JPS59164694A - 半導体結晶の成長方法 - Google Patents

半導体結晶の成長方法

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Publication number
JPS59164694A
JPS59164694A JP58040229A JP4022983A JPS59164694A JP S59164694 A JPS59164694 A JP S59164694A JP 58040229 A JP58040229 A JP 58040229A JP 4022983 A JP4022983 A JP 4022983A JP S59164694 A JPS59164694 A JP S59164694A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
raw material
crystal
growth
temp
semiconductor crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP58040229A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiko Sakashita
俊彦 阪下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58040229A priority Critical patent/JPS59164694A/ja
Publication of JPS59164694A publication Critical patent/JPS59164694A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、■−■族化合物半導体等の結晶成長に適する
封管式結晶成長方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 半導体、例えばIV−Vl族化合物半導体において結晶
成長方法として、ブリッジマン法、チョコラスキー法、
封管による気相成長法など種々の方法が試みられている
。このうち封管による気相成長法では、他の方法に較べ
て成長結晶はあまり太き2ペーζノ くないが、成長が気相輸送により行なわれているため良
質の結晶、特に低転位密度の結晶が得られる。この封管
による気相成長法では、種子結晶を用いる方法と、種子
結晶を用いず自然に発生した結晶を核として成長用石英
管の管壁に成長させる方法がある。
種子結晶を用いる方法では、大きくて良質々結晶が得ら
れる反面、種子結晶を保持する方法がむずかしく、成長
用石英管の形状が複雑になる。
一方、種子結晶を用いない場合、結晶核が発生しにくく
、また発生しても多数の結晶核が発生してしまい成長結
晶がいくつかの結晶の集まった多結晶体になることが多
い。しかし、一般的には種子結晶を用いず、成長用石英
管壁に自然発生させた核を中心に成長させる方法が取ら
れている。
以下、この方法について第1図を用いて簡単に説明する
。1ず第1図aに示すように、半導体結晶用の原料2を
密封用の石英管に所定の化学量論比で真空封入する。こ
れを、融点以上に加熱し合金化処理を行なう。これは■
−■族化合物半導体3ベー二゛ を加熱し、蒸発させたとき化合物の状態で蒸発すること
が知られており、化合物の状態で蒸発しやすくするため
である。その後1合金化された原料インゴットのうち上
下10%位は、完全に混ざり合っていないので切り落さ
れ残りを結晶成長原料3として第1図すに示すように別
の成長用石英管6に真空封入する。これを、成長部の温
度T2℃が原料部分の温度T1 ℃より6〜10℃低く
なるような温度分布をもつ電気炉(PbTeの場合、原
料側T1 ℃が約820℃、成長部T2℃が約81o℃
である)へ挿入することによって、成長が行なわれる。
原料3から蒸発した分子は成長管の低温部に輸送され、
その分子は成長管6の管壁につき多数の結晶核6となる
。この核のうちいくつかが大きく成長し、結晶となる。
しかし、このような従来の方法では結晶核6が発生しに
くいために成長時間がかかり、まだ発生しても成長結晶
が多結晶体になることが多く、再現性のある結晶成長を
行なうことが困難であった。
発明の目的 本発明の目的は、特別に種子結晶を保持する構造となっ
ていない簡略化された成長用石英管を用いて、溶融した
原料により結晶核を再現性よくしかも比較的大きな結晶
核を形成させ、良質の大きな単結晶を得るための封管式
結晶成長方法を提供するものである。
発明の構成 本発明は、成長用石英管に真空封入された原料を融点ま
で加熱し溶融させ、その溶融液を成長用石英管の一方端
に形成された結晶核形成部に一時的に接触させることに
より結晶核を作製し、その後結晶核に原料からの気相輸
送にて封管式結晶成長を行なうものである。
実施例の説明 本発明の実施例をPbTeの結晶成長を例に詳しく説明
する。第2図は、今回用いた成長用密封石英管の形状の
一例である。第2図aにおいて、成長用石英管6には石
英棒からなるヒートシンク7が設けられている。このヒ
ートシンク7は、成長管6の内壁の一部(くぼみ8)の
溶融点よりわず6ベー:: かに低い温度に冷却するために用いられている。
また、このヒートシンク7と成長管の接合部付近の内壁
にくぼみ8を有している。この成長用石英管6に合金化
された原料PbTeを真空封入し、同図に示されるよう
な温度T をもつ電気炉に挿入する。このとき電気炉は
ほぼ垂直にしている。温度T3はPbTeの融点924
℃より高い温度であり940℃とした。温度T4はPb
Teの融点よりわずかに低い温度である。この状態で数
時間放置し、PbTe原料を溶融させ原料の溶融液4と
する。
その後、第2図すに示される様に、電気炉全体を水平以
上に傾けPbTe溶融液4をヒートシンク7側へ移動さ
せ接合部付近のくぼみ8に溶融液4を接触させた後、直
ちに電気炉全体を元に戻す。
この様にすることによって第2図Cに示される様に、成
長用石英管6とヒートシンク7の接合部付近のくぼみ部
分8の温度は、ヒートシンク7の効果により融点と同程
度となり、さらにPbTeの溶融液の粘性により、くぼ
み部分8に結晶核6が形成される。このくぼみ部分8は
、溶融液4が粘着6ページ されやすいようにするためのもので特に形状には、こだ
わらない。
その後、第2図dに示される様に、原料部分の温度を融
点以下の830℃程度の16℃まで成長部分の温度を8
20℃程度の16℃才で下げ、原料溶融液を固化させ固
化原料3とする。原料が固化したら、その原料3からの
気相輸送により前述のごとく形成された結晶核 に単結
晶 が形成される。
この場合成長管6の一部に形成された結晶核は単結晶と
は限らない。例えば多結晶状の結晶核であっても、その
多結晶の微小な結晶のうち1つが選択的に結晶核となり
大きな結晶が成長することは知られているため特に結晶
核は、単結晶である必要はない。
また、以上の実施例ではPbTeを例に説明したが、本
発明は封管式結晶成長法によって結晶を得ることができ
る8nTe、Pb5e、CdTeなどの他の化合物半導
体についても適用可能である。
発明の効果 7ベー2 以上説明したように、本発明によれば非常に簡単に結晶
核を発生させることができ、かつ良質の単結晶が得られ
、封管式結晶成長方法による結晶成長に大きく寄与する
ものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の種子結晶を用いない場合の成長管断面図
でaは合金化処理を行なうときの成長管断面図、bは成
長時の成長管断面図、第2図a。 bは本発明一実施例の結晶核形成時の成長管断面図、同
Cは結晶成長時の成長管断面図、同dは結晶成長後の成
長管断面図である。 。 1・・・・・・合金処理用石英管、2・・・・・・原料
、3・・・・・・合金化処理された原料、4・・・・・
・原料溶融液、5・・・・・・成長用石英管、6・・・
・・・結晶核、7・・・・・・ヒートシンク、9・・・
・・・結晶核形成部、8・・・・・・成長単結晶。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 rαJ                   (bE
第2図 (OL〕 (c)        rd )

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体結晶の原料を含む密閉された容器を、前記原料の
    融点以上に加熱して前記原料を溶融させ、溶融された前
    記原料を前記容器内の部分的に冷却された一壁面に接触
    せしめることにより結晶核に前記原料からの気相輸送に
    て半導体結晶成長を行なうことを特徴とする半導体結晶
    の成長方法。
JP58040229A 1983-03-10 1983-03-10 半導体結晶の成長方法 Pending JPS59164694A (ja)

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