JPH02210206A - 円の中心割り出し方法 - Google Patents

円の中心割り出し方法

Info

Publication number
JPH02210206A
JPH02210206A JP63275707A JP27570788A JPH02210206A JP H02210206 A JPH02210206 A JP H02210206A JP 63275707 A JP63275707 A JP 63275707A JP 27570788 A JP27570788 A JP 27570788A JP H02210206 A JPH02210206 A JP H02210206A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circle
coordinates
center
axis
image processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63275707A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Yamamoto
隆弘 山本
Koji Shiozaki
塩崎 宏二
Kiyoaki Shimizu
清水 清彬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lossev Technology Corp
Original Assignee
Lossev Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lossev Technology Corp filed Critical Lossev Technology Corp
Priority to JP63275707A priority Critical patent/JPH02210206A/ja
Publication of JPH02210206A publication Critical patent/JPH02210206A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、画像処理によって、円の中心を割り出す方法
に関する。
従来技術 円の中心を画像処理の分野で精度よく測定する方法とし
て、次の測定方法がある。
第一の測定方法は、第5図に示すように、矢印の移動方
向で円弧の端部を画像処理によって認識し、そのときの
ステッピングモータの回転量をロータリエンコーダで計
数することによって、送りピッチを精度として、円の半
径Rから中心を求める方法である。
また、第二の測定方法は、第6図に示すように、■フレ
ーム内で、円全体をX方向およびY方向の高分解能のn
分割走査線で認識し、その各方向毎に直径り外で走査線
の本数を計数し、中心座標を求める技法である。
さらに、第三の測定方法は、第7図に示すように、予め
カメラの認識位置を定めておき、円の4箇所の端部で円
弧を認識し、そのドツト数からX軸およびY軸方向につ
いて直径をn分割ピッチのドツト数から計数する技法で
ある。
これらの技法では、いずれも、カメラの分解能で精度1
決まり、さらに円の1本または2本の直径上の円弧のみ
が観測されるため、円全体の正確なデータが得られず、
その分測定データの精度が落ち、正確な中心の割り出し
が困難であった。
発明の目的 したがって、本発明の目的は、画像処理の分野で、円全
体のデータを求め一円の中心を正確に割り出すことであ
る。
発明の解決手段 上記目的のもとに、本発明は、X方向およびY方向毎に
、円の4箇所で座標を求め、その4つの座標に基づいて
円の中心を平均化しながら求めている。
第1図および第2図は、本発明の原理を示している。ま
ず、第1図で、X−Y直交座標上で、円の中心座標はX
軸と円弧との交点座標x、、Xz、およびY軸と円弧と
の交点座標yl、yzをそれぞれ平均化することによっ
て下記の式から求められる。
この技法は、既に述べた第6図および第7図の技法と基
本的に同じであるため、その測定精度に限界がある。
次に、第2図は、X軸およびY軸方向について、円の4
箇所で交点座標XI 、xz 、X2 、Xa、yl、
y2、y3、y4を求め、それを平均化しながら円の中
心座標を求めている。すなわち、円の中心座標はそれぞ
れ下記の式によって求められる。
この測定原理によると、円の8箇所で交点座標が求めら
れ、それらの値が平均化されるため、低い分解能でも、
円の中心座標が精度よく測定できる。
本発明の中心割り出し方法は、上記の原理を基礎とし、
画像処理分野の特徴的な事項すなわち走査線の数毎に上
記の測定原理を拡張し、測定対象の円全体を把握しなが
ら、低分解能で精度よく測定するようにしている。
測定装置の構成 第3図は、測定装置1の構成を示している。
測定対象の光ディスクなどの円2は、カメラ3の移動範
囲内に設置される。そして、このカメラ3は、X−Y位
置決め装置4によって光ディスクの円2の測定位置に移
動し、そこで円2を観測し、フレームメモリ5に記憶さ
せる。
そして、画像処理装置6は、本発明の中心割り出し方法
に基づくプログラムを内蔵しており、キーボード7から
の指令に基づき、フレームメモリ5からの円2のデータ
およびX−Y位置決め装置4の移動量のデータなどに基
づいて、必要な演算を行い、円2の中心を求め、デイス
プレィ8によって表示するか、またはプリンタ9に記録
してい(。
円の中心割り出し方法 測定に際し、X−Y位置決め装置4は、X−Y直交座標
上で、X軸およびY軸毎にそれぞれの測定箇所に順次移
動させていく。このときの移動量のデータは、画像処理
装置6に入力されている。
もちろん、−視野で円の測定箇所のすべてがとらえられ
るとき、カメラ3の移動の必要はない。
ここで、カメラ3の視野は、例えば58.5(n)であ
り、X軸およびY軸方向のドツト数は、それぞれ512
.480である。このため、X軸およびY軸方向の精度
は、それぞれ下記のようになる。
X軸方向精度:585001512 =114.3  
(μn/dat )Y軸方向精度:58500/480
 =121.9  (、lJm/dat )次に、カメ
ラ3は、4箇所の測定箇所すなわち上下の半円毎にX軸
に平行なn個の走査線によって、円弧を撮像して、その
画像を電気的な信号に変換し、フレームメモリ5に記憶
させる。そこで、画像処理装置6は、それぞれの走査線
と円弧との交点を画像処理によって求め、ドツトの数か
ら、X軸上の交点座標を求め、下記の弐から円2の中心
のX座標を算出する。
同様に、カメラ3は、4箇所の測定箇所すなわち左右の
半円毎にY軸に平行なn個の走査線によって、円弧を撮
像して、その画像を電気的な信号に変換し、フレームメ
モリ5に記憶させる。そこで、画像処理装置6は、それ
ぞれの走査線と円弧との交点を画像処理によって定め、
ドツトの数から、Y軸上の交点座標を求め、下記の式か
ら円2の中心のY座標を算出する。
この測定によると、合計8箇所の交点座標位置で、0回
の測定が行われ、その平均が求められることになるため
、走査線およびドツト数が低分解能であっても、交点座
標値は、円全体について平均化により高い精度で求めら
れることになる。
なお、この方法は、光ディスクの中心位置にハブを固定
することを前提として開発されたが、その他の中心の割
り出し分野、例えばノズル孔の中心割り出しや、ICフ
ラットパッケージの中心割り出し、あるいは加工対象の
円形のワークを座標系の原点に一敗させるときなどに応
用できる。
発明の効果 本発明では、円周上でX軸およびY軸方向毎に、4箇所
の交点座標が観測され、しかも各交点座標毎にn個の交
点座標が求められ、それが平均化されるため、低分解能
でも高い精度の測定が可能となり、また円周全体が観測
されるため、部分的な観測位置のデータよりも信顛性が
高められる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の測定原理の説明図、第3
図は測定装置のブロック線図、第4図は測定状況の説明
図、第5図、第6図および第7図は従来の測定方法の説
明図である。 1・・測定装置、2・・光ディスクなどの円、3・・カ
メラ、4・・X−Y位置決め装置、5・・フレームメモ
リ、6・・画像処理装置、7・・キーボード、8・・デ
イスプレィ、9・・プリンタ。 第7図 第3図 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 X−Y直交座標上で、円の中心を画像処理によって割り
    出すに際し、半円毎にX軸に平行なn個の走査線と円弧
    との交点座標、および半円毎にY軸に平行なn個の走査
    線と円弧との交点座標をそれぞれ求め、下記の演算式か
    ら円の中心座標を算出することを特徴とする円の中心割
    り出し方法。 ▲数式、化学式、表等があります▼ ▲数式、化学式、表等があります▼
JP63275707A 1988-10-31 1988-10-31 円の中心割り出し方法 Pending JPH02210206A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63275707A JPH02210206A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 円の中心割り出し方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63275707A JPH02210206A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 円の中心割り出し方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02210206A true JPH02210206A (ja) 1990-08-21

Family

ID=17559247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63275707A Pending JPH02210206A (ja) 1988-10-31 1988-10-31 円の中心割り出し方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02210206A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007208380A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Fujitsu Ltd Dcオフセット補正装置及びその方法
CN106813569A (zh) * 2015-11-30 2017-06-09 中国科学院沈阳自动化研究所 一种基于线结构光的汽车轮胎三维定位方法
CN113878217A (zh) * 2021-11-10 2022-01-04 中国航发南方工业有限公司 航空零件的电子束焊接方法及电子束焊接装置
WO2024203422A1 (ja) * 2023-03-29 2024-10-03 東レエンジニアリング株式会社 ワーク位置調整装置およびこれを用いた実装装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59178580A (ja) * 1983-03-30 1984-10-09 Fujitsu Ltd パタ−ンの中心定点の算定方式
JPS61198007A (ja) * 1985-02-27 1986-09-02 Omron Tateisi Electronics Co 撮像装置を用いた円形パタ−ンの中心位置計測方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59178580A (ja) * 1983-03-30 1984-10-09 Fujitsu Ltd パタ−ンの中心定点の算定方式
JPS61198007A (ja) * 1985-02-27 1986-09-02 Omron Tateisi Electronics Co 撮像装置を用いた円形パタ−ンの中心位置計測方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007208380A (ja) * 2006-01-31 2007-08-16 Fujitsu Ltd Dcオフセット補正装置及びその方法
CN106813569A (zh) * 2015-11-30 2017-06-09 中国科学院沈阳自动化研究所 一种基于线结构光的汽车轮胎三维定位方法
CN106813569B (zh) * 2015-11-30 2019-02-15 中国科学院沈阳自动化研究所 一种基于线结构光的汽车轮胎三维定位方法
CN113878217A (zh) * 2021-11-10 2022-01-04 中国航发南方工业有限公司 航空零件的电子束焊接方法及电子束焊接装置
WO2024203422A1 (ja) * 2023-03-29 2024-10-03 東レエンジニアリング株式会社 ワーク位置調整装置およびこれを用いた実装装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4866643A (en) Method for automatic compensation of probe offset in a coordinate measuring machine
US7366637B2 (en) Form measuring instrument
US6701268B2 (en) Method for calibrating scanning probe and computer-readable medium therefor
JPH1183438A (ja) 光学式測定装置の位置校正方法
JP2001241941A (ja) 幾何要素測定装置及び方法
JPH02210206A (ja) 円の中心割り出し方法
Jie-chi et al. Two dimensional tracing and measurement using touch trigger probes
JPS63108215A (ja) 座標測定機を用いて歯を測定する方法
JPH02253114A (ja) 真直度測定方法及び装置
JPH09189544A (ja) 形状測定方法及びそれを用いた形状測定装置
JPS6130681B2 (ja)
JP2754128B2 (ja) 円筒度測定装置及び測定方法
KR100230942B1 (ko) 측정대상물의 양부를 판별하는 3차원 비교측정장치
JPH10103905A (ja) 測定方法
JPH075012U (ja) 傾斜する異形穴用の3点内径測定器
JPH045328B2 (ja)
CN119043181B (zh) 一种电动滑台定位精度的检测方法
JP7769348B2 (ja) 深矢高ワークピースの内壁測定システム及び測定方法
CN204535628U (zh) 一种圆柱工件圆柱度检测装置
CN114688967B (zh) 基于机器视觉的法向量测量方法、装置及作业设备
CN109188455A (zh) 一种圆柱体平面运动轨迹激光测量方法
JPH11297794A (ja) ウエハアライメント方法
JPH03249516A (ja) 平面度測定装置
CN118081760A (zh) 一种工业机器人tcp自动检测校正方法、介质和设备
JPH04252911A (ja) 三次元測定機