JPS59186191A - 半導体記憶装置のセンスアンプ回路 - Google Patents

半導体記憶装置のセンスアンプ回路

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Publication number
JPS59186191A
JPS59186191A JP58061691A JP6169183A JPS59186191A JP S59186191 A JPS59186191 A JP S59186191A JP 58061691 A JP58061691 A JP 58061691A JP 6169183 A JP6169183 A JP 6169183A JP S59186191 A JPS59186191 A JP S59186191A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
channel
drain electrode
electrode
sense amplifier
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58061691A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeo Tsuruoka
鶴岡 重雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Suwa Seikosha KK filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP58061691A priority Critical patent/JPS59186191A/ja
Publication of JPS59186191A publication Critical patent/JPS59186191A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体記憶装置(以下メモリと称す)のデータ
線に読み出された読み出し出力を検出するためのセンス
アンプ回路に関するものである。
従来のフリップフロップ構成によるセンスアンプ回路例
を第1図に示している。Qx=QtはNチャネル型MO
S)ランジスタ、Qs−QtはNチャネル型MOS)ラ
ンジスタで7リツプフロツプ構成であり、トランジスタ
Qs−Q4 のソース電極は共通接続され、Nチャネル
型MOSトランジスタQ、を介してVSS  に接続さ
れており、Q69Q7はPチャネル糖負荷MO8)ラン
ジスタ、QB  * Qo  t QloはPチャネル
型MOSトランジスタで、プリチャージのために用意さ
れている。L□はデータ線、L2はこのLlとは補元関
係にあるデータ線、Ls  * L4  # L!はタ
イミング信号線、L、はセンス出力線、L、はこのL6
とは補元関係にあるセンス出力線である。
従来の回路の動作を説明する。データ線り、。
L2に情報が出力されていない状態において、タイミン
グ信号線L3 、L4をロー電圧とし、トランジスタQ
x*QzsQaをオフ状態にさせタイミング信号線L5
をロー電圧とし、トランジスタQa  + Qs  e
 Qloをオン状態にさせることによりり、、L、がプ
リチャージされる。プリチャージが終了された状態で、
データ線に情報が出力された状態のとき、タイミング信
号線L11をハイ電圧にし、トランジスタQs  e 
Qe  e Qloをオフ状態にさせて、タイミング信
号線り、をハイ電圧にし、トランジスタQ1$Q2をオ
ン状態にする。これによりデータ線の情報をセンスアン
プ回路にぢ[き入れた状態にし、タイミング信号線L4
をハイ電圧にし、トランジスタQ、をオン状態にさせる
。このときセンスアンプ回路はオン状態となり情報の増
幅を行なう。
上記のような従来の回路においては、センスアンプ回“
路のプリチャージを行なうために、3個のPチャネル型
MO8)ランジスタを用いており、センスアンプ回路部
においてこのプリチャージ回路がパターン上で多くの面
積を占有するという欠点があった。
本発明は上記実情を鑑み、この問題を解決すべくなされ
たものでその目的は、センスアンプ回路におけるプリチ
ャージに用するトランジスタの数を減らすことにある。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。第2図は
本発明の実施例であり、L12はデータ線、L12はこ
のり、/ とは補元関係にあるデータ線で、Nチャネル
型MOS)ランジスタQ、/ 、 Q、、/を介してセ
ンスアンプ回路に接続されており、トランジスタ%’*
QR’のゲート電極はタイミング信号線T−3′に共通
接続されている。データ差動入力を検出するためにNチ
ャネル型MOS)ランジスタQ、’  r Q4’とで
フリップフロップを構成している。トランジスタQs’
のドレイン電極はトランジスタQ4’のゲート電極に接
続され、Q4′のドレイン電極はトランジスタQs’の
ゲート電極に接続さし、Q3′、Q1′のソース電極は
共通接続されている。この共通線はNチャネル型MOS
)ランジスタQ、′のドレイン電極に接続され、トラン
ジスタQ 、/のソース電極はyss  に接続されて
いる。トランジスタQ、′のゲート電極にはタイミング
信号Mb+’が接続されている。トランジスタQs’ 
gQ4’のドレイン電極はPチャネル糖負荷MO8)ラ
ンεラスタQa’  + Q7’のドレイン電極に接続
されており、トランジスタQ6’  p QXのソース
電極は供給電源’VDD  に接続されている。Pチャ
ネル型MOSトランジスタQ11のソースまたはドレイ
ン電極をトランジスタQ、′のゲート電極にさせ、トラ
ンジスタQllのソースまたはドレイン電極をトランジ
スタQ7/のゲート電極に接続されている。トランジス
タQllのゲート電極はタイミング信号線り、/に接続
されている。L 、/はセンス出力線、L、/はこのL
12とは補元関係にあるセンス出力線である。
本発明の実施例の動作を説明する。データ線L1’  
9 L2’に情報が出力されていない状態において、タ
イミング信号線L8’  * L4’をロー電圧とし、
トランジスタQ1’  r Qt’  + Q5’をオ
フ状態にさせ、タイミング信号mLa’ をロー電圧と
し、トランジスタQllをオン状態にさせる。このとぎ
トランジスタQ6’  、 Qフ′は導通状態となり、
L6’ s L7’は電源電圧VDD  からトランジ
スタ%’  t Q、7 のしきい値電圧仕丁がった電
位にチャージされる。
すなわち、トランジスタQ1+をオン状態にすることに
より、L6’  l L7’をプリチャージすることが
できる。L6’ * ”7’がプリチャージされた状態
で、データ線に情報が出力されているとき、タイミング
信号線L5′ をハイ電圧とし、トランジスタQt+を
オフ状態にさせる。次にタイミング信号線り、/をハイ
電圧とし、トランジスタQl’  e Q2’ をオン
状態にさせる。これによりデータ線の情報をセンスアン
プ回路に引き入れた状態にさせ、タイミング信号線L4
/ をハイ電圧とし、トランジスタQ 、/をオン状態
にさせる。このときセンスアンプ回路はオン状態となり
情報の増幅を行なう。
前述より明らかなように、本発明による回路は、電源電
圧に接続されたPチャネル型負荷MOSトランジスタの
みを用いてセンスアンプ回路をプリチャージすることが
できる。
以上説明した如く本発明によれば、従来のこの種のセン
スアンプ回路に比べて、プリチャージに要する素子数を
減らすことができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のセンスアンプ回路の一例を示す回路図、
第2図は本発明の実施例を示す回路図である。 L1*L2pL□/  、 L、/ ・・・・・・デー
タ線L3 9 L4 1 LR+ ”!’  * L4
’  9 L5’・・・・・・タイミング信号線 LR+ ”I  9 L6’  t II7’・・・・
・・センス出力線Qe  s  Qy  p  Qs 
 +  Qo  eQtowQ6  #Q7 1Ql!
・・・・・・Pチャネル型MO8)ランジスタQs  
9Q2  +Qs  eQ4 9Q5  yQ+  +
Qv’  +Q3’  + Q4’  e Q6’・・
・・・・Nチャネル型MO8)ランジスタ。 第1図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1および第2のPチャネル型MO3)ランジス
    タのソース電極を電源に接続し、第1のNチャネル型M
    OSトランジスタのソース電極を接地し、第2および第
    3のNチャネル型MOSトランジスタのソース電極を前
    記第1のNチャンネル型MO8)ランジスタのドレイン
    電極に接続し、前記第2のNチャネル型MOS)ランジ
    スタのドレイン電極に前記第1のPチャネル型MO3)
    ランジスタのドレイン電極と前記第2のPチャネル型M
    OS)ランジスタのゲート電極と第6のPチャネルff
    1M03)ランジスタのソースまたはドレイン電極と前
    記第3のNチャネル型MOS)ランジスタのゲート電極
    と第4のNチャネル型MOSトランジスタのソース電極
    とを接続し、前記第3のNチャネル型MOS)ランジス
    タのドレイン電極に前記第2のPチャネル型MO8)ラ
    ンジスタのドレイン電極と前記第3のPチャネル型MO
    Sトランジスタのソースまたはドレイン電極と前記第1
    のPチャネル型MO8)ランジスタのゲート電極と前記
    第2のNチャネル型MOSトランジスタのゲート電極と
    第5のNチャネル型MOS)ランジスタのソース電極と
    を接続し、前記第4のNチャネル型MOS)ランジスタ
    のドレイン電極に第1のデータ線を接続し、前記第5の
    NチャネルWMO8)ランジスタのドレイン電極に第2
    のデータ線を接続し、前記第1のNチャネル型MOSト
    ランジスタのゲー)!極に第1のタイミング信号線を接
    続し、前記第4および第5のNチャネル型MOSトラン
    ジスタのゲート電極に第2のタイミング信号線を接続し
    、前記第6のPチャネル型MO8)ランジスタのゲート
    電極を第3のタイミング信号線に接続して成ることを特
    徴とする半導体記憶装置のセンスアンプ回路。
  2. (2)前記第4および第5のNチャネル型MO8トラン
    ジスタのゲート電極に電源を接続して成ることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の半導体記憶装置のセン
    スアンプ回路。
JP58061691A 1983-04-08 1983-04-08 半導体記憶装置のセンスアンプ回路 Pending JPS59186191A (ja)

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JP58061691A JPS59186191A (ja) 1983-04-08 1983-04-08 半導体記憶装置のセンスアンプ回路

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JP58061691A JPS59186191A (ja) 1983-04-08 1983-04-08 半導体記憶装置のセンスアンプ回路

Publications (1)

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JPS59186191A true JPS59186191A (ja) 1984-10-22

Family

ID=13178526

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JP58061691A Pending JPS59186191A (ja) 1983-04-08 1983-04-08 半導体記憶装置のセンスアンプ回路

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JP (1) JPS59186191A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61237291A (ja) * 1985-04-15 1986-10-22 Hitachi Micro Comput Eng Ltd Mos増幅回路
JPH0757476A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Nec Corp 半導体メモリ集積回路
US5491667A (en) * 1991-08-01 1996-02-13 Silicon Engineering, Inc. Sense amplifier with isolation to bit lines during sensing

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61237291A (ja) * 1985-04-15 1986-10-22 Hitachi Micro Comput Eng Ltd Mos増幅回路
US5491667A (en) * 1991-08-01 1996-02-13 Silicon Engineering, Inc. Sense amplifier with isolation to bit lines during sensing
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