JPS5896276U - 集積回路用測定治具 - Google Patents

集積回路用測定治具

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Publication number
JPS5896276U
JPS5896276U JP19107681U JP19107681U JPS5896276U JP S5896276 U JPS5896276 U JP S5896276U JP 19107681 U JP19107681 U JP 19107681U JP 19107681 U JP19107681 U JP 19107681U JP S5896276 U JPS5896276 U JP S5896276U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
integrated circuits
measuring jig
recess
external lead
contact pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP19107681U
Other languages
English (en)
Inventor
広瀬 茂春
寛 石野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP19107681U priority Critical patent/JPS5896276U/ja
Publication of JPS5896276U publication Critical patent/JPS5896276U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来例を示す断面図、第2図は他の従来例を示
す断面図、第3図は本考案の一実施例を示す断面図であ
る。 5・・・デュアルインライン型半導体集積回路装置、6
・・・外部リード、13・・・治具本体、14・・・凹
部、15・・・接触ピン、16・・・傾斜面、17・・
・端子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 治具本体に凹部を設け、該凹部内にデュアルインライン
    型半導体集草回路装置の外部リードと対応する接触ピン
    を配置すると共に、該接触ピンの上面を前記外部リード
    がスライドして接触するための傾斜面としたことを特徴
    とする集積回路用測定治具。
JP19107681U 1981-12-23 1981-12-23 集積回路用測定治具 Pending JPS5896276U (ja)

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JPS5896276U true JPS5896276U (ja) 1983-06-30

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ID=30104559

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JP19107681U Pending JPS5896276U (ja) 1981-12-23 1981-12-23 集積回路用測定治具

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990005516A (ko) * 1997-06-30 1999-01-25 윤종용 반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990005516A (ko) * 1997-06-30 1999-01-25 윤종용 반도체 칩 패키지 테스트용 테스트 소켓

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