JPS59189683A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents
太陽電池の製造方法Info
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- JPS59189683A JPS59189683A JP58065928A JP6592883A JPS59189683A JP S59189683 A JPS59189683 A JP S59189683A JP 58065928 A JP58065928 A JP 58065928A JP 6592883 A JP6592883 A JP 6592883A JP S59189683 A JPS59189683 A JP S59189683A
- Authority
- JP
- Japan
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- substrate
- amorphous silicon
- thin film
- film
- silicon thin
- Prior art date
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/10—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material
- H10F71/103—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material including only Group IV materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は太陽電池の改良に関するもので、特に特定の
可撓性基板上に光起電力発生要素して非晶質シリコン薄
膜を設けた太陽電池に関するものである。
可撓性基板上に光起電力発生要素して非晶質シリコン薄
膜を設けた太陽電池に関するものである。
ステンレス坂、ガラス板などの非可撓性基板に非晶質シ
リコン薄膜を設けた太陽電池はよく知られており、ポリ
イミドなどの樹脂薄膜からなる可撓性基板に非晶質シリ
コン薄膜を設けた太陽電池もまたよく知られている。可
撓性基板を用いて非晶質太陽電池を製造することの特徴
は、基板上に必要な非晶質シリコン層を連続的に設ける
ことができ、製造コストおよび製造の容易性の面で非可
撓性基板を用いる場合に比べて極めて優位に立てること
にある。さらに、可撓性基板に非晶質シリコン薄膜を設
けた非晶質太陽電池は、従来の非可撓性基板に非晶質シ
リコン薄膜を設けた太陽電池と異なり、シート状である
ので製品の形状に任意性を持たせることができ、今後の
用途開発によりその応用が広がることが期待される。
リコン薄膜を設けた太陽電池はよく知られており、ポリ
イミドなどの樹脂薄膜からなる可撓性基板に非晶質シリ
コン薄膜を設けた太陽電池もまたよく知られている。可
撓性基板を用いて非晶質太陽電池を製造することの特徴
は、基板上に必要な非晶質シリコン層を連続的に設ける
ことができ、製造コストおよび製造の容易性の面で非可
撓性基板を用いる場合に比べて極めて優位に立てること
にある。さらに、可撓性基板に非晶質シリコン薄膜を設
けた非晶質太陽電池は、従来の非可撓性基板に非晶質シ
リコン薄膜を設けた太陽電池と異なり、シート状である
ので製品の形状に任意性を持たせることができ、今後の
用途開発によりその応用が広がることが期待される。
既述のように、従来から開発されている可撓性基板に非
晶質シリコン薄膜を設けた太陽電池では、可撓性基板に
ポリイミドフィルムが用いられている。しかしながら、
ポリイミドフィルムに非晶質シリコン薄膜を設けた太陽
電池では、ポリイミドの種類の選び方によっては、太陽
電池の下部電極が腐蝕したり基板、すなわちフィルムと
下部電極とが剥離したりして、太陽電池出力の低下を招
くおそれがあり、実用上大きな問題を含ノυでいた。
晶質シリコン薄膜を設けた太陽電池では、可撓性基板に
ポリイミドフィルムが用いられている。しかしながら、
ポリイミドフィルムに非晶質シリコン薄膜を設けた太陽
電池では、ポリイミドの種類の選び方によっては、太陽
電池の下部電極が腐蝕したり基板、すなわちフィルムと
下部電極とが剥離したりして、太陽電池出力の低下を招
くおそれがあり、実用上大きな問題を含ノυでいた。
可撓性基板に非晶質シリコン薄膜を設けて非晶質シリコ
ン太陽電池を実現するには、可撓性基板は少なくとも2
50℃以上の耐熱性を必要とする上に、さらに下部電極
との剥離や下部電極の腐蝕を生じない基板であることが
必要となる。現在のところそのような非晶質シリコン太
陽電池はほとんどがグロー放電法を用いて非晶質シリコ
ンa膜を形成することにより実現されているので、その
ような太Bi池の基板の材料選択に際して、前述のよう
に250℃以上の耐熱性が要求され、基板材料の選択の
範囲が非常に狭くなっている。
ン太陽電池を実現するには、可撓性基板は少なくとも2
50℃以上の耐熱性を必要とする上に、さらに下部電極
との剥離や下部電極の腐蝕を生じない基板であることが
必要となる。現在のところそのような非晶質シリコン太
陽電池はほとんどがグロー放電法を用いて非晶質シリコ
ンa膜を形成することにより実現されているので、その
ような太Bi池の基板の材料選択に際して、前述のよう
に250℃以上の耐熱性が要求され、基板材料の選択の
範囲が非常に狭くなっている。
したがって、この発明の目的は、可撓性基板上に非晶質
シリコン薄膜を設ける際、基板の温度を比較的低くした
状態で非晶質シリコン薄膜を形成することにより、可撓
性基板の材料の選択を適切にし、それによって太陽電池
特性の経時安定性が改善された、非晶質シリコン薄膜太
+i電池を提供することである。
シリコン薄膜を設ける際、基板の温度を比較的低くした
状態で非晶質シリコン薄膜を形成することにより、可撓
性基板の材料の選択を適切にし、それによって太陽電池
特性の経時安定性が改善された、非晶質シリコン薄膜太
+i電池を提供することである。
要約すると、この発明の非晶質シリコン薄膜太陽電池は
、ポリエーテルスルホンフィルムの可撓性基板上に非晶
質シリコン薄膜を設けることを特徴とする。好ましくは
、クラスタイオンビーム法により、非晶質シリコン薄膜
をポリエーテルスルホンフィルムの上に形成させる。
、ポリエーテルスルホンフィルムの可撓性基板上に非晶
質シリコン薄膜を設けることを特徴とする。好ましくは
、クラスタイオンビーム法により、非晶質シリコン薄膜
をポリエーテルスルホンフィルムの上に形成させる。
この発明の可撓性基板に用いるポリエーテルスルホンフ
ィルムは下記の式で表わされる。
ィルムは下記の式で表わされる。
このようなポリエーテルスルホンフィルムは、この発明
に従って非晶質シリコン薄膜をその上に形成する際に必
要とする基板温度200℃程度での熱収縮率が0.15
%以下であるという優れた寸法安定性を示し、さらに得
られたこの発明の非晶質シリコン薄膜太陽電池は下部電
極の腐蝕や剥離を起さない。このようにして、ポリエー
テルスルホンフィルムは非晶質シリコン薄膜太陽電池の
基板とし、−ζ極めて優れた特性を有する。さらに、ポ
リエーテルニ1)レホンフイルムの基板は、絶C9f皮
壊抵抗、誘電率、体積抵抗率などの電気的特性に(13
い一τ、も極めて優れたものである。このように、ポリ
エーテルスルホンフィルムをこの発明の非晶質太l電池
の基板として用いる場合、フィルムの厚さは10ないし
500μが可撓性の面から好適であり、厚さが500μ
を超えると可撓性に欠は可撓性高分子フィルムを基板に
用いる利点の1つであるl’;:all to Q
oll方式の採用が困難となる。一方、膜の厚みが10
μより薄くなると、非晶質シリコン薄膜の形成時の熱応
力を緩和しきれずに基板が変形することもあるので、あ
まり基板の厚さを小さくすることは好ましくない。ポリ
エーテルスルホンフィルムは溶融製膜により製造するも
のであり、上記の10ないし500uの厚さの膜は容易
に得ることができる。
に従って非晶質シリコン薄膜をその上に形成する際に必
要とする基板温度200℃程度での熱収縮率が0.15
%以下であるという優れた寸法安定性を示し、さらに得
られたこの発明の非晶質シリコン薄膜太陽電池は下部電
極の腐蝕や剥離を起さない。このようにして、ポリエー
テルスルホンフィルムは非晶質シリコン薄膜太陽電池の
基板とし、−ζ極めて優れた特性を有する。さらに、ポ
リエーテルニ1)レホンフイルムの基板は、絶C9f皮
壊抵抗、誘電率、体積抵抗率などの電気的特性に(13
い一τ、も極めて優れたものである。このように、ポリ
エーテルスルホンフィルムをこの発明の非晶質太l電池
の基板として用いる場合、フィルムの厚さは10ないし
500μが可撓性の面から好適であり、厚さが500μ
を超えると可撓性に欠は可撓性高分子フィルムを基板に
用いる利点の1つであるl’;:all to Q
oll方式の採用が困難となる。一方、膜の厚みが10
μより薄くなると、非晶質シリコン薄膜の形成時の熱応
力を緩和しきれずに基板が変形することもあるので、あ
まり基板の厚さを小さくすることは好ましくない。ポリ
エーテルスルホンフィルムは溶融製膜により製造するも
のであり、上記の10ないし500uの厚さの膜は容易
に得ることができる。
次に、クラスタイオンビーム法について言及する。クラ
スタイオンビーム法は、少なくとも1個の噴射ノズルを
有する密閉型のるつぼ内に、形成しようとする物質の成
分元素を収納し、加熱し蒸気化してこの蒸気を蒸気圧力
よりも充分低い圧力の高真空中、たとえば上記るつぼ内
の蒸気圧力よりも100分の1以下の圧力の高真空中に
噴射ノズルから噴射させ、噴射時の断熱膨張に基づく過
冷却規象により、通常100ないし2000個程度0原
子がファンデルワールス力により緩く結合した塊状の原
子集団、いわゆるクラスタ、を形成し、さらにこのクラ
スタの少なくとも一部をイオン化し、ノズル噴射時に付
与された運動エネルギ、または必要に応じて電解により
、加速して基板表面に到着させ、基板上に前記成分元素
の薄膜を形成しようとするものである。
スタイオンビーム法は、少なくとも1個の噴射ノズルを
有する密閉型のるつぼ内に、形成しようとする物質の成
分元素を収納し、加熱し蒸気化してこの蒸気を蒸気圧力
よりも充分低い圧力の高真空中、たとえば上記るつぼ内
の蒸気圧力よりも100分の1以下の圧力の高真空中に
噴射ノズルから噴射させ、噴射時の断熱膨張に基づく過
冷却規象により、通常100ないし2000個程度0原
子がファンデルワールス力により緩く結合した塊状の原
子集団、いわゆるクラスタ、を形成し、さらにこのクラ
スタの少なくとも一部をイオン化し、ノズル噴射時に付
与された運動エネルギ、または必要に応じて電解により
、加速して基板表面に到着させ、基板上に前記成分元素
の薄膜を形成しようとするものである。
この場合、基板の温度、るつぼ周囲の空間の真空度、ク
ラスタのイオン化率、またはクラスタイオンを加速する
場合はその加速電圧など、を種々設定することにより、
基板に成長させる物質をアモルファス状態、多結晶状態
、単結晶状態と任意に制御することができる特徴を有し
、かつクラスタ形成空間に反応性のガスを導入すること
によつて化合物のN膜も容易に形成することができる。
ラスタのイオン化率、またはクラスタイオンを加速する
場合はその加速電圧など、を種々設定することにより、
基板に成長させる物質をアモルファス状態、多結晶状態
、単結晶状態と任意に制御することができる特徴を有し
、かつクラスタ形成空間に反応性のガスを導入すること
によつて化合物のN膜も容易に形成することができる。
この発明の好ましい実施例では、このクラスタイオンビ
ーム蒸着法を用いて、光電変化要素としての非晶質シリ
コンW1.膜を形成しようとするものである。このクラ
スタイオンビーム蒸着法を用いて光電変換要素としての
非晶質シリコン薄膜を形成する方法について種々検討を
行なった結果、条件を適切に選択することにより200
”C以下の基板温度においても極めて良質な非晶質シリ
コン薄膜を得ることができた。従来のグロー放電法では
、良質な非晶質シリコン薄膜を得ようとすれば、少なく
とも250″C以上の基板温度を必要とするため、可撓
性基板の材質の選択の範囲が極めて限られたが、クラス
タイオンビーム蒸着法を用いることにより基板温度も2
00’C以下、具体的には180℃程度でも良質な非晶
質シリコン薄膜を得ることができることを確認した。
ーム蒸着法を用いて、光電変化要素としての非晶質シリ
コンW1.膜を形成しようとするものである。このクラ
スタイオンビーム蒸着法を用いて光電変換要素としての
非晶質シリコン薄膜を形成する方法について種々検討を
行なった結果、条件を適切に選択することにより200
”C以下の基板温度においても極めて良質な非晶質シリ
コン薄膜を得ることができた。従来のグロー放電法では
、良質な非晶質シリコン薄膜を得ようとすれば、少なく
とも250″C以上の基板温度を必要とするため、可撓
性基板の材質の選択の範囲が極めて限られたが、クラス
タイオンビーム蒸着法を用いることにより基板温度も2
00’C以下、具体的には180℃程度でも良質な非晶
質シリコン薄膜を得ることができることを確認した。
高分子フィルムを非晶質シリコン薄膜を有する太陽電池
の基板に用いる際、基板からのガス放出が光起電力要素
としての非晶質シリコン薄膜そのものに悪影響を及ぼす
という問題があったが、このようにクラスタイオンビー
ム法を採用することで、必要とする基板温度を下げるこ
とができ、ガス放出に伴う問題を解消することもできる
。すなわち、従来のグロー放電法では、良質の非晶質シ
リコン薄膜を得るためには、200’C以上の高温を必
要とするが、クラスタイオンビーム法を採用することで
、必要な基板温度を下げることができ。
の基板に用いる際、基板からのガス放出が光起電力要素
としての非晶質シリコン薄膜そのものに悪影響を及ぼす
という問題があったが、このようにクラスタイオンビー
ム法を採用することで、必要とする基板温度を下げるこ
とができ、ガス放出に伴う問題を解消することもできる
。すなわち、従来のグロー放電法では、良質の非晶質シ
リコン薄膜を得るためには、200’C以上の高温を必
要とするが、クラスタイオンビーム法を採用することで
、必要な基板温度を下げることができ。
ポリエーテルスルホンフィルムを非晶質シリコン薄膜を
有する太陽電池の基板として初めて用いることが可能と
なった。ポリエーテルスルホンフィルムは、230℃程
度の基板温度までは問題な(使用することができる。ポ
リエーテルスルホンフィルムを非晶質シリコンfi1m
を有する太閤電池の基板として用いる際、フィルム表面
に電極を形成するが、電極の材料としては特に制限され
るものではなく、アルミニウム、鉄、ステンレス鋼、ニ
ッケル、タングステンなどの薄膜を蒸着、スパッタリン
グ、イオンブレーティング(クラスタイオン蒸着を含む
)などの方法で基板上に形成してもよいし、またはアル
ミ箔、ステンレス箔などを耐熱接着剤を介してラミネー
トして電極を形成してもよい。
有する太陽電池の基板として初めて用いることが可能と
なった。ポリエーテルスルホンフィルムは、230℃程
度の基板温度までは問題な(使用することができる。ポ
リエーテルスルホンフィルムを非晶質シリコンfi1m
を有する太閤電池の基板として用いる際、フィルム表面
に電極を形成するが、電極の材料としては特に制限され
るものではなく、アルミニウム、鉄、ステンレス鋼、ニ
ッケル、タングステンなどの薄膜を蒸着、スパッタリン
グ、イオンブレーティング(クラスタイオン蒸着を含む
)などの方法で基板上に形成してもよいし、またはアル
ミ箔、ステンレス箔などを耐熱接着剤を介してラミネー
トして電極を形成してもよい。
電極を形成したポリエーテルスルホンフィルムの基板上
に、光電変換要素としての非晶質シリコン薄膜を形成す
るためには、クラスタイオンビーム法を用いる。図はこ
の発明による非晶質シリコン薄膜の形成に用いる装置の
一例を示す。
に、光電変換要素としての非晶質シリコン薄膜を形成す
るためには、クラスタイオンビーム法を用いる。図はこ
の発明による非晶質シリコン薄膜の形成に用いる装置の
一例を示す。
図を参照して、0.5ないし2,011111程度の孔
径のノズル2を有するるつぼ1が、図示しない真空容器
内に、適宜な支持部材により支持されて設けられ、この
真空容器が少なくとも10−5T orr以下の高真空
雰囲気に排気される。るつぼ1には、適度な大きさに粉
砕されたシリコンを充填する。
径のノズル2を有するるつぼ1が、図示しない真空容器
内に、適宜な支持部材により支持されて設けられ、この
真空容器が少なくとも10−5T orr以下の高真空
雰囲気に排気される。るつぼ1には、適度な大きさに粉
砕されたシリコンを充填する。
次いで、ガス導入用バイブ3が前記真空容器に対して設
けられ、このガス導入用バイブ3から真空容器内に、水
素、ホスフィン、ジボランを供給し、真空容器内の圧力
を10−6ないし1O−JTorrに維持する。前記真
空容器内において基板6がるつは1のノズル2の前方に
設けられ、この基板6も適宜な温度に加熱する。次いで
、るつぼ1を加熱し、るつぼ1内に充寧されてるシリコ
ンを加熱溶融させて、シリコンの蒸気を発生させる。こ
の場合、シリコンの加熱温度はるつぼ1の周囲空間、す
なわち真空容器内の圧力に応じて設定され、るつは1内
の圧力をP1真空容器内の圧力をPaとした場合、P
/ P Q≧102、好ましくはP/PO≧104とな
るように設定する。実際には、加熱温度としては140
0ないし2300’C程度の範囲が選択される。しかし
て、この圧力差によりシリコンの蒸気がノズル2よりる
っぽ1外に噴出し、この際断熱膨張に基づ(過冷却現象
により蒸気状のシリコン原子や分子がファンデルワール
ス力で緩く結合したクラスタが形成される。
けられ、このガス導入用バイブ3から真空容器内に、水
素、ホスフィン、ジボランを供給し、真空容器内の圧力
を10−6ないし1O−JTorrに維持する。前記真
空容器内において基板6がるつは1のノズル2の前方に
設けられ、この基板6も適宜な温度に加熱する。次いで
、るつぼ1を加熱し、るつぼ1内に充寧されてるシリコ
ンを加熱溶融させて、シリコンの蒸気を発生させる。こ
の場合、シリコンの加熱温度はるつぼ1の周囲空間、す
なわち真空容器内の圧力に応じて設定され、るつは1内
の圧力をP1真空容器内の圧力をPaとした場合、P
/ P Q≧102、好ましくはP/PO≧104とな
るように設定する。実際には、加熱温度としては140
0ないし2300’C程度の範囲が選択される。しかし
て、この圧力差によりシリコンの蒸気がノズル2よりる
っぽ1外に噴出し、この際断熱膨張に基づ(過冷却現象
により蒸気状のシリコン原子や分子がファンデルワール
ス力で緩く結合したクラスタが形成される。
ところで、るつぼ1の外への噴出によって運動エネルギ
を得たシリコン原子や分子の蒸気流はイオン化室に入り
、ここで少なくともその一部がイオン化される、いわゆ
るクラスクイオンが形成される。真空容器内のるつぼ1
と基板6の間には加速電極5が設けられていて、加速電
極5には適度な加速電圧が印加され、そのためクラスタ
イオンは加速されて、基板6に射突される。その際、真
空容器内おいてクラスタイオンが射突時の衝撃で個々の
原子に分離し、原子状態で基板の表面を移動する、いわ
ゆる表面マイクレージョン効果および一部イオン化され
ているシリコンイオンの作るイオン化効果により、シリ
コン同士の結合が促進される。
を得たシリコン原子や分子の蒸気流はイオン化室に入り
、ここで少なくともその一部がイオン化される、いわゆ
るクラスクイオンが形成される。真空容器内のるつぼ1
と基板6の間には加速電極5が設けられていて、加速電
極5には適度な加速電圧が印加され、そのためクラスタ
イオンは加速されて、基板6に射突される。その際、真
空容器内おいてクラスタイオンが射突時の衝撃で個々の
原子に分離し、原子状態で基板の表面を移動する、いわ
ゆる表面マイクレージョン効果および一部イオン化され
ているシリコンイオンの作るイオン化効果により、シリ
コン同士の結合が促進される。
一方、真空容器内に導入されたH2は、その一部が原子
の射突によってイオン化されたりまたは単体原子Hとな
って前述のシリコン蒸気流とともに基板6に射突し、表
面を移動する。基板6を移動しつつ結合していくシリコ
ンの未結合部分にHが結合し、ダングリングボンドがH
により閉じられた構造の非晶質シリコン薄膜が形成され
たことになる。
の射突によってイオン化されたりまたは単体原子Hとな
って前述のシリコン蒸気流とともに基板6に射突し、表
面を移動する。基板6を移動しつつ結合していくシリコ
ンの未結合部分にHが結合し、ダングリングボンドがH
により閉じられた構造の非晶質シリコン薄膜が形成され
たことになる。
さらに詳しくは、i型非晶質シリコンS膜を形成するた
めには導入ガスとしてH2ガスのみを導入し、またp型
非晶質シリコン薄膜を形成するためにH2ガスおよびジ
ボランガス(82H6)を導入し、またn型非晶質シリ
コンN膜を形成するには1」2ガスおよび小スノインガ
ス(PH,)を導入する。したがって、光電変換要素と
しての非晶質シリコン層どしては、裏面電極を形成した
ポリエーテルスルボンフィルム基板に、適宜【)層、1
層およびp層を形成ざゼることになる。ショットキセル
の場合には、0層および1層を積層さゼたポリエーテル
スルホン基板を真空容器内に設け、ショットキ障壁金属
として白金、金、パラジウムなどをスパッタ法、真空蒸
着法、イオンブレーティング法(クラスタイオンビーム
法を含む)などで100A程度の膜厚で堆積させる。ま
た、ヘテロ(フェイス)接合セルの場合は、n1iii
、1層およびp層を積層させたポリエーテルスルホン基
板の上に、酸化インジウム、酸化錫、または酸化錫−i
t化インジウムの膜を200ないし5000A程度の膜
厚になるようにスパッタ法、真空蒸答法、イオンブレー
ティング法(クラスタイオンビーム法を含む)なとで堆
積させて表面電極を形成する。
めには導入ガスとしてH2ガスのみを導入し、またp型
非晶質シリコン薄膜を形成するためにH2ガスおよびジ
ボランガス(82H6)を導入し、またn型非晶質シリ
コンN膜を形成するには1」2ガスおよび小スノインガ
ス(PH,)を導入する。したがって、光電変換要素と
しての非晶質シリコン層どしては、裏面電極を形成した
ポリエーテルスルボンフィルム基板に、適宜【)層、1
層およびp層を形成ざゼることになる。ショットキセル
の場合には、0層および1層を積層さゼたポリエーテル
スルホン基板を真空容器内に設け、ショットキ障壁金属
として白金、金、パラジウムなどをスパッタ法、真空蒸
着法、イオンブレーティング法(クラスタイオンビーム
法を含む)などで100A程度の膜厚で堆積させる。ま
た、ヘテロ(フェイス)接合セルの場合は、n1iii
、1層およびp層を積層させたポリエーテルスルホン基
板の上に、酸化インジウム、酸化錫、または酸化錫−i
t化インジウムの膜を200ないし5000A程度の膜
厚になるようにスパッタ法、真空蒸答法、イオンブレー
ティング法(クラスタイオンビーム法を含む)なとで堆
積させて表面電極を形成する。
次に、収集電極をショットキ障壁金属、ヘテロフェイズ
表面上に設けて、非晶質シリコン太陽電池ディバイスを
完成する。
表面上に設けて、非晶質シリコン太陽電池ディバイスを
完成する。
上に述べたように、この発明による非晶質シリコン太陽
電池は、ポリエーテルスルホンフィルム基板上に裏面電
極を形成させ、この裏面電極上に、好ましくはイオンク
ラスタビーム法により、非晶質シリコン膜を設け、その
上にショットキ障壁金属またはへテロ(フェイス)電極
を設け、その上にさらに収集電極を設けた基本構造を有
する。
電池は、ポリエーテルスルホンフィルム基板上に裏面電
極を形成させ、この裏面電極上に、好ましくはイオンク
ラスタビーム法により、非晶質シリコン膜を設け、その
上にショットキ障壁金属またはへテロ(フェイス)電極
を設け、その上にさらに収集電極を設けた基本構造を有
する。
この発明の非晶質シリコン太陽電池を製作するにあたり
、ポリエーテルスルホンフ・Cルムに非晶質シリコン薄
膜を形成する好ましい方法として、クラスタイオンビー
ム法を用いることにより、次に列挙するような利点がも
たらされる。
、ポリエーテルスルホンフ・Cルムに非晶質シリコン薄
膜を形成する好ましい方法として、クラスタイオンビー
ム法を用いることにより、次に列挙するような利点がも
たらされる。
(1) クラスタイオンビーム法を用いることにより、
基板温度が200’C以下、具体的には180℃でも、
極めて良質な非晶質シリコン薄膜を形成することができ
る。
基板温度が200’C以下、具体的には180℃でも、
極めて良質な非晶質シリコン薄膜を形成することができ
る。
(2) 必要とする基板温度が大幅に下がるため、基板
材料の選択範囲が広がり、グロー放電法では使用できな
かったポリエーテルスルホンフィルムが使用可能となる
。
材料の選択範囲が広がり、グロー放電法では使用できな
かったポリエーテルスルホンフィルムが使用可能となる
。
(3) クラスタイオンビームat用いることにより、
基板に対する密者力の俟れた非晶質シリコン薄膜を得る
ことがきる。
基板に対する密者力の俟れた非晶質シリコン薄膜を得る
ことがきる。
以上述べたように、この発明によれば、好ましくはクラ
スタイオンビーム法を用いて、非晶質シリコンMlをポ
リエーテルスルホンフィルムに形成したので、基板の寸
法安定性が優れており、さらに基板の1部電極との剥離
、下部電極の腐蝕を生じない太陽電池基板が実現され、
長期にわたって安定な電気出力を与える太陽電池を提供
することがきる。当然のことながら、六F11?!f池
は直接日光に馨露され、風雨に露呈される厳しい自然環
境下に置かれる。したがって、高温多湿下で上記の寸法
安定性が優れていることおよび下部電極の性能劣化を与
えないことは、太陽電池の基板として大きな利点という
ことができる。このように、この発明では、太陽電池基
板としてポリエーテルスルホンフィルムを使用すること
により、実用性に優れた太陽電池を実現することが可能
となった。
スタイオンビーム法を用いて、非晶質シリコンMlをポ
リエーテルスルホンフィルムに形成したので、基板の寸
法安定性が優れており、さらに基板の1部電極との剥離
、下部電極の腐蝕を生じない太陽電池基板が実現され、
長期にわたって安定な電気出力を与える太陽電池を提供
することがきる。当然のことながら、六F11?!f池
は直接日光に馨露され、風雨に露呈される厳しい自然環
境下に置かれる。したがって、高温多湿下で上記の寸法
安定性が優れていることおよび下部電極の性能劣化を与
えないことは、太陽電池の基板として大きな利点という
ことができる。このように、この発明では、太陽電池基
板としてポリエーテルスルホンフィルムを使用すること
により、実用性に優れた太陽電池を実現することが可能
となった。
以下にこの発明の実施例について述べる。
実施例および比較例
まず、ポリエーテルスルホンフィルム製造のついて述べ
る。ICI?ttJポリエーテルスルホン樹脂(200
P)を10−2T orrの真空下で150℃において
24時間乾燥する。この乾燥された樹脂を押出器のシリ
ンダ温度340℃で幅Q、5mm。
る。ICI?ttJポリエーテルスルホン樹脂(200
P)を10−2T orrの真空下で150℃において
24時間乾燥する。この乾燥された樹脂を押出器のシリ
ンダ温度340℃で幅Q、5mm。
長さ150+1111のスリットを有するTダイより押
出し、未延伸フィルムを得る。次いで、この未延伸フィ
ルムをMD力方向lJ械輪軸方向に、続いてTDh向(
機械軸と直交方向)に延伸し、最後に320℃で1分間
熱固定し、厚さ75μのポリエーテルスルホンフィルム
を得た。この得られたフィルムの200℃での熱収縮率
は0.15%以下であった。
出し、未延伸フィルムを得る。次いで、この未延伸フィ
ルムをMD力方向lJ械輪軸方向に、続いてTDh向(
機械軸と直交方向)に延伸し、最後に320℃で1分間
熱固定し、厚さ75μのポリエーテルスルホンフィルム
を得た。この得られたフィルムの200℃での熱収縮率
は0.15%以下であった。
次に前述のポリエーテルスルホンフィルムを用いる太陽
電池の製作について述べる。前述のようにして得られた
厚さ75μのポリエーテルスルホンフィルムを10−2
T orrの真空下で150℃において2時間乾燥を行
なった。この乾燥した基板をスパッタリング装置に装着
し、タングステンをターゲットとして、厚さ1.5μの
タングステン薄膜を裏面電極として形成させた。この裏
面電極を形成さ往た基板を、次にクラスタイオンビーム
装置の基板支持台に緊張下でセットし、5×1047o
rrに排気しながら200℃にこの基板を加熱した。5
X10−7王orrの真空度まで達すれば真空容器内に
H2ガスと水素ガスで1%に希釈したホスフィンガス(
PH,)を5対1の流量比で導入し、真空容器内を1×
10−子丁orrに維持した。るつぼの加熱温度を20
00ないし2200℃とし、イオン化電流を10011
1A (,150V)とし、加速電圧を3 kVとした
条件で、p型の非晶質シリコン薄膜を200Aの厚さで
形成させた。
電池の製作について述べる。前述のようにして得られた
厚さ75μのポリエーテルスルホンフィルムを10−2
T orrの真空下で150℃において2時間乾燥を行
なった。この乾燥した基板をスパッタリング装置に装着
し、タングステンをターゲットとして、厚さ1.5μの
タングステン薄膜を裏面電極として形成させた。この裏
面電極を形成さ往た基板を、次にクラスタイオンビーム
装置の基板支持台に緊張下でセットし、5×1047o
rrに排気しながら200℃にこの基板を加熱した。5
X10−7王orrの真空度まで達すれば真空容器内に
H2ガスと水素ガスで1%に希釈したホスフィンガス(
PH,)を5対1の流量比で導入し、真空容器内を1×
10−子丁orrに維持した。るつぼの加熱温度を20
00ないし2200℃とし、イオン化電流を10011
1A (,150V)とし、加速電圧を3 kVとした
条件で、p型の非晶質シリコン薄膜を200Aの厚さで
形成させた。
次いて゛水素ガスのみの導入で、前記と同様にして、p
型の非晶質シリコン薄膜上にi型の非晶質シリコン簿膜
を3000Aの厚さで形成させた。次いて、水素ガスと
水素ガスで希釈した1%のジボランガスを真空容器内に
導入し、p型の非晶質シリコン薄膜を1ooXの厚みて
形成させ、ポリエーテルスルホンフィルム基板上にpl
n型の非晶質シリコンリ9を積層し1;。このようにし
−C′得1こ1)ln型非晶質シリコン′4膜をスパッ
タ装置(こ装着し、西り化錫−醒化インジウム薄膜を1
000人の厚さに堆積さけ、ヘテロフェイス層とした。
型の非晶質シリコン薄膜上にi型の非晶質シリコン簿膜
を3000Aの厚さで形成させた。次いて、水素ガスと
水素ガスで希釈した1%のジボランガスを真空容器内に
導入し、p型の非晶質シリコン薄膜を1ooXの厚みて
形成させ、ポリエーテルスルホンフィルム基板上にpl
n型の非晶質シリコンリ9を積層し1;。このようにし
−C′得1こ1)ln型非晶質シリコン′4膜をスパッ
タ装置(こ装着し、西り化錫−醒化インジウム薄膜を1
000人の厚さに堆積さけ、ヘテロフェイス層とした。
最後に、このヘテロフェイス層のうえにパラジウムを1
000人の厚みでくし形に堆積させ、ポリエーテルスル
ホンフィルム基板上にp1nヘテロフェイス型太陽電池
ディバイスを実現した。
000人の厚みでくし形に堆積させ、ポリエーテルスル
ホンフィルム基板上にp1nヘテロフェイス型太陽電池
ディバイスを実現した。
次に比較例について述べる。基板として、厚さ125μ
のポリイミドフィルムを選び、このフィルムを1O−2
Torrの真空下で、150℃の温度で2詩間の乾燥を
行なった。この乾燥したボ1ノイミドフイルムをスパッ
タリング装置に装着し、タングステンをターゲットとし
て用い厚さ1.5μのタングステン薄膜を裏面電極とし
て形成した。
のポリイミドフィルムを選び、このフィルムを1O−2
Torrの真空下で、150℃の温度で2詩間の乾燥を
行なった。この乾燥したボ1ノイミドフイルムをスパッ
タリング装置に装着し、タングステンをターゲットとし
て用い厚さ1.5μのタングステン薄膜を裏面電極とし
て形成した。
非晶質シリコン薄膜は容量結合方式の高周波(13,5
6MHz (グロー放電装置を用(Xで、nカ述の裏
面電極を形成した基板をグロー放電装置のアノード側の
電極の上に緊張下で装着し、8×10−6王orrに排
気しながら300℃にその基板を加熱シタ。ソノ後、N
、ガスを500cc/rain導入し、1.OT’or
rのN2ガス雰囲気r 200 Wの高周波電力を印加
し、基板のイオンボンバードを20分間行ない、基板を
クリーニングした。次に水素ガスで希釈した10%のシ
ランカスと水素ガスで0.1%に希釈したホスフィンガ
スをグロー放電装置内に導入し、0 、8 T orr
のこのガス雰囲気で100Wの高周波電力を印加し、2
00Aのp型の非晶質シリコン薄膜を形成させた。次い
で水素ガスとシランガスで前記と同様にしてp型の非晶
質シリコン薄膜上にi型の非晶質シリコン薄膜を300
0Aの厚みで形成させた。次いで水素ガスで10%のシ
ランガスと、水素ガスで0゜1%に希釈したジボランガ
スをグロー放電装置内に導入し、i型非晶質シリコン薄
膜上に300Aのp型非晶質シリコンrTIWaを形成
させ、ポリイミドフィルム上にpin型の非晶質シリコ
ン薄膜を設けた。このようにして得たpin型非晶質シ
゛リコン薄膜をスパッタ装置に装着し、酸化錫−酸化イ
ンジウム薄膜を1000への厚さに堆積させ、ヘテロフ
ェイス層とした。最後にこのヘテロフェイス層の上に収
集電極としてパラジウムを1000△の厚さにくし形を
二堆積させ、ポリイミドフーrルム基板上にpinへテ
ロフェイス型太陽電池ディバイスを実現した。
6MHz (グロー放電装置を用(Xで、nカ述の裏
面電極を形成した基板をグロー放電装置のアノード側の
電極の上に緊張下で装着し、8×10−6王orrに排
気しながら300℃にその基板を加熱シタ。ソノ後、N
、ガスを500cc/rain導入し、1.OT’or
rのN2ガス雰囲気r 200 Wの高周波電力を印加
し、基板のイオンボンバードを20分間行ない、基板を
クリーニングした。次に水素ガスで希釈した10%のシ
ランカスと水素ガスで0.1%に希釈したホスフィンガ
スをグロー放電装置内に導入し、0 、8 T orr
のこのガス雰囲気で100Wの高周波電力を印加し、2
00Aのp型の非晶質シリコン薄膜を形成させた。次い
で水素ガスとシランガスで前記と同様にしてp型の非晶
質シリコン薄膜上にi型の非晶質シリコン薄膜を300
0Aの厚みで形成させた。次いで水素ガスで10%のシ
ランガスと、水素ガスで0゜1%に希釈したジボランガ
スをグロー放電装置内に導入し、i型非晶質シリコン薄
膜上に300Aのp型非晶質シリコンrTIWaを形成
させ、ポリイミドフィルム上にpin型の非晶質シリコ
ン薄膜を設けた。このようにして得たpin型非晶質シ
゛リコン薄膜をスパッタ装置に装着し、酸化錫−酸化イ
ンジウム薄膜を1000への厚さに堆積させ、ヘテロフ
ェイス層とした。最後にこのヘテロフェイス層の上に収
集電極としてパラジウムを1000△の厚さにくし形を
二堆積させ、ポリイミドフーrルム基板上にpinへテ
ロフェイス型太陽電池ディバイスを実現した。
次にこの発明の実施例と比較例の比較について述べる。
この発明の実施例の太陽電池ディバイスの初期特性およ
び比較例の太陽電池ディバイスの初期特性をΔM−1に
調整したオリエル社製ソーラシミュレータで測定した。
び比較例の太陽電池ディバイスの初期特性をΔM−1に
調整したオリエル社製ソーラシミュレータで測定した。
結果を第1表に示?li、。
(以下余白)
次に特定温度および湿度での比較について述べる。前述
の比較において初期特性を測定した太陽電池を、20℃
、75%RHに調温、m湿した至に30日放置した後に
変換効率を測定した。結果を第2表に示す。
の比較において初期特性を測定した太陽電池を、20℃
、75%RHに調温、m湿した至に30日放置した後に
変換効率を測定した。結果を第2表に示す。
このように、この発明に係るポリエーテルスルホンフィ
ルムを太陽電池基板として用いた場合は、極めて優れた
実用性能を具備する太陽電池が得られることがわかる。
ルムを太陽電池基板として用いた場合は、極めて優れた
実用性能を具備する太陽電池が得られることがわかる。
図はこの発明の太陽電池の製作に用いるクラスタイオン
ビーム装置の基本構成を示す図である。 図において、1はるつぼ、2はノズル、3はガス導入管
、4はイオン化電極、5は加速電極、6は基板である。
ビーム装置の基本構成を示す図である。 図において、1はるつぼ、2はノズル、3はガス導入管
、4はイオン化電極、5は加速電極、6は基板である。
Claims (2)
- (1) 可撓性基板上に非晶質シリコン薄膜を有する太
陽電池において、 基板としてポリエーテルスルホンフィルムを用いること
を特徴とする非晶質シリコン薄膜を有する太陽電池。 - (2) 非晶質シリコン薄膜を形成させる手段として、
クラスタイオンビーム法を用いる特許請求の範囲第1項
記載の太陽電池。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58065928A JPS59189683A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58065928A JPS59189683A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 太陽電池の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59189683A true JPS59189683A (ja) | 1984-10-27 |
| JPH0518269B2 JPH0518269B2 (ja) | 1993-03-11 |
Family
ID=13301110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58065928A Granted JPS59189683A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59189683A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60194582A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 非晶質シリコン光起電力素子の製造法 |
| JPS60195979A (ja) * | 1984-03-17 | 1985-10-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 薄膜太陽電池 |
| JPS61168271A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-29 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 非晶質シリコン太陽電池 |
-
1983
- 1983-04-13 JP JP58065928A patent/JPS59189683A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60194582A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 非晶質シリコン光起電力素子の製造法 |
| JPS60195979A (ja) * | 1984-03-17 | 1985-10-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 薄膜太陽電池 |
| JPS61168271A (ja) * | 1985-01-21 | 1986-07-29 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 非晶質シリコン太陽電池 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518269B2 (ja) | 1993-03-11 |
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