JPS5913953A - 超音波自動探傷装置 - Google Patents

超音波自動探傷装置

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Publication number
JPS5913953A
JPS5913953A JP57123320A JP12332082A JPS5913953A JP S5913953 A JPS5913953 A JP S5913953A JP 57123320 A JP57123320 A JP 57123320A JP 12332082 A JP12332082 A JP 12332082A JP S5913953 A JPS5913953 A JP S5913953A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotating mechanism
hollow ring
sensors
test material
center
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57123320A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunio Honda
本田 邦雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP57123320A priority Critical patent/JPS5913953A/ja
Publication of JPS5913953A publication Critical patent/JPS5913953A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/27Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the material relative to a stationary sensor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は回転機構部の中空軸上に被検材全直進させる
ことVこより被検材を探傷する超音波自動探傷装置に関
するものである。
従来のこの柿超背U自動探傷装置(以下AUST装置と
称すとして第1図に示すもの及び被検材を搬送するロー
ラとして第2図に示すものが冗られている。
第1図において、は)は丸棒又はパイプなどの被検材、
(2)は被検材の搬送をガイドする前面ピンチローラ、
(3)は回転機構部の固定フレーム(4)は固定ガイド
、(5jは図示されていないモータにより高速回転する
中空シャフト、[61は中空シャフトに固定されて回転
する探触子ホルタ−9(7)は回転機構部全上昇又は下
降させるモータ、(8)はモータの動力全伝達するポー
ルスクリウネジ、(9)は陵面ピンチローラ、叫は回転
機#1部の高さを示す目盛板、 aIIは回転@構部の
昇降に追従する指針、 a2Jは被検材全搬送する搬送
ローラ(131は探触子ホルダに取付られたオリフィス
で探触子と被検材間のギヤツブ全音(2) 書結合する媒体の水量を調整するもの、(柿は地上を示
す。
第2図において山は被検材t121はV形の搬送ローラ
金示す。
第1図、第2図において、被検材外径の中心に回転機構
部の中9軸中心金合せる方法全説明する。
これ金パスライン設定と称す。
被検材(1)は第1図の搬送ローラ021.  ピンチ
ローラ(2)によって回転機構部に搬送される。搬送ロ
ーラt12+ 、1!:ピンチローラi21 [91は
第2区に示す工うにV形の形状でその角度θが1400
のもの金物にとる。
被検村山が第2図の搬送ローラ全通るときの中心高さh
は被検材(1)の外径DVc対し次式の関係となる。
従って予め外径に対する中心高さ?第1図の目盛板+I
01 K入れておき回転機構部をモータ(7)にニジ昇
降させ指針ill kその目盛に合せる方法がとられる
第1図の探触子ホルダ+61 [固定されているオリフ
(3) イスf131は水柱を立て、探触子と被検材間の超音波
の昔曽結合を最−i!iにするもので被検材とのギャッ
プは小さく約1〜4門程度である。
そのためパスライン設定は相変を必要とし約0.5゜以
内の誤差におさめる。
上記従来のパスライン設定方法では被検材の外径公差が
オリフィスのギャップ以内であってもパスライン設定後
高さは固定であるため長尺被検材の長芋方向の曲りに対
しては対応することができず被検祠が進入時IC衝突し
たり通過途中で曲りのため引婬トることがあシ装置のf
M傷金引き起す。
又引掛らない場合でも被検材が通過時1回転機構部の中
空軸中心からけずれギャップが大きくなった部分で水柱
が立ちにくくなり超晋Uが伝播しないこともあ5 AU
STとして機能?発揮しない欠点が出る。しかも長M使
用に伴う搬送ローラの厚もうによシ目盛りと高さが一致
しなくlり、定期的に目盛シを較正する必要が出る。
この発明は上記の欠点金除去しXうとするものである。
(4) この発明は上記回転機構部と一体となった中空輪検出部
全前方に設け、この中空輪検出部の同一円周上の4象限
の上下、左右方向に被検材との距離全検出する4個の無
接触近接セフfを埋め込み。
被検材の通過時に距離金4方向から検出し、電気信号に
変換した後、上下及び左右の検出路#fi全各々比板し
差の値及びその方向全演算し、4J1検材の中心がどこ
にあるか全演算し、上記演算値が零に収束するように回
転機構部を上下及び左右に各々制御し、被検材の外径の
中心に回転機構部中空軸の中心を追従させるものである
第3図、第4図、第5図はこの発明の実施例であって2
回転機構部固定フレーム(3)の前方に中空軸検出部1
151 k設け、この中空輪検出部の先端の同一円周上
4個の無接触近接セフ f (16a) 〜(16d)
が90’間隔で配ltされている。
無接点近接センfは中空軸検出部の同一円周上の4象限
の上下、左右方に配置され被検相通iti時。
第4図表に示すように無接点近接センサかちの距NIV
c対応した電圧金発生する。第5図は上下方向(5) のセンナ例金示すように上下方向2個の無接点近接セン
サ(16a)、 (16c)  の出力電圧をそれぞれ
電圧増巾器(17a)、 (17c)増巾し、アナログ
ディジタル変換器(18a)(18c)で各々ディジタ
ル信号に変換する。
変換された二つのディジタル信号と比較演算器(191
で比較演算しディジタル量の差と方向を求め、モータコ
ントローラ母に対し、上昇又は下降の指令金山す。
指令はR接触近接センサ間の距離?等しくする目的であ
るので無接触近接センサの上方向が太き(Q場合は上昇
、小さい場合はF′降となる。
モータコントローラは上昇又は下降指令によりモータ(
7)の回転方向金制斜する。
回転機構部はモータの回転方向によシ上昇又は下降し、
無接触近接(=ンチ出力1圧が等しい即ち。
被検材と回転機構部の中心が一致し之時点でモータは停
止する。
上記、制御を連続的に実施することにょ)常に被検材外
径の中心に回転機構部中空軸中心を追従さく6) せることができる。
なお、オ・3図、第4図、第5図は上下方向の例を図示
し7こが左右方向も同様に制御することができる。
この制御により往来の超首妓自動探傷装置が待つ上記欠
点を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図Vi従来の超背岐自動探傷装置の祈面全示す図、
第2図は被検t4f搬送するロールの断面全示す図、第
3図はこの発明の実施例金示す図、第4図(イ)は中9
輪検出@1151の正面断面図ケ示す図。 第4図(ロ)は無接触近接センサの%性金示す図、第5
図ぼこの発明に実施される回路の例を示す図であり、(
1)は被検材、(2)は前面ピンチロール、(3)は回
転機構部固定フレーム14)は固定ガイド、 +51V
i中空シヤフ)、f6)は探触子ホルダ、(7)は昇降
モータ。 (8)はポールスクリュウネジ、(9)は後面ピンチロ
ーラ、00jけ目盛板、 1lllVi指針、 +12
1は搬送ローラ、 +131はオリフィス、 +141
は地上、 1151は中空輪検出部、 +16iぽ無接
触近接センナ上方向、 +171は無接触近接センサ(
7) 下方内(化は直圧増巾器、 a91ぽアナログディジタ
ルV換器、山は比較演算器、(2Dはモータコントロー
ラ なお1図中同一あるいけ相当部分には同一符号を付して
示しである。 代理人  葛 野 信 − (8) 第1図 第2図 第3図 「

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数の超音波探触子を回転機構部内のホルダ円円周上に
    埋め込み、丸棒又はバイブなどの被検材を上記回転機構
    部の中空軸に通すことにより被検材の欠陥有無全検査す
    る超晋彼自動深傷装置において、上記回転機構部と一体
    となった中空輸検出部金被検材の到来方向に有し、この
    検出部内の同一円上17i:90°間隔で配I!され、
    かつ被検材との距離全検出する4イロの無接触近接セン
    fVcより被検材の通過時に回転機構部との距離を4方
    向から検出するとともにそれを電気信号に変換した後。 上下及び左右の検出距離を各々比較し差の値及びその方
    向全演算し、上記演算値か零に収束するように回転a!
    構部金±下及び左右に移動させるように制御全行ない、
    被検材外径の中心に回撃機構部中空軸中心を追従させる
    ように構成したことを特徴とする超音波自動探傷装置。 (1)
JP57123320A 1982-07-15 1982-07-15 超音波自動探傷装置 Pending JPS5913953A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57123320A JPS5913953A (ja) 1982-07-15 1982-07-15 超音波自動探傷装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57123320A JPS5913953A (ja) 1982-07-15 1982-07-15 超音波自動探傷装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5913953A true JPS5913953A (ja) 1984-01-24

Family

ID=14857632

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57123320A Pending JPS5913953A (ja) 1982-07-15 1982-07-15 超音波自動探傷装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5913953A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7389692B2 (en) 2005-11-04 2008-06-24 Ge Inspection Technologies, Lp Digital log amplifier for ultrasonic testing

Cited By (1)

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