JPS59178580A

JPS59178580A - パタ−ンの中心定点の算定方式

Info

Publication number: JPS59178580A
Application number: JP58054250A
Authority: JP
Inventors: Hiromichi Iwase; 岩瀬　洋道; Eiichiro Yamamoto; 山本　栄一郎
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1983-03-30
Filing date: 1983-03-30
Publication date: 1984-10-09

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（イ）発明の技術分野本呪明は円丑たは楕円を含むパターンの比較照合を行う
ために必要なパターンの中心定点の７１．定力式に関す
る。

（Ｂｌ　　技術の背景銀行ｙ２務においては、預金や払出し案務のだめの印影
照合や、又、種々の契約書類における印影照合が必要と
なるが、この照合作業は電子計算機を用いて、行ない照
合作業の能率向上を図っているため、比較照合されるべ
き印影を裡り成する円又は楕円の中心定点を知る必要が
ある。つまり、との中心定点を基準点として印影構成要
素の配置を比較して、照合を行う。

従って照合がなされる印影の中心定点を正確に求めるこ
とが要求される。

（Ｃ）　　従来技術と問題点従来は、第１図に示す楕円Ｈの中心定点Ｐは次のように
して求めていた。

この楕円Ｈに外接する矩形りの各辺り、　、　Ｄ、の垂
直２等分線の交点Ｐを中心定点としていた。しかし、こ
のようにして中心定点を求める方法では例えば第２図に
示すように印影に欠落部（斜蛛部）があると、前述の方
法によシ中心定点を求めると、２辺はＤＩ、、Ｄ、とな
シ、中心定点は点Ｐとなるが、欠落部がｋｌ／Ｉ場合の
中心定点はＰであυ一致せず、正確な照合が不可能とな
る。

（Ｄ＋　　発明の目的本発明はかかる点に鑑みなされたもので、印影に欠落部
が存在しても、欠落部のない印影の中心定点を求めるこ
とのできるパターンの中心定点の算定方式を提供するこ
とを目的とする。

楕円状又は円状の輪郭を有するパターンに対し、Ｘ軸方
向を主走査方向としＹ軸方向を副走査方向とする走査お
よび、前記Ｙ軸方向を主走査方向とし、前記Ｘ軸方向を
副走査方向とする走査により該主走査に伴い、最初に検
出される前記輪郭線の構成点のＸ座標値又はＹ座標値の
２次微分値より前記輪郭勝の不連続点を＠串し、連続す
る輪郭組上の座標点より前記楕円状又は円状の輪郭を有
するパターンの中心定点を求めることを特徴とするパタ
ーンの中心定膚算定方式を提供することによシ達成され
る。

■　発明の実施例以下図面を参照しながら本発明の実施例を詳述するが、
本発明の基本的考え方の説明を先ず行う。

第３図はメモリに格納されている輪郭を抽出すべき印影
の輪郭Ｈ′であって、Ｓｌｌ〜ｓｉｎ　＋　Ｓ２１〜Ｓ
！□、Ｓ８．〜Ｓ　８ｐ　’け印影に対する走査線を示
す。

実線に付した矢印に、主赤査方向を示し破線に付した矢
印は副走査方向を示す。輪郭線Ｈ′け°°１″で表わさ
ね、その外周部は全てｏ″′で表わされｏ係ものとする
。先ず走査線Ｓｎ〜ｓ１ｍに沿って、走査を行い、最初
に１ｕが現われる座標点徒査紳と輪郭との交差点）を求
める操作を行って、これら座標点群よシ得られる輪郭線
の２次微分を求める。

２次微分ＤＤＸは次のように表わされる。

ＤＸ、　＝ｘ、　−Ｘ２Ｄ　Ｘ　ｔ　＝　Ｘ　２　　　Ｘ　＋Ｄ　Ｄ　Ｘ　＝　Ｄ　Ｘ　１．Ｄ　Ｘ　＋Ｘ＋　、　Ｘ
！け走査線Ｓｌｌ〜Ｓｌｎと輪郭線との交点（輪郭点）
のＸ座標である。輪郭線が連続した凸状であるときけ、
２次微分ＤＤＸは“ａｌｌであり、又、輪郭線接線がＹ
軸に平行にらば、正とたるが、輪郭線が途切れていると
、２次微分は不連続値となるので、輪郭線は途切れてい
ることが判明する。

２次微分ＤＤＸが正又は、不連続に々る時点までに得ら
れた輪郭点を用いて、楕円を入わす式より楕円の中心定
点を求める。こめ場合中心定点は楕円の焦点である。

副走査方向Ｙ１の走査が終了すれば、次に走を綜Ｓｔ＋
〜Ｓ２ｍに沿う主走査釡副走査方向Ｙ、に行ない、走査
線Ｓｔｍにお腟て２次微分ＤＤＸが不連続となるので、
走査を停止する。この走査で得られｆｃネ郭点の座標値
を前述の式に代入して中心定点を求める。

次に走査線８３□〜Ｓ、ｅに沿う走査を副走査方向Ｙ３
に行ない、２次微分ＤＤＸが不連続になるまで、走査を
続けて、輪郭点の座標値を求め次いで走査線８４１〜８
４Ｐに沿う主走査を副走査方向Ｙ４に行ない、２次微分
ＤＤＸが不連続値にガるまで続行し、輪郭点の座標値を
求め、これら座標値を前述の式に代入して中心定点を求
める。このようにして走査線Ｓｏ　ｒ　８２１と輪郭と
の接点ＴＩ　、　Ｔ２を結ぶ線分よシ左側の領域ＲＬに
ある輪郭点よシ中心定点が求められたが、接点Ｔ＋　、
Ｔｚを結ぶ線分の右側の領域ＲＲにある輪郭点からも同
様にして中心定点を求めることができる。即ち、走査線
Ｓ□〜５ｌＩｎ’　　＋Ｓａ＋〜Ｓ６ｍ’　、　’８７
、〜５ｒ）ｔＩ　＋　Ｓａｔ　−Ｓ、ｐ／に沿う主走査
を各々副走査方向Ｙ、〜Ｙ８に行なう。これらの走査に
おいて、最初に“′１”が現れる座標点（走査線と輪郭
との交点）を求め、これら座標点群より得られる２次微
分ＤＤＸを求める。そして、２次微分ＤＤＸが正文に不
連続値になる時点までに得られた輪郭点を用いてが」述
の楕円を表わす式よシ輪郭部の中心定点を求める。

紺４図は本発明の実施例構成図であって、Ｍは印影パタ
ーンが格納されているメモリ、Ｋ１−に６は走査回路、
Ｌ１〜Ｌ８は中心定点割算回路、Ｎは中心定点格納部、
Ｑは中心定点選択回路である。

以下において、第３図に示す印影の輪郭の中心定点を求
める操作を説明する。

メモリＭには第３図に示す印影パターンが格納されてい
るものとする。輪郭Ｈ′の構成点は“１“で表わされ、
この輪郭Ｈ′の外側のビットは全て“０″とする。走査
回路に、−に、にに各々走査線および走査方向を第３図
に示すように８１１〜Ｓ１”　＋　８２１〜８ｇｍ　＋
　Ｓｓ＋　−Ｓｓ　ｅ　−−８ａｔ　−Ｓｓｐ’および
Ｙ、　、Ｙ２゜Ｙａ・・・・・・Ｙ、とする走査によっ
てメモリＭから読み出されたデータが格納される。

上記走査線に沿ってメモリＭから各々の走ｉ臣１路に、
％に８にデータを読み出したとき、最初に丁が現われる
ビットに対応する座標点が輪郭Ｈ′の構成点である。そ
して画像メモリＭから楕円の点の位置情報が得られると
、これら走査回路に１〜に８において、２次微分ＤＤＸ
を求め、前述したように不連続点が存在すれは、その時
点で２次微分ＤＤＸの算出操作を停止し、その時点まで
に得られた楕円の輪郭点の座標値を中心定点算出回路り
。

〜Ｌ６へ送る。中心定点算出回路Ｌ１〜Ｌ８では、走査
回路に、〜に８から送られる楕円の輪郭点の位置情報に
基いて、前述の式により中心定点を求める。このように
して、中心定点斜出回路り、−Ｌ。

では線分子、、Ｔ、よυ左側の領域の楕円の輪郭線に基
づく中心定点が求められ、中心定点算出回路Ｌ　ｓ　”
”−Ｌ　Ｈでは線分子、　Ｔｔよυ右側の領域の楕円の
輪郭線に基づく中心定点が求められる。これら中心定点
算出回路用〜Ｌ８で求められた中心定点は、中心定点格
納部Ｎに格納される。このようにして求められた中心定
点は輪郭約の巾のムラ、にじみ等により同一とはからず
、バラツキがある。

この中心定点格納部Ｎに格納された中心定点は、中心定
点選択回路Ｑで中心定点分布が最大となる中心定点が選
択される。このようにして選択された中心定点が対象と
なる楕円の中／Ｂ定点として、採用される。

（Ｇ）　　発明の詳細な説明したように本発明に係るパターンの中心定点の算
定方式は楕円又は円の輪郭の構成点を検出し、この構成
点に基いて、楕円又は円の中心定点を求めるため楕円又
は円の輪郭の欠落があっても中心定点が正確に求められ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図および、第２図は従来の輪郭の位置決め方式を説
明する図、第３図は本発明に係る輪郭の位置決め方式を
説明する図、第４図は本発明の実施例構成図である。Ｍ：メモリ、Ｋ、〜に６：走査回路、Ｌ１〜Ｌ８：中心
定点計算回路、Ｎ：中心定点格納部、Ｑ：中心定点選択
回路。

Claims

【特許請求の範囲】

楕円状又は円状の輪郭を有するパターンに対し、Ｘ軸方
向を主走査方向としＹ軸方向を副走査方向とする走査お
よび前記Ｙ軸方向を主走査方向とし、前記Ｘ軸方向を副
走査方向とする走査により該主走査に伴い、最初に検出
される前記輪郭線の構成点のＸ座標値又ＨＹ座標値の２
次微分値より前記輪郭線の不連続点を検出し、連続する
輪郭線上の座標点よシ前記楕円状又は円状の輪郭を有す
るパターの中心定点を求めることを判徴とするパターン
の中心定点の舞一定力式。