JPS59128688A - 光学的計測システム - Google Patents
光学的計測システムInfo
- Publication number
- JPS59128688A JPS59128688A JP58004451A JP445183A JPS59128688A JP S59128688 A JPS59128688 A JP S59128688A JP 58004451 A JP58004451 A JP 58004451A JP 445183 A JP445183 A JP 445183A JP S59128688 A JPS59128688 A JP S59128688A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- sensor
- frequency
- sensor unit
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、光学的手段のみによる複数のセンサの情報
を伝送、収集する光学的計測システムに関する。
を伝送、収集する光学的計測システムに関する。
一般産業プラントなどの工業計測制御システムでは多数
のセンサが必要であり、現在はとれらのセンサ情報を分
散型プ四セス制御装置に１：１に集線しているため、ケ
ーブルの輻饋やケーブル布線コストが大きな問題となっ
ている。
のセンサが必要であり、現在はとれらのセンサ情報を分
散型プ四セス制御装置に１：１に集線しているため、ケ
ーブルの輻饋やケーブル布線コストが大きな問題となっ
ている。
複数のセンサを接続してその各々のデータを多重化収集
することができれば、有効性紘多大なものがある。しか
しこの種の集線装置では、信頼性の考慮が重要であシ、
多重化収集されるセンサ数を制限しｆｃシ、二重化を図
ったシする必要がある。
することができれば、有効性紘多大なものがある。しか
しこの種の集線装置では、信頼性の考慮が重要であシ、
多重化収集されるセンサ数を制限しｆｃシ、二重化を図
ったシする必要がある。
光学的手段のみによるセンサに関するこの種の集線装置
としては、光フアイバ遅延線を用いた時分割多重化方式
のものが知られている。その基本構成は第１図に示すと
おシである。センサとしての光スィッチ１１〜１３と、
各スイッチ１１〜１３の情報伝送に時間的なずれをもた
せるための光ファイバＭ”６＆ ２２ １２３を糾合せ
てセンサネットワークを構成している。このセンサネッ
トワークの一端に図示の如く光パルスを供給すると、各
光スィッチ１１〜１３のオン。
としては、光フアイバ遅延線を用いた時分割多重化方式
のものが知られている。その基本構成は第１図に示すと
おシである。センサとしての光スィッチ１１〜１３と、
各スイッチ１１〜１３の情報伝送に時間的なずれをもた
せるための光ファイバＭ”６＆ ２２ １２３を糾合せ
てセンサネットワークを構成している。このセンサネッ
トワークの一端に図示の如く光パルスを供給すると、各
光スィッチ１１〜１３のオン。
オフ情報は時分割多重化されて収集される。
しかしながらこの方式は、広帯域信号を取扱う必要から
高い信号対羅音比を得ることが難しく、・クルゾのオン
、オフ情報の収集などに対象が限られる。またタイムス
ロット割当ての時分割多重化であるため、フレーム同期
装竹を必要とし、ゾロセス制御装置の構成が複雑になる
。
高い信号対羅音比を得ることが難しく、・クルゾのオン
、オフ情報の収集などに対象が限られる。またタイムス
ロット割当ての時分割多重化であるため、フレーム同期
装竹を必要とし、ゾロセス制御装置の構成が複雑になる
。
更にセンサは並列接続でなければならず、センサの布設
位置分布によってはケーブル総延長の低減にガるとは限
らない。また光フアイバ遅延線の伝播遅延時間は約１μ
ｓｅｅ／２００ｍであシ、コストの面から遅延線長が制
限されるとタイムスロットは非常に短かいものとなる。
位置分布によってはケーブル総延長の低減にガるとは限
らない。また光フアイバ遅延線の伝播遅延時間は約１μ
ｓｅｅ／２００ｍであシ、コストの面から遅延線長が制
限されるとタイムスロットは非常に短かいものとなる。
多くのプロセス制御システムではセンサ情報の収集サイ
クルは早くても１センサ当シ数ｍ １Ｉ４Ｉｅ〜数十ｍ
５ｅｃであるから、上記時分割多重化方式ではこの許さ
れる長い測定時間を有効に生かせないことになる。
クルは早くても１センサ当シ数ｍ １Ｉ４Ｉｅ〜数十ｍ
５ｅｃであるから、上記時分割多重化方式ではこの許さ
れる長い測定時間を有効に生かせないことになる。
この発明は上記の如き問題を解決した光学的計測システ
ムを提供することを目的とする。
ムを提供することを目的とする。
この発明は、センサユニットに周波数を割当ててポーリ
ングする方式で複数のセンサユニットの直列接続を可能
としたものである。即ちこの発明におけるセンサユニッ
トは、被計測量によって光伝送周波数特性が全周波数通
過状態と自己に割当てられた周波数を阻止するフィルタ
状態との間で切換わるように構成する。このようなセン
サユニットを複数個直列接続してセンサネットワークを
構成し、光源からの光波を所定のセンサユニットに割当
てられた周波数で強度変調して上記センサネットワーク
の一端に供給し、他端からの出力光波にその周波数成分
が含捷れるか否かを検知してセンサ情報を収集する。
ングする方式で複数のセンサユニットの直列接続を可能
としたものである。即ちこの発明におけるセンサユニッ
トは、被計測量によって光伝送周波数特性が全周波数通
過状態と自己に割当てられた周波数を阻止するフィルタ
状態との間で切換わるように構成する。このようなセン
サユニットを複数個直列接続してセンサネットワークを
構成し、光源からの光波を所定のセンサユニットに割当
てられた周波数で強度変調して上記センサネットワーク
の一端に供給し、他端からの出力光波にその周波数成分
が含捷れるか否かを検知してセンサ情報を収集する。
この発明の効果を列記すれば、次のとおシである。
（１）複数のセンサユニットの布設位置が離れていても
、これらを光ファイバで直列接続して簡単にセンサネッ
トワークを構成することができる。
、これらを光ファイバで直列接続して簡単にセンサネッ
トワークを構成することができる。
（２） ｍ波数割当て方式であるため、ゾロセス制御
装置から許される１個当シのセンサ検層計測時間を有効
に使って判定誤′１シを簡単に少なくすることができる
。また十分低速な処理でＳ／Ｎを向上させることができ
る。
装置から許される１個当シのセンサ検層計測時間を有効
に使って判定誤′１シを簡単に少なくすることができる
。また十分低速な処理でＳ／Ｎを向上させることができ
る。
（３）周波数割当て方式であるため、タイムスロット同
期装置のような複雑な回路を必要としない。
期装置のような複雑な回路を必要としない。
（４）複数のセンサ情報についてランダムアクセスも可
能である。
能である。
５−
〔発明の実施例〕
以下この発明の詳細な説明する。第２図は一実施例の概
略システム構成を示すものである。
略システム構成を示すものである。
５Ｋ（Ｋ＝１．２．・・・、ｎ１以下同じ）はセンサユ
ニットである。各センサユニットれは光スィッチ１１に
と光フアイバ遅延線１２にの直列回路と、光フアイバ伝
送線１３にとを一対の光分岐−合流器によって並列接続
して構成したもので、これらが直列接続されてセンサネ
ットワークを構成している。光スィッチ１１には例えば
バルブのオン、オフに応じて機械的に光路をオン。
ニットである。各センサユニットれは光スィッチ１１に
と光フアイバ遅延線１２にの直列回路と、光フアイバ伝
送線１３にとを一対の光分岐−合流器によって並列接続
して構成したもので、これらが直列接続されてセンサネ
ットワークを構成している。光スィッチ１１には例えば
バルブのオン、オフに応じて機械的に光路をオン。
オフするように光ファイバを用いて作られる。
各センサユニットＳＫは後述するように、光フアイバ遅
延線１２Ｋによってそれぞれ自己に固有のポーリング周
波数が割当てられる。１４は光源としての発光素子、例
えば半導体レーザであシ、１５は発光素子１４の出力光
波の強度変調を行うポーリング周波数発生器である。発
光素子１４からの出力光波は光フアイバ伝送線１０ｈを
介して上記センサネットワークの一端に供給６− され、他端からの出力光波を光フアイバ伝送線Ｊｌ）ｂ
を介してホトダイオード等の受光素子１６で検知し、そ
の出力を検波器１７．積分器１８および判定器１９に順
次入力して、センサ情報の収集を行うようになっている
。
延線１２Ｋによってそれぞれ自己に固有のポーリング周
波数が割当てられる。１４は光源としての発光素子、例
えば半導体レーザであシ、１５は発光素子１４の出力光
波の強度変調を行うポーリング周波数発生器である。発
光素子１４からの出力光波は光フアイバ伝送線１０ｈを
介して上記センサネットワークの一端に供給６− され、他端からの出力光波を光フアイバ伝送線Ｊｌ）ｂ
を介してホトダイオード等の受光素子１６で検知し、そ
の出力を検波器１７．積分器１８および判定器１９に順
次入力して、センサ情報の収集を行うようになっている
。
いま、発光素子１４から光フアイバ伝送線１０ａに送出
される強度変調された光信号Ｐ、をＰ、 ＝ Ｐ□ （
１＋ｍ ｃｏＢ２πｆＫｔ）とする。ここに、Ｐｏは平
均光電力、ｍは変調度、八はホーリング周波数である。
される強度変調された光信号Ｐ、をＰ、 ＝ Ｐ□ （
１＋ｍ ｃｏＢ２πｆＫｔ）とする。ここに、Ｐｏは平
均光電力、ｍは変調度、八はホーリング周波数である。
センサユニットＳＫにおいて、光スィッチ１１Ｋが閉じ
ているとすると、光ファイバ遅延線１２にで遅延時間τ
えだけ遅延された光信号の光電力は １Ｐ０（１＋ｍ ｃｏｓ ２１ｔｆＫ（ｔ ＋τＫ ）
）となる。ただし、光分岐−合流器は３ ｄＢ結合器
であシ、また光電力の加算は光干渉を生じ々いものとす
る。そうすると、このセンサユニットＳＫの出力光電力
ＰＫは、光スィッチ１１にの状態函数ａＫ（＝１または
Ｏ）を用いて、 と嚢わされる。
ているとすると、光ファイバ遅延線１２にで遅延時間τ
えだけ遅延された光信号の光電力は １Ｐ０（１＋ｍ ｃｏｓ ２１ｔｆＫ（ｔ ＋τＫ ）
）となる。ただし、光分岐−合流器は３ ｄＢ結合器
であシ、また光電力の加算は光干渉を生じ々いものとす
る。そうすると、このセンサユニットＳＫの出力光電力
ＰＫは、光スィッチ１１にの状態函数ａＫ（＝１または
Ｏ）を用いて、 と嚢わされる。
即ち、センサユニットＳＫは、その光伝送周波数特性が
、光スィッチ１１Ｋが断（ａＫ＝Ｏ）のとき全周波数通
過状態となり、光スィッチ１１Ｋが閉（ＩＬＫ＝１）の
とき魚（πｆＫτＫ）＝０にて周波数ｆＫが阻止される
フィルタ状態となる。ａｇ ＝＝ １での周波数伝送特
性は第３図に示すとおシである。
、光スィッチ１１Ｋが断（ａＫ＝Ｏ）のとき全周波数通
過状態となり、光スィッチ１１Ｋが閉（ＩＬＫ＝１）の
とき魚（πｆＫτＫ）＝０にて周波数ｆＫが阻止される
フィルタ状態となる。ａｇ ＝＝ １での周波数伝送特
性は第３図に示すとおシである。
そこで例えば、各センサユニットＳＫに割当てる周波数
の配列（ム）を、第４図に示すように、八＝２に−ｆｏ
（ただしｆ。＝捧τ）に設定することにより、直列接続
された、複数のセンサユニットＳＫをポーリングできる
ことになる。勿論、ポーリング周波数の割当ては判定が
可能であれば必ずしも上記の如き配列でなくてもよい。
の配列（ム）を、第４図に示すように、八＝２に−ｆｏ
（ただしｆ。＝捧τ）に設定することにより、直列接続
された、複数のセンサユニットＳＫをポーリングできる
ことになる。勿論、ポーリング周波数の割当ては判定が
可能であれば必ずしも上記の如き配列でなくてもよい。
以上のようにしてこの実施例によれば、周波数割当て方
式を適用して複数のセンサユニットを直列接続してセン
サネットワークを構成し、タイムスロット同期装置のよ
うな複雑な回路を用いることなく、１個当υのセンサ情
報計測時間を有効に使って低速の処理でＳハの高い信号
処理を行うことができる。
式を適用して複数のセンサユニットを直列接続してセン
サネットワークを構成し、タイムスロット同期装置のよ
うな複雑な回路を用いることなく、１個当υのセンサ情
報計測時間を有効に使って低速の処理でＳハの高い信号
処理を行うことができる。
第２図の実施例に示したセンサユニットは、光スイッチ
断のときに光透過率が約ＩＡに低減する。この点を改良
した実施例のセンサユニット構成を第５図に示す。この
センサユニツ）は、被計測量によって連動開閉する２つ
の光スイッチ２１８．２１ｂによって光フアイバ遅延線
２２と十分短かい光ファイノ々伝送ｆｊＩ２３を切換え
るようにし、この光スイツチ回路部を光分岐−合流器に
よって光フアイバ伝送線２４と並列接続している。
断のときに光透過率が約ＩＡに低減する。この点を改良
した実施例のセンサユニット構成を第５図に示す。この
センサユニツ）は、被計測量によって連動開閉する２つ
の光スイッチ２１８．２１ｂによって光フアイバ遅延線
２２と十分短かい光ファイノ々伝送ｆｊＩ２３を切換え
るようにし、この光スイツチ回路部を光分岐−合流器に
よって光フアイバ伝送線２４と並列接続している。
このような構成とすれば、光スィッチの状態の如何にか
かわらずセンサユニツ）の光透過率はほぼ一定となシ、
従って安定した信頼性の高い信号処理が可能となる。
かわらずセンサユニツ）の光透過率はほぼ一定となシ、
従って安定した信頼性の高い信号処理が可能となる。
９−
次に使用する光スィッチの挿入損失によるセンサユニ、
トの周波数阻止量の劣化を補償するようにした光分岐−
合流器としての一体化カプラ構造を第６図（ａ） 、
（ｂ）によシ説明する。同図（、）は平面図、（ｂ）は
斜視図である。１／４ピツチのロッドレンズ３１を用い
、その一方の端面３２には軸を中心に４本の光フアイバ
アレイＭ１ 。
トの周波数阻止量の劣化を補償するようにした光分岐−
合流器としての一体化カプラ構造を第６図（ａ） 、
（ｂ）によシ説明する。同図（、）は平面図、（ｂ）は
斜視図である。１／４ピツチのロッドレンズ３１を用い
、その一方の端面３２には軸を中心に４本の光フアイバ
アレイＭ１ 。
Ｍ２ ＊ Ｂｌ ＠ Ｂ２を接続している。他方の
端面３３は一部角度αをもって研磨し、端面３２にある
光ファイ・々アレイＭｌ 、Ｍ２ 、Ｂｌ 、Ｂ
２の一ピッチ分だけの位置オフセットを生じさせる構成
として反射膜をコーティングしである。
端面３３は一部角度αをもって研磨し、端面３２にある
光ファイ・々アレイＭｌ 、Ｍ２ 、Ｂｌ 、Ｂ
２の一ピッチ分だけの位置オフセットを生じさせる構成
として反射膜をコーティングしである。
この一体化カシラを用いて、Ｍｌを入力ポート、Ｍ２を
出力ポートとし、Ｂ１とＢ２の間に第５図に示した光ス
イッチ２１ａ、２１ｂと光フアイバ遅延線２２および伝
送線２３からなる光スイツチ回路部分を接続すれば、第
５図のセンサユニットとなる。この場合、入力ポートで
あるＭｌからの光信号を、Ｂ１に光スィッチ等の挿入損
失分だけ多く配合すべく、端面３３の１０− 垂直端面部の面積Ｓ菫を傾斜端面部の面積Ｓ２より大き
く選ぶ。そうすると、Ｍｌからの光信号は、大きな面積
の垂直端面部で反射された部分が対称点にあるＢ１に結
合し、小さい面積の傾斜端面部で反射された部分がＭ！
に出力される。Ｂ１から光スィッチや光遅延線を介して
Ｂ、に結合される光信号は、大きな面積の垂直端面部で
反射されて対称点であるＭ２に出力される。
出力ポートとし、Ｂ１とＢ２の間に第５図に示した光ス
イッチ２１ａ、２１ｂと光フアイバ遅延線２２および伝
送線２３からなる光スイツチ回路部分を接続すれば、第
５図のセンサユニットとなる。この場合、入力ポートで
あるＭｌからの光信号を、Ｂ１に光スィッチ等の挿入損
失分だけ多く配合すべく、端面３３の１０− 垂直端面部の面積Ｓ菫を傾斜端面部の面積Ｓ２より大き
く選ぶ。そうすると、Ｍｌからの光信号は、大きな面積
の垂直端面部で反射された部分が対称点にあるＢ１に結
合し、小さい面積の傾斜端面部で反射された部分がＭ！
に出力される。Ｂ１から光スィッチや光遅延線を介して
Ｂ、に結合される光信号は、大きな面積の垂直端面部で
反射されて対称点であるＭ２に出力される。
従って、光スィッチや光フアイバ遅延線からなる光スイ
ツチ回路部の光透過率がＴＫのとき、として をｔ”ｔぼ満たすような結合比ＣＩ ＊ Ｃ２に設定
することによって、光スィッチ等による挿入損失の影響
を補償し周波数阻止量を最大にすることができる。
ツチ回路部の光透過率がＴＫのとき、として をｔ”ｔぼ満たすような結合比ＣＩ ＊ Ｃ２に設定
することによって、光スィッチ等による挿入損失の影響
を補償し周波数阻止量を最大にすることができる。
次に、直−並列接続による光センサネットワークを構成
した実施例を説明する。第７図はそのセンサネットワー
クを示している・センサユニ ッ ト Ｓ ｊ（’）（
１＝１ 、 ２ 、 ３ 、 ｊ＝１．２．３
゜・・・）の配列は、それぞれの直列部分が例えばｆｏ
（１）・２Ｋ（ｋ＝ｏ ｓ １＊ ２ ｅ・・・）なる
阻止周波数系列に設定されている。とのような直列部分
を並列化するために、図示のように群阻止フィルタＰ、
（１） 、 Ｐ、（１）を設け、ポーリングに対して特
定のセンサユニットのみの状態で光センサネットワーク
出力が支配されるようにする。即ち、第１群のセンサユ
ニット配列５ｌ（１）。
した実施例を説明する。第７図はそのセンサネットワー
クを示している・センサユニ ッ ト Ｓ ｊ（’）（
１＝１ 、 ２ 、 ３ 、 ｊ＝１．２．３
゜・・・）の配列は、それぞれの直列部分が例えばｆｏ
（１）・２Ｋ（ｋ＝ｏ ｓ １＊ ２ ｅ・・・）なる
阻止周波数系列に設定されている。とのような直列部分
を並列化するために、図示のように群阻止フィルタＰ、
（１） 、 Ｐ、（１）を設け、ポーリングに対して特
定のセンサユニットのみの状態で光センサネットワーク
出力が支配されるようにする。即ち、第１群のセンサユ
ニット配列５ｌ（１）。
Ｓ！（１） 、・・・が選択されるときには阻止フィル
タＰ、（１） 、 ｐ！（１）によって第２群および第
３群のセンサユニット配列５１（２） 、 ｓ、（２）
、・・・およびＳ菫（３）。
タＰ、（１） 、 ｐ！（１）によって第２群および第
３群のセンサユニット配列５１（２） 、 ｓ、（２）
、・・・およびＳ菫（３）。
Ｓ、（！Ｓ）、・・・は非選択状態におかれる。第２群
のセンサユニット配列５１（２） 、 Ｓ、（２） 、
・・・が選択されるときには阻止フィルタＰ！（２）
、 Ｐ、（２Ｊによって第１群および第３群のセンサユ
ニ、ト配列ｓ！（１）。
のセンサユニット配列５１（２） 、 Ｓ、（２） 、
・・・が選択されるときには阻止フィルタＰ！（２）
、 Ｐ、（２Ｊによって第１群および第３群のセンサユ
ニ、ト配列ｓ！（１）。
Ｓ鵞（１）、・・・および５１（５） 、 ｓ、（！５
） 、・・・は非選択状態におかれる。以下同様である
。
） 、・・・は非選択状態におかれる。以下同様である
。
阻止フィルタＰ、（１） 、 Ｐ、（１）の具体的な構
成基準を以下に説明する。下表は、第７図の第１群セン
サユニット配列Ｓ、（１） 、 ５２（１） 、・・・
に割当てられる周波数配列の一例と、これに対応して設
けられる阻止フィルタＰ１（１） 、 Ｐ、（１）の各
周波数での光透過率を示したものである。Ｌｍは各セン
サユニットに用いられる光ファイ・ぐ遅延線の長さであ
る。また阻止フィルタＰｌ（１） 、 Ｐ、（１）に用
いられる各光７アイ・々遅延線の長さはそれぞれ表に示
したとおり、ＬＨ＝１６．５ｍ ＋ Ｂ２ ＝３３ｍで
ある。
成基準を以下に説明する。下表は、第７図の第１群セン
サユニット配列Ｓ、（１） 、 ５２（１） 、・・・
に割当てられる周波数配列の一例と、これに対応して設
けられる阻止フィルタＰ１（１） 、 Ｐ、（１）の各
周波数での光透過率を示したものである。Ｌｍは各セン
サユニットに用いられる光ファイ・ぐ遅延線の長さであ
る。また阻止フィルタＰｌ（１） 、 Ｐ、（１）に用
いられる各光７アイ・々遅延線の長さはそれぞれ表に示
したとおり、ＬＨ＝１６．５ｍ ＋ Ｂ２ ＝３３ｍで
ある。
１３−
表から明らかなように、第１群のセンサユニ、ト配列に
割当てられるべき周波数配列ｆ、（１） 。
割当てられるべき周波数配列ｆ、（１） 。
ｆ、（１） 、・・・に対して、阻止フィルタＰ菫（１
） 、 Ｐ、（１）を用いると、○印を付けた周波数ｆ
ｌ（１） 、 ｆ、（１） 。
） 、 Ｐ、（１）を用いると、○印を付けた周波数ｆ
ｌ（１） 、 ｆ、（１） 。
ｆ、（１）およびｆ 、（１）に対して十分な減衰を与
えることができる。従って第１群のセンサユニット５１
（１） 、 Ｓ、（１） 、・・・とじて上記の周波数
配列に設定した４個を用いる。第２′ｇＰおよび第３群
のセン１４− サユニット配列についても、それぞれ異なる基本周波数
ｆ。０）に対して同様の関係で阻止フィルタを設計する
。こうして、阻止フィルタ４個とセンサユニット４個で
直列部分を構成し、その３系列を並列化することで１２
点の測定が可能となる。
えることができる。従って第１群のセンサユニット５１
（１） 、 Ｓ、（１） 、・・・とじて上記の周波数
配列に設定した４個を用いる。第２′ｇＰおよび第３群
のセン１４− サユニット配列についても、それぞれ異なる基本周波数
ｆ。０）に対して同様の関係で阻止フィルタを設計する
。こうして、阻止フィルタ４個とセンサユニット４個で
直列部分を構成し、その３系列を並列化することで１２
点の測定が可能となる。
なお上記実施例では、被計測量を光スィッチのオン、オ
フにより２値情報として計測する例を説明したが、例え
ば上記実施例において連動光スイツチ点数を増して異な
る遅延時間をもつ光フアイバ遅延線を挿入するととて多
値情報処理が可能である。また、全周波数通過状態と割
当てられた周波数を阻止するフィルタ状態との間を連続
的に利用すれば、アナログセンサを構成することもでき
る。更に、直−並列接続によるセンサネットワークは上
記実施例のように群阻止フィルタを用いず波長多重化を
利用してもよい。更にまた、強度変調は正弦波でなく矩
形波であっても実用上問題はない。
フにより２値情報として計測する例を説明したが、例え
ば上記実施例において連動光スイツチ点数を増して異な
る遅延時間をもつ光フアイバ遅延線を挿入するととて多
値情報処理が可能である。また、全周波数通過状態と割
当てられた周波数を阻止するフィルタ状態との間を連続
的に利用すれば、アナログセンサを構成することもでき
る。更に、直−並列接続によるセンサネットワークは上
記実施例のように群阻止フィルタを用いず波長多重化を
利用してもよい。更にまた、強度変調は正弦波でなく矩
形波であっても実用上問題はない。
第１図は従来の時分割多重化光学的センサシステムの基
本構成を示す図、第２図は本発明の一実施例のセンサシ
ステム構成を示す図、第３図および第４図はそのセンサ
ユニットの周波数特性を示す図、第５図はよシ好ましい
実施例のセンサユニットを示す図、第６図（、） 、
（ｂ）は同じく光分岐−合流器の好ましい構成例を示す
図、第７図は他の実施例のセンサネットワークを示す図
である。 Ｓｌ＋Ｓｚｓ・・・、Ｓｎ・・・センサユニット、１０
ａ 、 １０ｂ・・・光ファイノ々伝送線１．１１１
・１１１ 、・・・、１１ｎ ・・・光スィッチ、１
２１ 。 １２！ 、・・・、１２ｎ ・・・光フアイバ遅延線、
１３１゜１３２ 、・・・、１３ｎ ・・・光フアイバ
伝送線、１４・・・発光素子（光源）、１５・・・？−
リング周波数発生器、１６・・・受光素子、１７・・・
検波器、１８・・・積分器、１９・・・判定器＠ 出願人代理人 弁理士 鈴江 武 彦
本構成を示す図、第２図は本発明の一実施例のセンサシ
ステム構成を示す図、第３図および第４図はそのセンサ
ユニットの周波数特性を示す図、第５図はよシ好ましい
実施例のセンサユニットを示す図、第６図（、） 、
（ｂ）は同じく光分岐−合流器の好ましい構成例を示す
図、第７図は他の実施例のセンサネットワークを示す図
である。 Ｓｌ＋Ｓｚｓ・・・、Ｓｎ・・・センサユニット、１０
ａ 、 １０ｂ・・・光ファイノ々伝送線１．１１１
・１１１ 、・・・、１１ｎ ・・・光スィッチ、１
２１ 。 １２！ 、・・・、１２ｎ ・・・光フアイバ遅延線、
１３１゜１３２ 、・・・、１３ｎ ・・・光フアイバ
伝送線、１４・・・発光素子（光源）、１５・・・？−
リング周波数発生器、１６・・・受光素子、１７・・・
検波器、１８・・・積分器、１９・・・判定器＠ 出願人代理人 弁理士 鈴江 武 彦
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （リ 被計測量によって光伝送周波数特性が全周波数通
過状態と自己に割当てられた周波数を阻止するフィルタ
状態との間で切換わるセンサユニットを直列接続してセ
ンサネットワークを構成し、光源からの光波を所定のセ
ンサユニットに割当てられた周波数で強度変調して前記
センサネットワークの一端に供給し、他端からの出力光
波にその周波数成分が含まれるか否かを検知してセンサ
情報を収集するようにしたととを特徴とする光学的計測
システム。 （２）前記センサユニットは、一対の光分岐−合流器を
用いて光スィッチと光フアイバ遅延線の直列回路に光フ
アイバ伝送線を並列接続したものである特許請求の範囲
第１項記載の光学的計測システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58004451A JPS59128688A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光学的計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58004451A JPS59128688A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光学的計測システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128688A true JPS59128688A (ja) | 1984-07-24 |
| JPH0415512B2 JPH0415512B2 (ja) | 1992-03-18 |
Family
ID=11584527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58004451A Granted JPS59128688A (ja) | 1983-01-14 | 1983-01-14 | 光学的計測システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128688A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0420130A (ja) * | 1990-05-15 | 1992-01-23 | Nec Corp | 光データ収集方式 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS506939B1 (ja) * | 1970-04-10 | 1975-03-19 | ||
| JPS52129610U (ja) * | 1976-03-30 | 1977-10-03 |
-
1983
- 1983-01-14 JP JP58004451A patent/JPS59128688A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS506939B1 (ja) * | 1970-04-10 | 1975-03-19 | ||
| JPS52129610U (ja) * | 1976-03-30 | 1977-10-03 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0420130A (ja) * | 1990-05-15 | 1992-01-23 | Nec Corp | 光データ収集方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0415512B2 (ja) | 1992-03-18 |
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