JPS59176644A - 屈折度測定装置 - Google Patents
屈折度測定装置Info
- Publication number
- JPS59176644A JPS59176644A JP5219783A JP5219783A JPS59176644A JP S59176644 A JPS59176644 A JP S59176644A JP 5219783 A JP5219783 A JP 5219783A JP 5219783 A JP5219783 A JP 5219783A JP S59176644 A JPS59176644 A JP S59176644A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- measured
- light beams
- ellipse
- optical element
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/005—Testing of reflective surfaces, e.g. mirrors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
- G01M11/0235—Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は屈折度測定装置に関し、特に可動部を持たず自
動的に屈折度測定が可能なものに関する。
動的に屈折度測定が可能なものに関する。
従来、市場に供されているレンズメータ、ケラトメータ
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかり又、煩雑性がある。
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかり又、煩雑性がある。
−万、測定を自動的に行なう自動レンズメータ、自動ケ
ラトメータが知られているが、これには可動部があって
装置の複雑化、耐久性といった問題がある。
ラトメータが知られているが、これには可動部があって
装置の複雑化、耐久性といった問題がある。
本発明は如上の点に鑑み、測定を自動的に且つ可動部な
く行なう新規な屈折度測定装置を提供することを目的と
する。
く行なう新規な屈折度測定装置を提供することを目的と
する。
これを達成するため、本発明では、少なくとも５本の光
ビームを被測定光学要素の異なる位置に照射し該被測定
光学要素を経たエネルギービームを光軸方向所定位置に
２次元状に設けられる光位置検出素子に受け、５点の位
置座標より一般２次曲線方程式を解いて５点の位置座標
を結ぶ楕円を特定し、該楕円より各径線方向の屈折度を
算出することを特徴とする。
ビームを被測定光学要素の異なる位置に照射し該被測定
光学要素を経たエネルギービームを光軸方向所定位置に
２次元状に設けられる光位置検出素子に受け、５点の位
置座標より一般２次曲線方程式を解いて５点の位置座標
を結ぶ楕円を特定し、該楕円より各径線方向の屈折度を
算出することを特徴とする。
以下、本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明の実施例を示す。５本の光ビーム５ａ〜
５ｅが被測定光学要素１を通過し屈折され受光レンズ２
を通ってＣＯＤ等の二次元光位置検出素子乙にあたる。
５ｅが被測定光学要素１を通過し屈折され受光レンズ２
を通ってＣＯＤ等の二次元光位置検出素子乙にあたる。
被測定光学要素はメガネレンズの場合は一般には円柱球
面レンズである。
面レンズである。
第２図は被測定光学要素１を光軸４の方向がら見た図を
示す。検出素子３は受光レンズ２の後側焦て変位する。
示す。検出素子３は受光レンズ２の後側焦て変位する。
元ビーム５ａ〜５８は互いに光軸４に平行であり、被測
定光学要素１がなけれは検出素子乙の中心に集まる。被
測定光学要素１が円柱球面レンズなら光ビーム５ａ〜５
ｅは楕円の円周上に存在することになる。そこで逆に光
ビーム位置からａｘ２＋ｂｙ２＋ｃｘｙ＋ｔｔｘ＋ｇｙ
＋ｉ ＝ ｏ ノ一般２ 次曲線の方程式を解きこの楕
円を求めれば円柱球面レンズの屈折値を求めることがで
きる。又第３図に示されるこの楕円の中心の点乙の位置
が円柱球面レンズの光軸４に対する偏心の度合を現わし
、アライメント情報を与える。
定光学要素１がなけれは検出素子乙の中心に集まる。被
測定光学要素１が円柱球面レンズなら光ビーム５ａ〜５
ｅは楕円の円周上に存在することになる。そこで逆に光
ビーム位置からａｘ２＋ｂｙ２＋ｃｘｙ＋ｔｔｘ＋ｇｙ
＋ｉ ＝ ｏ ノ一般２ 次曲線の方程式を解きこの楕
円を求めれば円柱球面レンズの屈折値を求めることがで
きる。又第３図に示されるこの楕円の中心の点乙の位置
が円柱球面レンズの光軸４に対する偏心の度合を現わし
、アライメント情報を与える。
第４図は本発明の第２の実施例を示す。被測定光学要素
１に６本の元ビーム１２ａ〜１２ｆがあたる。これら光
ビームは被測定光学要素１で屈折され受光レンズ２、後
側焦点位置７を通り、楔プリズム８で光軸４から外側に
屈折されリレーレンズ９、円柱レンズ１０を通り一次元
位置検出素子１１に至る。被測定光学要素１は楔プリズ
ム８に又後側焦点面７は検出素子１１面に各々共役であ
る。
１に６本の元ビーム１２ａ〜１２ｆがあたる。これら光
ビームは被測定光学要素１で屈折され受光レンズ２、後
側焦点位置７を通り、楔プリズム８で光軸４から外側に
屈折されリレーレンズ９、円柱レンズ１０を通り一次元
位置検出素子１１に至る。被測定光学要素１は楔プリズ
ム８に又後側焦点面７は検出素子１１面に各々共役であ
る。
円柱レンズ１０ａ〜１０ｆは紙面に垂直方向に屈折力を
持ち楔プリズム８０面を検出素子１１０面円状の光ビー
ム１２ａ〜１２ｆの照射位置が示されている。第６図は
上述の楔プリズムの詳細を示す。楔プリズムは８ａ〜８
でのプリズムから成り、光ビームを光軸４の外に偏向さ
せそれぞれの検出索子１１ａ〜１１ｆに分配する。第７
図は検出素子１１ａ〜１１ｆとそこにあたった各光ビー
ムを示す。円柱レンズ１０ａ〜１０ｆはそれぞれの検出
素子１１ａ〜１１ｆに対応して配設され光ビームの紙面
垂直方向への偏向があっても光ビームが常に検出素子上
にあたるように作用を持つ０検出される６点のうち５点
を用いて前述同様、楕円が特定され各径線方向の屈折度
を求めることができる。なお検出索子１１上の各党ビー
ムの中心位置が第一実施例の楕円中心６に相当し光学要
素１の光軸４からのズレの情報を与えアライメントを可
能にする。
持ち楔プリズム８０面を検出素子１１０面円状の光ビー
ム１２ａ〜１２ｆの照射位置が示されている。第６図は
上述の楔プリズムの詳細を示す。楔プリズムは８ａ〜８
でのプリズムから成り、光ビームを光軸４の外に偏向さ
せそれぞれの検出索子１１ａ〜１１ｆに分配する。第７
図は検出素子１１ａ〜１１ｆとそこにあたった各光ビー
ムを示す。円柱レンズ１０ａ〜１０ｆはそれぞれの検出
素子１１ａ〜１１ｆに対応して配設され光ビームの紙面
垂直方向への偏向があっても光ビームが常に検出素子上
にあたるように作用を持つ０検出される６点のうち５点
を用いて前述同様、楕円が特定され各径線方向の屈折度
を求めることができる。なお検出索子１１上の各党ビー
ムの中心位置が第一実施例の楕円中心６に相当し光学要
素１の光軸４からのズレの情報を与えアライメントを可
能にする。
なお光位置検出素子がＧＧＤの如きセンサーアレイの場
合には光ビームは同時に照射できるがこれが一要素の半
導体装置検出器の如きものの場合には各党ビームを順次
、点灯する必要がある。
合には光ビームは同時に照射できるがこれが一要素の半
導体装置検出器の如きものの場合には各党ビームを順次
、点灯する必要がある。
以上、述べた如く、本発明によれば全く可動部が無く、
また検出素子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定
が可能となる。なお本発明で光ビームは５本に限定され
ず、それ以上の光ビームで測定することにより、より多
くの情報にょる創建精度の向上が期待される。
また検出素子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定
が可能となる。なお本発明で光ビームは５本に限定され
ず、それ以上の光ビームで測定することにより、より多
くの情報にょる創建精度の向上が期待される。
第１図は本発明の第１＊施例の図、
第２図は被測定光学要素上の光ビームを光軸方向から眺
めた図、 第６図は二次元光位置検出素子上の光ビーム位置の図、 第４図は本発明の第２実施例の図、 第５図は被測定光学要素上の光ビームを光軸方向から眺
めた図、 第６図線楔プリズムを光軸方向から挑めた図、第７図は
一次元光位置検出素子上の光ビーム位置の図、 図中、１は被測定光学要素、２は受光レンズ、６は二次
元光位置検出素子、７は後側焦点面、８ａ〜８ｆＦｉミ
ル８ｆＦｉ楔プリズムレーレンズ、１Ｑａ−１Ｏｆ
は円柱レンズ、１１ａ〜１１ｆは一次元光位置検出素子
である０
めた図、 第６図は二次元光位置検出素子上の光ビーム位置の図、 第４図は本発明の第２実施例の図、 第５図は被測定光学要素上の光ビームを光軸方向から眺
めた図、 第６図線楔プリズムを光軸方向から挑めた図、第７図は
一次元光位置検出素子上の光ビーム位置の図、 図中、１は被測定光学要素、２は受光レンズ、６は二次
元光位置検出素子、７は後側焦点面、８ａ〜８ｆＦｉミ
ル８ｆＦｉ楔プリズムレーレンズ、１Ｑａ−１Ｏｆ
は円柱レンズ、１１ａ〜１１ｆは一次元光位置検出素子
である０
Claims (1)
- 互いに平行な少なくとも５本の光ビームを被測定光学要
素の異なる位置に照射する手段と、被測定光学要素を経
た光ビームを受ける受光レンズと、該受光レンズの後側
焦点位置又はその光学的共役位置に２次元状に設けられ
る光位置検出手段と、検出される少なくとも５点の位置
座標のうち、５点を用いて検出点を結ぶ一般２次曲線を
算出する手段を有することを特徴とする屈折度測定装置
。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5219783A JPS59176644A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 屈折度測定装置 |
| US06/503,234 US4609287A (en) | 1982-10-05 | 1983-06-10 | Method of and apparatus for measuring refractive characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5219783A JPS59176644A (ja) | 1983-03-28 | 1983-03-28 | 屈折度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59176644A true JPS59176644A (ja) | 1984-10-06 |
Family
ID=12908058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5219783A Pending JPS59176644A (ja) | 1982-10-05 | 1983-03-28 | 屈折度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59176644A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017134275A1 (en) * | 2016-02-05 | 2017-08-10 | Eidgenossische Technische Hochschule Zurich | Methods and systems for determining an optical axis and/or physical properties of a lens and use of the same in virtual imaging and head-mounted displays |
| CN115180510A (zh) * | 2022-06-23 | 2022-10-14 | 厦门集装箱码头集团有限公司 | 基于视觉的大车纠偏定位方法、系统、设备、介质 |
-
1983
- 1983-03-28 JP JP5219783A patent/JPS59176644A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017134275A1 (en) * | 2016-02-05 | 2017-08-10 | Eidgenossische Technische Hochschule Zurich | Methods and systems for determining an optical axis and/or physical properties of a lens and use of the same in virtual imaging and head-mounted displays |
| CN115180510A (zh) * | 2022-06-23 | 2022-10-14 | 厦门集装箱码头集团有限公司 | 基于视觉的大车纠偏定位方法、系统、设备、介质 |
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