JPS59142797A - 容量性のブ−トストラツプ予備充電回路を有する直列固定記憶装置 - Google Patents
容量性のブ−トストラツプ予備充電回路を有する直列固定記憶装置Info
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- JPS59142797A JPS59142797A JP59011784A JP1178484A JPS59142797A JP S59142797 A JPS59142797 A JP S59142797A JP 59011784 A JP59011784 A JP 59011784A JP 1178484 A JP1178484 A JP 1178484A JP S59142797 A JPS59142797 A JP S59142797A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/08—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
- G11C17/10—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
- G11C17/12—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices
- G11C17/123—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices comprising cells having several storage transistors connected in series
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、一般的に云えば、リード・オンリ・メモリ(
固定記憶装置)に関するものであシ、さらに詳しく云え
ば、容量性のプートストラップ予備充電回路を有する直
列リード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)に関する。
固定記憶装置)に関するものであシ、さらに詳しく云え
ば、容量性のプートストラップ予備充電回路を有する直
列リード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)に関する。
従来技術と問題点
一般に、リード・オンリ・メモリ(ROM)は、N0R
10R論理あるいはNAND/AND論理の何れにおい
ても実行される。N0R10R形のROMにおいては、
各個のデータ・ビットの論理的状態は、トランジスタ・
サイトのアレイ中の選択された位置にトランジスタが存
在するかしないかによって示されるのが通常である。ワ
ード・ラインの1つが選択されると、アレイの対応する
列に存在するトランジスタの谷がイネーブルされる。ア
レイの各行に存在するトランジスタは並列に接続されて
、それぞれピット°ラインを構成しているので、ワード
・ラインの1つを経て1つの行の1つのトランジスタを
イネーブルすることにより、予め光電されたビット・ラ
インは放電するであろう。このように、選択されたワー
ド・ラインとビット・ラインの特定の1つの接続点にお
けるビットの“貯蔵”の論理状態は、上記ワード・ライ
ン選択後上記ビット・ラインの状態によシ反映される。
10R論理あるいはNAND/AND論理の何れにおい
ても実行される。N0R10R形のROMにおいては、
各個のデータ・ビットの論理的状態は、トランジスタ・
サイトのアレイ中の選択された位置にトランジスタが存
在するかしないかによって示されるのが通常である。ワ
ード・ラインの1つが選択されると、アレイの対応する
列に存在するトランジスタの谷がイネーブルされる。ア
レイの各行に存在するトランジスタは並列に接続されて
、それぞれピット°ラインを構成しているので、ワード
・ラインの1つを経て1つの行の1つのトランジスタを
イネーブルすることにより、予め光電されたビット・ラ
インは放電するであろう。このように、選択されたワー
ド・ラインとビット・ラインの特定の1つの接続点にお
けるビットの“貯蔵”の論理状態は、上記ワード・ライ
ン選択後上記ビット・ラインの状態によシ反映される。
N0R10R形の標準的なROMが合衆国特許第4 、
350 、992号に示され説明されている。
350 、992号に示され説明されている。
NANDlAND形のROMにおいては、データ・ビッ
トの論理状態が、それぞれのトランジスタ・サイトに製
作されるトランジスタの形式例えば、エンハンスメント
形ちるいはデプリーション形、によって衣わされる。ワ
ード・ラインの1つが選択されると、アレイの対応する
列に存在する谷エンハンスメント・トランジスタはディ
スイネーブルされるが、その列中のデプリーシヨン・ト
ランジスタ、もしいくつが存在すれば、はイネーブルさ
れたままである。アレイの各行に存在するトランジスタ
は、直列に接続されそれぞれビット・ラインを構成して
いるので、ワード・ラインの1つを介して、1つの行の
エンハンスメント・トランジスタをディスイネーブルす
ることにょシ、予め充電サレタヒット・ラインの放電を
防止する。このように、選択されたワード・ラインと特
定のビット・ラインとの接続点におけるトランジスタに
よって表わされるビットの論理状態は、上記のワード・
ライン選択後上記ビット・ラインの状態によって反映さ
れる。NAND/AND形式の初期のROMは、米国特
許第4,059,826号に記載されている。
トの論理状態が、それぞれのトランジスタ・サイトに製
作されるトランジスタの形式例えば、エンハンスメント
形ちるいはデプリーション形、によって衣わされる。ワ
ード・ラインの1つが選択されると、アレイの対応する
列に存在する谷エンハンスメント・トランジスタはディ
スイネーブルされるが、その列中のデプリーシヨン・ト
ランジスタ、もしいくつが存在すれば、はイネーブルさ
れたままである。アレイの各行に存在するトランジスタ
は、直列に接続されそれぞれビット・ラインを構成して
いるので、ワード・ラインの1つを介して、1つの行の
エンハンスメント・トランジスタをディスイネーブルす
ることにょシ、予め充電サレタヒット・ラインの放電を
防止する。このように、選択されたワード・ラインと特
定のビット・ラインとの接続点におけるトランジスタに
よって表わされるビットの論理状態は、上記のワード・
ライン選択後上記ビット・ラインの状態によって反映さ
れる。NAND/AND形式の初期のROMは、米国特
許第4,059,826号に記載されている。
一般的に、NANDl AND形OROMは、直列接続
されたトランジスタを、中間層接触部なしでまた分散さ
れた放を線なしで製作することができるから、同等サイ
ズのNOR10R形Nよシも著しく小形となる。しかし
、直列接続されたトランジスタの累積抵抗は、ビット・
ラインの放電を妨げる。このように、N0R10R形の
ROMは、ビット・ラインを、並列接続されたトランジ
スタのいづれか1つによシ極めて迅速に放電させること
ができるので、NANDlAND形のROMよシ、動作
が速い。
されたトランジスタを、中間層接触部なしでまた分散さ
れた放を線なしで製作することができるから、同等サイ
ズのNOR10R形Nよシも著しく小形となる。しかし
、直列接続されたトランジスタの累積抵抗は、ビット・
ラインの放電を妨げる。このように、N0R10R形の
ROMは、ビット・ラインを、並列接続されたトランジ
スタのいづれか1つによシ極めて迅速に放電させること
ができるので、NANDlAND形のROMよシ、動作
が速い。
かなシのサイクル・タイムを有する匝列形の1つのRO
Mが、JUNE 1976発行のIEEE Journ
al ofSolid−8tate C1rcuits
、 VoL 5C−11+ 43.の360−364頁
所載の”Minimun 5ize ROM 5tru
cture 、(::om−patlble with
Silicon−gate E/D MOS LSI
”に記載されている。このR,OMにおいては、48個
のトランジスタを直列に接続してビット・ラインを構成
した。しかし、電力供給電圧は、約12−18ボルトの
オーダーでおって、全く高く、従って直列接続されたト
ランジスタのオン抵抗は比較的低い。さらに、各ビット
・ラインは、その出力キャパシタンスが比較的大きいの
で、一度予備充電されると、かなルの電荷を有し、この
電荷は、アドレス決定中、出力状態に影響を与えること
なく、内部トランジスタ・ノード間に分散させることが
できた。
Mが、JUNE 1976発行のIEEE Journ
al ofSolid−8tate C1rcuits
、 VoL 5C−11+ 43.の360−364頁
所載の”Minimun 5ize ROM 5tru
cture 、(::om−patlble with
Silicon−gate E/D MOS LSI
”に記載されている。このR,OMにおいては、48個
のトランジスタを直列に接続してビット・ラインを構成
した。しかし、電力供給電圧は、約12−18ボルトの
オーダーでおって、全く高く、従って直列接続されたト
ランジスタのオン抵抗は比較的低い。さらに、各ビット
・ラインは、その出力キャパシタンスが比較的大きいの
で、一度予備充電されると、かなルの電荷を有し、この
電荷は、アドレス決定中、出力状態に影響を与えること
なく、内部トランジスタ・ノード間に分散させることが
できた。
これに対し、米国特許第4,142,176号に記載さ
れている直列ROMは、5ボルトの単一電源から動作す
るように設計されたものである。しかし、1つのワード
・ラインを構成するため直列接続することができるトラ
ンジスタの数は、直列接続トランジスタの累積電圧降下
によシ、7個の程度に限られる。付加的のトランジスタ
を直列に追加すれば、ビット・ラインを地気に十分に近
づけるための時間がかなり増加し、出力状態に影響する
こととなろう。行の大きさが制限されることを補償すト
ランジスタを直列接続し、そして、単一の、比較的低い
電圧の電源を用いて動作することが可能な、直列形式の
リード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)を提供するこ
とである。
れている直列ROMは、5ボルトの単一電源から動作す
るように設計されたものである。しかし、1つのワード
・ラインを構成するため直列接続することができるトラ
ンジスタの数は、直列接続トランジスタの累積電圧降下
によシ、7個の程度に限られる。付加的のトランジスタ
を直列に追加すれば、ビット・ラインを地気に十分に近
づけるための時間がかなり増加し、出力状態に影響する
こととなろう。行の大きさが制限されることを補償すト
ランジスタを直列接続し、そして、単一の、比較的低い
電圧の電源を用いて動作することが可能な、直列形式の
リード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)を提供するこ
とである。
本発明の他の目的は、単一の、比較的低い電圧の電源で
動作するとき、比較的速いアクセス・サイクルを有する
直列形のリード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)を提
供することである。
動作するとき、比較的速いアクセス・サイクルを有する
直列形のリード・オンリ・メモリ(固定記憶装置)を提
供することである。
本発明のさらに他の目的は、比較的多数の直列トランジ
スタを有しまた比較的速いアクセス・サイクルを有する
直列形のリード・オンリ・メモ1ノを提供することであ
る。
スタを有しまた比較的速いアクセス・サイクルを有する
直列形のリード・オンリ・メモ1ノを提供することであ
る。
列形のリード・オンリ・メモリを提供することである。
発明の構成
本発明のこれ等の目的および他の目的は、各トランジス
タのゲートがアレイの列の谷に共通に接続されてそれぞ
れワード・ラインを構成し、またプレイの行の各々のト
ランジスタの電流通路を直列に各行の第1および第2の
端部との間を接続してそれぞれビット・ラインを構成す
るように、1つのアレイに選択的に配列された2つの予
め定めた形式の絶縁ゲート型電界効果トランジスタの複
数個を具備するリード・オンリ・メモリによって達せら
れる。本発明においては、ワード・ライン予備充電回路
が設けられ、ワード・ライン予備充電期間の間、ワード
・ラインの缶に第1の予め定めた電圧を結合し、その後
その第1の電圧をワード・ラインから切シ離しを行ない
、また、ビット・ライン予備光電回路が設けられ、ワー
ド・ライン予備充電期間の終了に続くビット・ライン予
備光電期間の間、第1の電圧をビット・ラインの谷の一
端に結合し、その後、第2の予め定められた電圧をビッ
ト・ラインの各の第1の端部に結合する。
タのゲートがアレイの列の谷に共通に接続されてそれぞ
れワード・ラインを構成し、またプレイの行の各々のト
ランジスタの電流通路を直列に各行の第1および第2の
端部との間を接続してそれぞれビット・ラインを構成す
るように、1つのアレイに選択的に配列された2つの予
め定めた形式の絶縁ゲート型電界効果トランジスタの複
数個を具備するリード・オンリ・メモリによって達せら
れる。本発明においては、ワード・ライン予備充電回路
が設けられ、ワード・ライン予備充電期間の間、ワード
・ラインの缶に第1の予め定めた電圧を結合し、その後
その第1の電圧をワード・ラインから切シ離しを行ない
、また、ビット・ライン予備光電回路が設けられ、ワー
ド・ライン予備充電期間の終了に続くビット・ライン予
備光電期間の間、第1の電圧をビット・ラインの谷の一
端に結合し、その後、第2の予め定められた電圧をビッ
ト・ラインの各の第1の端部に結合する。
ワード・ライン・アドレス・デコード回路はワード・ラ
イン予備光電期間の終了の後であるがビット・ライン予
備充電期間の終了の前に、アドレス信号により選択され
たワードラインの中の1本に第2の電圧を結合し、ビッ
ト・ラインの第2の端部を選択的に放電させる。好まし
い形においては、ビット・ライン・アドレス・デコード
回路は、ワード・ライン予備充電期間に続く出力ノード
予備充電期間の間、第1の電圧を出力ノードに結合し、
その後アドレス信号に応答して選択されたビット・ライ
ンの1本の第2の端部を出力ノードに結合する。
イン予備光電期間の終了の後であるがビット・ライン予
備充電期間の終了の前に、アドレス信号により選択され
たワードラインの中の1本に第2の電圧を結合し、ビッ
ト・ラインの第2の端部を選択的に放電させる。好まし
い形においては、ビット・ライン・アドレス・デコード
回路は、ワード・ライン予備充電期間に続く出力ノード
予備充電期間の間、第1の電圧を出力ノードに結合し、
その後アドレス信号に応答して選択されたビット・ライ
ンの1本の第2の端部を出力ノードに結合する。
発明の実施例
第1図は本発明によりs成した直列形のリード・オンリ
・メモリの接続図でおる。第1図に示す直列形リード・
オンリ・メモリROM 10において、複数個の絶縁ゲ
ート型電界効果トランジスタ11が1つのアレイに配列
され、谷トランジスタ11のゲートがアレイの各列に共
通に接続されてそれぞれワード・ラインを構成し、−万
、アレイの各行のトランジスタ11の各電流通路を直列
に接続してそれぞれビット・ライン13を構成する。谷
トランジスタ11は、それによって表わされるデータ・
ビット(D[MICより、エンハンスメント形あるいは
デプリーション形のいづれかである。例えば、10′は
エンハンスメント・トランジスタ11で表わされ、11
”ハチプリージョン・トランジスタ11で衣ワされる。
・メモリの接続図でおる。第1図に示す直列形リード・
オンリ・メモリROM 10において、複数個の絶縁ゲ
ート型電界効果トランジスタ11が1つのアレイに配列
され、谷トランジスタ11のゲートがアレイの各列に共
通に接続されてそれぞれワード・ラインを構成し、−万
、アレイの各行のトランジスタ11の各電流通路を直列
に接続してそれぞれビット・ライン13を構成する。谷
トランジスタ11は、それによって表わされるデータ・
ビット(D[MICより、エンハンスメント形あるいは
デプリーション形のいづれかである。例えば、10′は
エンハンスメント・トランジスタ11で表わされ、11
”ハチプリージョン・トランジスタ11で衣ワされる。
ROM 10の出力の結果を適正に翻訳する限り、状態
の実際の指定は“実際にはクリティカルではない。
の実際の指定は“実際にはクリティカルではない。
各アクセス・サイクルの起動に当っては、ROMlOの
ワード・ライン12の各々は、1組のワード・ライン予
備充電トランジスタ14のうちのそれぞれの1個を経て
、ワード・ライン予備光電期間OAの間、給電電圧VD
D 、K M合される。各ワード・ライン校の抵抗は小
さくまたそれぞれのトランジスタ14は希望の大きさと
することができるので、ワード・ライン予備充電期間は
かなシ短くすることができる。もしも、例えば、アクセ
ス・サイクルを第2図に示すように、12のタイムスロ
ッ)TO−T11に分割すれば、ワード・ライン予備充
電期間OAは、タイムスロッ) Tl1O前縁と後縁と
をそれぞれ用いて都合よく定義することができる。
ワード・ライン12の各々は、1組のワード・ライン予
備充電トランジスタ14のうちのそれぞれの1個を経て
、ワード・ライン予備光電期間OAの間、給電電圧VD
D 、K M合される。各ワード・ライン校の抵抗は小
さくまたそれぞれのトランジスタ14は希望の大きさと
することができるので、ワード・ライン予備充電期間は
かなシ短くすることができる。もしも、例えば、アクセ
ス・サイクルを第2図に示すように、12のタイムスロ
ッ)TO−T11に分割すれば、ワード・ライン予備充
電期間OAは、タイムスロッ) Tl1O前縁と後縁と
をそれぞれ用いて都合よく定義することができる。
ワード・ライン予備充電期間OAの終シにおいて、トラ
ンジスタ14はそれぞれのワード・ラインを給電電圧V
DDから切シ離し、ワード・ラインを予備光電した状態
とする。トランジスタ14はワード・ライノルの予備光
電電圧を最大とするために、トランジスタ14は“ナチ
ュラル(natural ) ’ 形即ち零閾値形のも
のが好ましい。 −ビット・ライン13の各々
は、交さ接続されたノア・ゲート16および17ならび
にブツシュ・プル接続されたトランジスタ18および1
9を含むカプラ15を介して、ワード・ライン予備充電
期間OAの終了に続くビット・ライン・予備光電期間O
Bの間、給電電圧VDDに結合される。第2図を参照す
るに、ビット・ライン予備光電期間OBの開始は、タイ
ムスロットTOO前縁を使用して定義することができ、
またビット・ライン予備充電期間OBの終了はビット・
ラインの適切な予備光電を保証するために選ばれたその
後の事象を用いて定義することができる。
ンジスタ14はそれぞれのワード・ラインを給電電圧V
DDから切シ離し、ワード・ラインを予備光電した状態
とする。トランジスタ14はワード・ライノルの予備光
電電圧を最大とするために、トランジスタ14は“ナチ
ュラル(natural ) ’ 形即ち零閾値形のも
のが好ましい。 −ビット・ライン13の各々
は、交さ接続されたノア・ゲート16および17ならび
にブツシュ・プル接続されたトランジスタ18および1
9を含むカプラ15を介して、ワード・ライン予備充電
期間OAの終了に続くビット・ライン・予備光電期間O
Bの間、給電電圧VDDに結合される。第2図を参照す
るに、ビット・ライン予備光電期間OBの開始は、タイ
ムスロットTOO前縁を使用して定義することができ、
またビット・ライン予備充電期間OBの終了はビット・
ラインの適切な予備光電を保証するために選ばれたその
後の事象を用いて定義することができる。
予備光電されたワード・ライン12は、ビット・ライン
予備充電期間OBの開始前に給電電圧VDDから切シ離
されるので、ワード・ライン12上の電圧は、ビット・
ライン13が予備光電されるとき、容量的に予備充電電
圧以上に上昇する。このブートストラップ動作によシ、
アレイ中の総べてのエンハンスメント形のトランジスタ
11はオンとなシ、ダイナミックにビット・ライン13
0オン抵抗を減少させる。直列抵抗が低下すると、予備
光電(およびブートストラップ動作)はさらに速かに進
行する。ナチュラル・タイプであるトランジスタ14は
、ワード・ライン12を給電電圧VDD以上に上昇させ
てもオフにとどまる。エンハンスメント形の予備充電の
ブートストラップ動作の結果として、ビット・ライン予
備光電期間OBの終了を第2図に示すようにタイムスロ
ットT3の前縁を用いて定義可能であることが決定され
た。この結果によシ生じたビット・ライン予備充電期間
OBは、ROM 10が先行技術の直列形ROMに用い
られた従来の予備充電技術を用いて構成された場合に可
能となるよりも、実質的に短くなる。
予備充電期間OBの開始前に給電電圧VDDから切シ離
されるので、ワード・ライン12上の電圧は、ビット・
ライン13が予備光電されるとき、容量的に予備充電電
圧以上に上昇する。このブートストラップ動作によシ、
アレイ中の総べてのエンハンスメント形のトランジスタ
11はオンとなシ、ダイナミックにビット・ライン13
0オン抵抗を減少させる。直列抵抗が低下すると、予備
光電(およびブートストラップ動作)はさらに速かに進
行する。ナチュラル・タイプであるトランジスタ14は
、ワード・ライン12を給電電圧VDD以上に上昇させ
てもオフにとどまる。エンハンスメント形の予備充電の
ブートストラップ動作の結果として、ビット・ライン予
備光電期間OBの終了を第2図に示すようにタイムスロ
ットT3の前縁を用いて定義可能であることが決定され
た。この結果によシ生じたビット・ライン予備充電期間
OBは、ROM 10が先行技術の直列形ROMに用い
られた従来の予備充電技術を用いて構成された場合に可
能となるよりも、実質的に短くなる。
この好ましい具体例において、アクセス・アドレスはア
ドレス・ライン20を経て、公知のワード・ライン・ア
ドレス・デコード21およびビット・ライン・アドレス
・デコード22に、ビット・ライン予備充電期間OBの
開始と同時にあるいは短時間経過後印加される。ワード
・ライン・デコード21がアクセス・アドレスのデコー
ドを行なっている間に、予備光電されたワード・ライン
12の伺れかが早すぎる放電を行なうことを防止するた
めに、交さ接続したノア・ゲート24および25ならび
にブツシュ・プル接続されたトランジスタ26および2
7を含むカプラ23が、ワード・ライン予備光電期間O
Aの終了する前に開始し、ワード・ライン・アドレス・
デコード21が安定するに十分な時間後に終了するワー
ド・ライン・アドレス・デコード予備充電期間OCの間
、ワード・ライン・アドレス・デコード21の共通ノー
ド28に給電電圧VDDを結合する。第2図に示すよう
に、ワード・ライン・アドレス・デコード予備充電期間
OCの開始は、タイムスロツ) Tl1O前縁を使いて
定義するのが好都合である。これによシ、トランジスタ
26を、ワード・ライン・アドレス・デコード21自身
を予備充電するのと同様に、ワード・ライン臣の予備光
電の補助を行なうようにすることができる。
ドレス・ライン20を経て、公知のワード・ライン・ア
ドレス・デコード21およびビット・ライン・アドレス
・デコード22に、ビット・ライン予備充電期間OBの
開始と同時にあるいは短時間経過後印加される。ワード
・ライン・デコード21がアクセス・アドレスのデコー
ドを行なっている間に、予備光電されたワード・ライン
12の伺れかが早すぎる放電を行なうことを防止するた
めに、交さ接続したノア・ゲート24および25ならび
にブツシュ・プル接続されたトランジスタ26および2
7を含むカプラ23が、ワード・ライン予備光電期間O
Aの終了する前に開始し、ワード・ライン・アドレス・
デコード21が安定するに十分な時間後に終了するワー
ド・ライン・アドレス・デコード予備充電期間OCの間
、ワード・ライン・アドレス・デコード21の共通ノー
ド28に給電電圧VDDを結合する。第2図に示すよう
に、ワード・ライン・アドレス・デコード予備充電期間
OCの開始は、タイムスロツ) Tl1O前縁を使いて
定義するのが好都合である。これによシ、トランジスタ
26を、ワード・ライン・アドレス・デコード21自身
を予備充電するのと同様に、ワード・ライン臣の予備光
電の補助を行なうようにすることができる。
ビット・ライン・アドレス・デコード22を予備光電す
るには、トランジスタ29がビット・ライン・アドレス
・デコード22の出力ノードを、ワード・ライン予備光
電期間OAの終了後開始するビット・ライン・アドレス
・デコード予備充電期間ODO間、給電電圧VDDに結
合する。ワード・ライン予備充電期間OAの場合と同様
に、ビット・ライン・アドレス・デコード予備光電期間
ODは、例えばタイムスロットTOの前縁とともに開始
し、同じタイムスロットTOの後縁とともに終了させ、
がなシ短くすることができる。
るには、トランジスタ29がビット・ライン・アドレス
・デコード22の出力ノードを、ワード・ライン予備光
電期間OAの終了後開始するビット・ライン・アドレス
・デコード予備充電期間ODO間、給電電圧VDDに結
合する。ワード・ライン予備充電期間OAの場合と同様
に、ビット・ライン・アドレス・デコード予備光電期間
ODは、例えばタイムスロットTOの前縁とともに開始
し、同じタイムスロットTOの後縁とともに終了させ、
がなシ短くすることができる。
ビット・ライン・アドレス・デコード予備充電期間の終
了により、ワード・ライン12の総べて、ビット・ライ
ン13の総べて、ワード・ライン・アドレス・デコード
21およびビット・ライン・アドレス・デコードは予備
光電された状態となる。ワード・ライン・アドレス・デ
コード21は、ワード・ライン12中の適切な1つを十
分な時間ノード28に結合する。従って、次の都合のよ
い事象が起るとき、すなわち、タイムスロットT2の前
縁において、第2図に示すようにワード・ライン・アド
レス・デコード予備光電期間QCを終了させることがで
きる。これに応答して、トランジスタnはノード囚を地
気に結合し、選択されたワード・ライン12を地気に迅
速に放電する。このように、アレイの対応する列におけ
るエンハンスメント形トランジスタ11の総べてはオフ
に切換えられる。しかし、同一列のデプリーション形ト
ランジスタ11はオンの状態を保ち、また、プレイ中の
他の総べてのトランジスタ11は、エンハンスメント形
であってもデプリーション形であっても、オンの状態を
保つことに注意されたい。
了により、ワード・ライン12の総べて、ビット・ライ
ン13の総べて、ワード・ライン・アドレス・デコード
21およびビット・ライン・アドレス・デコードは予備
光電された状態となる。ワード・ライン・アドレス・デ
コード21は、ワード・ライン12中の適切な1つを十
分な時間ノード28に結合する。従って、次の都合のよ
い事象が起るとき、すなわち、タイムスロットT2の前
縁において、第2図に示すようにワード・ライン・アド
レス・デコード予備光電期間QCを終了させることがで
きる。これに応答して、トランジスタnはノード囚を地
気に結合し、選択されたワード・ライン12を地気に迅
速に放電する。このように、アレイの対応する列におけ
るエンハンスメント形トランジスタ11の総べてはオフ
に切換えられる。しかし、同一列のデプリーション形ト
ランジスタ11はオンの状態を保ち、また、プレイ中の
他の総べてのトランジスタ11は、エンハンスメント形
であってもデプリーション形であっても、オンの状態を
保つことに注意されたい。
選択されたワード・ライン校が十分な時間放電した後、
ビット・ライン予備充電期間OBを終了させることがで
きる。この好ましい具体例においては、上記はかなシ迅
速に行なわれ、第2図に示すように、このビット・ライ
ン予備充電期間OBをタイムスロッ) T3の前縁にお
いて終了させるようにすることができる。これに応答し
て、トランジスタ19は、ビット・ライン13の共通の
端部を地気に結合し、各ビット・ライン13に対して放
電路を設定する。
ビット・ライン予備充電期間OBを終了させることがで
きる。この好ましい具体例においては、上記はかなシ迅
速に行なわれ、第2図に示すように、このビット・ライ
ン予備充電期間OBをタイムスロッ) T3の前縁にお
いて終了させるようにすることができる。これに応答し
て、トランジスタ19は、ビット・ライン13の共通の
端部を地気に結合し、各ビット・ライン13に対して放
電路を設定する。
もし、与えられた1本のビット・ライン13が、選択さ
れた列においてデプリーション・トランジスタ11を持
つならば、ビット・ライン・アドレス・デコード22に
結合されたビット・ライン13 D上記端部は放電する
。これ等ビット・ライン13のうちの1本がビット・ラ
イン・アドレス・デコード22によって選択されたなら
ば、出力ノード(9)もまた放電する。これに反して、
選択された列において、エンハンスメント形トランジヌ
タ11を有すル各ヒツト・ライン13は、ビット・ライ
ン・アドレス・デコード22に結合された端部は予備光
電されたままである。もし、ビット・ライン・アドレス
・デコード22が、これ等のビット・ライン13のうち
の1本を選択したならば、出力ノード冊は予備充電され
たままである。いづれの場合も出カノード妬の出力の状
態は、直列インバータ31および32を経て、ROM1
Oよシの出力として結合トランジスタ簡に捕捉される。
れた列においてデプリーション・トランジスタ11を持
つならば、ビット・ライン・アドレス・デコード22に
結合されたビット・ライン13 D上記端部は放電する
。これ等ビット・ライン13のうちの1本がビット・ラ
イン・アドレス・デコード22によって選択されたなら
ば、出力ノード(9)もまた放電する。これに反して、
選択された列において、エンハンスメント形トランジヌ
タ11を有すル各ヒツト・ライン13は、ビット・ライ
ン・アドレス・デコード22に結合された端部は予備光
電されたままである。もし、ビット・ライン・アドレス
・デコード22が、これ等のビット・ライン13のうち
の1本を選択したならば、出力ノード冊は予備充電され
たままである。いづれの場合も出カノード妬の出力の状
態は、直列インバータ31および32を経て、ROM1
Oよシの出力として結合トランジスタ簡に捕捉される。
このように、ROM1oによる出刃データの電圧は、ア
レイの選択された列および行にデプリーション形トラン
ジスタ11が製作されていれば、実質的に地気であシ、
アレイの上記の位置にエンハンスメント形トランジスタ
11が製作されていれば給電電圧VDDの近傍にある。
レイの選択された列および行にデプリーション形トラン
ジスタ11が製作されていれば、実質的に地気であシ、
アレイの上記の位置にエンハンスメント形トランジスタ
11が製作されていれば給電電圧VDDの近傍にある。
前述の通シ、これ等の電圧の底わす状態は選定の問題で
ある。
ある。
本発明は1つの好ましい具体例に関連して説明されたが
、種々の他の具体例は画業者には容易に明らかである。
、種々の他の具体例は画業者には容易に明らかである。
例えば、ビット・ライン・アドレス・デコード22を省
略することができ、この場合は、同一大きさのアレイか
ら複数個の並列データ出力を与えることとなる。これに
反し、俗がそれ自身のビット・ライン・アドレス・デコ
ード22をもつ、トランジスタ11のアレイの複数個に
対して、単一のワード・ライン・アドレス・デコード2
1ヲ使用し、並列データ出力の複数個を得るようにする
ことができる。
略することができ、この場合は、同一大きさのアレイか
ら複数個の並列データ出力を与えることとなる。これに
反し、俗がそれ自身のビット・ライン・アドレス・デコ
ード22をもつ、トランジスタ11のアレイの複数個に
対して、単一のワード・ライン・アドレス・デコード2
1ヲ使用し、並列データ出力の複数個を得るようにする
ことができる。
発明の効果
本発明を用いて、41個の直列結合トランジスタ11ヲ
もつポリシリコン・ゲート、Nチャネルの集積回路を、
単一の5ボルトの給電電圧VDDを使用し、4マイクロ
秒よシ短かいアクセス・サイクルを得ることに成功した
。この具体例においては、トランジスタ11の電流通路
はサブストレートを介して直列に接続され、また、ゲー
トはポリシリコンを用いて並列に接続されたので、アレ
イ中においては金属接続は要求されない。このように、
全アレイに金属層を堆積させることが可能である。
もつポリシリコン・ゲート、Nチャネルの集積回路を、
単一の5ボルトの給電電圧VDDを使用し、4マイクロ
秒よシ短かいアクセス・サイクルを得ることに成功した
。この具体例においては、トランジスタ11の電流通路
はサブストレートを介して直列に接続され、また、ゲー
トはポリシリコンを用いて並列に接続されたので、アレ
イ中においては金属接続は要求されない。このように、
全アレイに金属層を堆積させることが可能である。
この層をワード・ライン予備充電期間OAの間、給電電
圧VDDに接続することによシ、ワード・ライン12に
対するブートストラップ動作が、さらに高められる。
圧VDDに接続することによシ、ワード・ライン12に
対するブートストラップ動作が、さらに高められる。
これ等の、そして他の具体例にお込て、本発明は、与え
られた給電電圧およびビット・ライン長に対して最大の
アクセス速度を得るのに使用することができる。当業者
にとって明らかなように、給電電圧VDDを変更するこ
となく、直列接続トランジスタ11の数を減少させるこ
とにより、アクセス・サイクル・タイムを著しく減少さ
せる。他方には、アクセス・サイクル・タイムは、直列
接続されたトランジスタ11の数を減少することなく、
さらに高い給電電圧VDDを使用することにより減少さ
せることができる。
られた給電電圧およびビット・ライン長に対して最大の
アクセス速度を得るのに使用することができる。当業者
にとって明らかなように、給電電圧VDDを変更するこ
となく、直列接続トランジスタ11の数を減少させるこ
とにより、アクセス・サイクル・タイムを著しく減少さ
せる。他方には、アクセス・サイクル・タイムは、直列
接続されたトランジスタ11の数を減少することなく、
さらに高い給電電圧VDDを使用することにより減少さ
せることができる。
当業者は本発明の他の変形および使用が容易に判るでお
ろう。従って、前記特許請求の範囲61己載により、本
発明の真実の精神と範囲の中に含まれる、上記の変形2
よび開示された具体例を総べてカバーすることを意図し
ている。
ろう。従って、前記特許請求の範囲61己載により、本
発明の真実の精神と範囲の中に含まれる、上記の変形2
よび開示された具体例を総べてカバーすることを意図し
ている。
第1図は本発明によシ構成した直列形のリード・オンリ
・メモリの接続図、第2図は第1図のリード・オンリ・
メモリの動作を説明するためのタイム・チャートである
。 図において、 10・・・ROM111・・・ゲート用電界効果トラン
ジスタ、12・・・ワード・ライン、13・・・ビット
・ライン、14・・・ワード・ライン予備充電トランジ
スタ、15.23・・・カプラ、16,17,24.2
5・・・ノア・ゲート、18 、19 、26 。 27 + 29 + 33・・・トランジスタ、20・
・・アドレス・ライン、21・・・ワード・ライン・ア
ドレス・デコード、22・・・ビット・ライン・アドレ
ス・デコード、詔・・・共通ノード、田・・・出力ノー
ド、31 、32・・・インバータ、VDD・・・給電
電圧、TO−T11・・・タイムスロット、OA・・・
ワード・ライン予備光電期間、OB・・・ビット・ライ
ン予備光電期間、OC・・・ワード・ライン・アドレス
・デコード予備充電期間、OD・・・ビット・ライン・
アドレス・デコード予備充電期間。 特許出願人 モトローラ・インコーボレーテッド代理
人弁理士 玉 蟲 久 五 部 F’lG:、 1
・メモリの接続図、第2図は第1図のリード・オンリ・
メモリの動作を説明するためのタイム・チャートである
。 図において、 10・・・ROM111・・・ゲート用電界効果トラン
ジスタ、12・・・ワード・ライン、13・・・ビット
・ライン、14・・・ワード・ライン予備充電トランジ
スタ、15.23・・・カプラ、16,17,24.2
5・・・ノア・ゲート、18 、19 、26 。 27 + 29 + 33・・・トランジスタ、20・
・・アドレス・ライン、21・・・ワード・ライン・ア
ドレス・デコード、22・・・ビット・ライン・アドレ
ス・デコード、詔・・・共通ノード、田・・・出力ノー
ド、31 、32・・・インバータ、VDD・・・給電
電圧、TO−T11・・・タイムスロット、OA・・・
ワード・ライン予備光電期間、OB・・・ビット・ライ
ン予備光電期間、OC・・・ワード・ライン・アドレス
・デコード予備充電期間、OD・・・ビット・ライン・
アドレス・デコード予備充電期間。 特許出願人 モトローラ・インコーボレーテッド代理
人弁理士 玉 蟲 久 五 部 F’lG:、 1
Claims (3)
- (1)共通に接続されたアレイの列の各々にトランジス
タの各々のゲートをアレイ状に配置してそれぞれのワー
ド・ラインを形成し、第1.第2谷行間に直列に接続さ
れるアレイの各行にトランジスタの各々の電流バスをア
レイ状に配置してそれぞれビット線を形成し、2個の所
定の型の絶縁ゲート型の複数個の電界効果トランジスタ
と、ワード・ライン予備充電期間の間、ワードラインの
谷に第1の所定電圧を結合し、その後その第1の電圧を
ワード・ラインから切シ離すためのワード・ライン予備
充電手段;と、 ワード・ライン予備充電期間の終了に続くビット・ライ
ン予備光電期間の間、第1の電圧をビット・ラインの谷
の一端に結合し、その後、第2の予め定められた電圧を
ビット・ラインの各の第1の端部に結合するためのビッ
ト・ライン予備充電手段;と、 ワード・ライン予備充電期間の終了の後であるがビット
・ライン予備光電期間の終了の前に、アドレス信号によ
シ選択されたワード・ラインの中の1本に第2の電圧を
結合するためのワードライン・アドレス・デコード手段
;と、 を具備し、ビット・ラインの第2の端部を選択的に放電
することを特徴とするり、−ド・オンリ・メモリ。 - (2) 出力ノード;と、 ワード・ライン予備充電期間に続く出力ノード予備光電
期間の間、第1の電圧を出力ノードに結合し、その後ア
ドレス信号に応答して選択されたビット・ラインの1本
の第2の端部を出力ノードに結合するためのビット・ラ
イン・アドレス・デコード手段:と を更に具備することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載のメモリ。 - (3)トランジスタの予め定められた2つの形式はエン
ハンスメント形とデプリーション形を含み、また、ワー
ド・ライン予備充電手段は、ナチュラル・タイプの絶縁
ゲート型電界効果トランジスタの複数個を含みその各は
それぞれワード・ラインの1本を、ワード・ライン予備
充電期間の間、第1の電圧に結合することを特徴とする
特許請求の範囲第2項記載のメモリ。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/460,335 US4570239A (en) | 1983-01-24 | 1983-01-24 | Series read-only-memory having capacitive bootstrap precharging circuitry |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59142797A true JPS59142797A (ja) | 1984-08-16 |
Family
ID=23828294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59011784A Pending JPS59142797A (ja) | 1983-01-24 | 1984-01-24 | 容量性のブ−トストラツプ予備充電回路を有する直列固定記憶装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4570239A (ja) |
| JP (1) | JPS59142797A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5032877A (en) * | 1984-07-02 | 1991-07-16 | Texas Instruments Incorporated | Quantum-coupled ROM |
| EP0275212B1 (en) * | 1987-01-16 | 1993-08-04 | General Instrument Corporation | Nand stack rom |
| US5564052A (en) * | 1991-06-27 | 1996-10-08 | Integrated Device Technology, Inc. | Logically disconnectable virtual-to-physical address translation unit and method for such disconnection |
| US5793383A (en) * | 1996-05-31 | 1998-08-11 | Townsend And Townsend And Crew Llp | Shared bootstrap circuit |
| US6940770B2 (en) * | 2003-01-21 | 2005-09-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method for precharging word and bit lines for selecting memory cells within a memory array |
| US6950325B1 (en) * | 2004-10-07 | 2005-09-27 | Winbond Electronics Corporation | Cascade-connected ROM |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54101231A (en) * | 1978-01-27 | 1979-08-09 | Hitachi Ltd | Dynmic type rom |
| JPS55157196A (en) * | 1979-05-25 | 1980-12-06 | Hitachi Ltd | Vertical ratioless rom |
| JPS5633873A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-04 | Hitachi Ltd | Read only memory device |
| JPS56107396A (en) * | 1980-01-29 | 1981-08-26 | Sharp Corp | Semiconductor read only memory |
| JPS5736498A (en) * | 1980-08-13 | 1982-02-27 | Hitachi Ltd | Multisplit longitudinal type rom |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3611437A (en) * | 1969-01-16 | 1971-10-05 | Gen Instrument Corp | Read-only memory with operative and inoperative data devices located at address stations and with means for controllably charging and discharging appropriate modes of the address stations |
| US4183093A (en) * | 1975-09-04 | 1980-01-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device composed of insulated gate field-effect transistor |
| US4142176A (en) * | 1976-09-27 | 1979-02-27 | Mostek Corporation | Series read only memory structure |
| US4318014A (en) * | 1979-07-27 | 1982-03-02 | Motorola, Inc. | Selective precharge circuit for read-only-memory |
| US4404654A (en) * | 1980-01-29 | 1983-09-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device system |
| US4485460A (en) * | 1982-05-10 | 1984-11-27 | Texas Instruments Incorporated | ROM coupling reduction circuitry |
-
1983
- 1983-01-24 US US06/460,335 patent/US4570239A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-01-24 JP JP59011784A patent/JPS59142797A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54101231A (en) * | 1978-01-27 | 1979-08-09 | Hitachi Ltd | Dynmic type rom |
| JPS55157196A (en) * | 1979-05-25 | 1980-12-06 | Hitachi Ltd | Vertical ratioless rom |
| JPS5633873A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-04 | Hitachi Ltd | Read only memory device |
| JPS56107396A (en) * | 1980-01-29 | 1981-08-26 | Sharp Corp | Semiconductor read only memory |
| JPS5736498A (en) * | 1980-08-13 | 1982-02-27 | Hitachi Ltd | Multisplit longitudinal type rom |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4570239A (en) | 1986-02-11 |
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