JPS5899807A - シ−ケンス制御装置の出力試験器 - Google Patents
シ−ケンス制御装置の出力試験器Info
- Publication number
- JPS5899807A JPS5899807A JP56199367A JP19936781A JPS5899807A JP S5899807 A JPS5899807 A JP S5899807A JP 56199367 A JP56199367 A JP 56199367A JP 19936781 A JP19936781 A JP 19936781A JP S5899807 A JPS5899807 A JP S5899807A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- connector
- circuit
- memory unit
- tester
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Program-control systems
- G05B19/02—Program-control systems electric
- G05B19/04—Program control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
- G05B19/048—Monitoring; Safety
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカセット式のメモリユニットを差し変えること
Kよりシーケンス制御動作を自由に責更できるようにし
たシーケンス制御装置の出力試験器に関するものでih
シ、その目的とするところは九セット式のメモリユニッ
トの代わりに装置本体のコネクタに差し込むだけでシー
ケンス制御装置の出力試験を行ない得るようKLAシー
ケンス制御装置の出力試験器を提供するKある。
Kよりシーケンス制御動作を自由に責更できるようにし
たシーケンス制御装置の出力試験器に関するものでih
シ、その目的とするところは九セット式のメモリユニッ
トの代わりに装置本体のコネクタに差し込むだけでシー
ケンス制御装置の出力試験を行ない得るようKLAシー
ケンス制御装置の出力試験器を提供するKある。
以下本発明の構成を図示実施例について説明する0第1
図はカセット式のメモリユニット(9)を有するシーケ
ンス制御装置の外観を示すものでありSlずコントロー
ルユニット(8)には光電スイッチやリニットスイ→チ
ー近接スイッチ等のセンサ入力信号と起動・停止信号、
共通線等を接続する入力端子(1)が複数個備えてあシ
、これら入力端子(1)、(11・・・は第2図のブロ
ック図に示すように本トカプラなどによる内・終結縁手
段を有する入力回路(2)に接続しである0この入力回
路(2)を介して入力信号は雄側のコネクタ(3)に供
給されるものである0また後述のメモリユニット(9)
から送出されるシーケンス信号はコネクタ(3)を介し
て出力回路(4)に入力され、出力回路(4)内に備え
られた第3図に示すようなリレー駆動回路−及びリレー
(!1)を制御するようになっておシ、このリレー(1
1)の出力は出力端子(5)を介してソレノイドやパル
スで一部等のシーケンス制御される負荷機器へ供給され
るものである。また電源端子(6)に接続された電源回
路(力は入力回路(2)及び出力回路(4)に電源を供
給すると共にコネクタ(3)を介して後述のメモリユニ
ット(9)にも電源を供給しているものである。そして
入力端子(1)、入力回路(2)、コネクタ(3)、出
力回路(4)、出力端子(5)、電源端子(6)、電源
回路(7)とでもってコント0−ルユニット(8)を構
成しているものである0 次にメモリユニット(9)は、雌側のコネクタ(31を
有しておシ、このコネクタ(3)を介して前述のコント
ロールユニット(8)の入力回路(2)および出力回路
(4)に接続されるメ芒り素子02)を有している0こ
のメ芒り素子Q2のデータ出力0萄の一部は第4図に示
すように外部プリント板上の帰還回路04)を介して、
アドレス人力06)の一部に帰還されており、この帰還
回路(14)によりメtり素子t12)K対して次々に
新たなアドレス信号が入力されることになり、複雑な論
理演算ができるようになっている0かかるメモリユニッ
ト(9)に内層されるメ亡り素子Onとしては主として
ROMが使用されるが一バッテリバックアップを付加し
たRAMを用いてもかまわないOそして別々のプoJラ
ムを記憶したカセット式のメモリユニット(9)をコネ
クタ(3) (3)によシ差し換えることにより、容易
に別のシーケンス制御を行なえるようになっている。本
実施例においてはメtり素子a日としてEFROM(消
去可能で再プOり5ム可能なROM、具体的にはインテ
ル社の2716等)を使用しておシ、メモリユニット(
9)の窓部O4から紫外線を照射することにより一旦記
憶したプロクラムを消去し、ROMライタを用いて別の
プロクラムを記憶させ得るようになっている0上述のコ
シトロールユニット(8)、メモリユニット(9)の動
作をまとめると、入力端子(1)、(1)・・・のなか
で起動信号を入力するための起動端子に起動信号を入れ
てメモリユニット(9)のプロクラムに従いシーケンス
動作を開始し、シーケンス動作を進行させるためのセン
サ入力信号によシブ0ジラム順序どうり出力信号が出力
され、プロクラムが終るまで一連のシーケンス動作が行
なわれる0シ一ケンス動作中において停止させる必要が
あるときは入力端子(1)の停止端子に停止信号を入力
することにより停止できる0 ここで必要によシタイマ手段をコント0−ルユニット(
8)の出力端子(5)と入力端子(1)との間に接続し
てタイマ手段の限時調整部を操作して所要時限を入力側
にフィードバックできる0具体的には、公知のCRタイ
マ、経時表示可能なデジタルタイマ等を用いればよい0
またカウンタも同様に接続してカウント数やカウント完
了信号によるシーケンス信号も出力させ得る0 しかして第5図は本発明の出力試験器の上面側および下
面側の外観を示すものであり、同図に示すように出力試
験器(I7)はメモリユニット(9)とほぼ同形のカセ
ット式ケース(I@の下面側に雌形のコネクタ(L12
を設けて、メモリユニット(9)の代わりにコントロー
ルユニット(8)に装着できるようになっている。第6
図は出力試験器0?)とコントロールユニット(8)と
の接続関係を示す回路図である0同図に示すように、〕
コントロールユニット8)から供給Mo = Myは第
5図(a)に示すように出力試験器aηの上面側に外部
から操作可能に設けられている0したがって操作片Mo
= Myをオン側またはオフ側に各別に設定すると、
出力回路(4)の各人力Da=D7には任意の入力を与
えることができるものであり、これによってコントロー
ルユニット(8)の出力回路(4)内のりレー駆動回路
叫やリレーto)、および出力端子(5)に接続された
負荷機器が正常に動作するかどうかを容易にチェックで
きるものである0なおコントロールユニット(8)の上
面に、第1図に示すように入力回路(2)および出力回
路(4)の動作を示す発光タイオードLを設けておけば
、各操作片M0〜M2の操作に伴う出力回路(4)の動
作の有無を発光タイオードLの点灯および消灯によって
確認することができるので頗る好都合なものである。ま
え木実施例の説明においては、出力試験器(Iηのスイ
ッチS。
図はカセット式のメモリユニット(9)を有するシーケ
ンス制御装置の外観を示すものでありSlずコントロー
ルユニット(8)には光電スイッチやリニットスイ→チ
ー近接スイッチ等のセンサ入力信号と起動・停止信号、
共通線等を接続する入力端子(1)が複数個備えてあシ
、これら入力端子(1)、(11・・・は第2図のブロ
ック図に示すように本トカプラなどによる内・終結縁手
段を有する入力回路(2)に接続しである0この入力回
路(2)を介して入力信号は雄側のコネクタ(3)に供
給されるものである0また後述のメモリユニット(9)
から送出されるシーケンス信号はコネクタ(3)を介し
て出力回路(4)に入力され、出力回路(4)内に備え
られた第3図に示すようなリレー駆動回路−及びリレー
(!1)を制御するようになっておシ、このリレー(1
1)の出力は出力端子(5)を介してソレノイドやパル
スで一部等のシーケンス制御される負荷機器へ供給され
るものである。また電源端子(6)に接続された電源回
路(力は入力回路(2)及び出力回路(4)に電源を供
給すると共にコネクタ(3)を介して後述のメモリユニ
ット(9)にも電源を供給しているものである。そして
入力端子(1)、入力回路(2)、コネクタ(3)、出
力回路(4)、出力端子(5)、電源端子(6)、電源
回路(7)とでもってコント0−ルユニット(8)を構
成しているものである0 次にメモリユニット(9)は、雌側のコネクタ(31を
有しておシ、このコネクタ(3)を介して前述のコント
ロールユニット(8)の入力回路(2)および出力回路
(4)に接続されるメ芒り素子02)を有している0こ
のメ芒り素子Q2のデータ出力0萄の一部は第4図に示
すように外部プリント板上の帰還回路04)を介して、
アドレス人力06)の一部に帰還されており、この帰還
回路(14)によりメtり素子t12)K対して次々に
新たなアドレス信号が入力されることになり、複雑な論
理演算ができるようになっている0かかるメモリユニッ
ト(9)に内層されるメ亡り素子Onとしては主として
ROMが使用されるが一バッテリバックアップを付加し
たRAMを用いてもかまわないOそして別々のプoJラ
ムを記憶したカセット式のメモリユニット(9)をコネ
クタ(3) (3)によシ差し換えることにより、容易
に別のシーケンス制御を行なえるようになっている。本
実施例においてはメtり素子a日としてEFROM(消
去可能で再プOり5ム可能なROM、具体的にはインテ
ル社の2716等)を使用しておシ、メモリユニット(
9)の窓部O4から紫外線を照射することにより一旦記
憶したプロクラムを消去し、ROMライタを用いて別の
プロクラムを記憶させ得るようになっている0上述のコ
シトロールユニット(8)、メモリユニット(9)の動
作をまとめると、入力端子(1)、(1)・・・のなか
で起動信号を入力するための起動端子に起動信号を入れ
てメモリユニット(9)のプロクラムに従いシーケンス
動作を開始し、シーケンス動作を進行させるためのセン
サ入力信号によシブ0ジラム順序どうり出力信号が出力
され、プロクラムが終るまで一連のシーケンス動作が行
なわれる0シ一ケンス動作中において停止させる必要が
あるときは入力端子(1)の停止端子に停止信号を入力
することにより停止できる0 ここで必要によシタイマ手段をコント0−ルユニット(
8)の出力端子(5)と入力端子(1)との間に接続し
てタイマ手段の限時調整部を操作して所要時限を入力側
にフィードバックできる0具体的には、公知のCRタイ
マ、経時表示可能なデジタルタイマ等を用いればよい0
またカウンタも同様に接続してカウント数やカウント完
了信号によるシーケンス信号も出力させ得る0 しかして第5図は本発明の出力試験器の上面側および下
面側の外観を示すものであり、同図に示すように出力試
験器(I7)はメモリユニット(9)とほぼ同形のカセ
ット式ケース(I@の下面側に雌形のコネクタ(L12
を設けて、メモリユニット(9)の代わりにコントロー
ルユニット(8)に装着できるようになっている。第6
図は出力試験器0?)とコントロールユニット(8)と
の接続関係を示す回路図である0同図に示すように、〕
コントロールユニット8)から供給Mo = Myは第
5図(a)に示すように出力試験器aηの上面側に外部
から操作可能に設けられている0したがって操作片Mo
= Myをオン側またはオフ側に各別に設定すると、
出力回路(4)の各人力Da=D7には任意の入力を与
えることができるものであり、これによってコントロー
ルユニット(8)の出力回路(4)内のりレー駆動回路
叫やリレーto)、および出力端子(5)に接続された
負荷機器が正常に動作するかどうかを容易にチェックで
きるものである0なおコントロールユニット(8)の上
面に、第1図に示すように入力回路(2)および出力回
路(4)の動作を示す発光タイオードLを設けておけば
、各操作片M0〜M2の操作に伴う出力回路(4)の動
作の有無を発光タイオードLの点灯および消灯によって
確認することができるので頗る好都合なものである。ま
え木実施例の説明においては、出力試験器(Iηのスイ
ッチS。
〜S1の一端側に印加される電圧をコントロールユニッ
ト(8)の側から供給するようにした例を示したが、出
力試験器(1f)の内に電池を内蔵してコントロールユ
ニット(8)からの電源供給を省略するようにしてもか
まわない0 本発明は以上のように構成されており、コントロールユ
ニットのコネクタに差し込まれる力tット式のメモリユ
ニットを交換することによシシーケシス制御動作を自由
に変更できるようKL&シーケンス制御装置において、
上記メモリユニットと略同形のカセット式ケースを設け
て、このカセット式ケースにコントロールユニットのコ
ネクタに接続されるコネクタと、ケース外部から操作可
能な複数個のオンオフスイッチとを設けて、各オンオフ
スイッチの開閉操作によ多形成され九データ出力をコネ
クタを介して出力回路に供給するようにし九ものである
から、出力試験器を内蔵したカセット式ケースをメモリ
ユニットの代わりに差し込んで、複数個のオンオフスイ
ッチを各別に操作することによシ、コント0−ルユニッ
トの出力回路や、出力回路に接続された負荷機器が正常
に動作するかどうかを容易にチェックすることができる
という利点を有するものである。
ト(8)の側から供給するようにした例を示したが、出
力試験器(1f)の内に電池を内蔵してコントロールユ
ニット(8)からの電源供給を省略するようにしてもか
まわない0 本発明は以上のように構成されており、コントロールユ
ニットのコネクタに差し込まれる力tット式のメモリユ
ニットを交換することによシシーケシス制御動作を自由
に変更できるようKL&シーケンス制御装置において、
上記メモリユニットと略同形のカセット式ケースを設け
て、このカセット式ケースにコントロールユニットのコ
ネクタに接続されるコネクタと、ケース外部から操作可
能な複数個のオンオフスイッチとを設けて、各オンオフ
スイッチの開閉操作によ多形成され九データ出力をコネ
クタを介して出力回路に供給するようにし九ものである
から、出力試験器を内蔵したカセット式ケースをメモリ
ユニットの代わりに差し込んで、複数個のオンオフスイ
ッチを各別に操作することによシ、コント0−ルユニッ
トの出力回路や、出力回路に接続された負荷機器が正常
に動作するかどうかを容易にチェックすることができる
という利点を有するものである。
第1図は本発明の出力試験器を用いるシーケシス制御装
置の外観を示す斜視図、第2図は同上のブロック回路図
、第3図は同上の要部回路図、第4図は同上のメモリユ
ニットの内部構成を示すブロック回路図、第5図<a:
) (b)は同上の出力試験器の外観を示す斜視図、第
6図は同上の出力試験器の内部構成を示すブロック回路
図である0(2)は入力回路、(31(3)’はコネク
タ、(4)は出力回路、(8)はコントロールユニット
5(9)はメモリユニット、0埠はメ℃り素子、賭はデ
ータ出力、Iは帰還回路、(I@はアドレス入力、Q′
6は出力試験器、賭はコネクタである。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第3図 1゜ 第4図 竿5 [’4 (a)(b) 竿6図
置の外観を示す斜視図、第2図は同上のブロック回路図
、第3図は同上の要部回路図、第4図は同上のメモリユ
ニットの内部構成を示すブロック回路図、第5図<a:
) (b)は同上の出力試験器の外観を示す斜視図、第
6図は同上の出力試験器の内部構成を示すブロック回路
図である0(2)は入力回路、(31(3)’はコネク
タ、(4)は出力回路、(8)はコントロールユニット
5(9)はメモリユニット、0埠はメ℃り素子、賭はデ
ータ出力、Iは帰還回路、(I@はアドレス入力、Q′
6は出力試験器、賭はコネクタである。 代理人 弁理士 石 1)長 七 第3図 1゜ 第4図 竿5 [’4 (a)(b) 竿6図
Claims (1)
- (1) シーケンス制御装置を記憶するメ℃り素子と
・メ℃り素子のデータ出力の一部をアドレス入力の一部
として帰還する帰還回路と、メ℃り素子のデータ出力お
よびアドレス入力を外部回路に接続する第1のコネクタ
とを設けたカセット式のメモリユニットと、メモリユニ
ットの第1のコネクタに接続される第2のコネクタと、
第2のコネクタを介してメモリ素子にアドレス入力を供
給する入力回路と、第2のコネクタを介して供給される
メモリ素子からのデータ出力に応じて負荷機器を駆動す
る出力回路とを有するコント0−ルユニットとからなる
シーケンス制御装置において、上記メモリユニットと略
同形の九セット式ケースを設けて、このカセット式ケー
スに第2のコネクタと接続される第3のコネクタと、ケ
ース外部から・操作可能な複数個のオンオフスイッチと
を設けて、各オンオフスイッチの開閉操作によシ形成さ
れたデータ出力を第3のコネクタを介して出力回路に供
給するようにして成ることを特徴とするシーケンス制御
装置の出力試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56199367A JPS5899807A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | シ−ケンス制御装置の出力試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56199367A JPS5899807A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | シ−ケンス制御装置の出力試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5899807A true JPS5899807A (ja) | 1983-06-14 |
Family
ID=16406573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56199367A Pending JPS5899807A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | シ−ケンス制御装置の出力試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5899807A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62100815A (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-11 | Omron Tateisi Electronics Co | プログラマブル・コントロ−ラ |
-
1981
- 1981-12-09 JP JP56199367A patent/JPS5899807A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62100815A (ja) * | 1985-10-28 | 1987-05-11 | Omron Tateisi Electronics Co | プログラマブル・コントロ−ラ |
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