JPS59116146A - シリコン半導体素子接着用ガラス - Google Patents

シリコン半導体素子接着用ガラス

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Publication number
JPS59116146A
JPS59116146A JP57223976A JP22397682A JPS59116146A JP S59116146 A JPS59116146 A JP S59116146A JP 57223976 A JP57223976 A JP 57223976A JP 22397682 A JP22397682 A JP 22397682A JP S59116146 A JPS59116146 A JP S59116146A
Authority
JP
Japan
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glass
silicon
thermal expansion
transition temperature
silicon semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP57223976A
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English (en)
Inventor
Masaru Shinpo
新保 優
Kiyoshi Fukuda
潔 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS59116146A publication Critical patent/JPS59116146A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明はシリコン圧力センサなどの半導体素子と接着す
るガラスの組成に関する。
〔従来技術とその問題点〕
シリコン感圧素子など、残留応力をきらう半導体素子ベ
レットを基体などに固着する場合は特別な工夫を要する
。即ち基体とシリコンとの熱膨張を厳密に整合させる必
要がある。しかし一方この素子を被測定体に気密に取り
付けるために取付部が必要であり、そこにはステンレス
などの金属やガラスなどが使われる。これらの材料はシ
リコン素子と通常熱特性が整合しないので、取付部とベ
レットとの間にシリコンからなるベレットを設け、例え
ば第1図のような構造のものが使われていた。
しかしこの構造では、(1)シリコンベレット1の材料
費、成形費を要し、(2)接着の工程が多いなどの欠点
があり、これに替るものとして、第2図のような、シリ
コンペレット1と熱的に整合し得るガラス4を直接ベレ
ット1と接着する方法が提案されている。このガラス材
料にはバイレックスなどの商品名で良く知られた硬質硼
珪酸ガラスが使われ、接着には鏡面研磨した素子とガラ
スの接着面を荷重下で圧接し、ガラスの転移温度以上で
加熱する圧接法が使われる。との圧接法は異質の接着層
の介在がないため、残留応力低減の目的には良く合うが
、通常入手できる上記ガラス材料はガラス転移温度が5
50 ’0を上まわるために、接着に必要である。これ
は通常の半導体素子の電極や配線材料として使われるア
ルミニウムの融点以上であり、そのために他の電極材料
が必要になる。しか]〜霞】耐熱性で1〜かも半導体素
子用として適当な電極材料を得るのはきわめてむづかし
い実情である。
〔発明の目的〕
本発明の目的はシリコン半導体素子と熱膨張が整合し、
しかもアルミニウムの融点以下で圧接できるガラス拐料
を提供するにある。
〔発明の概要〕 本発明にかかるガラス材料は熱膨張係数が33〜36 
X 10  /Cの範囲にあり、かつガラス転移温度が
500°C以下という特性が必要である。シリコンの熱
膨張係数はほぼ34X10 ’/”Cである。そしてガ
ラスの熱膨張係数が上記の範囲の場合に、シリコン中の
残留応力が無視できる事がわかった。
またガラスとシリコンの圧接には接着条件により多少の
変動はあるが通常ガラス転移温度より50〜100“0
高い熱処理が必要であり、その場合にもアルミニウム電
極の耐熱限界(600’0以下)を越えない事から、上
記の転移温度の上限が決められる。
これらの熱特性が実現でき、かつ通常の溶解法で品質の
良いガラスが得られる組成を探索した結果、5i026
5〜76 、 B2O31,5〜25 、 Al2O3
1〜3.5 、 Na2O:2−4 、 K2O0〜2
 、 Li2O0〜1 、但しNa 20 +に2Q 
+Li2OQ 〜5 、 V2O50,1〜2 、 C
uOO〜2但しV2O5+ Cll00.1〜2.5 
、 PbOO〜5 + AS2030〜0.5 、5b
2020〜05各重量%の範囲が適当である事がわかっ
た。このガラスはいわゆるアルカリ硼珪酸ガラスの範囲
に属しており、このガラスの基本組成とガラス転移温度
や熱膨張係数との関係は公知である。またAl 203
などの添加物とこれら熱特性や化学特性の関係も公知で
ある。しかしながら、これら公知の事実を基に上記熱特
性の条件を満すべくガラス組成を吟味しても、実用に耐
えるものは得られなかった。その最大の問題は高温粘性
の増大に−よる残留泡と化学的耐久性の低下であった。
より具体的に記すと、上記公知文献によれば、この種の
ガラスにおいて熱膨張を低く保ちつつ転移温度を低下さ
せるにはアルカリ分の濃度を低クシ、かつB2O3濃度
を高くする事が必要である。しかしこのような組成のガ
ラスは実用的な限界である1600”Cで溶融しても残
留泡が多く残ったり、空気中で数日放置するだけで表面
が白色に風化するほど化学的耐久性が悪いものしか得ら
れない。この問題を克服するために基本組成や添加物を
吟味した結果、−上記の組成物を得た。5i02はガラ
スの基本成成であり、65wtチ以下では膨張係数が上
記範囲からはずれるか、又は化学的耐久性が劣る。また
75wtチ以上では浴融温度が高くなり、脱泡が困難に
なるo B2O3もガラスの基本成分であり、15wt
%よりも低いとガラス転移温度を500°C以下にする
事ができず、又25 wt、%を越えるとガラスの化学
的耐久性が実用に耐えないほど悪くなる。
AI 203はガラスの化学的耐久性を向上させる準基
本成分であるが、添加量を増すとガラスの高温粘性を増
加させ、脱泡を困難にする。1wt%以上で効果がはっ
きりするが、濃度限界は3wt%である。
アルカリ酸化物もガラスの基本成分であり、ガラスの低
融化と化学的耐久性を向上させるが、熱膨張係数を増大
させる欠点がある。その効果はアルカリの種類によって
多少異なり、Na2Qを基準にするとに20は熱膨張増
加傾向は少ないが、低融化能力が劣り、 Li2Oは高
温粘性低下能が高いが化学的耐久性向上効果が小さい。
全アルカリ濃度は2〜swt%の範囲が適当であり、こ
れより低ければ化学的耐久性の低下、高ければ熱膨張の
範囲からはずれる。ガラスの高温粘性を下げ、脱泡を容
易にする必須成分として、V2O5の添加が本ガラスの
の特徴である。0.1 wt ’4以上でその効果が表
われるが、2wt%を越えるとガラスが分相性になり、
化学的耐久性を損なう。CuOも類似の効果があり、V
2O5の補助成分とし、て使用できる。PbOけガラス
の低融性と化学的耐久性を向上させる成分として添加が
好ましいが、5wt%を越えると熱膨張係数の増大など
の が生ずる。As2O3,5b203はいずれl消泡
剤として使われるもので0.2−0.5 wt %が好
ましい。
これらのガラスは通常のガラス作成法で製造する事がで
きる。即ち、珪砂、硼酸、炭酸ソーダ、水酸化アルミニ
ウムや該当する金属酸化物を原料として調合、混合し、
電気炉やガス炉などを用い、1600°0以下の溶融温
度で溶融、清澄される。また通常の方法で容易に成形、
加工ができる。
シリコン素子との接着は次のような方法で行う。
即ち上記組成範囲のガラスをたとえば管状に成形し、そ
の一端を研麿しておく。この端に同じく接着面を鏡面研
磨したシリコンペレットを接触させ、荷重(50g /
rtnl J以上が適当である)下でガラスの転移温度
より50〜100°C高い温度までたとえば電気炉中で
加熱すれば強固な接着が得られる。
1発明の効果〕 本発明にかかるガラスはシリコンと熱膨張係数の整合が
良くとれ、しかもアルミニウムの耐熱限界より低い温m
lでシリコンと接着できるので、圧力センサなどに用い
れば素子の残留歪の低限と低コスト化が達成できる。
〔発明の実施例〕
衣−1に示す組成のカラスを作成した。ガラス原料は精
#珪砂、硼酸、アルミナ、硝酸ソーダ、炭酸ソーダ、炭
酸カリ、鉛丹、炭酸リチウム及び酸化銅、五酸化バナジ
ウムなどである。溶融−計は約1kg、白金ルツボを用
い、酸素−都市ガスの炉中で1500〜1600°0で
溶融した。6時間溶融接ステンレス板上に流し出し、固
化後徐冷してガラス板を作成した。得られたガラスの熱
膨張率と転移温度を表−1に示した。得られたガラスを
一辺5朋の立方体に研麿し、鏡面仙麿したシリコン基板
(n型3 (ltx 、面方位<111>I$300μ
>を、5am x 5 mmに切って上記ガラス立方体
の上にのせ、2 kgの荷重下でガラス転移温度より5
0゛c高い温度で1時間加熱した所、いずれも良好な接
着が得られた。尚これらのガラスは室内で1力月以上放
置しても変質しなかった。
シリコンのピエゾ抵抗効果を利用した圧カセンサノヘレ
ットを用意した。この素子はアルミニウムにより電極が
増成されており、ペレットの大きさは8ml+IX8”
、中央のダイヤフラムの径は1.5龍であった。衣−1
の6のガラスを選び、外径61總、内径2朋長さ301
11mの肉厚管を成形した。ガラスの端面及びシリコン
ペレットの接着面は鏡面研磨されている。ガラスの鋭面
部にシリコンペレットの接着面をのせ、1kgの荷重を
のせて530°0で10分間加熱した。刊tられた接着
体は10  Torrの真空度まで保持でき、アルミ配
線部も変質が認められなかった。またこうして得られた
圧力センサの初期値の変動や感度の直線性は良好であわ
、シリコン基体に金−シリコン共晶で接着した従来品と
差が認められなかった。
以下余白
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はピエゾ抵抗効果を利用したシリコン
圧力センサの断面略図である。 1:シリコンベレット、2:シリコン基体、3:金属管
、4ニガラス管、5:9体、6:リード、7:電極。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 5iOz65〜75wtqlD、 B2O315〜25
     wt 、 A12031.0〜3.5 wt % 、
     NazO2,0〜4.0%、 K2OQ 〜2 wt
     % +Li 200〜1 wt%但しNa2Oとに2
    0とLi2Oとの和は2.0−5.Owt % 、 V
    2O50,1〜2 wt Z 、 Cu00〜2wt%
    。 但しCuOとV2O5との和は0.1〜2.5 wt 
    % 、 Pb00〜5wt%、 As2O30,2〜0
    .5 wt%、 5b2030〜0.5 wt 96の
    組成範囲であって、平均熱膨張係数が33〜36×10
    ”/’O,ガラス転移温度が500℃以下であることを
    特徴とするシリコン半導体素子接着用ガラス。
JP57223976A 1982-12-22 1982-12-22 シリコン半導体素子接着用ガラス Pending JPS59116146A (ja)

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ID=16806620

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6343334A (ja) * 1986-08-08 1988-02-24 Nec Corp 半導体素子の搭載方法
JPH0969531A (ja) * 1994-06-16 1997-03-11 Anam Ind Co Inc 半導体パッケージ用ダイアタッチ接着剤組成物
DE102017204015A1 (de) 2017-03-10 2018-09-13 Schott Ag Glasfritte, Emaille-Zusammensetzung und Verfahren zur Herstellung emaillierter Glaskeramikartikel sowie deren Verwendung

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6343334A (ja) * 1986-08-08 1988-02-24 Nec Corp 半導体素子の搭載方法
JPH0969531A (ja) * 1994-06-16 1997-03-11 Anam Ind Co Inc 半導体パッケージ用ダイアタッチ接着剤組成物
DE102017204015A1 (de) 2017-03-10 2018-09-13 Schott Ag Glasfritte, Emaille-Zusammensetzung und Verfahren zur Herstellung emaillierter Glaskeramikartikel sowie deren Verwendung

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