JPS59183221A - 高周波加熱装置 - Google Patents

高周波加熱装置

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Publication number
JPS59183221A
JPS59183221A JP58058154A JP5815483A JPS59183221A JP S59183221 A JPS59183221 A JP S59183221A JP 58058154 A JP58058154 A JP 58058154A JP 5815483 A JP5815483 A JP 5815483A JP S59183221 A JPS59183221 A JP S59183221A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
food
heating chamber
infrared
directly below
protrusions
Prior art date
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Pending
Application number
JP58058154A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Niwa
孝 丹羽
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58058154A priority Critical patent/JPS59183221A/ja
Publication of JPS59183221A publication Critical patent/JPS59183221A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B6/00Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
    • H05B6/64Heating using microwaves
    • H05B6/6447Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors
    • H05B6/645Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors using temperature sensors
    • H05B6/6455Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors using temperature sensors the sensors being infrared detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
  • Electric Ovens (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は加熱調理器の非接触の温度測定に関するもので
あり、特に回転載置合方式の電子レンジにおける赤外線
温度検知器と測温体の位置検知構成に関するものである
従来例の構成とその問題点 従来の例えば赤外線検知器を有する電子レンジに於ては
実開昭57−21903号公報に見られるように、赤外
線検出器を、その視野領域が回転載置台の中心付近をよ
ぎるように設置したり一特開閉56−69794号公報
に見られるようにマイクロコンピュータで、常に赤外線
検出器の視野領域が食品を含むように、寡外線検出器の
位置を制御するものがある。
しかしながら前者に於ては以下に記すような問題がある
。即ち、一般に電子レンジの加熱室内の電界強度分布は
一様ではなく、第1図のaで示す部分は電界強度が大き
く、bで示す部分は電界強度が小さい。即ち定在波が立
っている。回転載置合方式の電子レンジ(第2図)に於
ては、このように定在波の立っている中を食品を通過さ
せ、時間積分として実効的に食品Fに高周波エネルギー
が吸収されるようにしている。それゆえに、赤外線検出
の視野領域が加熱室5の中央部分を見込むような構成に
於ては (1)食品Fの温度を、食品Fが電界の中を動かない点
、即ち回転載置台の中心部で測定しているので、食品F
の平均的な温度測定が出来ない。
(2)一般に電子レンジの電界分布は中心が弱い傾向に
あるので、中心部で温度測定をすると、第3図に示すよ
うに、食品Fや容器が小さい場合には出来上り時間が遅
くなる。(一般に回転載置合方式の電子レンジでは食品
Fは中心を外して置くようにするのが普通である。
(3)大きな食品F(例えば親子丼の温めなおし)では
、食品Fを中心に置いて、赤外線温度検知を中心部で行
なう場合では、加熱室内の定在波分布が改善されないの
で、第3図に示す中心部Cの温度の方が周辺部dの温度
よりも低くなり、中心部の温度を測定して食品F全体の
温度上昇を制御することは困難である。上記(1) 、
 (21、(3)の欠点は回転載置合方式の特徴を生か
した赤外線検知方式が開発されていなか−たことに起因
する8 また従来例の後者に於ては食品Fをマイクロコンピュー
タで追随する機構が高価になること。また室内が高温に
なると食品Fから出る赤外線か、あるいは加熱室5が加
熱されたことによって発生した赤外線かどうかの判定が
困難となり、確実な食品温度の検出という点に問題があ
る。
発明の目的 本発明は上記従来の欠点を解消するもので、回転載置合
方式の電子レンジに於いて食品の温度検知を赤外線で効
果的にかつ確実に行なおうとするものである。
発明の構成 上記目的を達するため、本発明の高周波加熱装置は赤外
線検知素子を加熱室中心から偏心させて取付けてあり、
かつ回転載置台に食品の載置位置を示す印を示し、かつ
、その食品載置位置が、赤外線検知素子の真下に来たこ
とを知らせる信号を送出し、かつ、真下に来た時にのみ
測定を行なう構成であり、回転載置合方式の特徴である
加熱室内の食品の平均的な温度を測定できる位置での赤
外線の温度測定を行ない効率的で良好な食品の温度制御
をはかれるという効果を有するものである。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について、図面に基づいて説明す
る。
第5図に於いてマグネトロン3によ−)て励振されたマ
イクロ波は導波管4によって加熱室5内に導かれ、加熱
室5内の回転載置台1に置かれた食品Fに吸収され食品
Fが加熱される。加熱された食品Fの表面温度は赤外線
放射量の変化として第6図に示す加熱室天井穴6の外に
設けられた赤外線センサ素子7(例えば焦電形赤外線セ
ンサ)によって補えられる。
上記加熱室天井穴は回転載置台1の中心と回転載置台1
の端面の一点とを結ぶ線分の捧の長さを半径とする回転
載置台1上の同心円周を見下ろす位置にうがたれている
。第6図に於てほぼl、 = 62である。
第7図は回転載置台1の構成を示す図である。
その表面部には食品Fの載置位置印8が円形に印刷され
て、あるいは、第8図に示すように円形の浅いくほみ部
8aで示されている。そのくぼみ部8aの中心と回転載
置台1の位置関係ば12=1.であり、くほみ部8aの
中心mは、赤外線センサ素子7に見下ろされている。
また回転載置台1の裏面には磁性体の突起部9が設けら
れてbる。この突起部9は他の突起18より背が低く作
られている。加熱室5の底面は非磁性体で作られており
、その外底面にはホール素子あるいは近接ヌイ ・チの
ような磁気検出素子1゜が設置されている。回転載置台
1が回転し、磁性体の突起部9が磁気検出素子10に接
近すると、磁気検出素子10から信号が送られる。その
時回転載置台1表面の載置位置印8は前記加熱室天井穴
6の直下にあるように突起部9、磁気検出素子10およ
び載置位置印8の位置関係は考慮されている。
回転載置台1の回転が、加熱室5の底面を貫通する軸に
よって伝られた回転力で行なわれ、かつ回転軸11と回
転載置台1との嵌合がなされた構成(第1o図)に於て
は、前述のような磁気検出素子1oを使用しなくとも、
軸の回転角度を検知するマイクロスイッチ12を加熱室
底面外部の回転軸11近傍に設けることで代行すること
も可能である。第10図にその構成を示した、第′11
図は本発明の電気回路の構成のブロック図の一実施例で
ある。赤外線センサ素小7からの信号は増幅器13を通
って増幅され、磁気検出素子10からの信号によって開
閉されるゲート14ヲ通ってマイクロコンピュータ15
内に取込まれ、内部で信号が処理される。磁気検出素子
10からの信号が出てはならない時、即ち食品Fが加熱
室天井穴6の下部に到達していない時には前記ゲート1
4は閉じられており、赤外線センサ素子7からの信号は
マイクロコンピュータ15には取込まれない。
まだ磁気検出素子10からの信号はジャワター16の駆
動機構17へも送出され、加熱室天井穴6の下部へ食品
Fが位置した状態でしか加熱室天井穴6は開かれない構
成となっている。第12図にそれぞれの信号とシャ・フ
タ−16の駆動機構1了の動作の関連を示すタイミング
図を示した。マイクロコンピュータ150入力信号はゲ
ート信号が出ている間のみあられれていることを示して
いる。
また、第7図すに示すように磁性体の突起部9を囲むよ
うに回転載置台1の裏面に三個以上の突起部18を設け
る構成にしたり、三個の突起部18の一つを磁性体の突
起とする構成とすることもできる・ このように本実施例によれば、従来の欠点であった食品
Fの平均的な温度が測定できないという点が改善される
。即ち、赤外線検知が、加熱室5の中心以外の位置で行
なわれ、食品Fが定在波分布の中を動いて、平均したマ
イクロ波エネルギーを受けた結果としての温度上昇を測
定することになるので、中心点をはかるよりも、食品F
のより平均的な温度を測定することになる。
また回転載置台1に食品を置く位置を明示しであるので
使い勝手もよく、しかも回転載置合方式に於ては、食品
Fを中心部に置かないのが一般的なので、食品Fを置く
位置を中心以外とすることに違和感はない。
また赤外線測定時のみ測定穴を開ける構成にすることに
よ−て、検知穴から食品かす等が侵入して検知器を汚染
する確率も非常に小さくできる。
寸た回転載置台裏面の構成を突起物が三個以上あり、し
かも位置検知用の突起の高さを他の突起物の高さより低
くしたり、三個の突起の一個に位置検知用の突起を兼ね
させることによって、回転載置台を取出して置いても安
定を損ねることはない。
発明の効果 以上のように本発明によれば次の効果を得ることができ
る。
(1)食品の測温を平均的にエネルギーを受けたところ
で行なうので、平均的な食品温度が測定できる。
(2)食品の位置と測温のタイミングの同期を簡単に磁
気スイッチを使うことによって取ることができる。
(3)上記位置検出用の突起の高さを他の突起より低く
することによって安定な回転載置台が実現できる。
(4)食品が検知素子の真下に来た時のみ測定穴が開か
れるので異物が侵入して検知素子を汚染する確率がきわ
めて小さい。
【図面の簡単な説明】
第1図は加熱室内の電界分布を示す図、第2図は従来の
赤外線素子付電子レンジの構成図、第3図は加熱室内の
食品位置と出来上り時間の関係を示す図、第4図は食品
の温度分布を示す図−第5図は電子レンジの一部切欠き
正面図、第6図は本発明の一実施例である電子レンジの
一部切欠き正面図、第7図a、bは四回転載置台の外観
斜視図、第8図は四回転載置台断面図、第9図は同加熱
室下部の断面図、第10図は本発明の他の実施例である
底部貫通式の回転載置台部分の断面図、第11図は本発
明の一実施例である電子レンジの回路構成のブロック図
、第12図は同回路の信号のタイミングチャートである
。 1・・・・・・食品載置台、3・・・・・・マグネトロ
ン、5・・〜・加熱室、6・・・・・・加熱室天井穴、
7・・・・・・赤外線センサ素子、8・・・・・・位置
印、9・・・・・・磁性体突起部、1o・・・・磁気検
出素子、18・・・・・・突起部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 〇 第3図 第6図 f8 第8図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)食品を載置する加熱室と、前記加熱室内の食品を
    加熱する高周波発生手段と、前記加熱室内に円形の回転
    する食品載置台と、前記食品載置台の表面には前記食品
    の載置位置をその中心部以外の場所に表示し、かつ前記
    加熱室の天井部で前記載置位置の回転軌跡を真下に見る
    位置に設けられた前記食品からの赤外線を検出する赤外
    線検出装置と、開口から赤外線検出装置への赤外線の入
    射を遮へいする手段と、前記食品の載置位置が前記赤外
    線検出装置の真下に到達したことを検知する手段とを備
    える構成とした高周波加熱装置。
  2. (2)食品載置台の食品載置位置表示部の裏部分に磁性
    体の突起部を設け、加熱室底面を非磁性体で構成し、上
    記磁性体の検出素子を加熱室外底部で赤外線検出装置の
    真下にあたる位置に取付けた特許請求の範囲第1項記載
    の高周波加熱装置。
  3. (3)裏面に磁性体の突起を有する回転載置台に、前記
    磁性体の突起よりも高い突起を同心円状に配設した特許
    請求の範囲第1項記載の高周波加熱装置。
  4. (4)印がセンサー穴の真下に近づいた時のみシャ・フ
    タ−を開く構成とした特許請求の範囲第1項記載の高周
    波加熱装置。
JP58058154A 1983-04-01 1983-04-01 高周波加熱装置 Pending JPS59183221A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58058154A JPS59183221A (ja) 1983-04-01 1983-04-01 高周波加熱装置

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JP58058154A JPS59183221A (ja) 1983-04-01 1983-04-01 高周波加熱装置

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JPS59183221A true JPS59183221A (ja) 1984-10-18

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ID=13076069

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58058154A Pending JPS59183221A (ja) 1983-04-01 1983-04-01 高周波加熱装置

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