JPS59120406U - 電子ビ−ム露光装置における電子ビ−ム測定装置 - Google Patents

電子ビ−ム露光装置における電子ビ−ム測定装置

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Publication number
JPS59120406U
JPS59120406U JP1466283U JP1466283U JPS59120406U JP S59120406 U JPS59120406 U JP S59120406U JP 1466283 U JP1466283 U JP 1466283U JP 1466283 U JP1466283 U JP 1466283U JP S59120406 U JPS59120406 U JP S59120406U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
scanning
shielding member
measurement device
exposure equipment
Prior art date
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Pending
Application number
JP1466283U
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English (en)
Inventor
磯部 盛之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59120406U publication Critical patent/JPS59120406U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す図、第2図は偏向器に
供給される偏向徊号及びブランキング信号を示す図、第
3図は、遮蔽部材の直線状端部と電子ビームの走査との
関係を示す図である。 1・・・・・・電子銃、2. 3. 4・・・・・・電
子レンズ、5・・・・・・遮蔽部材、6・・・・・・フ
ァラデイカツブ、7・間・電流電圧変換器、9.17・
・・・・・表示装置、10゜12・・・・・・偏向器、
11.12・曲・走査信号発生回路、15・・・・・・
2次電子検出器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 電子ビーム発生手段と、該電子ビームを被露光材料上に
    集束する手段と、該材料上で該電子ビームを走査するた
    めの走査手段と、該材料位置に該材料に代えて配置され
    る直線状の端部を有した電、  子ビーム遮蔽部材と、
    該遮蔽部材の下部に配置された電子検出器と、該遮蔽部
    材の直線状端部に垂直な方向に該電子ビームを走査する
    ための走査信号発生回路とを備えており、該走査信号発
    生回路は該遮蔽部材の直線状端部に垂直な方向への繰返
    ′    し走査の期間中、該電子ビームが該端部を横
    切る位置が僅かに変位するような走査信号を発生するよ
    うに構成されている電子ビーム露光装置における電子ビ
    ーム測定装置。
JP1466283U 1983-02-03 1983-02-03 電子ビ−ム露光装置における電子ビ−ム測定装置 Pending JPS59120406U (ja)

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JP1466283U JPS59120406U (ja) 1983-02-03 1983-02-03 電子ビ−ム露光装置における電子ビ−ム測定装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013021215A (ja) * 2011-07-13 2013-01-31 Canon Inc ビーム計測装置、描画装置、および物品の製造方法

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