそして素子及び基板の金WA【ヒ領斌に浸
出して、腐食そして恐らく短絡を生ぜしめ得る。
上記材料が然るべき位置に固定されておシそして材料そ
れ自体が硬い場合には、材料及び素子の温度変rヒの結
果、しばしば素子を破壊して使用不可能にさせ得る応力
が生じ得る。又、ピストンの如き、可動材料片よシ成る
熱伝導性の連接部材も知られている。しかしながら、そ
の素子は、パッケージが衝撃又は慣性力を受けた場合に
、破壊され易い。更に、素子とピストンとの間に界面接
触を達成することが困難である。素子を基板に接続させ
ているはんだ接続部の長さに少しでも変動があれば、素
子の裏面が可動ピストンに面接触せずに点接触又は#J
接触しかしていない、傾いた素子が生じ得る。これは、
素子とピストンとの間の熱抵抗を増加させ、素子により
生じた熱を放散させる能力を低下させる。
れ自体が硬い場合には、材料及び素子の温度変rヒの結
果、しばしば素子を破壊して使用不可能にさせ得る応力
が生じ得る。又、ピストンの如き、可動材料片よシ成る
熱伝導性の連接部材も知られている。しかしながら、そ
の素子は、パッケージが衝撃又は慣性力を受けた場合に
、破壊され易い。更に、素子とピストンとの間に界面接
触を達成することが困難である。素子を基板に接続させ
ているはんだ接続部の長さに少しでも変動があれば、素
子の裏面が可動ピストンに面接触せずに点接触又は#J
接触しかしていない、傾いた素子が生じ得る。これは、
素子とピストンとの間の熱抵抗を増加させ、素子により
生じた熱を放散させる能力を低下させる。
先行技術
次に示す従来技術の文献は、はんだ接続された半導体素
子から熱を除去するための種々の構造体について記載し
ている。
子から熱を除去するための種々の構造体について記載し
ている。
米国特許第3741292号及び第3851221号の
明細iは、複数の半導体素子を包囲している低沸点の誘
電性流体を含む半導体パッケージについて開示している
。
明細iは、複数の半導体素子を包囲している低沸点の誘
電性流体を含む半導体パッケージについて開示している
。
米国特許第5993125号の明細1は、素子から冷却
板へ熱を伝導させて逃がすために、可動熱伝導ピストン
がはんだ接続されている半導体素子の裏側に接触されて
配置されている、半導体パ・ノケージについて開示して
いる。
板へ熱を伝導させて逃がすために、可動熱伝導ピストン
がはんだ接続されている半導体素子の裏側に接触されて
配置されている、半導体パ・ノケージについて開示して
いる。
米国特許第4235283号の明細誓は、素子の裏側か
ら熱を除去するための、各部分に分けられた熱伝導ピス
トンについて開示している。その各部分に分けられたピ
ストンは、素子が傾いている場合でも素子の裏側に複数
の点で接触する様に適合されておシ、ピストンと素子と
の界面に跨ってよシ低い熱抵抗を得る。
ら熱を除去するための、各部分に分けられた熱伝導ピス
トンについて開示している。その各部分に分けられたピ
ストンは、素子が傾いている場合でも素子の裏側に複数
の点で接触する様に適合されておシ、ピストンと素子と
の界面に跨ってよシ低い熱抵抗を得る。
米国特許第4156458号の明細嘗は、素子から熱シ
ンクに熱全伝導させるために金属箔の束が用いられてい
るパッケージについて開示している。
ンクに熱全伝導させるために金属箔の束が用いられてい
るパッケージについて開示している。
米国特許第40’92697号ノ明細IFI′i、熱的
液体材料で充填された成形可能な柱状部材が半導体素子
の裏側とチャツプとの間に露出されて、熱伝導ブリッジ
として働く、半導体パッケージについて開示している。
液体材料で充填された成形可能な柱状部材が半導体素子
の裏側とチャツプとの間に露出されて、熱伝導ブリッジ
として働く、半導体パッケージについて開示している。
本発明の要旨
本発明の目的は、高密度の集積半導体素子のための、簡
曝且っ安価で効率的な熱伝導冷却構造体全提供すること
である。
曝且っ安価で効率的な熱伝導冷却構造体全提供すること
である。
本発明の他の目的は、半導体素子とピストンとの間に界
面接触が達成され、従って界面の熱抵抗全減少させ得る
、半導体パッケージ熱伝導冷却構造体全提供することで
ある。
面接触が達成され、従って界面の熱抵抗全減少させ得る
、半導体パッケージ熱伝導冷却構造体全提供することで
ある。
本発明の更に他の目的は、パッケージが大きな衝撃及び
/若しくは加速力又は減速力を受けた場合でも、チップ
への衝撃による損傷が最小限にされる、半導体パッケー
ジのための熱伝導冷却システムを提供することである。
/若しくは加速力又は減速力を受けた場合でも、チップ
への衝撃による損傷が最小限にされる、半導体パッケー
ジのための熱伝導冷却システムを提供することである。
基板と、裏面が上記基板と反対側に於て上を向く様に基
板上に装着された少くとも1つの半導体素子と、上記基
板の上に装着された熱シンクとを有する半導体パッケー
ジのための本発明による改良された熱伝導冷却システム
は、−力の端部が素子の裏面に接触する様に開孔中に於
て熱シンク上にスジ1ド5’1TiQに装着されている
冷却ピストンと、上記ピストンが上記素子に接触する様
に上記ピストンを下刃に促しそして上記ピストンと上記
熱シンクとの間にしつかシした一定の表面間接触が得ら
れる様に上記ピストンを横力向に促すための手段と、上
記開孔中に於て上記ピストンが回転することを防ぐ手段
とt有することを特徴とする。
板上に装着された少くとも1つの半導体素子と、上記基
板の上に装着された熱シンクとを有する半導体パッケー
ジのための本発明による改良された熱伝導冷却システム
は、−力の端部が素子の裏面に接触する様に開孔中に於
て熱シンク上にスジ1ド5’1TiQに装着されている
冷却ピストンと、上記ピストンが上記素子に接触する様
に上記ピストンを下刃に促しそして上記ピストンと上記
熱シンクとの間にしつかシした一定の表面間接触が得ら
れる様に上記ピストンを横力向に促すための手段と、上
記開孔中に於て上記ピストンが回転することを防ぐ手段
とt有することを特徴とする。
ど
第1図乃至第3図は、マルチ・チップ半導体パツケ・−
ジ10に適用された本発明による改良された熱伝導冷却
システムの1実施例會示している。
ジ10に適用された本発明による改良された熱伝導冷却
システムの1実施例會示している。
半導体パッケージ10は、基板の上面に装着された半導
体素子14を相互に接続し且つそれら上基板の底面上の
I10ビン16に接続するための適当な金属系上布する
誘電体材料より成る基板12會有している。任意の適当
な相互接続系が基板12中に用いられ得る。しかしなが
ら、素子14が高密度で集積されて多数の素子が畦−の
基板上に相互接続されるべき場合には、米国特許第42
45275号の明細筈に開示されている如き多1セラミ
ック基板構造体が好ましい。素子14は、米国特許第3
429CI40号及び第3495133号に記載のはん
だ接続部18によって、基板12の金属比領域に電気的
に接続されている東示されている。カバー即ちキャップ
20は、基板12と組合わされて、素子14上に封入体
を形成する。上記カバーは任意の適当な方法で基板12
に接続されることが出来、飼えばカバーは例えば硬ろう
付けによシ基板12に接続されたフランジ22に接続さ
れ得る。素子14によシそれらの動作中に生じた熱k
パッケージからよシ効果的に除くために、液体によシ冷
却されている冷却板24がカバー20に暇付けられてい
る。カバーから熱會除くために他の適当な手段も用いら
れることが出来、例えば空気を移動さぜることによシ冷
却きれるヒレ状部分、蒸発技術及び同種の手段も用いら
れ得ること全理解されたい。
体素子14を相互に接続し且つそれら上基板の底面上の
I10ビン16に接続するための適当な金属系上布する
誘電体材料より成る基板12會有している。任意の適当
な相互接続系が基板12中に用いられ得る。しかしなが
ら、素子14が高密度で集積されて多数の素子が畦−の
基板上に相互接続されるべき場合には、米国特許第42
45275号の明細筈に開示されている如き多1セラミ
ック基板構造体が好ましい。素子14は、米国特許第3
429CI40号及び第3495133号に記載のはん
だ接続部18によって、基板12の金属比領域に電気的
に接続されている東示されている。カバー即ちキャップ
20は、基板12と組合わされて、素子14上に封入体
を形成する。上記カバーは任意の適当な方法で基板12
に接続されることが出来、飼えばカバーは例えば硬ろう
付けによシ基板12に接続されたフランジ22に接続さ
れ得る。素子14によシそれらの動作中に生じた熱k
パッケージからよシ効果的に除くために、液体によシ冷
却されている冷却板24がカバー20に暇付けられてい
る。カバーから熱會除くために他の適当な手段も用いら
れることが出来、例えば空気を移動さぜることによシ冷
却きれるヒレ状部分、蒸発技術及び同種の手段も用いら
れ得ること全理解されたい。
カバー20は、各半導体素子14上に配置された円筒形
開孔26全含む。各開孔26中には、半導体素子に接触
する底面30及び傾斜した上面32を有している円筒形
ピストン28がスライド町舵に配置されている。円筒形
開孔26の直径とピストン28の直径との間には、円筒
形開孔の壁に隣接するピストンの壁の半分の上のはんだ
層のためのスペースが得られる様に充分なすきまが設け
られていることが好ましい。その場合には、ピストンの
壁の他の半分は何らはんだを有していない。
開孔26全含む。各開孔26中には、半導体素子に接触
する底面30及び傾斜した上面32を有している円筒形
ピストン28がスライド町舵に配置されている。円筒形
開孔26の直径とピストン28の直径との間には、円筒
形開孔の壁に隣接するピストンの壁の半分の上のはんだ
層のためのスペースが得られる様に充分なすきまが設け
られていることが好ましい。その場合には、ピストンの
壁の他の半分は何らはんだを有していない。
いずれの場合でも、ピストンの壁の半分は円筒形開孔の
壁と接触していない。ピストン28と素子14との間の
界面に跨る熱抵抗を減少させて、熱除去システムの効率
を増すためには、ピストン28と素子14との間に良好
な界面接触全達成することが重要である。好ましくは、
第2図に於てより明確に示されている如く、ピストン2
8の底面30と素子14との間に低融点の熱伝導性材料
層34が配置される。低融点を有する典型的な熱伝導性
材料は、60℃乃至250℃の範囲の融点を有する、つ
・/ド・メタルの如き金属合金及び同種のものである。
壁と接触していない。ピストン28と素子14との間の
界面に跨る熱抵抗を減少させて、熱除去システムの効率
を増すためには、ピストン28と素子14との間に良好
な界面接触全達成することが重要である。好ましくは、
第2図に於てより明確に示されている如く、ピストン2
8の底面30と素子14との間に低融点の熱伝導性材料
層34が配置される。低融点を有する典型的な熱伝導性
材料は、60℃乃至250℃の範囲の融点を有する、つ
・/ド・メタルの如き金属合金及び同種のものである。
ピストン28は、例えば、はんだで湿潤され得る銅の如
き良好な熱伝導性材料よシ成る。動作に於て、熱伝導性
材料層34は、はんだで湿潤され得るピストンに付着す
べきであるが、素子14の裏面に付着してはならない、
動作に於て、層34は溶融されて、ピストンと素子14
との間に順心した界面全形成する。ピストン28の側壁
上にも、ピストンと開孔26の壁この間の界面接触を増
す同様な熱伝導性材料層36が付着され得る。カバー2
0の材料かはんだで湿潤され得なければ、li#36は
ピストン28のみに付着する。
き良好な熱伝導性材料よシ成る。動作に於て、熱伝導性
材料層34は、はんだで湿潤され得るピストンに付着す
べきであるが、素子14の裏面に付着してはならない、
動作に於て、層34は溶融されて、ピストンと素子14
との間に順心した界面全形成する。ピストン28の側壁
上にも、ピストンと開孔26の壁この間の界面接触を増
す同様な熱伝導性材料層36が付着され得る。カバー2
0の材料かはんだで湿潤され得なければ、li#36は
ピストン28のみに付着する。
@36は、加熱されると、@34と同様にそして好まし
くは+134と同時に開孔26の内側に順応する。余分
のはんだが円筒形ピストンの壁の下端にはんだの肩部t
′影形成ない様にするために、ピストン中に溝全形成し
てもよく、又は壁のその領域の表面全はんだで湿潤され
ない様に処理してもよい。ピストンの側壁及びピストン
の底面との間の順応した界面を維持するためには、該ピ
ストンが回転されない様にされねばならない。その様な
回転は、開孔26中に長手方向に延びるスロット40及
びピストン28の上面中の凹所42と相互に作用する戻
シ止め38全配置することによって防がれる。戻り止め
3日は、カバー20中の穴46中に据えられたコイルば
ね44によって下刃にバイアスされてい・る球状のボー
ルであることが好ましい。第3図に示されている如く、
縦方向スロット40の断面の曲率は戻9止め叩ち球状の
ボーク ル38の曲率に対応していることが好ましい。同様に、
凹所42は、ピストン28の上面32に跨る距離のすべ
て又は一部に延びている溝であり、ボール38の曲率当
径に対応する曲率半径を有している。この様な配置は、
ピストン28の回転を防ぐ手段全厚えるとともに、ピス
トン28が素子14に接触する様にピストン28を下刃
にバ1アスさせ且つピストンの側壁が開孔26の側壁に
接触する様に該ピストン全横力向にバ1アスさせる手段
會与える。上記戻I)止め及び溝の形状並びにバ1アス
させる方法が変更され得ることは明らかである。更に、
素子とピストンとの間及びピストンと開孔の側壁との間
の界面接触?増す層34及び36は除かれてもよいが、
その場合には成る程度の熱伝導性の損失を伴う。第3図
に示されている如く、開孔26、縦方向スロット40、
及び穴46は、適切な円形の中ぐシバ1トを選択するこ
とによって、カバー20中に簡便に機械加工され得る。
くは+134と同時に開孔26の内側に順応する。余分
のはんだが円筒形ピストンの壁の下端にはんだの肩部t
′影形成ない様にするために、ピストン中に溝全形成し
てもよく、又は壁のその領域の表面全はんだで湿潤され
ない様に処理してもよい。ピストンの側壁及びピストン
の底面との間の順応した界面を維持するためには、該ピ
ストンが回転されない様にされねばならない。その様な
回転は、開孔26中に長手方向に延びるスロット40及
びピストン28の上面中の凹所42と相互に作用する戻
シ止め38全配置することによって防がれる。戻り止め
3日は、カバー20中の穴46中に据えられたコイルば
ね44によって下刃にバイアスされてい・る球状のボー
ルであることが好ましい。第3図に示されている如く、
縦方向スロット40の断面の曲率は戻9止め叩ち球状の
ボーク ル38の曲率に対応していることが好ましい。同様に、
凹所42は、ピストン28の上面32に跨る距離のすべ
て又は一部に延びている溝であり、ボール38の曲率当
径に対応する曲率半径を有している。この様な配置は、
ピストン28の回転を防ぐ手段全厚えるとともに、ピス
トン28が素子14に接触する様にピストン28を下刃
にバ1アスさせ且つピストンの側壁が開孔26の側壁に
接触する様に該ピストン全横力向にバ1アスさせる手段
會与える。上記戻I)止め及び溝の形状並びにバ1アス
させる方法が変更され得ることは明らかである。更に、
素子とピストンとの間及びピストンと開孔の側壁との間
の界面接触?増す層34及び36は除かれてもよいが、
その場合には成る程度の熱伝導性の損失を伴う。第3図
に示されている如く、開孔26、縦方向スロット40、
及び穴46は、適切な円形の中ぐシバ1トを選択するこ
とによって、カバー20中に簡便に機械加工され得る。
第4図、第5図及び第6図は、本発明による熱伝導冷却
システムのもう1つの好実施[HJt−示している。半
導体パッケージ5oは、前述の実施例に於ける基板の場
合と同様な相互接続金属系及び工10ビン164設けら
れている。1つ又はそれμ上の半導体素子14がはんだ
接続部18によシ基板の金属系に相互接続されている。
システムのもう1つの好実施[HJt−示している。半
導体パッケージ5oは、前述の実施例に於ける基板の場
合と同様な相互接続金属系及び工10ビン164設けら
れている。1つ又はそれμ上の半導体素子14がはんだ
接続部18によシ基板の金属系に相互接続されている。
カバー52は、基板12とともに、基板12上に装着さ
れている素子14のための封入体全形成する。カバー5
2には、素子14によシ生じた熱全放散きせるためのヒ
レ状部分54が設けられている。これは、第1図乃至第
3図に関連して述べたマルチ・チップ半導体パッケージ
にも用いられ得ることは明らかである。カバー52は素
子14の上に開孔56を有し、開孔56内にピストン5
8がステ1ド0111に装着されている。ピストン58
FX、、低融点の熱伝導性材料層34及び36會その底
面上及び側面上に各々設けられていることが好ましい。
れている素子14のための封入体全形成する。カバー5
2には、素子14によシ生じた熱全放散きせるためのヒ
レ状部分54が設けられている。これは、第1図乃至第
3図に関連して述べたマルチ・チップ半導体パッケージ
にも用いられ得ることは明らかである。カバー52は素
子14の上に開孔56を有し、開孔56内にピストン5
8がステ1ド0111に装着されている。ピストン58
FX、、低融点の熱伝導性材料層34及び36會その底
面上及び側面上に各々設けられていることが好ましい。
轡34及び36は前述の実施例の場合と同様にして働く
。
。
又、ピストン58と開孔56との間には、はんだ接続部
18の異なる高さによって生じ得る傾斜した素子14が
収容され得る様にピストン58の限定された傾斜を許容
するに充分なすきまが設けられている。ピストン58が
開孔56内で回転しない様にするために、開孔56け非
円形の断面構造全層している。成る好ましいピストンは
、第6図に示されている如く、矩形の断面構造を有して
いる。ピストン58及び開孔56の断面構造は、回転會
防ぐために、任意の他の適当な非円形構造であシ得る。
18の異なる高さによって生じ得る傾斜した素子14が
収容され得る様にピストン58の限定された傾斜を許容
するに充分なすきまが設けられている。ピストン58が
開孔56内で回転しない様にするために、開孔56け非
円形の断面構造全層している。成る好ましいピストンは
、第6図に示されている如く、矩形の断面構造を有して
いる。ピストン58及び開孔56の断面構造は、回転會
防ぐために、任意の他の適当な非円形構造であシ得る。
ピストンを前述の実施例の場合の如く下刃即ち軸力向に
バ1アスさせる機構か設けられている。ピストン58の
上端には、傾斜した上面32が設けられている。キャッ
プ52中には、円筒形の穴60が上面32全略横断する
角度で設けられている。穴60内に社、ピストン58の
上面32と係合する様に頭部金層するビン64′にバ1
アスさせるコイルばね62が据えられている。この配置
は、ピストン58が素子14に接触するとともにピスト
ン58が開孔56の側壁に押しつけられる様にピストン
58會維持する。
バ1アスさせる機構か設けられている。ピストン58の
上端には、傾斜した上面32が設けられている。キャッ
プ52中には、円筒形の穴60が上面32全略横断する
角度で設けられている。穴60内に社、ピストン58の
上面32と係合する様に頭部金層するビン64′にバ1
アスさせるコイルばね62が据えられている。この配置
は、ピストン58が素子14に接触するとともにピスト
ン58が開孔56の側壁に押しつけられる様にピストン
58會維持する。
第1図は水によシ冷却されるマルチ・チップ半導体パッ
ケージに適用された本発明にrる改良された熱伝導冷却
システムの1実施例を示している縦断面図、第2図は第
1図の実施例を拡大して示している縦断面図、第3図は
第2図の線3−3から見た上面図、第4図は本発明によ
るもう1つの実施列を用いている半導体パッケージを示
している縦断面図、第5図は第4図の実施例を拡大して
示している縦断面図、第6図は第5図の線6−6から見
た上面図である。 10.50・・・・半導体゛パツケー′ジ、12・・・
・基板、14・・・°半導体素子、16・・・・■10
ビン、18・・・・はんだ接続部、20.52・・・・
カバー即ちキャップ(熱シンク)、22・・・・フラン
ジ、24・・・・冷却板、26・・・・円筒形開孔、2
8・・・・円筒形ピストン、30・・・・底面、32・
・・・傾斜した上面、34.36・・・・熱伝導性材料
層、38・・・・戻シ止め(球状のボール)、40・・
・・縦方向スロット、42・・・・凹所、44.62・
・・・コ1ルばね、46.60・・・・穴、54・・・
・ヒレ状部分、56・・イ ・・非円形断面構
造の開孔、58・・・・非円杉断面構′1 造のピストン、64・・・・頭部を有するヒ=ン。
ケージに適用された本発明にrる改良された熱伝導冷却
システムの1実施例を示している縦断面図、第2図は第
1図の実施例を拡大して示している縦断面図、第3図は
第2図の線3−3から見た上面図、第4図は本発明によ
るもう1つの実施列を用いている半導体パッケージを示
している縦断面図、第5図は第4図の実施例を拡大して
示している縦断面図、第6図は第5図の線6−6から見
た上面図である。 10.50・・・・半導体゛パツケー′ジ、12・・・
・基板、14・・・°半導体素子、16・・・・■10
ビン、18・・・・はんだ接続部、20.52・・・・
カバー即ちキャップ(熱シンク)、22・・・・フラン
ジ、24・・・・冷却板、26・・・・円筒形開孔、2
8・・・・円筒形ピストン、30・・・・底面、32・
・・・傾斜した上面、34.36・・・・熱伝導性材料
層、38・・・・戻シ止め(球状のボール)、40・・
・・縦方向スロット、42・・・・凹所、44.62・
・・・コ1ルばね、46.60・・・・穴、54・・・
・ヒレ状部分、56・・イ ・・非円形断面構
造の開孔、58・・・・非円杉断面構′1 造のピストン、64・・・・頭部を有するヒ=ン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体素子上基板上の金属化領域に結合及び電気的に接
続する手段と、上記基板上に於て上記素子の上に設けら
れたカバーと上布するパッケージに於て、 上記カバー中の開孔内にクラ1ド可能に装着された少く
とも1つのピストンと、 上記ピストンが上記素子の裏側と接触する様に該ピスト
ン?長手方向に促し且つ上記ピストンが上記開孔の壁と
接触する様に該ピストンを横力向に促す手段と、 上記ピストンが上記開孔内で回転することを防ぐ手段と
金有すること全特徴とするパッケージ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US322322 | 1981-11-17 | ||
| US06/322,322 US4462462A (en) | 1981-11-17 | 1981-11-17 | Thermal conduction piston for semiconductor packages |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5891665A true JPS5891665A (ja) | 1983-05-31 |
| JPS6238861B2 JPS6238861B2 (ja) | 1987-08-20 |
Family
ID=23254373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57143553A Granted JPS5891665A (ja) | 1981-11-17 | 1982-08-20 | パツケ−ジ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4462462A (ja) |
| EP (1) | EP0079424B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5891665A (ja) |
| DE (1) | DE3278000D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036848A (ja) * | 1989-06-03 | 1991-01-14 | Hitachi Ltd | 半導体冷却モジュール |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4610299A (en) * | 1985-04-01 | 1986-09-09 | S.I.E., Inc. | Spring-biased heat sink |
| EP0217676B1 (en) * | 1985-10-04 | 1993-09-01 | Fujitsu Limited | Cooling system for electronic circuit device |
| JPH063831B2 (ja) * | 1987-04-08 | 1994-01-12 | 株式会社日立製作所 | 冷却装置及びそれを用いた半導体装置 |
| US5005638A (en) * | 1988-10-31 | 1991-04-09 | International Business Machines Corporation | Thermal conduction module with barrel shaped piston for improved heat transfer |
| US4882654A (en) * | 1988-12-22 | 1989-11-21 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method and apparatus for adjustably mounting a heat exchanger for an electronic component |
| US5265670A (en) * | 1990-04-27 | 1993-11-30 | International Business Machines Corporation | Convection transfer system |
| JPH07114250B2 (ja) * | 1990-04-27 | 1995-12-06 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 熱伝達システム |
| US5291371A (en) * | 1990-04-27 | 1994-03-01 | International Business Machines Corporation | Thermal joint |
| FR2673354B1 (fr) * | 1991-02-27 | 1994-01-28 | Telecommunications Sa | Enceinte de reception de composants electroniques, embarquee sur un missile. |
| US5146981A (en) * | 1991-11-14 | 1992-09-15 | Digital Equipment Corporation | Substrate to heatsink interface apparatus and method |
| US5283467A (en) * | 1992-06-05 | 1994-02-01 | Eaton Corporation | Heat sink mounting system for semiconductor devices |
| JPH1070219A (ja) * | 1996-08-27 | 1998-03-10 | Fujitsu Ltd | 実装モジュールの冷却装置 |
| US5983997A (en) * | 1996-10-17 | 1999-11-16 | Brazonics, Inc. | Cold plate having uniform pressure drop and uniform flow rate |
| US6019164A (en) * | 1997-12-31 | 2000-02-01 | Temptronic Corporation | Workpiece chuck |
| US6328096B1 (en) | 1997-12-31 | 2001-12-11 | Temptronic Corporation | Workpiece chuck |
| US6073681A (en) | 1997-12-31 | 2000-06-13 | Temptronic Corporation | Workpiece chuck |
| US5933325A (en) * | 1998-06-17 | 1999-08-03 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Detachable fastening device for use with heat sink |
| US6214647B1 (en) * | 1998-09-23 | 2001-04-10 | International Business Machines Corporation | Method for bonding heatsink to multiple-height chip |
| ITUD20020190A1 (it) * | 2002-09-09 | 2004-03-10 | De Longhi Spa | Dispositivo per la produzione di gelato |
| US6771507B1 (en) * | 2003-01-31 | 2004-08-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Power module for multi-chip printed circuit boards |
| US7480143B2 (en) * | 2003-04-21 | 2009-01-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Variable-gap thermal-interface device |
| US20060221571A1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-05 | Oberlin Gary E | Thermal conductor and use thereof |
| DE102007049035B4 (de) * | 2007-10-11 | 2011-01-13 | GE Fanuc Intelligent Platforms Embedded Systems, Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware) | Chipkühlvorrichtung mit Keilelement |
| US20110162828A1 (en) * | 2010-01-06 | 2011-07-07 | Graham Charles Kirk | Thermal plug for use with a heat sink and method of assembling same |
| DE202010007905U1 (de) * | 2010-06-12 | 2010-08-26 | Schneeberger Holding Ag | Wärmeleitelement, Anordnung und Verwendung desselben |
| US10702137B2 (en) | 2016-03-14 | 2020-07-07 | Intuitive Surgical Operations, Inc.. | Endoscopic instrument with compliant thermal interface |
| US10375863B2 (en) * | 2017-11-28 | 2019-08-06 | Dell Products, L.P. | Liquid cooled chassis |
| US10980151B2 (en) * | 2018-07-31 | 2021-04-13 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Flexible heat transfer mechanism configurations |
| US11778725B2 (en) * | 2021-11-11 | 2023-10-03 | Cisco Technology, Inc. | Thermal interface material (TIM) filling structure for high warpage chips |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3993123A (en) * | 1975-10-28 | 1976-11-23 | International Business Machines Corporation | Gas encapsulated cooling module |
| US4193445A (en) * | 1978-06-29 | 1980-03-18 | International Business Machines Corporation | Conduction cooled module |
| US4235283A (en) * | 1979-12-17 | 1980-11-25 | International Business Machines Corporation | Multi-stud thermal conduction module |
| EP0097157B1 (en) * | 1981-12-29 | 1987-09-30 | International Business Machines Corporation | Cooling means for integrated circuit chip device |
-
1981
- 1981-11-17 US US06/322,322 patent/US4462462A/en not_active Expired - Lifetime
-
1982
- 1982-07-16 EP EP82106402A patent/EP0079424B1/en not_active Expired
- 1982-07-16 DE DE8282106402T patent/DE3278000D1/de not_active Expired
- 1982-08-20 JP JP57143553A patent/JPS5891665A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036848A (ja) * | 1989-06-03 | 1991-01-14 | Hitachi Ltd | 半導体冷却モジュール |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3278000D1 (en) | 1988-02-18 |
| JPS6238861B2 (ja) | 1987-08-20 |
| EP0079424A2 (en) | 1983-05-25 |
| EP0079424B1 (en) | 1988-01-13 |
| US4462462A (en) | 1984-07-31 |
| EP0079424A3 (en) | 1985-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5891665A (ja) | パツケ−ジ | |
| US4442450A (en) | Cooling element for solder bonded semiconductor devices | |
| US4639829A (en) | Thermal conduction disc-chip cooling enhancement means | |
| US4479140A (en) | Thermal conduction element for conducting heat from semiconductor devices to a cold plate | |
| US5052481A (en) | High conduction cooling module having internal fins and compliant interfaces for vlsi chip technology | |
| US5920458A (en) | Enhanced cooling of a heat dissipating circuit element | |
| US4415025A (en) | Thermal conduction element for semiconductor devices | |
| US6180436B1 (en) | Method for removing heat from a flip chip semiconductor device | |
| US4448240A (en) | Telescoping thermal conduction element for cooling semiconductor devices | |
| US7299639B2 (en) | Thermoelectric module | |
| US5557500A (en) | Heat dissipating arrangement in a portable computer | |
| US6075287A (en) | Integrated, multi-chip, thermally conductive packaging device and methodology | |
| US4483389A (en) | Telescoping thermal conduction element for semiconductor devices | |
| US20040150956A1 (en) | Pin fin heat sink for power electronic applications | |
| US20020015288A1 (en) | High performance thermal/mechanical interface for fixed-gap references for high heat flux and power semiconductor applications | |
| EP0369115B1 (en) | Thermal conduction module | |
| EP1231632A2 (en) | Heat sink with fins | |
| JPS59217345A (ja) | 放熱組立体 | |
| JPS5823463A (ja) | 熱的ブリツジ素子 | |
| JP2004072106A (ja) | 可調整ペデスタル熱界面 | |
| EP0167033B1 (en) | Apparatus for conduction cooling | |
| JPS58501648A (ja) | 冷却手段を備えた半導体組立体 | |
| JPH0573061B2 (ja) | ||
| JPS63228650A (ja) | 発熱素子用冷却装置 | |
| US6118660A (en) | Circuit module with improved heat transfer |