JPS59176879A - 図形の特異点抽出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈発明の技術分野〉 本発明は、例えば小切手等に押された印鑑の真偽を判別
する場合において、小切手から印影を読み取って画像化
し、印影画像から輪郭線が急峻に変化する点（以下特異
点という）を抽出して、印影等の照合処理を実行する図
形の特異点抽出方法に関する。

〈発明の背景〉 従来この種特異点抽出方法は、例えは印影を画像化した
後、画像全体につき印影の輪郭線をテーク抽出し、然る
後輪郭線をデータ追跡することにより、輪郭線か急峻に
変化する部分を検出して、これを特異点としている。こ
れがため特異点の抽出処理か複雑化して、処理効率か悪
く、またメモリの大容量化を招く等の不利かあった。

そこで発明者は、画像化された図形に対し、矩形状視野
をもつマスクを設定し、マスク内を走査してマスク内の
パターン輪郭線およびマスク各辺と交叉する図形パター
ンの端点を検出すると共に、端点間の中点からパターン
輪郭線までの距離計算を実行し、しかる後その極大距離
にかかる点を特異点として抽出する方法を０１１発した
。

この方法によれば、画像全体の輪郭線を抽出する必要が
なく、また輪郭線上をデー久追跡してゆく必要もないか
ら、特異点抽出処理が簡略化され、処理効率の向上、メ
モリ容量の節減を実現できる。ところがこの方法におい
て、前記距離計算の結果、極大点が２以上存在すること
があり、かかる場合には特異点の特定が困難であり、特
異点抽出不能として処理することにしていた。このため
特異点の抽出数が少なく、印鑑等の照合精度が低下する
等の不利かあった。

〈発明の目的〉 本発明は、矩形状マスクを用いた特異点の抽出方法に更
に改良を加えて、特異点の抽出数を増すことによって、
特異点抽出処理の効率向上並びにメモリ容量の節減を実
現すると共に、印鑑等の照合精度を向上させた新規な図
形の特異点抽出方法を提供することを目的とする。

〈発明の構成および効果〉 上記目的を達成するため、本発明では、極大点が２以上
存在するような場合、各極大点間の中点を求め、これを
特異点として抽出するようにした。

本発明によれば、画像全体の輪郭線をデータ抽出する旧
来の方式に比較して、特異点抽出処理が簡略化され、処
理効率の向」−、メモリ容ｉ＋１の節減を実現し得ると
共に、特異点の抽出数減少による印鑑等の照合精度の低
下を防止できる等、発明目的を達成した優れた効果を奏
する。

〈実施例の説明〉 第１図は、小切手に抽された印鑑か真正印鑑か、偽造印
鑑かを判別する装置例を示す。

図示例の装置は、ケース１０内に収容した複数枚の小切
手１を最）部より１枚つつ取り出して、搬送ベル）＋１
上へ送り出す。

各小切手ｌは、その搬送途中において、小切手に押され
た印影がチェックされ、搬送路士流の振分は装置２か判
別結果に基つき、真正印パイが使用された小切手、偽造
印鑑か使用された小切手および、判別不能な小切手の３
種に振り分け、夫々回収ケース２　＋　、２２．２３へ
送り込む。

前記の搬送路途中には、小切手１に印字されたコード番
号を光学的若しくは磁気的方法にて読み取る読取袋（／
ｌ　５０と、小切手１に押印された印影を画像化するカ
メラ装置３とか、配備してあり、読取装置５０の出力は
外部メモリ５へ、またカメラ装置３の出力は画像プロセ
ッサ４へ、夫々データバス４０を介して送られる。前記
外部メモリ５には、複数個の参照印影が格納されており
、読取装置５０で読み取られたコード番号に基つき、対
応する参照印影の画像データか取り出されて、画像プロ
セッサ４へ送られる。

前記刀メラ装＠３は、第２図に示す如く、読取ラインセ
ンサ３１と二値化回路３２とを含み、読取ラインセンサ
３１は被照合印影を画像化し、この印影画像を行毎に走
査することにより画像構成に応じた光信号を取り出すと
共に、この光信号を光電変換してアナログ量の画像信号
１□を出力する。また二値化回路３２は、画像信号を二
値化し、この二値信号１２を列対芯のピットシリアルに
データバス４０を介して＋Ｎｉ　ｉＲプロセッサ４へ送
出する。図中発振器３３は、読取ラインセンサ３１に読
出しパルスを供給すると共に、現信号のポイント座標を
計算するためのＸ軸ＩＩ）’″標カウンタ３４にクロッ
クパルスを供給する。

更にこのＸ軸座標カウンタ３４からは桁上は仔；号１□
が出力され、この桁上げ信号１１．はＹ軸座標を計算す
るためのＹ軸座標カウンタ３５に供給され、これらＸ軸
座標カウンタ３４およびＹ軸座標カウンタ３５の各出力
は、データバス４０を介して画像プロセッサ４に入力さ
れる。

画像プロセッサ４は、第６図および第７図に示す特異点
抽出用プログラム、更には印影の照合や真偽判別に必要
な各種プロクラムを格納するプログラムメモリ４１と、
印影画像をＸＹ座標と対応させて特定するためのデータ
をストアするエリアＡ（第１０図に示す）、後記するマ
スクのサイズや各辺の座標に関するデータをストアする
エリアＢ、Ｃおよび、特異点に関するデータをストアす
るエリアＤ、Ｅを有する画像メモリ４３と、画像メモリ
４３よりデータを読み出しプログラムを解読実行して特
異点押出史には印影照合にかかる各種演算や一連の処理
を制御する演算制御部４２（以下単にＣＰ　Ｕという）
とから構成され、ＣＰＵ４２は更に印鑑の真偽判別結果
に基つき、出力機器２４を介して前記振分は装ｊＫ１１
２へ制御命令を下す。

第３図は特異点抽出方法の一例を示す。図示例では、印
影画像を含む画面６０上に縦ａヒツト、横ｂビットの矩
形状視野をもつマスク６を横方向に走査してゆき、走査
過程において、第４図ｆｌ）　ｔ２）に示す如く、マス
ク６の視野内に特異点を有する字画部分７が含まれたと
き、マスク６内を走査して特異点の存在位置を検出する
。

第５図はマスク６内に含まれた特異点Ｐを有する字画部
分７のパターン例を示し、第５図（１）〜（４）に示す
第１〜第４のパターンは特異点Ｐか字画部分７の右端、
下端、左端、上端に夫々存在位ｊｉｂｔＬ、第５図（５
）〜（８）に示す第５〜第８のパターンは字画部分７の
右下端、左下端、左上端、右上端に夫々存在位置する。

上記の各パターンにおいて　／Ｊ＋〜第４のパターンは
字画部分７がマスク６の１辺と交叉し、第５〜第８のパ
ターンは字画部分７がマスク６の隣接する２辺と交叉し
ている。

第６図および第７図は特異点抽出動作の具体例を示す。

まず第６図のステップ８０において、前記マスク６の視
野サイズ等、各種初期値か画像メモリ４３のエリアＡ等
に設定さ！１だ後、ステップ８１でマスク６が画面６０
」二を１列分走査したの）否かをチェックする。図示例
の場合、ＣＰＵ４２内のメモリエリア４４（第９図に示
す）に列カウンタＭを設定し、列カウンタＭの内容か設
定値ｍに達したか否かを判定することにより、画面１列
分の走査完了を判断している。この場合、ステップ８１
の判定は’Ｎｏ”であるから、ステップ８２へ進み、つ
きに横フラクＦＨかセット済か否かをチェックする。こ
の横フラクＦＩ＋は、マスク内に第１−第８のいずハか
パターンか含まハたときにセットされるフラグであり、
この場合、ステップ８２のｒＦＨ＝ＩＪの判定は”　Ｎ
　Ｏ”となって、ステップ８３へ進み、マスクステップ
８４て列カウンタＭの内容か１加算される。

つきのステップ８５はマスク６が画面６０上の全行に亘
る走査を完了したか否かをチェックするものであり、図
示例の場合、メモリエリア４４内に設定された行カウン
タＮの内容か設定値１〕に達したか否かをもって判断す
る。この場合ステップ８５の判定は’Ｎｏ”であるから
、ステップ８６へ進み、マスク６内に第１〜第８のいず
れかパターンが含まれているか否かの判断処理に移る。

この処理は、まずマスク６の各辺を順次走査し、４辺の
内１辺または隣接する２辺にのみ印影の構成点（以下「
黒画素」と称する）が存在する場合に、マスク６内に特
異点を有する字画部分７か含まれていると推定する。

つぎにステップ８７で前記４辺走査の結果に基つき、マ
スク６内に第１〜第８のパターンの）いずれかに相当す
る字画部分か存在したか否か）を判定し、その判定が”
　Ｎ　Ｏ”であると、ステップ８１へ戻ることになる。

同様の操作が繰り返し実行され、画面１列分の走査が完
了すると、列カウンタＭの内容か設定値ｍに達して、ス
テップ８１の判定か“”ＹＥＳ”となり、ステップ８８
へ進み、つきに縦フラグＦｖがセット済か否かをチェッ
クする。この縦フラグＦｖは、各行の走査において、特
異点Ｐが抽出されたときにセットされるフラグであり、
ステップ８８のｌ”Ｆｖ−ＩＪの判定か’Ｎｏ”の場合
、カウンタＮの内容が１加算される。

上記マスク６の走査過程において、ステップ８７の判定
が’ＹＥＳ”となって、マスク６内に特異点を有する字
画部分が存在する可能性があると判断されたとき、ステ
ップ９１へ進み、４・１異点としての条件を充足すれは
、その特異点の座標データを算出する。

斯くて特異点の条件を充足せず、特異点の抽出がなかっ
たときは、ステップ９２の判定が”　Ｎ　Ｏ”′となり
、ステップ８１へ戻るか、特異点を抽出てきたとき、ス
テップ９２の判定かゞ’Ｙ　Ｅ　Ｓ　”となり、ステッ
プ９３で横フラグＦＨか、ステップ９４て縦フラグＦｖ
か夫々セットされる。これによりステップ８２のｒＦＨ
＝１４の判定か゛’Ｙｌ逐゛となり、ステップ９５て横
フラグＦＨかクリアされた後、ステップ９６てマスク６
は１マスク分（１〕ビツト）横移動し、ステップ９７て
列カウンタＭの内容が２加算される。かかるステップ９
６．９７の処理は、マスク６が同一の特異点を２度抽出
しないことを考慮したものである。

また［）１■記ステツプ９４て縦フラグＦｖかセットさ
Ｊｌているから、走査がつきの行へ進む際ステップ８８
の［Ｆｖ−ＩＪの判定か’　Ｙ　Ｅ　Ｓ”　となり、同
様の趣旨から、ステップ９８て縦フラグＦｖをクリアし
た後、ステップ９９でマスク６を１マスクＩＡ（ａビ゛
ット）縦移動し、スｔテップ１００で列カウンタＮの内
容を２加算する。

第７図のフローチャートは特異点抽出動作の詳細を示す
。まずステップ１１０てマスク６内の字画部分７を走査
して輪郭線を構成する黒画素の座標を抽出する。つきに
、第４図ｕｌ　ｔ２＋に示す如く、字画部分７を含むマ
スク６の１辺若しくは隣接２辺につき、両端に位１１″
゛１′する黒画素の点Ｑ、Ｒを検出し、線分Ｑ　Ｒ間の
長さＳを算出する。そしてこの長さＳか一定の条件を充
足するとき、っさのステップＩＩＩて線分ＱＲの中心点
Ｇの相対座ｍ　（ｘｏ　、　ｙｏ　）を所出する。つい
てステップ１１２において、字画部分７の各輪郭点の相
対的座標を（ｘｌ、い）（但し１−１゜２、−　、　ｎ
　）とすると、中心点Ｃがら各輪郭点までの距離ｄ１を
次式をもって算出して、画像メモリ４３のエリアＥヘス
ドアする。

っきにステップ１１３に詞いて、上記の各側ｉ’ｆｌｌ
；　１１ｉ１中、その極大値Ｔを１乃至複数抽出する。

令弟１１図に示す如く、２個の極大値Ｔ、　、　Ｔ２を
抽出したと仮定すると、つぎのステップ１１４の「極大
値複数個か」の判定か”　Ｙ　Ｅ　Ｓ　”となり、ステ
ップ１１５へ進み、極大点Ｕ、　、　０２間を結ぶ線分
の中点を特異点Ｐとして抽出する。一方１個の極大値の
みか抽出されたとき、ステップ１１４の判定が’Ｎｏ’
”となり、ステップ１１６゜てその極大点を特異点Ｐと
して抽出する。

今時異点Ｉ）の相対的座標を（ｘｉ、ｙｉ）とすると、
っきのステップ１１７ではこの相対座標を画面６０にお
ける絶対座標（Ｘｉ、Ｙｉ）に変換する。この絶対座標
（Ｘｉ、、Ｙｉ）は、画面６０Ｌにおけるマスク６の始
端点Ｚ　（第８図に示す）の絶対座標を（ｉ、ｊ）、画
面６０の原点０の絶対座標を（＋　、ｌ）とすると、次
式で与えられる。

」二記の演算によって、特異点Ｐの絶対座標か算出され
、かかる座標データは画像メモリ４３のエリアＤヘスド
アされる。

【図面の簡単な説明】

第１図は印鑑照合装置の構成を示す説明図、第２図はカ
メラ装置の回路ブロック図、第３Ｉ＜：および第４図＋
１＋　＋２１は特異点抽出方法を示す説明図、第５図（
１）〜（８１はマスク内のパターン例を示す説明図、第
６図および第７図は特異点抽出動作を示すフローチャー
１−１第８図は座標変換の原理を示す説明図、第９図お
よび第１Ｏ図はメモリ構成を示す説明図、第１１図は本
発明にかかる特異点抽出方法を示す説明図である。 ６−マスク　　　Ｐ　　特異点 特許出願人　　立石電機株式会社 ′＋〃フ （２） 番、５回

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ｉ１１ｉ面一」―に画像化された図形から輪郭線か急
   峻に変化する点を特異点として抽出する方法であって、
   前記画像に対し矩形状視野をもつマスクを設定し、マス
   ク内を走査してマスク内のパターン輪郭線およびマスク
   各辺と交叉する図形パターンの端点を検出すると共に、
   端点間の中点からパターン輪郭線までの距離計算を実行
   １７た後、距離の極大値を抽出し、然る後２以上の極大
   値が存在するとき、各極大点間の中点を特異点として抽
   出することを特徴とする図形の特異点抽出方法。