JPS59150453A - 半導体モジユ−ル用基板の製造方法 - Google Patents
半導体モジユ−ル用基板の製造方法Info
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- JPS59150453A JPS59150453A JP57230399A JP23039982A JPS59150453A JP S59150453 A JPS59150453 A JP S59150453A JP 57230399 A JP57230399 A JP 57230399A JP 23039982 A JP23039982 A JP 23039982A JP S59150453 A JPS59150453 A JP S59150453A
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- copper plate
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K2201/03—Conductive materials
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- H05K2201/0335—Layered conductors or foils
- H05K2201/0355—Metal foils
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Die Bonding (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野J
本発明はセラミック机に銅板を接合させた半導体しジュ
ール用基板の製造り法に関づる。
ール用基板の製造り法に関づる。
1光明の技術的背景とイの問題点ル
ラミック板に銅板等の金属板を張合わけた半導体モジュ
ール用基板を製造するには、従来は、セラミック板の表
面にモリブデンベースニーを塗布しくメタライス処理し
、ろうイ」りにJ、す、所定形状に打抜いた銅板あるい
はモリノjンン゛イスクを接合させCいた1゜ この方法により(りられる基板は、金属板の熱膨張係数
がセラミック板の熱膨張係数とかなり異なるため、金属
板上にシリ]ンベレッ1〜等の部品を搭載づ−るための
加熱に際してクラックや割れが生じるという問題があっ
た。また、このようなメタライス法による接合方法は煩
雑C゛あるという欠点もあった。
ール用基板を製造するには、従来は、セラミック板の表
面にモリブデンベースニーを塗布しくメタライス処理し
、ろうイ」りにJ、す、所定形状に打抜いた銅板あるい
はモリノjンン゛イスクを接合させCいた1゜ この方法により(りられる基板は、金属板の熱膨張係数
がセラミック板の熱膨張係数とかなり異なるため、金属
板上にシリ]ンベレッ1〜等の部品を搭載づ−るための
加熱に際してクラックや割れが生じるという問題があっ
た。また、このようなメタライス法による接合方法は煩
雑C゛あるという欠点もあった。
このような方法に代つ【セラミック板−1゛−1こ所定
形状に打抜いた銅板を接触配置して加熱炉に挿入し、加
熱し−C直接セラミック板ど銅板どを接合りる方法が検
討されでいる。この方法tこJこり19られる基板は、
金属板の熱膨張係数が1!ラミツク板の熱膨張係数に近
いため鋼機上に白接シリコンペレット等の部品を搭載し
くも割れ等の問題が生じ’Jいという利点があるが、こ
の方法では銅板を複雑形状【こ11抜くことが困デ#ひ
あるためパターンの精度が悪いという欠点があった。
形状に打抜いた銅板を接触配置して加熱炉に挿入し、加
熱し−C直接セラミック板ど銅板どを接合りる方法が検
討されでいる。この方法tこJこり19られる基板は、
金属板の熱膨張係数が1!ラミツク板の熱膨張係数に近
いため鋼機上に白接シリコンペレット等の部品を搭載し
くも割れ等の問題が生じ’Jいという利点があるが、こ
の方法では銅板を複雑形状【こ11抜くことが困デ#ひ
あるためパターンの精度が悪いという欠点があった。
[発明の目的]
本発明はこのような欠点を解消するためなされたちの【
、メタライズ法によらないで直接セラミック板と銅板と
を接合しくクランク等の生じない、しかも複雑形状のパ
ターンを形成し得る半導体モジ−2−ル用基板の製造方
法を提供づることを目的とする。
、メタライズ法によらないで直接セラミック板と銅板と
を接合しくクランク等の生じない、しかも複雑形状のパ
ターンを形成し得る半導体モジ−2−ル用基板の製造方
法を提供づることを目的とする。
[発明の概要]
寸なわら本発明方法は、セラミック板」−に銅板を接触
配置し、加熱し゛C接合1ノだ後、この銅板にパターン
を形成し、エツチングし−C所定の回路を形成すること
を特徴とする。
配置し、加熱し゛C接合1ノだ後、この銅板にパターン
を形成し、エツチングし−C所定の回路を形成すること
を特徴とする。
本弁明に使用り−るセラミック板としでは、アルミナ、
酸化ケイ素等の酸化物系のセツミックおよび窒化アルミ
ニウム、窒化チタン等の非酸化物系セラミック等があげ
られる。非酸化物系セラミックの場合は予め酸化処理等
の表面処理を施して使用づるのが好ましい。特にセラミ
ック板とし“C窒化アルミニウムを使用した場合は、放
熱性に優れたものが得られる。
酸化ケイ素等の酸化物系のセツミックおよび窒化アルミ
ニウム、窒化チタン等の非酸化物系セラミック等があげ
られる。非酸化物系セラミックの場合は予め酸化処理等
の表面処理を施して使用づるのが好ましい。特にセラミ
ック板とし“C窒化アルミニウムを使用した場合は、放
熱性に優れたものが得られる。
本発明に使用する銅板としては、鋼中に酸素を100〜
200.Opl)m含有する、例えばタフピッチ電解銅
の使用が好ましく、必要に応じて銅板を予め酸化処理し
て使用することもできる。
200.Opl)m含有する、例えばタフピッチ電解銅
の使用が好ましく、必要に応じて銅板を予め酸化処理し
て使用することもできる。
このような酸素を含有する銅板を使用り゛る場合は、加
熱雰囲気を非酸化性雰囲気と覆るが酸素を。
熱雰囲気を非酸化性雰囲気と覆るが酸素を。
含まない銅板を使用゛りる場合には、酸化性の雰囲気C
加熱することが望ましい。
加熱することが望ましい。
次に本発明方法を具体的に説明−する。
セラミック板上に、セラミック板の大ぎさに相当する銅
板を接触配置させ、銅の融点(1083℃)以下、銅−
酸化銅の共晶温度(’I OC35℃)以上の温度に加
熱して接合づる。なa3.1ごラミック板の両面に銅板
を接合さければ裏面の銅板はh(熱に寄与することにな
るのC有効である。。
板を接触配置させ、銅の融点(1083℃)以下、銅−
酸化銅の共晶温度(’I OC35℃)以上の温度に加
熱して接合づる。なa3.1ごラミック板の両面に銅板
を接合さければ裏面の銅板はh(熱に寄与することにな
るのC有効である。。
また、セラミック板および銅板どしC必要形状より大き
いものを使用して接合し)、後で切断するようにしても
はい。さらにまた、銅板としく [:’I −ルに巻い
た長尺のテープを使用し、このロールから銅板を211
連続的に送り出し、これらの銅板でヒラミック板を挾ん
だ状態C゛そのまま加熱ずれば勺11r竹を向上するこ
とが′cきる。このようにしてセツミック板に銅板を接
合した後、銅板の酸化膜を除去覆るために酸洗いを行な
う。
いものを使用して接合し)、後で切断するようにしても
はい。さらにまた、銅板としく [:’I −ルに巻い
た長尺のテープを使用し、このロールから銅板を211
連続的に送り出し、これらの銅板でヒラミック板を挾ん
だ状態C゛そのまま加熱ずれば勺11r竹を向上するこ
とが′cきる。このようにしてセツミック板に銅板を接
合した後、銅板の酸化膜を除去覆るために酸洗いを行な
う。
次いCスクリーン印刷あるいは写真レジメ]へ法により
パターンを形成し、塩化第二銅の溶液等で」−ツヂング
処理を行なう。次にレジメ1−を除去し、洗浄しC乾燥
することにより半う9体しジュール用基板が得られる。
パターンを形成し、塩化第二銅の溶液等で」−ツヂング
処理を行なう。次にレジメ1−を除去し、洗浄しC乾燥
することにより半う9体しジュール用基板が得られる。
このようにしC得られた半>9体−[ジュ−ル用基板は
銅板士にシリコンチップ等を搭載し4使用に供される。
銅板士にシリコンチップ等を搭載し4使用に供される。
[発明の実施例]
次に本ブト明の実施例につい(説明りる、。
実施例
J30開X 60關X0.7關のアルミナ製のけラミッ
ク板の両面に、28暉x50mmX0.3龍のタフピッ
チ電解銅からなる銅板を接触配置させ、1075℃の加
熱炉に挿入しC30分間加熱して接合した。次に塩酸で
酸洗いを行ない、スクリーン印刷を行なった。次いC4
0℃の塩化第二鉄のエツチング液を15〜20分間噴霧
しでエツチングした後、水酸化ナトリウム等の溶液に浸
漬してレジストを剥離させ、さらに水で洗浄した後乾燥
さ ぜ Iこ 。
ク板の両面に、28暉x50mmX0.3龍のタフピッ
チ電解銅からなる銅板を接触配置させ、1075℃の加
熱炉に挿入しC30分間加熱して接合した。次に塩酸で
酸洗いを行ない、スクリーン印刷を行なった。次いC4
0℃の塩化第二鉄のエツチング液を15〜20分間噴霧
しでエツチングした後、水酸化ナトリウム等の溶液に浸
漬してレジストを剥離させ、さらに水で洗浄した後乾燥
さ ぜ Iこ 。
このようにし−Cv造された半導体しジュール用基板上
にシリコ1ンペレツ1へを半田f=JりにJ:り搭載し
Cもクラック等の問題が生じることがなかった。
にシリコ1ンペレツ1へを半田f=JりにJ:り搭載し
Cもクラック等の問題が生じることがなかった。
また複雑形状のパターンを形成づることがCきた。
[発明の効果]
以上説明したように本発明り法にJ、れば、レフミック
板と銅板とを簡便に接合することか(”S、また複雑な
パターンを精度J、く形成することかぐきる。また、こ
のようにしC行られる゛1′導体しジュール用基板は部
品搭載に際しCt)クラック等が生ずることがない。
板と銅板とを簡便に接合することか(”S、また複雑な
パターンを精度J、く形成することかぐきる。また、こ
のようにしC行られる゛1′導体しジュール用基板は部
品搭載に際しCt)クラック等が生ずることがない。
代理人弁理士 須 111 佐 −丁 続
?ili 、i「 円nHイ和59イf3月6
日 2、′発明の名称 半導体[ジコール用基板の製造方法 3 、771i i)−をづる看 ij+件との関係 ・ ’I#r i’l出願人神奈川
県用崎用、幸メ堀用町72番地 東京芝浦電気株式会老1 4 、 代 理 人 〒 101東京都千
代81]ヌ神田多町2丁目1番地7、抽圧の内容 (1)明細用を別紙の通り訂iF、 ’?、する。
?ili 、i「 円nHイ和59イf3月6
日 2、′発明の名称 半導体[ジコール用基板の製造方法 3 、771i i)−をづる看 ij+件との関係 ・ ’I#r i’l出願人神奈川
県用崎用、幸メ堀用町72番地 東京芝浦電気株式会老1 4 、 代 理 人 〒 101東京都千
代81]ヌ神田多町2丁目1番地7、抽圧の内容 (1)明細用を別紙の通り訂iF、 ’?、する。
(2)図面を別紙の通り追加づる。
以 上
訂 11 明 馴11 出
1、発明の名称
゛1′導イホしジJ−ル用jメ板の’9’=ji貴lJ
法? 特Br(請求の範囲 (′白しラミック板上に銅板を接触配ti シ、加熱し
く接合した蛋、この銅板にパターンを形成し、−1ソナ
ンクしC所定の回路を形成りることを’Bj徴どづる」
′導体モジー1−ル用阜(ルの製j告方法。
法? 特Br(請求の範囲 (′白しラミック板上に銅板を接触配ti シ、加熱し
く接合した蛋、この銅板にパターンを形成し、−1ソナ
ンクしC所定の回路を形成りることを’Bj徴どづる」
′導体モジー1−ル用阜(ルの製j告方法。
(2)加熱温度は10 (i 5・〜l 083℃C(
ルる特A’l請求の範囲第1項記載の1′導(ホモシコ
ール用μ(J財の製造方法。
ルる特A’l請求の範囲第1項記載の1′導(ホモシコ
ール用μ(J財の製造方法。
(J3)セラミック板の裏面に一0銅板を接合さUる1
、冒′1請求の範囲第11貞5したは第2 In記載の
゛4ゞj91丞■テジ1−ル用基板の製造り法、1 ]発明の技1)・1分野」 本発明(よ1=ラミック仮に銅板を接合さした半導体I
−シ1−ル用阜板の製J” ))7kに関りる。
、冒′1請求の範囲第11貞5したは第2 In記載の
゛4ゞj91丞■テジ1−ル用基板の製造り法、1 ]発明の技1)・1分野」 本発明(よ1=ラミック仮に銅板を接合さした半導体I
−シ1−ル用阜板の製J” ))7kに関りる。
[発明の技術的背婿どイの問題点]
)・シミツク板に銅板等の金属板を張合わυた半導体上
シコール用基楡を製造するには、従来に1、セラミック
板の表面にモリブデンベーストを塗(1+しCメタライ
ズ処理し、ろうイ・口J IZより、所定形状に打抜い
た銅板あるい(。Lしリフi゛ンフ゛(ツクを接合さI
ICいた。
シコール用基楡を製造するには、従来に1、セラミック
板の表面にモリブデンベーストを塗(1+しCメタライ
ズ処理し、ろうイ・口J IZより、所定形状に打抜い
た銅板あるい(。Lしリフi゛ンフ゛(ツクを接合さI
ICいた。
この方法により得られる基板は、舎)ρ1板の熱11i
i9張係数がセラミック板の熱膨張係数とかなり異イす
るため、金属板上にシリ]ンベレッ1〜等の部品へ搭載
Jるための加熱に際しくクラックヤ)刈上しが牛しると
いう問題があった。また、i−T、 0) J、うなメ
タライス法による接合方法は煩に′11 (rV)るど
い)欠点もあった。
i9張係数がセラミック板の熱膨張係数とかなり異イす
るため、金属板上にシリ]ンベレッ1〜等の部品へ搭載
Jるための加熱に際しくクラックヤ)刈上しが牛しると
いう問題があった。また、i−T、 0) J、うなメ
タライス法による接合方法は煩に′11 (rV)るど
い)欠点もあった。
このよ・うな方法に代っCレノミック板−1に所定形状
にt]抜いた銅板を接触配[賀しく加熱炉に仲人し、加
熱して直接セラミック板ど銅11Qとを接合(jる方法
が検討され(いる。この])法に、J、す1!7られる
基板は、金属板の熱膨張係数がセラミック板の熱膨張係
数に近いため銅板−1−に直接シリニlンベレッ1へ等
の部品を搭載しCb割れ竹の問題が牛しないという利点
があるが、この方法ひは銅板を複卸形状に打抜くことか
1付:、syt Cあるためパターンの精度が悪いとい
う欠点があった。
にt]抜いた銅板を接触配[賀しく加熱炉に仲人し、加
熱して直接セラミック板ど銅11Qとを接合(jる方法
が検討され(いる。この])法に、J、す1!7られる
基板は、金属板の熱膨張係数がセラミック板の熱膨張係
数に近いため銅板−1−に直接シリニlンベレッ1へ等
の部品を搭載しCb割れ竹の問題が牛しないという利点
があるが、この方法ひは銅板を複卸形状に打抜くことか
1付:、syt Cあるためパターンの精度が悪いとい
う欠点があった。
[発明の目的]
本発明はこのJ:うな欠・点を解消づるためなされた心
のC、メタライス法によらないC直接セラミック板と銅
板とを接合しCクラック等の牛しない、しかも接着1形
状のパターンを形成し得る半導体モジ1−ル用阜板の製
造り法を提供りることを目的とりる。
のC、メタライス法によらないC直接セラミック板と銅
板とを接合しCクラック等の牛しない、しかも接着1形
状のパターンを形成し得る半導体モジ1−ル用阜板の製
造り法を提供りることを目的とりる。
[発明の概要]
りなわら本発明方法は、セラミック板−1に銅板を接触
配置し、加熱しく接合した後、この銅板にパターンを形
成し、エツチングして所定の回路を形成づることを特徴
とする。
配置し、加熱しく接合した後、この銅板にパターンを形
成し、エツチングして所定の回路を形成づることを特徴
とする。
本発明に使用するセラミック板としては、アルミナ、酸
化り一イ素等の酸化物系のけラミックおよび窒化アルミ
ニウム、窒化チタン、窒化ケイ素、リイアロン、炭化タ
イ素等の非酸化物系セラミック等があげられる。非酸化
物系レラミツクの場合は1;め酸化処理等の表面処理を
施して銅との接合面に酸素を存在させC使用り−るのが
好ましい。あるいは、非酸化物系セラミックに酸化物を
含有さゼることも効果がある。特にセラミック板とし−
(窒化アルミニウムを使用した場合は、放熱性に(至)
れたものが得られる。
化り一イ素等の酸化物系のけラミックおよび窒化アルミ
ニウム、窒化チタン、窒化ケイ素、リイアロン、炭化タ
イ素等の非酸化物系セラミック等があげられる。非酸化
物系レラミツクの場合は1;め酸化処理等の表面処理を
施して銅との接合面に酸素を存在させC使用り−るのが
好ましい。あるいは、非酸化物系セラミックに酸化物を
含有さゼることも効果がある。特にセラミック板とし−
(窒化アルミニウムを使用した場合は、放熱性に(至)
れたものが得られる。
本発明に使用り゛る銅板どしては、鋼中に酸素を100
−・2000 ppm含有ブる、例えばタフピッヂ電解
銅の使用が好ましく、必要に応じて銅板を予め酸化処理
しC使用覆ることもできる。
−・2000 ppm含有ブる、例えばタフピッヂ電解
銅の使用が好ましく、必要に応じて銅板を予め酸化処理
しC使用覆ることもできる。
このような酸素を含有り−る銅板を使用する場合は、加
熱雰囲気を非酸化性雰囲気とするが酸素を含まない銅板
を使用する場合には、酸化性の雰囲気℃′加熱すること
が望ましい。
熱雰囲気を非酸化性雰囲気とするが酸素を含まない銅板
を使用する場合には、酸化性の雰囲気℃′加熱すること
が望ましい。
次に本発明方法を具体的に説明−りる。
セラミック板上に、セラミック4にの大きさに相当する
銅板を接触配置ざμ、銅の融点(10ε33°C)以下
、銅−酸化銅の共晶温Iv(1065℃)以上の温度に
加熱して接合する。なit5、セラミック板の両面に銅
板を接合させれば裏面の銅板は放熱に寄与することにな
るので有効である。
銅板を接触配置ざμ、銅の融点(10ε33°C)以下
、銅−酸化銅の共晶温Iv(1065℃)以上の温度に
加熱して接合する。なit5、セラミック板の両面に銅
板を接合させれば裏面の銅板は放熱に寄与することにな
るので有効である。
また、セラミック板J3よび銅板どして必要形状より人
込いしのを使用しC接合し、後C切断ケるJ、うにし’
C’b J:い。さらにまた、銅板どじ(1,1−ルに
巻いた長尺の7−ゾを使用し、このロールから銅板を2
組連続的に送り出し、これらの銅板でしラミック板を挾
んだ状態でそのまま加熱すれは勺−戸?:+4を向」−
覆ることが(” @る。このよう(こして1?ラミツク
(kに銅板を接合しノJ1般、銅板の酸化膜を除去−り
るためにM洗いをi−jなう、。
込いしのを使用しC接合し、後C切断ケるJ、うにし’
C’b J:い。さらにまた、銅板どじ(1,1−ルに
巻いた長尺の7−ゾを使用し、このロールから銅板を2
組連続的に送り出し、これらの銅板でしラミック板を挾
んだ状態でそのまま加熱すれは勺−戸?:+4を向」−
覆ることが(” @る。このよう(こして1?ラミツク
(kに銅板を接合しノJ1般、銅板の酸化膜を除去−り
るためにM洗いをi−jなう、。
次いCスクリーン印刷あるいは写真レジスト法によりパ
ターンを形成し、In、i化第7銅の溶液等C−1ツブ
ング処理を行なう。次(ごレジス1〜を除去し、δ11
.浄(ノ(乾燥りることにより゛l′導体七ジ」−ル用
丸12機が得られる。
ターンを形成し、In、i化第7銅の溶液等C−1ツブ
ング処理を行なう。次(ごレジス1〜を除去し、δ11
.浄(ノ(乾燥りることにより゛l′導体七ジ」−ル用
丸12機が得られる。
(二のようlZ l、て1冒られノこI’ ># 1本
−[ジー1−ル用阜仮は、洞(ルーL−にシリコンブー
ツ76?をIハ載しく使用に供される。
−[ジー1−ル用阜仮は、洞(ルーL−にシリコンブー
ツ76?をIハ載しく使用に供される。
[発明の実施例1
次に本発明の実施例について説明する。
実施例1
本発明の実施例を第1図(A)−(1)により説明する
。
。
30吐×60關XO−,7即のノ′ルミプ製のセラミッ
ク板5・の両面に、28 u x 58 n1m xo
、3mmのタフビッヂ電解銅からなる銅板1.3を接触
配置させ、1075℃の加熱炉7に挿入しU30分間加
熱しで接合した。得られl’Z基体))を次に塩MQC
′酸洗いを行ない、スクリーン111刷をtjなっ/j
。
ク板5・の両面に、28 u x 58 n1m xo
、3mmのタフビッヂ電解銅からなる銅板1.3を接触
配置させ、1075℃の加熱炉7に挿入しU30分間加
熱しで接合した。得られl’Z基体))を次に塩MQC
′酸洗いを行ない、スクリーン111刷をtjなっ/j
。
なお心外に応じ(酸洗いの前後に11(2脂]稈をイ・
1加する。また、各工秤後には洗浄」稈を施し1.、:
。
1加する。また、各工秤後には洗浄」稈を施し1.、:
。
次いr4Q℃のJlA化第二鉄の王ツヂンク液を′15
へ・20分間哨霧しCエップーンクしj、:後、水酸化
すI〜シリウムの溶液を噴射しCあるいは浸j’ei
L/ (レジス1〜を剥離させ、さらに水−(洗浄し7
た後乾燥さ l!Iこ 。
へ・20分間哨霧しCエップーンクしj、:後、水酸化
すI〜シリウムの溶液を噴射しCあるいは浸j’ei
L/ (レジス1〜を剥離させ、さらに水−(洗浄し7
た後乾燥さ l!Iこ 。
このようにして製造されIこ半導体」〕〕ジー1−ル川
基板にシリコンブーツ1へを1′田(NJi)により搭
載しでもクランク等の問題が生じることがなかつ7j
。
基板にシリコンブーツ1へを1′田(NJi)により搭
載しでもクランク等の問題が生じることがなかつ7j
。
また複雑形状のパターンを形成づ−ることが0”きた。
実施例2
本弁明の他の例を第2図(△)・〜(C)ににり説明り
る。
る。
1η累含イ1吊の少ない銅板11.13に表面酸化処理
を庵し7Cところ銅板11 、’+ 3の表面に酸化1
1も)1/′lが形成された。
を庵し7Cところ銅板11 、’+ 3の表面に酸化1
1も)1/′lが形成された。
こうしC得られた銅板をアルミナ基板15〕に接合した
以後の1−稈は実施例1と同様にして行なつムコところ
所望の基板16が得られ1.:。
以後の1−稈は実施例1と同様にして行なつムコところ
所望の基板16が得られ1.:。
実施例3
第3図(Δ)・〜・(C)に伯の例を承り。
窒化ケイ素(焼結助剤としてイツトリア4%、j′ルミ
ナ4%等を含イjする)′C′なるセラミック板17を
大気中で約り250℃×約1時間加熱しC表面処理を行
なった。
ナ4%等を含イjする)′C′なるセラミック板17を
大気中で約り250℃×約1時間加熱しC表面処理を行
なった。
1!−Vられたセラミック板17は表面に酸化膜14が
形成された。このレラミツク&17にタフピッ−1桐板
19.21を実施例1と同様に接合したところ強固な接
合がfIられノζ、。
形成された。このレラミツク&17にタフピッ−1桐板
19.21を実施例1と同様に接合したところ強固な接
合がfIられノζ、。
1、ス後の二に程は実施例1と同様レニして行なったと
ころ所望のJユ仮22が得られ/j 、、得られた基板
は耐熱性に1@れl〔ものであった。
ころ所望のJユ仮22が得られ/j 、、得られた基板
は耐熱性に1@れl〔ものであった。
また、セラミック板どして窒化j′ルミニウムを用いた
ものも実施例3と同様にし4行られるが、このbのは窒
化アルミニウムが熱伝Q、4 tlが人さいことから放
熱特性に優れCおり、人容吊を扱う基板とじC右利であ
る。なお、:11醇化物レラミツク板を用いる場合の表
面酸化処理は、空気中あるいはウエツ1−)A−ミング
刀ス(II 21−N 2−I II 20)で100
0〜1500℃で行くようことカ′c’ eる。
ものも実施例3と同様にし4行られるが、このbのは窒
化アルミニウムが熱伝Q、4 tlが人さいことから放
熱特性に優れCおり、人容吊を扱う基板とじC右利であ
る。なお、:11醇化物レラミツク板を用いる場合の表
面酸化処理は、空気中あるいはウエツ1−)A−ミング
刀ス(II 21−N 2−I II 20)で100
0〜1500℃で行くようことカ′c’ eる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明方法にJ、れは、セラミック
板と銅板とを簡便に接合することがU−き、また複雑な
パターンを精度よく形成りることがCきる。また、この
ようにし’C14%られる」′導体モジュール用基板は
部品搭載に際して−しクラック等が生ずることがない。
板と銅板とを簡便に接合することがU−き、また複雑な
パターンを精度よく形成りることがCきる。また、この
ようにし’C14%られる」′導体モジュール用基板は
部品搭載に際して−しクラック等が生ずることがない。
4、図面の簡単な説明
第1図は本発明方法の一実施例のJ]程を示7図、第2
図および第3図は他の実施例−[稈を承り図C(y)る
。
図および第3図は他の実施例−[稈を承り図C(y)る
。
1.3.11.13.19.21
・・・銅 根
5.15.17・・・し?ラミック板
代理人弁]ψ十 須 山 佐 −
第1図
L−i 、 −p
Claims (2)
- (1)セラミック板」−に銅板を接触配量し、加熱しC
接合した後、この銅板にパターンを形成し、J−ツブン
グして所定の回路を形成づることを特・徴とでる半導体
モジフール用基板の製造方法。 - (2)加熱温度は1065〜1083℃である特W′[
請求の範囲第1項記載の半導体モジコール用基板の製造
方法。 (J3)セラミック板の裏面にも銅板を接合さμる特許
請求の範囲第1項または第2項記載の半導体tジュール
用基板の製造方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57230399A JPS59150453A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体モジユ−ル用基板の製造方法 |
| US06/558,583 US4540462A (en) | 1982-12-23 | 1983-12-06 | Substrate for semiconductor modules and method of manufacture |
| DE8383307762T DE3378009D1 (en) | 1982-12-23 | 1983-12-20 | Substrate for semiconductor module |
| EP83307762A EP0115158B1 (en) | 1982-12-23 | 1983-12-20 | Substrate for semiconductor module |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57230399A JPS59150453A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体モジユ−ル用基板の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59150453A true JPS59150453A (ja) | 1984-08-28 |
| JPS644668B2 JPS644668B2 (ja) | 1989-01-26 |
Family
ID=16907265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57230399A Granted JPS59150453A (ja) | 1982-12-23 | 1982-12-23 | 半導体モジユ−ル用基板の製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4540462A (ja) |
| EP (1) | EP0115158B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59150453A (ja) |
| DE (1) | DE3378009D1 (ja) |
Cited By (7)
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| JPH01241193A (ja) * | 1988-03-23 | 1989-09-26 | Toshiba Corp | セラミックス基板 |
| JPH01249669A (ja) * | 1988-03-30 | 1989-10-04 | Toshiba Corp | セラミックス回路基板 |
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| JPH07309688A (ja) * | 1994-05-18 | 1995-11-28 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 絶縁放熱板 |
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1982
- 1982-12-23 JP JP57230399A patent/JPS59150453A/ja active Granted
-
1983
- 1983-12-06 US US06/558,583 patent/US4540462A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-12-20 EP EP83307762A patent/EP0115158B1/en not_active Expired
- 1983-12-20 DE DE8383307762T patent/DE3378009D1/de not_active Expired
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4540462A (en) | 1985-09-10 |
| JPS644668B2 (ja) | 1989-01-26 |
| EP0115158A2 (en) | 1984-08-08 |
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| DE3378009D1 (en) | 1988-10-20 |
| EP0115158B1 (en) | 1988-09-14 |
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