JPS59149423A - 基準電圧回路 - Google Patents
基準電圧回路Info
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- JPS59149423A JPS59149423A JP58024154A JP2415483A JPS59149423A JP S59149423 A JPS59149423 A JP S59149423A JP 58024154 A JP58024154 A JP 58024154A JP 2415483 A JP2415483 A JP 2415483A JP S59149423 A JPS59149423 A JP S59149423A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は絶縁ゲート電界効果型トランジスタ(以下M
O8F W Tと略ス)のスレッシュホールド電圧を利
用した基準電圧口跡に関する。
O8F W Tと略ス)のスレッシュホールド電圧を利
用した基準電圧口跡に関する。
従来、M O8F ITのスレッシュホールド電圧を利
用した基準電圧口跡の例としては第1図や第2図の回路
がある。第1図はP4−ヤネルMO8FKT2とK4−
ヤネルMO日FET3のスレッシュホールド電圧の和の
電圧を出力端子5より取出すローである。l@1図にお
いて1と2はPチャネルMO8FETであり、5はN−
F−ヤネルMO8FFt1°である、MO8FET1,
2.5のβをそれぞれβF、、β’AhβM1 とし、
スレッシュホールド電圧をそれぞれVTP、 VTP、
VTII とする、ま2 y o sFl!!T1と2
の接続廣の電位をvlとし、MOE!’FET2と3の
接続点の電位なV愈とし、 −Vssの電位を0の基準
によ’f) s ’+ VDDと−v e 、sの電位
差をVDDとするとMO8FET1.2.3に流ね。
用した基準電圧口跡の例としては第1図や第2図の回路
がある。第1図はP4−ヤネルMO8FKT2とK4−
ヤネルMO日FET3のスレッシュホールド電圧の和の
電圧を出力端子5より取出すローである。l@1図にお
いて1と2はPチャネルMO8FETであり、5はN−
F−ヤネルMO8FFt1°である、MO8FET1,
2.5のβをそれぞれβF、、β’AhβM1 とし、
スレッシュホールド電圧をそれぞれVTP、 VTP、
VTII とする、ま2 y o sFl!!T1と2
の接続廣の電位をvlとし、MOE!’FET2と3の
接続点の電位なV愈とし、 −Vssの電位を0の基準
によ’f) s ’+ VDDと−v e 、sの電位
差をVDDとするとMO8FET1.2.3に流ね。
る電流は等し7いので
が成匂たち、解くと
但し
であり、ここで
βP・(βア1 、 βPe<<6M1とすればr
201)式は V1pVTp4−VTyr ・−・・−(202)
と々り第1図の基撫電圧回路はr202)式に見られる
ようにスレッシュホー)L・ド電圧の和の電圧が出力電
圧として得られる、 第2図はP千ヤネルMOEIFKT6とPキャネルMO
8F18T8のスレッシュホール)” 電圧(n 差の
電圧を出力端子10より取り出す回鯵である。
201)式は V1pVTp4−VTyr ・−・・−(202)
と々り第1図の基撫電圧回路はr202)式に見られる
ようにスレッシュホー)L・ド電圧の和の電圧が出力電
圧として得られる、 第2図はP千ヤネルMOEIFKT6とPキャネルMO
8F18T8のスレッシュホール)” 電圧(n 差の
電圧を出力端子10より取り出す回鯵である。
第2図において6と8はp−F−ヤネルMOEIFKT
であり、7と9はK4−ヤネルMO8IMCTである。
であり、7と9はK4−ヤネルMO8IMCTである。
MO8FI!iT6.7,8.9のβをそれぞれβP、
βM、βF、βM、!:t、、スレッシュホールドを圧
をそれぞれVTPM、’Vla、 VTpb、 VTN
とする。資りM08F]1CT6と7の接続点の雷1位
をvl、MO8FET8と9の接続点の電位をv4とし
。
βM、βF、βM、!:t、、スレッシュホールドを圧
をそれぞれVTPM、’Vla、 VTpb、 VTN
とする。資りM08F]1CT6と7の接続点の雷1位
をvl、MO8FET8と9の接続点の電位をv4とし
。
−V8?の電位を00基準により% + V D n
と−v88 の電位差をVDD とする、MO8F
KT6.7,8.9がすべて飽和領域で動作するとMO
EIFET6と7に流れる電流は等しいから・・・・・
・・・・(205) また、MOSFET8と9に流れる電流は等しいから ・・・・・・・・・(204) (205)、l’204)式を解いて V、= VTpa −V’rprr …−・−
…(205)となり第2図の基準電圧回路は(205)
式に見られるようにスレッシュホールド電圧の差の!圧
が出力電圧として得られる。なおスレッシュホールド電
圧に差をつける主な方法として。
と−v88 の電位差をVDD とする、MO8F
KT6.7,8.9がすべて飽和領域で動作するとMO
EIFET6と7に流れる電流は等しいから・・・・・
・・・・(205) また、MOSFET8と9に流れる電流は等しいから ・・・・・・・・・(204) (205)、l’204)式を解いて V、= VTpa −V’rprr …−・−
…(205)となり第2図の基準電圧回路は(205)
式に見られるようにスレッシュホールド電圧の差の!圧
が出力電圧として得られる。なおスレッシュホールド電
圧に差をつける主な方法として。
(a)4−ヤネルドープの打ちこみ量を2つのMOSF
ET間で変える方法 (b) シリコンゲート工程の場合でゲートをj11
52するポリシリコンに一方にはP f、他方にはN
をドープしてフェルミレベルの差を利用する方法 がある7 以上、従来の回μ例として第1図と第2図の回路動作を
説明したが、一般゛に基準電圧面μの基恕電圧値に求め
られる条件の中に次のようガものがある。
ET間で変える方法 (b) シリコンゲート工程の場合でゲートをj11
52するポリシリコンに一方にはP f、他方にはN
をドープしてフェルミレベルの差を利用する方法 がある7 以上、従来の回μ例として第1図と第2図の回路動作を
説明したが、一般゛に基準電圧面μの基恕電圧値に求め
られる条件の中に次のようガものがある。
(1)基準電圧値が安定して得られるー“こと(11)
任意の基準電圧値が得られること(iii)複数の暴動
電圧値が同時に得られること以上の条件から第1図、第
2図の基準電圧回路を見てみる。さてMOSFETのス
レッシュホールド電圧は製造工程上のイオン打ちこみ量
、ゲート膜厚、基板濃度のバラツギや各工程における温
度の変動、不純物の汚染等の多種の要因について影響を
受は変動する7したがって第1図の基準電圧回路は(2
02)式のとと(スレッシュボールド電圧の和の出力電
圧であるので製造上、安定しているとは云い難い、した
がって前記条件の(1)が満足されない。その点炉2図
の基憩電圧は(2OS)式で表わされるよりに同じ導電
型のトランジスタのスレッシュホールド電圧の差の電圧
を散り出L7ており、同じ導電型のトランジスタのスレ
ッシュホールド電圧の差は、その要因が前記方法(a)
、 (b)。
任意の基準電圧値が得られること(iii)複数の暴動
電圧値が同時に得られること以上の条件から第1図、第
2図の基準電圧回路を見てみる。さてMOSFETのス
レッシュホールド電圧は製造工程上のイオン打ちこみ量
、ゲート膜厚、基板濃度のバラツギや各工程における温
度の変動、不純物の汚染等の多種の要因について影響を
受は変動する7したがって第1図の基準電圧回路は(2
02)式のとと(スレッシュボールド電圧の和の出力電
圧であるので製造上、安定しているとは云い難い、した
がって前記条件の(1)が満足されない。その点炉2図
の基憩電圧は(2OS)式で表わされるよりに同じ導電
型のトランジスタのスレッシュホールド電圧の差の電圧
を散り出L7ており、同じ導電型のトランジスタのスレ
ッシュホールド電圧の差は、その要因が前記方法(a)
、 (b)。
であげたようにイオン打ちこみの差とか、ゲート電極の
材質の差といった。その差を作り出す限られた工程のみ
できまり、#述し、たスレッシュホールド電圧を変動さ
せる多数の要因は2個のMOSFETのスレッシュホー
ルド電圧を共に変化させル為、スレッシュホールド電圧
の差は保存され影響を受はないので第2図の基準電圧回
路は第1図の基準電圧回路より製造にあたって制御しや
す(安定している、したがって前BP条件の(1)を第
2図の回路は比較的よ(満たす、方お第2図の回路で前
F方法(a)よりも(b)の方法の方が安定しているこ
とが知られている。さて(11)の条件は!!2図の回
路の(a)の方法は対応できるが(b’)の方法はMO
8FF!Tの製造工程においてはP+や1の濃度は最適
値があってあまり大きく変えられないので事実上対応で
微々い7また611)の条件は第1図の基準電圧回路や
第2図の基進電圧回しの(a)の場合でスレッシュホー
ルド電圧をい(つも変えて同時に作れば満たせる訳であ
るが、スレッシュホールド電圧を同−集積ローにい(り
も作ることは製造上の繁雑さを増【7.コストの上昇を
招(7 以上、従来の回路の第1図、第2図の基準電圧回路では
前記条件中、 (ii)、 (lii)をすべて満たす
ことは出来ない、前記中、(ii)、佃)の条件をすべ
て満足する為には安定した基漁電圧値を作る回路とその
電圧の任意の実数倍を作る回路が必要であるが。
材質の差といった。その差を作り出す限られた工程のみ
できまり、#述し、たスレッシュホールド電圧を変動さ
せる多数の要因は2個のMOSFETのスレッシュホー
ルド電圧を共に変化させル為、スレッシュホールド電圧
の差は保存され影響を受はないので第2図の基準電圧回
路は第1図の基準電圧回路より製造にあたって制御しや
す(安定している、したがって前BP条件の(1)を第
2図の回路は比較的よ(満たす、方お第2図の回路で前
F方法(a)よりも(b)の方法の方が安定しているこ
とが知られている。さて(11)の条件は!!2図の回
路の(a)の方法は対応できるが(b’)の方法はMO
8FF!Tの製造工程においてはP+や1の濃度は最適
値があってあまり大きく変えられないので事実上対応で
微々い7また611)の条件は第1図の基準電圧回路や
第2図の基進電圧回しの(a)の場合でスレッシュホー
ルド電圧をい(つも変えて同時に作れば満たせる訳であ
るが、スレッシュホールド電圧を同−集積ローにい(り
も作ることは製造上の繁雑さを増【7.コストの上昇を
招(7 以上、従来の回路の第1図、第2図の基準電圧回路では
前記条件中、 (ii)、 (lii)をすべて満たす
ことは出来ない、前記中、(ii)、佃)の条件をすべ
て満足する為には安定した基漁電圧値を作る回路とその
電圧の任意の実数倍を作る回路が必要であるが。
従来の基準電圧回路では第1図や第2図の回路が代表さ
れるように満足する回路がなかった。ただし従来の基憩
電圧を用いて暴悪電圧の任意の実数値倍を作る方法とし
て一応第3図や第4図の回路は考えられる7第3図の回
路は第2図の基準電圧回路の出力電圧を抵抗11と抵抗
12によって電圧を抵抗分割して、より小さい暴悪電圧
を得る方法であるが、この方法では抵抗11と抵抗12
の抵抗値の合計が第2図の出力端子10から見た′イン
ビーダンヌに比較し非常に大^(な(てueら方いが、
MO日集積回路ではそのよらな大きな抵抗は美大なチッ
プ面積を要するとともに高抵抗では動作上及び信頼性に
おいて不安定さを招き現実的ではない。ま7を第4図の
回路はオペアンプ14と抵抗15と抵抗16から作られ
る非反転増幅回路の非反転入力端子に第2図の基準電圧
回路の出力端子10を接続したもので抵抗15と抵抗1
6の抵抗値をそれぞれB1.R1とし、非反転入力端子
に入力する基迩市圧’)ei、オペアンプ出力をeOと
すれば s eO“(1+−)el ・・・・・・・・・(206
)I?意 となり、PlとB1の値を適光に選ぶことにより。
れるように満足する回路がなかった。ただし従来の基憩
電圧を用いて暴悪電圧の任意の実数値倍を作る方法とし
て一応第3図や第4図の回路は考えられる7第3図の回
路は第2図の基準電圧回路の出力電圧を抵抗11と抵抗
12によって電圧を抵抗分割して、より小さい暴悪電圧
を得る方法であるが、この方法では抵抗11と抵抗12
の抵抗値の合計が第2図の出力端子10から見た′イン
ビーダンヌに比較し非常に大^(な(てueら方いが、
MO日集積回路ではそのよらな大きな抵抗は美大なチッ
プ面積を要するとともに高抵抗では動作上及び信頼性に
おいて不安定さを招き現実的ではない。ま7を第4図の
回路はオペアンプ14と抵抗15と抵抗16から作られ
る非反転増幅回路の非反転入力端子に第2図の基準電圧
回路の出力端子10を接続したもので抵抗15と抵抗1
6の抵抗値をそれぞれB1.R1とし、非反転入力端子
に入力する基迩市圧’)ei、オペアンプ出力をeOと
すれば s eO“(1+−)el ・・・・・・・・・(206
)I?意 となり、PlとB1の値を適光に選ぶことにより。
基進電圧より大きな値の新たな基迩電圧を作り出せるが
、第4図の[91iFではオペアンプ14や抵抗15.
16が必要とかるが、それのみならずオペアンプには発
振防止用のコンデンサも必要となり。
、第4図の[91iFではオペアンプ14や抵抗15.
16が必要とかるが、それのみならずオペアンプには発
振防止用のコンデンサも必要となり。
また抵抗15.16で消費する電流も少くする為には大
きな抵抗値を持たせる必要があってMOB集積回しで構
成する際には大きなチップ面積を必要とし得策ではない
2 以上、従来の回路でけ基準電圧回路が必要とする前記条
件(1)、(11)、6ii)を情交し、かつ製造上も
含めて現実的である連光な回しがなかつ−fc。
きな抵抗値を持たせる必要があってMOB集積回しで構
成する際には大きなチップ面積を必要とし得策ではない
2 以上、従来の回路でけ基準電圧回路が必要とする前記条
件(1)、(11)、6ii)を情交し、かつ製造上も
含めて現実的である連光な回しがなかつ−fc。
本発明は安定した、しかも任童の値の基進電圧が得られ
る基準電圧回路を提供するものである。
る基準電圧回路を提供するものである。
ま九本発明は複斂個の基迩雷圧値を得る場合やMO8集
積回路にも適した基準電圧回路を提供するものである。
積回路にも適した基準電圧回路を提供するものである。
また本発明は基本となる単位回路を積み重ねていく構成
であって、様々な場合に対し簡皐に設計できる回路と回
路構成方法を提供するものである一以下、実施例に基づ
負本発明の詳細な説明する。
であって、様々な場合に対し簡皐に設計できる回路と回
路構成方法を提供するものである一以下、実施例に基づ
負本発明の詳細な説明する。
第5図は本発明の回鯵構Wの基本となる巣位回しを示す
ものである。、第5図において18と20けPチャネル
MO8FETであり、19と21はN拳ヤネルMO8F
ETである。PキャヌルMO8FFiT1Bと20のソ
ースは+VDI) に接続され、8チャネルMO日F
F3T19と21のソースは−VSS に接続されて
いる。PチャネルMOEIFI!1T18のドレインと
ド第#ネルM08F]1IiTi9のドレインは接続さ
れている。FチャネルMO8FKT20のドレイントN
d−ヤネルMO8FKT21のドレインは接続されて
いるN争ヤネルMO8FIliT19と21のゲートは
共にN−F−ヤネルMOEIF]1liT19のドレイ
ンに接続されている。、P−f−ヤネルMO8FKT2
0のゲートはPチャネルMO8FmT20のドレインに
接続されている。1)−F−ヤネルMO8FET1Bの
ゲートは単位回路としての入力端子22に接続され。
ものである。、第5図において18と20けPチャネル
MO8FETであり、19と21はN拳ヤネルMO8F
ETである。PキャヌルMO8FFiT1Bと20のソ
ースは+VDI) に接続され、8チャネルMO日F
F3T19と21のソースは−VSS に接続されて
いる。PチャネルMOEIFI!1T18のドレインと
ド第#ネルM08F]1IiTi9のドレインは接続さ
れている。FチャネルMO8FKT20のドレイントN
d−ヤネルMO8FKT21のドレインは接続されて
いるN争ヤネルMO8FIliT19と21のゲートは
共にN−F−ヤネルMOEIF]1liT19のドレイ
ンに接続されている。、P−f−ヤネルMO8FKT2
0のゲートはPチャネルMO8FmT20のドレインに
接続されている。1)−F−ヤネルMO8FET1Bの
ゲートは単位回路としての入力端子22に接続され。
1− PチャネルMosyg’r2oのドレインは単
位回路としての出力端子26に接続されている。さてM
osygTla、19.20.21のβをそれぞれβP
3.βMS、β’IsβN烏 と[7、スレッシュホ
ールド電圧をそれぞれVTPI 、VTII、 VTp
@ 、 VTNとす石、またMOEIFKTl Bと1
9の接続点の電位をVA、 入力端子22の電位をV
l)A、出力端子23の電位をVIIA とする、ま
た−vse の電位fO(r)基単にと”) h +
VD!1 と−’yes の電位差をVDD
とする、そしてMO8FFiT 18.19゜20s2
1がすべて飽和領域で動作するとMO8Fml!T1B
と19に流れる電流は等しいから・・・・・・・−(2
07’) ま7’CMOsF’1lIXT20と21に流れる電流
は等しいから ・・・・・・・・・(20B) の2式が成りたつ。(207)、(20B)式をとなる
。但しMO8FET18.19.20゜21がすべて飽
和領域で動作する条件とじて力1つ ・・・・・・・・・(211) である、つまシ第5図の巣位回路は(210)と1’2
11)式の条件に社章しながらβP1mβP1+iβ1
.βJ、 VTPhVTP、及びViAの値を様々に設
定することによF)(209)51からvBA O値を
様々に作シ出すことが出来る7そしてこの単位回vf組
み合せて用いることにより様々の秀れ九基進電圧口跡が
作られるのである2次に巣位回路を組み合せたff1l
?示してい(。
位回路としての出力端子26に接続されている。さてM
osygTla、19.20.21のβをそれぞれβP
3.βMS、β’IsβN烏 と[7、スレッシュホ
ールド電圧をそれぞれVTPI 、VTII、 VTp
@ 、 VTNとす石、またMOEIFKTl Bと1
9の接続点の電位をVA、 入力端子22の電位をV
l)A、出力端子23の電位をVIIA とする、ま
た−vse の電位fO(r)基単にと”) h +
VD!1 と−’yes の電位差をVDD
とする、そしてMO8FFiT 18.19゜20s2
1がすべて飽和領域で動作するとMO8Fml!T1B
と19に流れる電流は等しいから・・・・・・・−(2
07’) ま7’CMOsF’1lIXT20と21に流れる電流
は等しいから ・・・・・・・・・(20B) の2式が成りたつ。(207)、(20B)式をとなる
。但しMO8FET18.19.20゜21がすべて飽
和領域で動作する条件とじて力1つ ・・・・・・・・・(211) である、つまシ第5図の巣位回路は(210)と1’2
11)式の条件に社章しながらβP1mβP1+iβ1
.βJ、 VTPhVTP、及びViAの値を様々に設
定することによF)(209)51からvBA O値を
様々に作シ出すことが出来る7そしてこの単位回vf組
み合せて用いることにより様々の秀れ九基進電圧口跡が
作られるのである2次に巣位回路を組み合せたff1l
?示してい(。
躯6図は、t′発明の枦1の実施例全示す回鯵図である
、第6図においてPチャネルMO8FFiT24.26
とN−1−1ネ#MO8FET25.27ニLツテM−
位回V 52 ’5rW1e L、チオ#) 、MOS
FET24.25.26.27が第5図における巣位回
しのMOSFET18,19.20.21にそれぞれ対
応している。、またF4−ヤネルMO8FET28.3
0とF4−ヤネ/L−M’O8F’ET29.31によ
って巣位回路35を構成し、MOSFET28.29,
30.51が館5図における巣位回μのMOSFET
1 B、19,20.21にそれぞれ対応している。単
位口跡320入力端子であるMOSFET24のゲート
は−Vseに接続されティルー 1位OoV 32 (
D出力であるMO8F11!;’T26のドレインは巣
位回F33の入力端子であるMOSFET28のゲート
に接続されている。、巣位回路33の出力端子34が第
6図の基血電圧回路の出力端子を兼ねている。さて巣位
回w−52においてMOSFET24,25,26.2
7のβをそれぞれβP、βhβP1βNとし、またスレ
ッシュホールド電圧をそれぞれvrpHl、VTN、
VTPLI 。
、第6図においてPチャネルMO8FFiT24.26
とN−1−1ネ#MO8FET25.27ニLツテM−
位回V 52 ’5rW1e L、チオ#) 、MOS
FET24.25.26.27が第5図における巣位回
しのMOSFET18,19.20.21にそれぞれ対
応している。、またF4−ヤネルMO8FET28.3
0とF4−ヤネ/L−M’O8F’ET29.31によ
って巣位回路35を構成し、MOSFET28.29,
30.51が館5図における巣位回μのMOSFET
1 B、19,20.21にそれぞれ対応している。単
位口跡320入力端子であるMOSFET24のゲート
は−Vseに接続されティルー 1位OoV 32 (
D出力であるMO8F11!;’T26のドレインは巣
位回F33の入力端子であるMOSFET28のゲート
に接続されている。、巣位回路33の出力端子34が第
6図の基血電圧回路の出力端子を兼ねている。さて巣位
回w−52においてMOSFET24,25,26.2
7のβをそれぞれβP、βhβP1βNとし、またスレ
ッシュホールド電圧をそれぞれvrpHl、VTN、
VTPLI 。
VTNとする。そしてMOSFET24のゲートは−V
ssK接続されているのでVG A=0 とkる#仁
のとき巣位回路62の出力電位Vs1は(209)式よ
り VB、gVTPHm−VTPLl ………(212)
となる7次に蛍位回V35においてM OS F E’
T28.29.30.31のβをそれぞれβP翼。
ssK接続されているのでVG A=0 とkる#仁
のとき巣位回路62の出力電位Vs1は(209)式よ
り VB、gVTPHm−VTPLl ………(212)
となる7次に蛍位回V35においてM OS F E’
T28.29.30.31のβをそれぞれβP翼。
βN、βP、βN’、!:L、lたスレッシュホールド
電圧を−HhぞれVTPI、 、 VTN、VTPL、
、 Vta とする。
電圧を−HhぞれVTPI、 、 VTN、VTPL、
、 Vta とする。
そしてMOSFET2 Bのゲートにけ(212)式で
夢わされるVs、の電位が与オられているので巣位回路
33の出力電位Vs、け(209)式よりVsl =r
VTpil−VTP!+、 )+rVrpn、 −VT
PIll )・・・・・・・・・(215) となる、ここで V T P a=V T P ]111 =V T
P l5VTPL+=VTPL1 =VTI’Ltとす
れば v8$ =2(vTpn−VTP L )−・−・・・
・・−(214)となる7したがって第6図の口跡け(
215)式で表わされるよりに第1のスレッシュホール
ド電圧の差の電圧とF2のスレッシュホールド電圧の差
の1圧の和の重圧f摩り出せる暴悪電圧回しであり、ま
た(214)5j::で表わされるようにスレッシュホ
ールド電圧の差の2倍の電圧を基差電圧として取り出せ
る基進電圧回路でもあるととがわかる。またtJL6図
において巣位回w−32の出力も取シ出せげv6図の口
跡はスレッシュホールド電圧の差の電圧とその2倍の常
圧の2つの基漁軍、圧を同時に取り出せる基進電圧回V
でもあることがわかる。
夢わされるVs、の電位が与オられているので巣位回路
33の出力電位Vs、け(209)式よりVsl =r
VTpil−VTP!+、 )+rVrpn、 −VT
PIll )・・・・・・・・・(215) となる、ここで V T P a=V T P ]111 =V T
P l5VTPL+=VTPL1 =VTI’Ltとす
れば v8$ =2(vTpn−VTP L )−・−・・・
・・−(214)となる7したがって第6図の口跡け(
215)式で表わされるよりに第1のスレッシュホール
ド電圧の差の電圧とF2のスレッシュホールド電圧の差
の1圧の和の重圧f摩り出せる暴悪電圧回しであり、ま
た(214)5j::で表わされるようにスレッシュホ
ールド電圧の差の2倍の電圧を基差電圧として取り出せ
る基進電圧回路でもあるととがわかる。またtJL6図
において巣位回w−32の出力も取シ出せげv6図の口
跡はスレッシュホールド電圧の差の電圧とその2倍の常
圧の2つの基漁軍、圧を同時に取り出せる基進電圧回V
でもあることがわかる。
第7図は本発明の第2の実施例1を示す(ロ)略図であ
る。第7図の回路は第6図の回路に更に巣位回v40を
付は加えた本ので、m位回路32と35は$6図表第7
図で同番号で対応している。巣位回路40においてMO
SFET36,57.38゜69はM2S図における単
位回−のM OEl iE T18.19.20.21
にそれぞれ対応している。
る。第7図の回路は第6図の回路に更に巣位回v40を
付は加えた本ので、m位回路32と35は$6図表第7
図で同番号で対応している。巣位回路40においてMO
SFET36,57.38゜69はM2S図における単
位回−のM OEl iE T18.19.20.21
にそれぞれ対応している。
そしてMOSFET56,57.5B、39のβをそれ
ぞれβP、βN、βP、βNとし、またスレッシュホー
ルド電圧をそれぞれV T ’P Hs −V T N
* V T P Xr * s’VTNとする。そし
てMOSFET36のゲートには(213)式で表わさ
れるVslの電位が与λられているので巣位回wL40
の出力電位Ve、は(209’1式よシ VBB ==(VTP FIB −Vt P L、)+
(VT P H嘗VT P Ll )+rVTpnl
−VTpXJt ) −−−−−−−・−(215)
と方る。ここで VTR=VTPl!、 =Vrpq、 =VTPH。
ぞれβP、βN、βP、βNとし、またスレッシュホー
ルド電圧をそれぞれV T ’P Hs −V T N
* V T P Xr * s’VTNとする。そし
てMOSFET36のゲートには(213)式で表わさ
れるVslの電位が与λられているので巣位回wL40
の出力電位Ve、は(209’1式よシ VBB ==(VTP FIB −Vt P L、)+
(VT P H嘗VT P Ll )+rVTpnl
−VTpXJt ) −−−−−−−・−(215)
と方る。ここで VTR=VTPl!、 =Vrpq、 =VTPH。
vTPLdvTPL1=VTPII、 =VTPLl。
とすればr215)式は
V8m=5(’Vrp*−VTPL)−・・・・・・−
・(216)となる、したがって第7図の回路は(21
6)式で表わされるようにスレッシュホールド電圧の差
の3倍の電圧を基童市圧として散り出せる基準電圧回路
であることがわかる、また第7図において単位回し32
及び33の出力も取り出せば第7図の回路はスレッシュ
ホールド電圧の差の電圧とその2倍の電圧とその3倍の
電圧の5つの暴悪電圧を同時に取シ出せる基準電圧回路
であることがわかる。
・(216)となる、したがって第7図の回路は(21
6)式で表わされるようにスレッシュホールド電圧の差
の3倍の電圧を基童市圧として散り出せる基準電圧回路
であることがわかる、また第7図において単位回し32
及び33の出力も取り出せば第7図の回路はスレッシュ
ホールド電圧の差の電圧とその2倍の電圧とその3倍の
電圧の5つの暴悪電圧を同時に取シ出せる基準電圧回路
であることがわかる。
さて第6図は単位回路を2個組み合せてスレッシュホー
ルド電圧の差の2倍の電圧、を覗り出し。
ルド電圧の差の2倍の電圧、を覗り出し。
第7図は蛍位回W−f5個組み合せてスレッシュホール
ド電圧の差の3倍の電圧f増り出したが、同様に巣位回
−を積み重ねてい(ことによって一般にスレッシュホー
ルド電圧の差の伺倍の電圧でも取り出せる回路をjp成
できる、 t$8図は本発明の第5の実施例を示す回路図である。
ド電圧の差の3倍の電圧f増り出したが、同様に巣位回
−を積み重ねてい(ことによって一般にスレッシュホー
ルド電圧の差の伺倍の電圧でも取り出せる回路をjp成
できる、 t$8図は本発明の第5の実施例を示す回路図である。
第8図においてβ4−ヤネルMOEIFET42.44
とN(−ヤネルMO8FET43.45によって単位回
路50を*fillておりl10SFET42.45,
44.45が第5図における単位回路のMO8FF3T
18.19,20.21にそれぞれ対応している。f
たP4ヤヌルM08FET46%48とN4−ヤネルM
OEIFKT47.49によって巣位回1@51を構成
しており、、MO8FET46.47.48.49が第
5図における単位回路のMO8FFiT18.19,2
0.21にそれぞれ対応している7遂位回跡50の入力
端子であるMO8FET42のゲートは−Vssに接続
されている2m、位回鯵50の出力であるMO8FF!
T44のドレインFi巣位口跡51の入力端子であるM
O8FKT46のゲートに接続されている。
とN(−ヤネルMO8FET43.45によって単位回
路50を*fillておりl10SFET42.45,
44.45が第5図における単位回路のMO8FF3T
18.19,20.21にそれぞれ対応している。f
たP4ヤヌルM08FET46%48とN4−ヤネルM
OEIFKT47.49によって巣位回1@51を構成
しており、、MO8FET46.47.48.49が第
5図における単位回路のMO8FFiT18.19,2
0.21にそれぞれ対応している7遂位回跡50の入力
端子であるMO8FET42のゲートは−Vssに接続
されている2m、位回鯵50の出力であるMO8FF!
T44のドレインFi巣位口跡51の入力端子であるM
O8FKT46のゲートに接続されている。
単位回路51の出力端子41が第8図の基準電圧回路の
出力端子を兼ねている、さて単位回路50においてMO
8FF3T4.2.45,44,450βをそれぞれβ
P、βN、(1+α)鵞βP、βNとし、またスレッシ
ュホールド電圧をそれぞしVtrb。
出力端子を兼ねている、さて単位回路50においてMO
8FF3T4.2.45,44,450βをそれぞれβ
P、βN、(1+α)鵞βP、βNとし、またスレッシ
ュホールド電圧をそれぞしVtrb。
VTN、 VTPL、VTNとする。そしてMO8FK
T42のゲートけ−Vssに接続されているのでVC1
A=0と方る。このとき単位回路50の出力電位VB4
け(209)式mす VEI4= 6 (VDD−vTpb)−=−(
217)1+α となる、また単位回路51においてMOe’FBT46
.47.48.49のβをそれぞれ(1+α)tβP、
βN、βP、βNとし、またスレッシュホールド電圧を
そわぞり、 VTPI(kVTII、 VTPL、VT
Nとする、そしてMO8FET46のゲートにはVs4
の電位が入力しているので巣位回v50の出力電位VS
。
T42のゲートけ−Vssに接続されているのでVC1
A=0と方る。このとき単位回路50の出力電位VB4
け(209)式mす VEI4= 6 (VDD−vTpb)−=−(
217)1+α となる、また単位回路51においてMOe’FBT46
.47.48.49のβをそれぞれ(1+α)tβP、
βN、βP、βNとし、またスレッシュホールド電圧を
そわぞり、 VTPI(kVTII、 VTPL、VT
Nとする、そしてMO8FET46のゲートにはVs4
の電位が入力しているので巣位回v50の出力電位VS
。
は(209)式よシ
Vsa=(1+α)*rVTpH−VTp′L)−・−
・−・−(218)が得られる、ここでα〉0である−
したがってr21B)式よシヌレッシュホールド電圧の
差の電圧の1より大きい実数値倍の基準電圧が第8図の
基準電圧回路で得られることがわかるーなおαの設定は
MO日FET42と44.そしてMO8FFiT46と
48の形状を相対的に変ヌることで任意の値に出来る2
また前述の説明においてけ巣位回111ilc50のM
O8FET42と44のβ?−すれぞれβF、(1+α
)!βPとしたがMO8FKT42゜45.44.45
0βをそれぞれβ’1aβ’1mβP嵩、βNり とし
て βP烏・βN1 (1+α戸 の関係さえあれば必ずしもMO8FKT42と44の間
だけで設定する必要はか(、r219)式の関係がぼり
たつものけすべて等価である。、また同様に巣位回−5
1において前述の説明ではMOEIFE!T46と48
のβをそれぞれ(1+α)禦βP1βP としたがMO
8FInT46.47.48.49のβをそれぞれβ′
P1.β”1.β/ p 、、β1143として β′ア! ・ β′1 の関係さえあれば良(、r220)式の関係が成シたつ
ものはすべて等価である7 第9図は本発明の第4の実施例を示す回路図である。第
9図においてP4−ヤメルM08FET52.54とN
−F−ヤヌルMO8FET53.55によって単位回路
64を構成しており、M OB F F: T52.5
3.54.55が第5図における単位回路のMO87F
!TI 8% 19,20.21にそれぞれ対応してい
る6またPチャネルMO8FET56.58とNチャネ
ルMO8FET57.59にヨッて矩位回vlL65を
構成してお!ll、MO8FFiT56.57.5B、
59が第5図における単位回路のMO8FK718.1
9.20.21[それぞれ対応している。またP4−ヤ
ネルM08FET60.62とぎチャネルMO8FET
/+ 1.63によって単位回路66を構成しており、
MO8FKT60.61,62.65が第5図における
単位回路のMO8FET1 B、19,20,21にそ
れぞれ対応している。単位回路64の入力端子であるM
O8FF!T52のゲートは−Vesに接続されている
7里位回F64の出力であるMOEIFFiT54のド
レイン1l−j′里位回路65の入力端子であるMOE
IFF!T56のゲートに接続されているn単位回路6
5の出力であるMO8FFiT5Bのドレインは卑位回
薪660入力端子であるMO8FKT60のゲートに接
続されている。単位回路66の出力端子67が第9図の
基進電圧回路の出力端子を兼ねている。さて巣位回v−
64においてM’08FET52.53%54.55の
βをそれぞれβP、βN、(1+α)重βP、βNとし
、またスレッシュホールド電圧をそれぞれVTFI、、
VTlI、 VTPL。
・−・−(218)が得られる、ここでα〉0である−
したがってr21B)式よシヌレッシュホールド電圧の
差の電圧の1より大きい実数値倍の基準電圧が第8図の
基準電圧回路で得られることがわかるーなおαの設定は
MO日FET42と44.そしてMO8FFiT46と
48の形状を相対的に変ヌることで任意の値に出来る2
また前述の説明においてけ巣位回111ilc50のM
O8FET42と44のβ?−すれぞれβF、(1+α
)!βPとしたがMO8FKT42゜45.44.45
0βをそれぞれβ’1aβ’1mβP嵩、βNり とし
て βP烏・βN1 (1+α戸 の関係さえあれば必ずしもMO8FKT42と44の間
だけで設定する必要はか(、r219)式の関係がぼり
たつものけすべて等価である。、また同様に巣位回−5
1において前述の説明ではMOEIFE!T46と48
のβをそれぞれ(1+α)禦βP1βP としたがMO
8FInT46.47.48.49のβをそれぞれβ′
P1.β”1.β/ p 、、β1143として β′ア! ・ β′1 の関係さえあれば良(、r220)式の関係が成シたつ
ものはすべて等価である7 第9図は本発明の第4の実施例を示す回路図である。第
9図においてP4−ヤメルM08FET52.54とN
−F−ヤヌルMO8FET53.55によって単位回路
64を構成しており、M OB F F: T52.5
3.54.55が第5図における単位回路のMO87F
!TI 8% 19,20.21にそれぞれ対応してい
る6またPチャネルMO8FET56.58とNチャネ
ルMO8FET57.59にヨッて矩位回vlL65を
構成してお!ll、MO8FFiT56.57.5B、
59が第5図における単位回路のMO8FK718.1
9.20.21[それぞれ対応している。またP4−ヤ
ネルM08FET60.62とぎチャネルMO8FET
/+ 1.63によって単位回路66を構成しており、
MO8FKT60.61,62.65が第5図における
単位回路のMO8FET1 B、19,20,21にそ
れぞれ対応している。単位回路64の入力端子であるM
O8FF!T52のゲートは−Vesに接続されている
7里位回F64の出力であるMOEIFFiT54のド
レイン1l−j′里位回路65の入力端子であるMOE
IFF!T56のゲートに接続されているn単位回路6
5の出力であるMO8FFiT5Bのドレインは卑位回
薪660入力端子であるMO8FKT60のゲートに接
続されている。単位回路66の出力端子67が第9図の
基進電圧回路の出力端子を兼ねている。さて巣位回v−
64においてM’08FET52.53%54.55の
βをそれぞれβP、βN、(1+α)重βP、βNとし
、またスレッシュホールド電圧をそれぞれVTFI、、
VTlI、 VTPL。
VTNとする、そしてMO8FEiT52のゲートは−
V s s に接続されているのでVo A=0と々
る−このとき単位回路64の出力電位Vs、け(209
1式より α ・・・・・・・・・(221) となる、、また単位面−65においてMOEIF’FT
56.57.58.59のβをそれぞれβP、βNsβ
P、βN とし、またスレッシュホールド電圧をそれぞ
れVTPII、 VTN、VTPIIIIVTNとする
、そしてMO8FKT56のゲートにはVs、の電位が
入力しているので巣位回−65の出力電位Vs、は(2
09)式より α と方るPまた単位回路66においてMO8FKT60.
61%62,65のβをそれぞれ(1+α)1βP%β
N、βP、βN トL−またスレッシュホールド電圧
をそれぞれVTIIII、 VT)l、 VTPII、
VTNとする、そしてMO8FKT60のゲートには
Vatの電位が入力しているので巣位回v−66の出力
電位Vs。
V s s に接続されているのでVo A=0と々
る−このとき単位回路64の出力電位Vs、け(209
1式より α ・・・・・・・・・(221) となる、、また単位面−65においてMOEIF’FT
56.57.58.59のβをそれぞれβP、βNsβ
P、βN とし、またスレッシュホールド電圧をそれぞ
れVTPII、 VTN、VTPIIIIVTNとする
、そしてMO8FKT56のゲートにはVs、の電位が
入力しているので巣位回−65の出力電位Vs、は(2
09)式より α と方るPまた単位回路66においてMO8FKT60.
61%62,65のβをそれぞれ(1+α)1βP%β
N、βP、βN トL−またスレッシュホールド電圧
をそれぞれVTIIII、 VT)l、 VTPII、
VTNとする、そしてMO8FKT60のゲートには
Vatの電位が入力しているので巣位回v−66の出力
電位Vs。
は(209)式によ!11゜
Ve@=α(VTpm−VTPII)・・−−−−−−
・(225)となる、ここでα〉0である。したがって
(225)式ヨリスレッシュホールド電圧の産の電圧の
1よシ小さい重数値倍の基漁雷圧も第9図の基油電圧回
路で得られることがわかる。方お前述の説明において単
位回路64のMO8FET52と54のβをそれぞれβ
P、 N+α)嵩βPとしたが。
・(225)となる、ここでα〉0である。したがって
(225)式ヨリスレッシュホールド電圧の産の電圧の
1よシ小さい重数値倍の基漁雷圧も第9図の基油電圧回
路で得られることがわかる。方お前述の説明において単
位回路64のMO8FET52と54のβをそれぞれβ
P、 N+α)嵩βPとしたが。
MO8FFiT52,53,54.55のβをそれぞれ
βPlbβMIsBP車、βN、としてβr雰・8M1
(1+α)黛 の関係されあれば良<(224)式が成りたつものはす
べて等価である7また同様に単位面VP66のMOEI
FKT60と62のβ?それぞれ(1+α)寓βP、β
Pとしたが、MO8FKT60.61゜62.65のβ
をそれぞれβ’PSmβ′111mβ′P嘗。
βPlbβMIsBP車、βN、としてβr雰・8M1
(1+α)黛 の関係されあれば良<(224)式が成りたつものはす
べて等価である7また同様に単位面VP66のMOEI
FKT60と62のβ?それぞれ(1+α)寓βP、β
Pとしたが、MO8FKT60.61゜62.65のβ
をそれぞれβ’PSmβ′111mβ′P嘗。
β′hとして
の関係があれば良(、(225)式が成シたつものはす
べて等価である、 第10図は本発明の第5の実施+I+’(r示す図画図
である。第10図は98図の回μに艷に凰位回μ72を
付は加えたものである。%PキャネルMO8FFiT6
8.70とN4−ヤネルMOEIFE’l’69.71
によって単位回し72をIl!成しておシ、MO8F1
1!T68.69,70.71が第5図におけるMO8
FET18.19.20.21にそれぞれ対応している
。第8図の回路の出力と同じである第10図の巣位回P
51の出力は単位回路72の入力端子であるM・08F
ET6Bのゲートに接続されている。J1位回ドア2の
出力端子73が第10図の暴悪電圧口跡の出力端子を兼
ねているわさて巣位回W’72においCMOBFET6
B、69.70.71のβをそれぞれβP、βN、βP
。
べて等価である、 第10図は本発明の第5の実施+I+’(r示す図画図
である。第10図は98図の回μに艷に凰位回μ72を
付は加えたものである。%PキャネルMO8FFiT6
8.70とN4−ヤネルMOEIFE’l’69.71
によって単位回し72をIl!成しておシ、MO8F1
1!T68.69,70.71が第5図におけるMO8
FET18.19.20.21にそれぞれ対応している
。第8図の回路の出力と同じである第10図の巣位回P
51の出力は単位回路72の入力端子であるM・08F
ET6Bのゲートに接続されている。J1位回ドア2の
出力端子73が第10図の暴悪電圧口跡の出力端子を兼
ねているわさて巣位回W’72においCMOBFET6
B、69.70.71のβをそれぞれβP、βN、βP
。
βNとし、またスレッシュホールド電圧をそれぞれVT
PI、 VTN、 VTPL&VTNとする。そしてM
O日FET68のゲートにはr21131式で表わされ
る電位Vs、が入力しているので巣位回μ72の出力電
位VB・は(209)式より Vs、 =(2+a)(vrpvt−VTPL )・−
・−(226)が得られる6したがって第6図、$7図
のローに2−)て一般にスレッシュホールド電圧の差の
電圧の整数倍の電圧が得られることを説明したが、*8
図、第10図の回路によって一般にスレッシュホールド
電圧の差の電圧の1より大角い任童の実数値倍の電圧が
得られることがわかる7さて以上の!!6図〜第10図
の回路は−VSSを基漁とした基憔電圧回路であったが
1次に+VDIIを基逢とする基濫電圧回路を説明する
7第11図は+VDDを基應とする基醜電圧回鈷の構朧
に必要な基本となる巣位回路を示すものであり、第5図
の単位回路とけp−r−ヤネルとN4−ヤネルの構成が
逆になっている。、第11図において74と76はP4
−ヤネルMO8FETであり。
PI、 VTN、 VTPL&VTNとする。そしてM
O日FET68のゲートにはr21131式で表わされ
る電位Vs、が入力しているので巣位回μ72の出力電
位VB・は(209)式より Vs、 =(2+a)(vrpvt−VTPL )・−
・−(226)が得られる6したがって第6図、$7図
のローに2−)て一般にスレッシュホールド電圧の差の
電圧の整数倍の電圧が得られることを説明したが、*8
図、第10図の回路によって一般にスレッシュホールド
電圧の差の電圧の1より大角い任童の実数値倍の電圧が
得られることがわかる7さて以上の!!6図〜第10図
の回路は−VSSを基漁とした基憔電圧回路であったが
1次に+VDIIを基逢とする基濫電圧回路を説明する
7第11図は+VDDを基應とする基醜電圧回鈷の構朧
に必要な基本となる巣位回路を示すものであり、第5図
の単位回路とけp−r−ヤネルとN4−ヤネルの構成が
逆になっている。、第11図において74と76はP4
−ヤネルMO8FETであり。
75と77けN =ヤニhルM OS F E Tであ
る。PキヤネルMO8FKT74と76のソースは−1
−VDD に接続され、’N’q’ヤiルMO8FB
T75と77のソースは−Vssに接続されている7P
4−ヤネルMO8FET74のドレインとNφヤネルM
O8FET75のドレインは接続されている。P4−ヤ
ネルM08FKT76のドレインとN−1−ヤネルMO
8FII!T77のドレインは、接続されている。P4
−ヤネルM OS F、E T 74と76のゲートは
ともにP−F−ヤネルM OEI F BT74のドレ
インに接続されている。、NチャネルM087ET77
のゲートけNチャネルMO8FH’L77のドレインに
接続されている。、IJ−FヤネルMOEIFKT75
のゲートは態位回路としての入力端子78に接続され、
1l−F−ヤネルMO8FBT77のドレインは里位回
−としての出力端子79に接続されている。さてMO8
FET74.75゜76.77のβをそれぞれβPss
βNm、βF4%βl14 とし、虜たヌレ・ンシュ
ホールド電圧をそれぞれVTP、 VTNhVTP、V
TN4とする6またMO8FKT74と75の接続廓の
電位をVB、入力端子78の電位をVGB、出力端子7
9の電位fVBBとする。また−VSS の電位を0
により、+vDpと−Vssの電位差をVDD とする
、そしてM、OEIFET74.75,76.7’7が
すべて飽和領域で動作するとMO8FET74と75に
一流れる電流は等しいから ・・・・・・・・・(227) となり、またMOEIFKT76と77に流ね、る電流
は等しいから ・・・・・・・・・(22B ) となる、(227)、(,22B)式を解くと・・・・
・・・・・(229) となる、但しMO日IrKT74%75%76゜77が
すべて飽和領域で動作する条件として・・・・・・・・
・(260) カ)つ ・・・・・・・・・(231) である、したがって第11図の巣位回−は(250)式
とr231)式の条件に注意しhがらβPmsβP4b
βMlbβ114 、 VTPb VTMB 、 VT
Ma及びvo。
る。PキヤネルMO8FKT74と76のソースは−1
−VDD に接続され、’N’q’ヤiルMO8FB
T75と77のソースは−Vssに接続されている7P
4−ヤネルMO8FET74のドレインとNφヤネルM
O8FET75のドレインは接続されている。P4−ヤ
ネルM08FKT76のドレインとN−1−ヤネルMO
8FII!T77のドレインは、接続されている。P4
−ヤネルM OS F、E T 74と76のゲートは
ともにP−F−ヤネルM OEI F BT74のドレ
インに接続されている。、NチャネルM087ET77
のゲートけNチャネルMO8FH’L77のドレインに
接続されている。、IJ−FヤネルMOEIFKT75
のゲートは態位回路としての入力端子78に接続され、
1l−F−ヤネルMO8FBT77のドレインは里位回
−としての出力端子79に接続されている。さてMO8
FET74.75゜76.77のβをそれぞれβPss
βNm、βF4%βl14 とし、虜たヌレ・ンシュ
ホールド電圧をそれぞれVTP、 VTNhVTP、V
TN4とする6またMO8FKT74と75の接続廓の
電位をVB、入力端子78の電位をVGB、出力端子7
9の電位fVBBとする。また−VSS の電位を0
により、+vDpと−Vssの電位差をVDD とする
、そしてM、OEIFET74.75,76.7’7が
すべて飽和領域で動作するとMO8FET74と75に
一流れる電流は等しいから ・・・・・・・・・(227) となり、またMOEIFKT76と77に流ね、る電流
は等しいから ・・・・・・・・・(22B ) となる、(227)、(,22B)式を解くと・・・・
・・・・・(229) となる、但しMO日IrKT74%75%76゜77が
すべて飽和領域で動作する条件として・・・・・・・・
・(260) カ)つ ・・・・・・・・・(231) である、したがって第11図の巣位回−は(250)式
とr231)式の条件に注意しhがらβPmsβP4b
βMlbβ114 、 VTPb VTMB 、 VT
Ma及びvo。
の値を様々に設定することによシ(229)式からVI
IB の値を様々に作り出すことがで^る。そしてこ
の巣位回路を組み合せて用いることにより様々な基撫電
圧回路が出来る。
IB の値を様々に作り出すことがで^る。そしてこ
の巣位回路を組み合せて用いることにより様々な基撫電
圧回路が出来る。
第12図は本発明の第6の実施例を示す回―図である。
fE 12図は第11図の巣位回路を用いて4111
i1ている。第12図においてPキャネルMO8FET
80.82とN4−ヤネルMO8FET81.83によ
って態位回路88t−構成しており。
i1ている。第12図においてPキャネルMO8FET
80.82とN4−ヤネルMO8FET81.83によ
って態位回路88t−構成しており。
M’08FET80.81,82183が第11図にお
けるMOEIFKT74.75%76.77にそれぞれ
対応している、オたPチャネルMO8Fl’fB4,8
6とn−v−yネルMo8FKT85゜87によって巣
位回FB??41i!ffしており。
けるMOEIFKT74.75%76.77にそれぞれ
対応している、オたPチャネルMO8Fl’fB4,8
6とn−v−yネルMo8FKT85゜87によって巣
位回FB??41i!ffしており。
MO8FET84,85.86.87がtlLll−に
おけるMO8FI!!T74.75,76.77にそれ
ぞれ対応している。巣位回−88の入力端子であるMO
EIFFJT81のゲート・は+VDI) に接続さ
れている。巣位回路8Bの出力であるMOEIFFiT
83のドレインは巣位回P89の入力端子であるMOE
IFICT85のゲートに接続されている。1位回し8
9の出力端子90が第12図の基準電圧回−の出力端子
を兼ねている。さて車位回v−+88KbLnてM08
F]l!T80.81.83のβをそれぞれβP、βN
、βr、βNとし、またスレッシュホールド電圧をそれ
ぞれvtp、VTNII、 VTP。
おけるMO8FI!!T74.75,76.77にそれ
ぞれ対応している。巣位回−88の入力端子であるMO
EIFFJT81のゲート・は+VDI) に接続さ
れている。巣位回路8Bの出力であるMOEIFFiT
83のドレインは巣位回P89の入力端子であるMOE
IFICT85のゲートに接続されている。1位回し8
9の出力端子90が第12図の基準電圧回−の出力端子
を兼ねている。さて車位回v−+88KbLnてM08
F]l!T80.81.83のβをそれぞれβP、βN
、βr、βNとし、またスレッシュホールド電圧をそれ
ぞれvtp、VTNII、 VTP。
VTNLとする。そしてMO8FII!T81のゲート
は+VIIDに接続されているのでVGB=VDDとL
しコ(7)とtk1位回v81の出力電位v81.は(
229)式よシ vs、、=vnn−rVTmi−VTNb)−・−・−
・−(232)となる2次に巣位回−89においてMO
8FET84.85.86.87のβをそれぞれβP、
βN1βP、βγ とし、またスレッシュホールド電圧
をそhぞi”l VTP、 Vtam、vTP、 VT
NIIとする。そしてMO8FF!T85のゲートには
(252)式で表わされるvh、の電位が与えられてい
るので巣位回v89の出力電位Vsl、は(229)式
よりvs11= VDD−2(vryw−vrwII)
・−・・−・(253)となる2したがって第12図の
回路はr233)fで表わされるようにスレッシュホー
ルド電圧の差の2倍の電圧?+VDD 基迩としての
基辿電圧として摩り出せる基箪市圧口跡であることがわ
かる。
は+VIIDに接続されているのでVGB=VDDとL
しコ(7)とtk1位回v81の出力電位v81.は(
229)式よシ vs、、=vnn−rVTmi−VTNb)−・−・−
・−(232)となる2次に巣位回−89においてMO
8FET84.85.86.87のβをそれぞれβP、
βN1βP、βγ とし、またスレッシュホールド電圧
をそhぞi”l VTP、 Vtam、vTP、 VT
NIIとする。そしてMO8FF!T85のゲートには
(252)式で表わされるvh、の電位が与えられてい
るので巣位回v89の出力電位Vsl、は(229)式
よりvs11= VDD−2(vryw−vrwII)
・−・・−・(253)となる2したがって第12図の
回路はr233)fで表わされるようにスレッシュホー
ルド電圧の差の2倍の電圧?+VDD 基迩としての
基辿電圧として摩り出せる基箪市圧口跡であることがわ
かる。
また912図において巣位回μ88の出力も取り出せば
第12図の回路はスレッシュホールド電圧の差の電圧と
その2倍の電圧を+VDD基準としての基血電圧として
2つ同時にをり出せる基量電圧口跡であることがわかる
7 さて%第6図と第12図の回路は共にスレッシュホール
ド電圧の差の2倍の電圧を基醜雷圧として摩り出す回路
であるが、96図の回―は−VSSを基準とし、第12
図の回しは+VDD f基準としている。これはtiL
6図の基準電圧回pFiss図の巣位回路を用いたもの
であり、筆12図の基溜電圧回路は筆11図の巣位回路
を用いたものであり。
第12図の回路はスレッシュホールド電圧の差の電圧と
その2倍の電圧を+VDD基準としての基血電圧として
2つ同時にをり出せる基量電圧口跡であることがわかる
7 さて%第6図と第12図の回路は共にスレッシュホール
ド電圧の差の2倍の電圧を基醜雷圧として摩り出す回路
であるが、96図の回―は−VSSを基準とし、第12
図の回しは+VDD f基準としている。これはtiL
6図の基準電圧回pFiss図の巣位回路を用いたもの
であり、筆12図の基溜電圧回路は筆11図の巣位回路
を用いたものであり。
かつ第5図の巣位回μとf$11図の巣位回−はP斗ヤ
ネルとN4−ヤネルの構成が逆にかつているからである
。したがって第11図の巣位回WLf用いて第7図、!
$8図、躯9図、第10図に対応する基撫電圧回−を構
成すれば+VDDを基撫とした各種の暴悪電圧回しが出
来る7 第13図は本発明の第7の実施例を示す11路図である
。前述した第6図から第10図までの基憔雷圧回路はt
ic5図の巣位回路を組み合せたものであり、津12図
の基應電圧回しは第11図の巣位回しを組み合せたもの
であったが、第13図の基撫電圧回整は$5図の巣位回
しとl!11図の巣位回路を組み合せたものである7第
13図において巣位回$100は第11図の巣位ローか
らかり、巣位回v101社第5図の巣位回路からたって
いる。 p4−ヤネルMO日FFi’192,94とN
チャネルMO8FET95,9.5によって態位回路1
oof*放しておシ、MOBFET92,9.3゜94
.95が第11図における巣位回μのMOSFKT74
.75.76.77にそれぞれ対応している一寸たPキ
ャネルM061FKT96%98とN’F−キネ11M
0日Ir1l!:T97.99によって態位IEl−1
01を構成しテオリ、MO8FKT96゜97.98.
99が第5図における巣位回路のMO8FET18.1
9,20.21にそれぞれ対応している2単位回ド10
0の入力端子であるMO8FET93のゲートは+VD
Dに接続されている。m位回路100の出力であるMO
eFKT95のドレインは巣位回路101の入力端子で
あるMO,5FKT9/lのゲートに接続されている。
ネルとN4−ヤネルの構成が逆にかつているからである
。したがって第11図の巣位回WLf用いて第7図、!
$8図、躯9図、第10図に対応する基撫電圧回−を構
成すれば+VDDを基撫とした各種の暴悪電圧回しが出
来る7 第13図は本発明の第7の実施例を示す11路図である
。前述した第6図から第10図までの基憔雷圧回路はt
ic5図の巣位回路を組み合せたものであり、津12図
の基應電圧回しは第11図の巣位回しを組み合せたもの
であったが、第13図の基撫電圧回整は$5図の巣位回
しとl!11図の巣位回路を組み合せたものである7第
13図において巣位回$100は第11図の巣位ローか
らかり、巣位回v101社第5図の巣位回路からたって
いる。 p4−ヤネルMO日FFi’192,94とN
チャネルMO8FET95,9.5によって態位回路1
oof*放しておシ、MOBFET92,9.3゜94
.95が第11図における巣位回μのMOSFKT74
.75.76.77にそれぞれ対応している一寸たPキ
ャネルM061FKT96%98とN’F−キネ11M
0日Ir1l!:T97.99によって態位IEl−1
01を構成しテオリ、MO8FKT96゜97.98.
99が第5図における巣位回路のMO8FET18.1
9,20.21にそれぞれ対応している2単位回ド10
0の入力端子であるMO8FET93のゲートは+VD
Dに接続されている。m位回路100の出力であるMO
eFKT95のドレインは巣位回路101の入力端子で
あるMO,5FKT9/lのゲートに接続されている。
態位回路101の出力端子91が第13図の基準電圧回
路の出力端子を兼ねてbる。さて態位回路100におい
てMO8FBT92,93.94゜95のβをそれぞれ
βP、(1−α1)IβN、βP、βNとし、捷だスレ
ッシュホールド電圧をそれぞれVTP、 VTI、 V
TP、VTII とする、そしてMO8FKT95のゲ
ートは+VDII K接続されているのでVaa=zV
nD となるーこのとき巣位口跡1000出力電位vs
1重はr229)式よシ VJ*= (1−a、 )Vnn −1−α、ll’V
T)I ・・−−−・−・(234)となる、、また
巣位回1111ci01においてMO8FB796.9
7.98.99のβをそれぞれ(1ギα雰)會βF、β
M、βF、β−トじ、またスレッシュホールド電圧をそ
れぞれVTP、 VTN、 VTP、 VTMとする。
路の出力端子を兼ねてbる。さて態位回路100におい
てMO8FBT92,93.94゜95のβをそれぞれ
βP、(1−α1)IβN、βP、βNとし、捷だスレ
ッシュホールド電圧をそれぞれVTP、 VTI、 V
TP、VTII とする、そしてMO8FKT95のゲ
ートは+VDII K接続されているのでVaa=zV
nD となるーこのとき巣位口跡1000出力電位vs
1重はr229)式よシ VJ*= (1−a、 )Vnn −1−α、ll’V
T)I ・・−−−・−・(234)となる、、また
巣位回1111ci01においてMO8FB796.9
7.98.99のβをそれぞれ(1ギα雰)會βF、β
M、βF、β−トじ、またスレッシュホールド電圧をそ
れぞれVTP、 VTN、 VTP、 VTMとする。
そしてMO日FFjT96のゲートには(254)式で
表わされるVsjl の1位が入力しているので態位
回路101の出力電位Vl11. はr209)式%
式%) (235) と々る。ここでα重とαSとの間においてα15
・・・・・・・・・(256)1+α露 の間係を持たせると(2551式は vs、、=vTN+tx、*vTp ・−−−−−−
・−(257)となる、ここでα、とα、は 0〈α稟〈1− α1〉0 ・・・・・・・・・(25
B)及び(256)式の制約があるが、例えばα歳 =
1 、 α1 = − の場合では Vsl、 = VTN−1−VTP −・−・・−
(259)が得られる。、また(237)式でα1を適
当に選ぺげV81.の値を(259)式より大きくも小
さくも出来る。
表わされるVsjl の1位が入力しているので態位
回路101の出力電位Vl11. はr209)式%
式%) (235) と々る。ここでα重とαSとの間においてα15
・・・・・・・・・(256)1+α露 の間係を持たせると(2551式は vs、、=vTN+tx、*vTp ・−−−−−−
・−(257)となる、ここでα、とα、は 0〈α稟〈1− α1〉0 ・・・・・・・・・(25
B)及び(256)式の制約があるが、例えばα歳 =
1 、 α1 = − の場合では Vsl、 = VTN−1−VTP −・−・・−
(259)が得られる。、また(237)式でα1を適
当に選ぺげV81.の値を(259)式より大きくも小
さくも出来る。
以上1.t′発明は前述した巣位回vILを組み合せて
い(動態な回路構成により、安定した任章の基準電圧回
路々に作り串せる基fJ4電圧回路である、
い(動態な回路構成により、安定した任章の基準電圧回
路々に作り串せる基fJ4電圧回路である、
第1図、第2図、第6図、#、4図は従来の基準電圧回
w−倒、第5図は大発明の基準電圧回路に用いる巣位口
跡の第1の・基本構成図、第6図、#I7図、第8図、
第9図、第10図は本発明の基準電圧回路の実施例、算
11図は大発明の基準電圧回路に用いる巣位回路の第2
゛の基本構成図、第12図、i@13図は本発明の基準
電圧回路の実施例である。 1、 2. 6. 8. 18 % 20. 24
、26゜2B、 30 、56 、38. 42
. 44 、46゜4B、 52. 54 Il 5
6. 58. 60 、62゜68、70. 74.
76、 80 、82. 84 。 86.92,94,96.98・・・・・・rキャネル
08FET 3 、 7. 9. 1? 、 21 、25. 2
7. 29゜5 1 、57% 39 、’43 %
45. 47. 49.53.55 、57. 59.
6 1. 65. 69 。 71 S 75、77、 81. 85 、85.
87゜95.95.97.99.、・N4−ヤえルMO
EIFE4・・・・・・電源 511 IQ、 1 3. 1 7. 22. 25
. 54゜35.4 1 、67S 73. 78 、
79 、90゜91・・・・・・端子 11.12.15.16・・・・・・抵抗14・・・・
・・オペアンプ 52、 5’5. 40 、50 、51. 64.
65゜66.72.88.89.100,101・・・
・・・巣位口跡 ¥!+11% 第21値累?図 謁 q1凹 第12田 暴 7.31iJ
w−倒、第5図は大発明の基準電圧回路に用いる巣位口
跡の第1の・基本構成図、第6図、#I7図、第8図、
第9図、第10図は本発明の基準電圧回路の実施例、算
11図は大発明の基準電圧回路に用いる巣位回路の第2
゛の基本構成図、第12図、i@13図は本発明の基準
電圧回路の実施例である。 1、 2. 6. 8. 18 % 20. 24
、26゜2B、 30 、56 、38. 42
. 44 、46゜4B、 52. 54 Il 5
6. 58. 60 、62゜68、70. 74.
76、 80 、82. 84 。 86.92,94,96.98・・・・・・rキャネル
08FET 3 、 7. 9. 1? 、 21 、25. 2
7. 29゜5 1 、57% 39 、’43 %
45. 47. 49.53.55 、57. 59.
6 1. 65. 69 。 71 S 75、77、 81. 85 、85.
87゜95.95.97.99.、・N4−ヤえルMO
EIFE4・・・・・・電源 511 IQ、 1 3. 1 7. 22. 25
. 54゜35.4 1 、67S 73. 78 、
79 、90゜91・・・・・・端子 11.12.15.16・・・・・・抵抗14・・・・
・・オペアンプ 52、 5’5. 40 、50 、51. 64.
65゜66.72.88.89.100,101・・・
・・・巣位口跡 ¥!+11% 第21値累?図 謁 q1凹 第12田 暴 7.31iJ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)第1の導電型を有するwXlの絶縁ゲート電界効
果型トランジスタに第2の導電型を有する算2の絶縁ゲ
ート電界効果型トランジスタを直列に接続した回路と、
第1の導電型を有する第6の絶縁ゲート電界効果型トラ
ンジスタにjl’:2の導電型を有する躯4の絶縁ゲー
ト電界効果型トランジヌタを直列に接続した回路とを電
源に対してそれぞれ並列に接続すると共に、前[ii1
’第1’第4の絶縁ゲート電界効果型トランジヌタのゲ
ート’l 極f 前&’第1と第2の絶縁ゲート電界効
果型トランジスタの接続点に接続し、曲目e、第3の絶
縁ゲート電界効果型ト→ンジスタのゲート電極を前ie
第5と第4の絶縁ゲート市′!V−効果型トランジスタ
の接続麿に接続する0以上の回しをflL1種の態位回
路とする・前le第1種の態位回路における第1と第3
の絶縁ゲート電界効果型トランジスタが第2のsw型を
有し、[2と第4の絶縁ゲート電界効果型トランジスタ
が第1の導電型を有し、電源への正負の接続が前1!i
F第1種の態位回路と逆である回路を第2種の巣位回し
とする。前記第1種の態位回路もしくは前iF、ff、
2種の態位回路を少(とも2個以上を組み合せてPぼし
たことを特徴とする基樵電圧回L (2)少くとも2個以上の前記第1種の態位回路を組み
合せて411成したことを特徴とする特許請求の範囲1
11項記載の基単電圧回路。 (3)前記第1種の巣位口跡の中の$2と第4の絶縁ケ
ート電界効果型トランジスタのスレッシュホールド電圧
が等してことf:特徴とする特許請求の範囲第2項記載
の基憩電圧回整。 (4) 前記第1種の巣位回ド群の中のひとつの態位
回路の中のW、1の絶縁ゲート電界効果型トランジスタ
のスレッシュホールド電圧トtiL′5ノ1lA3ケー
ト’fllW効果m )ランジスタのスレッシュホー
ルド電圧の差の実数値倍の電圧を出力電圧とするように
構故されたことを特徴とする特許請求の範囲第2項もし
くは第3項記載の基推雷圧回路、(5)前記第1の絶縁
ゲート電界効果型トランジスタのスレッシュホールド電
圧と前記第6の絶縁ゲー ト電W効果型)ラン?スタの
スレッシュホールド電圧の差の1を越える実数値倍の電
圧を出力電圧とするように構成されたことを特徴とする
特許請求の範囲第4項r載の基糸電圧1ロド。 (6)前記第1の絶縁ゲート電界効果型トランジスタの
スレッシュホールド電圧ト前記tlf−5ノ絶縁ケート
電果効果型トランジスタのスレッシュホールド電圧の差
の1より小さい実数値倍の電圧を出力電圧とするように
構成されたことを特徴とする特許請求の範囲第4項P載
の基漁電圧回VP、。 (ハ 前F第1欅の単位回路群の中の第1の巣位回路の
中の第1の絶縁ゲート電界効果型トランジスタのスレッ
シュホールド電圧ト第s )絶w ケ−)[界効果型ト
ランジスタσ)スレッシュホールド電圧の差の実数値倍
の電圧と、前gi′!第1種の単位回路群の中の第2の
巣位回−の中の第1の絶縁ゲ−)1%効果型トランジス
タのスレッシュホールド電圧と第3の絶縁ゲート電界効
果型トランジスタのスレッシュホールド電圧の差の実数
値倍の電圧との和の電圧を出力電圧とするようK111
戚されたことを特徴とする特許請求の範囲92項もしく
は第3項記載の基進電圧回μ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58024154A JPS59149423A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 基準電圧回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58024154A JPS59149423A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 基準電圧回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59149423A true JPS59149423A (ja) | 1984-08-27 |
| JPH0526206B2 JPH0526206B2 (ja) | 1993-04-15 |
Family
ID=12130419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58024154A Granted JPS59149423A (ja) | 1983-02-16 | 1983-02-16 | 基準電圧回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59149423A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5347953A (en) * | 1976-10-14 | 1978-04-28 | Seiko Epson Corp | Reference voltage circuit |
| JPS5798016A (en) * | 1980-12-10 | 1982-06-18 | Seiko Epson Corp | Constant low voltage circuit |
-
1983
- 1983-02-16 JP JP58024154A patent/JPS59149423A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5347953A (en) * | 1976-10-14 | 1978-04-28 | Seiko Epson Corp | Reference voltage circuit |
| JPS5798016A (en) * | 1980-12-10 | 1982-06-18 | Seiko Epson Corp | Constant low voltage circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0526206B2 (ja) | 1993-04-15 |
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