JPS5919623B2 - 質量分析計の試料導入装置 - Google Patents
質量分析計の試料導入装置Info
- Publication number
- JPS5919623B2 JPS5919623B2 JP57111215A JP11121582A JPS5919623B2 JP S5919623 B2 JPS5919623 B2 JP S5919623B2 JP 57111215 A JP57111215 A JP 57111215A JP 11121582 A JP11121582 A JP 11121582A JP S5919623 B2 JPS5919623 B2 JP S5919623B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- mass spectrometer
- sample
- sample introduction
- opening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、呼吸ガス等の試料を分析する質量分析計に
係り、特に試料を流量制限して質量分析装置本体へ導く
ための試料導入装置に関する。
係り、特に試料を流量制限して質量分析装置本体へ導く
ための試料導入装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕質量分析計において
は、一般に試料を採取し導入する試料導入チューブと質
量分析計本体の分析管との間に、分析管内への試料流入
量を制限するバルブ機構を備えた試料導入装置が設置さ
れる。
は、一般に試料を採取し導入する試料導入チューブと質
量分析計本体の分析管との間に、分析管内への試料流入
量を制限するバルブ機構を備えた試料導入装置が設置さ
れる。
このような試料導入装置は、通常、導入される試料（ガ
ス）の粘性流領域や中間流領域に位置し、状態変化の速
い試料に対する応答性や各種試料に対する汎用性にすぐ
れ、さらに分析管内の真空度を低下させない構造である
ことが要求される。これらの要求をほぼ満足するものと
して、第１図に示すような構造の質量分析計の試料導入
装置が既に提案されている（特願昭５１−１．１．１．
５２７号）。図において、１は試料を採取して試料導入
装置へ導入するための試料導入チューブであり、このチ
ューブ１にはサンプリングチャンバと称される第１の容
器２の試料導入口３が接続されている。第１の容器２に
はこれとの間に隔壁４を介して、弁箱としての第２の容
器５が一体に形成されている。第２の容器５には試料導
出口６が設けられ、この試料導出口６は質量分析計本体
Ｔに設けられた分析管内のイオン化室８に接続されてい
る。第１、第２の容器２、５の間の隔壁４には、両容器
２、５を連通するリーク部材としてのキャピラリと称さ
れる細管９が垂直に貫通して設けられている。このキャ
ピラリ９の第１の容器２側開口面（入口側開口面）は隔
壁４の上端面と共に弁座を形成している。そして、第１
の容器２の上端開口部に、上記弁座に対向して上下動可
能な弁体１１を含むバルブ機構１０が取付けられている
。即ち、弁体１１は電磁石１２により上下に動いてキャ
ピラリ９の入口側開口面を開閉して、試料の導入遮断を
行なう。更に、キャピラリ９を通して第１の容器２から
第２の容器５への試料の流量、つまり質量分析計本体□
へ導入される試料の流量が適当な値に制限される。
ス）の粘性流領域や中間流領域に位置し、状態変化の速
い試料に対する応答性や各種試料に対する汎用性にすぐ
れ、さらに分析管内の真空度を低下させない構造である
ことが要求される。これらの要求をほぼ満足するものと
して、第１図に示すような構造の質量分析計の試料導入
装置が既に提案されている（特願昭５１−１．１．１．
５２７号）。図において、１は試料を採取して試料導入
装置へ導入するための試料導入チューブであり、このチ
ューブ１にはサンプリングチャンバと称される第１の容
器２の試料導入口３が接続されている。第１の容器２に
はこれとの間に隔壁４を介して、弁箱としての第２の容
器５が一体に形成されている。第２の容器５には試料導
出口６が設けられ、この試料導出口６は質量分析計本体
Ｔに設けられた分析管内のイオン化室８に接続されてい
る。第１、第２の容器２、５の間の隔壁４には、両容器
２、５を連通するリーク部材としてのキャピラリと称さ
れる細管９が垂直に貫通して設けられている。このキャ
ピラリ９の第１の容器２側開口面（入口側開口面）は隔
壁４の上端面と共に弁座を形成している。そして、第１
の容器２の上端開口部に、上記弁座に対向して上下動可
能な弁体１１を含むバルブ機構１０が取付けられている
。即ち、弁体１１は電磁石１２により上下に動いてキャ
ピラリ９の入口側開口面を開閉して、試料の導入遮断を
行なう。更に、キャピラリ９を通して第１の容器２から
第２の容器５への試料の流量、つまり質量分析計本体□
へ導入される試料の流量が適当な値に制限される。
なお、弁体１１には排気口１３が穿設され、この排気口
１３は弁１４を介して吸引装置１５へ接がつている。
１３は弁１４を介して吸引装置１５へ接がつている。
ところで、質量分析計の分析対象となる試料は常に清浄
であるとは限らず、通常は塵、埃などが含まれ、特に呼
吸ガスでは水蒸気や汚物なども異物として含まれてくる
。
であるとは限らず、通常は塵、埃などが含まれ、特に呼
吸ガスでは水蒸気や汚物なども異物として含まれてくる
。
この場合、リーク部材としてのキヤピラリ９は、内径が
３０〜４０μ程度のガラス管が用いられるため、試料中
に含まれる異物による閉塞を起し易い。こうなると当然
、分析は不可能となるばかりでなく、このキヤピラリ９
の閉塞を放置したまま使用を続けると、それによる影響
が装置各部に波及してしまい、装置全体の交換を余儀な
くされることもある。このようにキヤピラリ９が閉塞し
た場合は、これを速やかに交換すればよい。
３０〜４０μ程度のガラス管が用いられるため、試料中
に含まれる異物による閉塞を起し易い。こうなると当然
、分析は不可能となるばかりでなく、このキヤピラリ９
の閉塞を放置したまま使用を続けると、それによる影響
が装置各部に波及してしまい、装置全体の交換を余儀な
くされることもある。このようにキヤピラリ９が閉塞し
た場合は、これを速やかに交換すればよい。
しかしながら、キヤピラリ９は第１図に示すように試料
導入装置内部に組込まれ、隔壁４に接着剤によつて固定
されているため、キヤピラリ９を新品と交換することは
非常に困難であり、多大の労力と時間を要する。このた
め従来では、ガス導入チユーブ１の先端に異物の侵入を
阻止するフイルタを装着することによりキヤピラリ９の
閉塞を防止していたが、この方法は所期の目的の一つで
ある分析の応答性向上を犠牲にすることになり好ましく
ない。〔発明の目的〕 この発明の目的は、キヤピラリ等のリーク部材の交換を
短時間で容易に行なえるようにした質量分析計の試料導
入装置を提供することである。
導入装置内部に組込まれ、隔壁４に接着剤によつて固定
されているため、キヤピラリ９を新品と交換することは
非常に困難であり、多大の労力と時間を要する。このた
め従来では、ガス導入チユーブ１の先端に異物の侵入を
阻止するフイルタを装着することによりキヤピラリ９の
閉塞を防止していたが、この方法は所期の目的の一つで
ある分析の応答性向上を犠牲にすることになり好ましく
ない。〔発明の目的〕 この発明の目的は、キヤピラリ等のリーク部材の交換を
短時間で容易に行なえるようにした質量分析計の試料導
入装置を提供することである。
〔発明の概要〕この発明は、質量分析計本体へ連通する
第２の容器の第１の容器との隔壁に対向する位置に開口
部を設け、この開口部にリーク部材を支持するとともに
リーク部材の出口側開口面と第２の容器とを連通させる
連通部を有する支持体を着脱自在に、且つ上記開口部を
気密封止するように装着したことを特徴としている。
第２の容器の第１の容器との隔壁に対向する位置に開口
部を設け、この開口部にリーク部材を支持するとともに
リーク部材の出口側開口面と第２の容器とを連通させる
連通部を有する支持体を着脱自在に、且つ上記開口部を
気密封止するように装着したことを特徴としている。
この発明によれば、支持体の着脱操作のみによつてリー
ク部材の交換を速やかに行なうことができる。
ク部材の交換を速やかに行なうことができる。
従つてリーク部材の閉塞に際して、リーク部材の交換に
要するわずかな休止期間を置くのみで分析を継続して行
なうことが可能となり、時間的、経済的な損失が著しく
低減される。また、リーク部材として内径の異なるキヤ
ピラリを種々交換することができるため、装置の特性あ
るいは分析条件等に適合した試料流入量を設定すること
ができ、しかもリーク部材を交換するだけでよいので、
他の諸特性に何ら影響を及ぼすことはない等の利点を有
する。〔発明の実施例〕 第２図はこの発明の一実施例に係る質量分析装置の試料
導入装置の断面図、第３図はその要部を取出して示す斜
視図であり、第．１図と同一あるいは対応する部分には
同一符号を付してある。
要するわずかな休止期間を置くのみで分析を継続して行
なうことが可能となり、時間的、経済的な損失が著しく
低減される。また、リーク部材として内径の異なるキヤ
ピラリを種々交換することができるため、装置の特性あ
るいは分析条件等に適合した試料流入量を設定すること
ができ、しかもリーク部材を交換するだけでよいので、
他の諸特性に何ら影響を及ぼすことはない等の利点を有
する。〔発明の実施例〕 第２図はこの発明の一実施例に係る質量分析装置の試料
導入装置の断面図、第３図はその要部を取出して示す斜
視図であり、第．１図と同一あるいは対応する部分には
同一符号を付してある。
第２図においては、弁箱を兼ねる第２の容器５の第１の
容器２との間の隔壁４に対向する位置に開口部５ａが設
けられており、ここにリーク部材としてのキヤピラリ９
を支持する支持体が装着されている。この支持体はこの
例では第２の容器５の壁にねじによつて嵌合する蓋を兼
ねる第１の支持体２１と、この第１の支持体２１とキヤ
ピラリ９との間に介在する第２の支持体２２とからなつ
ている。そして、キヤピラリ９の中空９ａの出口側開口
面と第２の容器５内部とを連通させるための連通部とし
て、第３図に示すように第２の支持体２２にはキヤピラ
リ９の中空と連通する中空・２２ａが形成され、また第
１の支持体２１には第２の支持体２２の中空２２ａと第
２の容器５内部とを連通させる溝２１ａが形成されてい
る。さらに第１の支持体２１と第２の容器５の外壁との
間、および第２の支持体２２と隔壁４吉の間には、それ
ぞれＯリング２３，２４が挿入され、これによつて第２
の容器５の気密封止を行なつている。このような構成と
すれば、キヤピラリ９に閉塞が生じた場合、第１の支持
体２１を廻して第２の容器５の開口部５ａから取外すこ
とにより、第２の支持体２２とともにキヤピラリ９を外
部に取出すことができるので、容易にキヤピラリを新品
と交換できることになる。なお、この発明は種々変形し
て実施が可能であり、例えば上記実施例で−はリーク部
材を支持する支持体を２分割構造としたが、勿論単一部
品であつてもよく、さらには支持体をリーク部材ど→体
に形成してもよい。
容器２との間の隔壁４に対向する位置に開口部５ａが設
けられており、ここにリーク部材としてのキヤピラリ９
を支持する支持体が装着されている。この支持体はこの
例では第２の容器５の壁にねじによつて嵌合する蓋を兼
ねる第１の支持体２１と、この第１の支持体２１とキヤ
ピラリ９との間に介在する第２の支持体２２とからなつ
ている。そして、キヤピラリ９の中空９ａの出口側開口
面と第２の容器５内部とを連通させるための連通部とし
て、第３図に示すように第２の支持体２２にはキヤピラ
リ９の中空と連通する中空・２２ａが形成され、また第
１の支持体２１には第２の支持体２２の中空２２ａと第
２の容器５内部とを連通させる溝２１ａが形成されてい
る。さらに第１の支持体２１と第２の容器５の外壁との
間、および第２の支持体２２と隔壁４吉の間には、それ
ぞれＯリング２３，２４が挿入され、これによつて第２
の容器５の気密封止を行なつている。このような構成と
すれば、キヤピラリ９に閉塞が生じた場合、第１の支持
体２１を廻して第２の容器５の開口部５ａから取外すこ
とにより、第２の支持体２２とともにキヤピラリ９を外
部に取出すことができるので、容易にキヤピラリを新品
と交換できることになる。なお、この発明は種々変形し
て実施が可能であり、例えば上記実施例で−はリーク部
材を支持する支持体を２分割構造としたが、勿論単一部
品であつてもよく、さらには支持体をリーク部材ど→体
に形成してもよい。
また、リーク部材としてキヤピラリに代えて多孔質材料
等の他の構造のものを用いた場合にも、この発明を同様
に適用できることは勿論である。
等の他の構造のものを用いた場合にも、この発明を同様
に適用できることは勿論である。
第１図は従来の質量分析計の試料導入装置の断面図、第
２図はこの発明の一実施例に係る質量分析計の試料導入
装置の断面図、第３図は第２図の要部を取出して示す斜
視図である。 １・・・・・・試料導入チユーブ、２・・・・・・第１
の容器（サンプリングチヤンバ）、３・・・・・・試料
導入口、４・・・・・・隔壁、５・・・・・・第２の容
器（弁箱）、６・・・・・・試料導出口、７・・・・・
・質量分析計本体、８・・・・・・イオン化室、９・・
・・・・キヤピラリ（リーク部材）、１０・・・・・・
バルブ機構、２１，２２・・・・・・支持体、２１ａ，
２２ａ・・・・・・連通部、２３，２４・・・・・・０
リング。
２図はこの発明の一実施例に係る質量分析計の試料導入
装置の断面図、第３図は第２図の要部を取出して示す斜
視図である。 １・・・・・・試料導入チユーブ、２・・・・・・第１
の容器（サンプリングチヤンバ）、３・・・・・・試料
導入口、４・・・・・・隔壁、５・・・・・・第２の容
器（弁箱）、６・・・・・・試料導出口、７・・・・・
・質量分析計本体、８・・・・・・イオン化室、９・・
・・・・キヤピラリ（リーク部材）、１０・・・・・・
バルブ機構、２１，２２・・・・・・支持体、２１ａ，
２２ａ・・・・・・連通部、２３，２４・・・・・・０
リング。
Claims (1)
- １ 試料導入口を有する第１の容器と、この第１の容器
と隔壁を介して一体に形成され、質量分析計本体へ連通
する試料導出口を有する第２の容器と、これら第１、第
２の容器を連通させるように前記隔壁を貫通して設けら
れるリーク部材と、このリーク部材の第１の容器側にあ
る入口側開口面を開閉して質量分析計本体への試料の流
入を制御するバルブ機構とを備えた質量分析計の試料導
入装置において、第２の容器の前記隔壁に対向する位置
に開口部を設け、この開口部に前記リーク部材を支持す
るとともに、リーク部材の出口側開口面と第２の容器と
を連通させる連通部を有する支持体を着脱自在に、且つ
上記開口部を気密封止するように装着したことを特徴と
する質量分析計の試料導入装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111215A JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111215A JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59845A JPS59845A (ja) | 1984-01-06 |
| JPS5919623B2 true JPS5919623B2 (ja) | 1984-05-08 |
Family
ID=14555437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111215A Expired JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919623B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5495108A (en) * | 1994-07-11 | 1996-02-27 | Hewlett-Packard Company | Orthogonal ion sampling for electrospray LC/MS |
| US5750988A (en) * | 1994-07-11 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry |
| US5736741A (en) * | 1996-07-30 | 1998-04-07 | Hewlett Packard Company | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary |
| CN102564805B (zh) | 2010-12-31 | 2014-05-28 | 同方威视技术股份有限公司 | 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57111215A patent/JPS5919623B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59845A (ja) | 1984-01-06 |
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