JPH0460267B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜発明の技術分野＞ 本発明は、例えば小切手等に押された印鑑の真
偽を判別する場合において、小切手から印影を読
み取つて画像化し、印影画像から輪郭線が急峻に
変化する点（以下特異点という）を抽出して、印
影等の照合処理を実行する図形の特異点抽出方法
に関する。

＜発明の背景＞ 従来この種特異点抽出方法は、例えば印影を画
像化した後、画像全体につき印影の輪郭線をデー
タ抽出し、然る後輪郭線をデータ追跡することに
より、輪郭線が急峻に変化する部分を検出して、
これを特異点としている。これがため特異点の抽
出処理が複雑化して、処理効率が悪く、またメモ
リの大容量化を招く等の不利があつた。

そこで発明者は、画像化された図形に対し、矩
形状視野をもつマスクを設定し、マスク内を走査
してマスク内のパターン輪郭線およびマスク各辺
と交叉する図形パターンの端点を検出すると共
に、端点間の中点からパターン輪郭線までの距離
計算を実行し、しかる後その極大距離にかかる点
を特異点として抽出する方法を開発した。

この方法によれば、画像全体の輪郭線を抽出す
る必要がなく、また輪郭線上をデータ追跡してゆ
く必要もないから、特異点抽出処理が簡略化さ
れ、処理効率の向上、メモリ容量の節減を実現で
きる。ところがこの方法において、前記距離計算
の結果、極大点が２以上存在することがあり、か
かる場合には特異点の特定が困難であり、特異点
抽出不能として処理することにしていた。このた
め特異点の抽出数が少なく、印鑑等の照合精度が
低下する等の不利があつた。

＜発明の目的＞ 本発明は、矩形状マスクを用いた特異点の抽出
方法に更に改良を加えて、特異点の抽出数を増す
ことによつて、特異点抽出処理の効率向上並びに
メモリ容量の節減を実現すると共に、印鑑等の照
合精度を向上させた新規な図形の特異点抽出方法
を提供することを目的とする。

＜発明の構成および効果＞ 上記目的を達成するため、本発明では、極大点
が２つ以上存在するような場合、各極大点間の中
点を求め、これを特異点として抽出するようにし
た。

本発明によれば、画像全体の輪郭線をデータ抽
出する旧来の方式に比較して、特異点抽出処理が
簡略化され、処理効率の向上、メモリ容量の節減
を実現し得ると共に、特異点の抽出数減少による
印鑑等の照合精度の低下を防止できる等、発明目
的を達成した優れた効果を奏する。

＜実施例の説明＞ 第１図は、小切手に抽された印鑑が真正印鑑
か、偽造印鑑かを判別する装置例を示す。

図示例の装置は、ケース１０内に収容した複数
枚の小切手１を最下部より１枚づつ取り出して、
搬送ベルト１１上へ送り出す。

各小切手１は、その搬送途中において、小切手
に押された印影がチエツクされ、搬送路下流の振
分け装置２が判別結果に基づき、真正印鑑が使用
された小切手、偽造印鑑が使用された小切手およ
び、判別不能な小切手の３種に振り分け、夫々回
収ケース２１，２２，２３へ送り込む。

前記の搬送路途中には、小切手１に印字された
コード番号を光学的若しくは磁気的方法にて読み
取る読取装置５０と、小切手１に押印された印影
を画像化するカメラ装置３とが配備してあり、読
取装置５０の出力は外部メモリ５へ、またカメラ
装置３の出力は画像プロセツサ４へ、夫々データ
バス４０を介して送られる。前記外部メモリ５に
は、複数個の参照印影が格納されており、読取装
置５０で読み取られたコード番号に基づき、対応
する参照印影の画像データが取り出されて、画像
プロセツサ４へ送られる。

前記カメラ装置３は、第２図に示す如く、読取
ラインセンサ３１と二値化回路３２とを含み、読
取ラインセンサ３１は被照合印影を画像化し、こ
の印影画像を行毎に走査することにより画像構成
に応じた光信号を取り出すと共に、この光信号を
光電変換してアナログ量の画像信号i₁を出力す
る。また二値化回路３２は、画像信号を二値化
し、この二値信号i₂を列対応のビツトシリアルに
データバス４０を介して画像プロセツサ４へ送出
する。図中発振器３３は、読取ラインセンサ３１
に読出しパルスを供給すると共に、現信号のポイ
ント座標を計算するためのＸ軸座標カウンタ３４
にクロツクパルスを供給する。更にこのＸ軸座標
カウンタ３４からは桁上げ信号i₂が出力され、か
な桁上げ信号i₃はＹ軸座標を計算するためのＹ軸
座標カウンタ３５に供給され、これらＸ軸座標カ
ウンタ３４およびＹ軸座標カウンタ３５の各出力
は、データバス４０を介して画像プロセツサ４に
入力される。

画像プロセツサ４は、第６図および第７図に示
す特異点抽出用プログラム、更には印影の照合や
真偽判別に必要な各種プログラムを格納するプロ
グラムメモリ４１と、印影画像XY座標と対応さ
せて特定するためのデータをストアするエリアＡ
（第１０図に示す）、後記するマスクのサイズや各
辺の座標に関するデータをストアするエリアＢ，
Ｃおよび、特異点に関するデータをストアするエ
リアＤ，Ｅを有する画像メモリ４３と、画像メモ
リ４３よりデータ読み出しプログラムを解読実行
して特異点押出更には印影照合にかかる各種演算
や一連の処理を制御する演算制御部４２（以下単
にCPUという）とから構成され、CPU４２は更
に印鑑の真偽判別結果に基づき、出力機器２４を
介して前記振分け装置２へ制御命令を下す。

第３図は特異点抽出方法の一例を示す。図示例
では、印影画像を含む画面６０上に縦ａビツト、
横ｂビツトの矩形状視野をもつマスク６を横方向
に走査してゆき、走査過程において、第４図１，
２に示す如く、マスク６の視野内に特異点を有す
る字画部分７が含まれたとき、マスク６内を走査
して特異点の存在位置を検出する。

第５図はマスク６内に含まれた特異点Ｐを有す
る字画部分７のパターン例を示し、第５図１〜４
に示す第１〜第４のパターンは特異点Ｐが字画部
分７の右端、下端、上端、に夫々存在位置し、第
５図５〜８に示す第５〜第８のパターンは字画部
分７の右下端、左下端、左上端、右上端に夫々存
在位置する。

上記パターンにおいて、第１〜第４のパターン
は字画部分７がマスク６の１辺と交叉し、第５〜
第８のパターンは字画部分７がマスク６の隣接す
る２辺と交叉している。

第６図および第７図は特異点抽出動作の具体例
を示す。

まず第６図のステツプ８０において、前記マス
ク６の視野サイズ等、各種初期値が画像メモリ４
３のエリアＡ等に設定された後、ステツプ８１で
マスク６が画面６０上を１列分走査したか否かを
チエツクする。図示例の場合、CPU４２内のメ
モリエリア４４（第９図に示す）に列カウンタＭ
を設定し、列カウンタＭの内容が設定値ｍに達し
たか否かを判定することにより、画面１列分の走
査完了を判断している。この場合、ステツプ８１
の判定は“NO”であるから、ステツプ８２へ進
み、つぎに横フラグF_Hがセツト済か否かをチエ
ツクする。この横ブラグF_Hは、マスク内に第１
〜第８のいずれかパターンが含まれたときにセツ
トされるフラグであり、この場合、ステツプ８２
の「F_H＝１」の判定は“NO”となつて、ステツ
プ８３へ進み、マスク６が1/2マスク分（1/2ｂ
ビツト）横移動し、更にステツプ８４で列カウン
タＭの内容が１加算される。

つぎのステツプ８５はマスク６が画面６０上の
全行に亘る走査を完了したか否かをチエツクする
ものであり、図示例の場合、メモリエリア４４内
に設定された行カウンタＮの内容が設定値ｎに達
したか否かをもつて判断する。この、場合ステツ
プ８５の判定は“NO”であるから、ステツプ８
６へ進み、マスク６内に第１〜第８のいずれかパ
ターンが含まれているか否かの判断処理に移る。
この処理は、まずマスク６の各辺を順次走査し、
４辺の内１辺または隣接する２辺のみ印影の構成
点（以下「黒画素」と称する）が存在する場合
に、マスク６内に特異点を有する字画画部７が含
まれていると推定する。つぎにステツプ８７で前
記４辺走査の結果に基づき、マスク６内に第１〜
第８のパターンのいずれかに相当する字画部分が
存在したか否かを判定し、その判定が“NO”で
あると、ステツプ８１へ戻ることになる。

同様の操作が繰り返し実行され、画面１列分の
走査が完了すると、列カウンタＭの内容が設定値
ｍに達して、ステツプ８１の判定が“YES”と
なり、ステツプ８８へ進み、つぎに縦フラグF_v
がセツト済か否かをチエツクする。この縦フラグ
F_vは、各行の走査において、特異点Ｐが抽出さ
れたときにセツトされるフラグであり、ステツプ
８８の「F_v＝１」の判定が“NO”の場合、ステ
ツプ８９へ進み、マスク６が1/2マスク分（1/2
ａビツト）縦移動し、更にステツプ９０で行カウ
ンタＮの内容が１加算される。

上記マスク６の走査過程において、ステツプ８
７の判定が“YES”となつて、マスク６内に特
異点を有する字画部分が存在する可能性があると
判断されたとき、ステツプ９１へ進み、特異点と
しての条件を充足すれば、その特異点の座標デー
タを算出する。

斯くて特異点の条件を充足せず、特異点の抽出
がなかつたときは、ステツプ９２の判定が
“NO”となり、ステツプ８１へ戻るが、特異点
を抽出できたとき、ステツプ９２の判定が
“YES”となり、ステツプ９３で横フラグF_Hが、
ステツプ９４で縦フラグF_vが夫々セツトされる。
これによりステツプ８２の「F_H＝１」の判定が
“YES”となり、ステツプ９５で横フラグF_Hがク
リアされた後、ステツプ９６でマスク６は１マス
ク分（ｂビツト）横移動し、ステツプ９７で列カ
ウンタＭの内容が２加算される、かかるステツプ
９６，９７の処理は、マスク６が同一の特異点を
２度抽出しないことを考慮したものである。また
前記ステツプ９４で縦フラグF_vがセツトされて
いるから、走査がつぎの行へ進む際ステツプ８８
の「F_v＝１」の判定が“YES”となり、同様の
趣旨から、ステツプ９８で縦フラグF_vをクリア
した後、ステツプ９９でマスク６を１マスク分
（ａビツト）縦移動し、ステツプ１００で列カウ
ンタＮの内容を２加算する。

第７図のフローチヤートは特異点抽出動作の詳
細を示す。まずステツプ１１０でマスク６内の字
画部分７を走査して輪郭線を構成する黒画素の座
標を抽出する。つぎに、第４図１，２に示す如
く、字画部分７を含むマスク６の１辺若しくは隣
接２辺につき、両端に位置する黒画素の点Ｑ，Ｒ
を検出し、線分QR間の長さＳを算出する。そし
てこの長さＳが一定の条件を充足するとき、つぎ
のステツプ１１１で線分QRの中心点Ｇの相対座
標（x₀，y₀）を算出する。ついでステツプ１１２
において、字画部分７の各輪郭点の相対的座標を
（xi，yi）（但しｉ＝１，２……，ｎ）とすると、
中心点Ｃから各輪郭点までの距離diを次式をもつ
て算出して、画像メモリ４３のエリアＥへストア
する。

di＝√（₁−₀）²＋（₁−₀）² d₂＝√（₂−₀）²＋（₂−₀）² di＝√（−₀）²＋（−₀）² dn＝√（−₀）²＋（−₀）² つぎにステツプ１１３において、上記の各距離
値中、その極大値Ｔを１乃至複数抽出する。今第
１１図に示す如く、２個の極大値T₁，T₂を抽出
したと仮定すると、つぎのステツプ１１４の「極
大値複数個か」の判定が“YES”となり、ステ
ツプ１１５へ進み、極大点U₁，U₂間を結ぶ線分
の中点を特異点Ｐとして抽出する。一方１個の極
大値のみが抽出されたとき、ステツプ１１４の判
定が“NO”となり、ステツプ１１６でその極大
点を特異点Ｐとして抽出する。

今特異点Ｐの相対的座標を（xi，yi）とする
と、つぎのステツプ１１７ではこの相対座標を画
面６０における絶対座標（Xi，Yi）に変換する。
この絶対座標（Xi，Yi）は、画面６０上におけ
るマスク６の始端点Ｚ（第８図に示す）の絶対座
標を（ｉ，ｊ）、画面６０の原点０の絶対座標
（１，１）とすると、次式で与えられる。

Xi＝ｉ＋xi−１ Yi＝ｊ＋yi−１ 上記の演算によつて、特異点Ｐの絶対座標が算
出され、かかる座標データは画像メモリ４３のエ
リアＤへストアされる。

【図面の簡単な説明】

第１図は印鑑照合装置の構成を示す説明図、第
２図はカメラ装置の回路ブロツク図、第３図およ
び第４図１，２は特異点抽出方法を示す説明図、
第５図１〜８はマスク内のパターン例を示す説明
図、第６図および第７図は特異点抽出動作を示す
フローチヤート、第８図は座標変換の原理を示す
説明図、第９図および第１０図はメモリ構成を示
す説明図、第１１図は本発明にかかる特異点抽出
方法を示す説明図である。 ６……マスク、Ｐ……特異点。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 画面上に画像化された図形から輪郭線が急峻
   に変化する点を特異点として抽出する方法であつ
   て、前記画像に対して矩形状視野をもつマスクを
   設定し、マスク内を走査してマスク内のパターン
   輪郭線およびマスク各辺と交叉する図形パターン
   の端点を検出すると共に、端点間の中点からパタ
   ーン輪郭線までの距離計算を実行した後、距離の
   極大値を抽出し、然る後２以上の極大値が存在す
   るとき、各極大点間の中点を特異点として抽出す
   ることを特徴とする図形の特異点抽出方法。