JPS59845A - 質量分析計の試料導入装置 - Google Patents
質量分析計の試料導入装置Info
- Publication number
- JPS59845A JPS59845A JP57111215A JP11121582A JPS59845A JP S59845 A JPS59845 A JP S59845A JP 57111215 A JP57111215 A JP 57111215A JP 11121582 A JP11121582 A JP 11121582A JP S59845 A JPS59845 A JP S59845A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vessel
- container
- sample
- capillary
- supporting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、呼吸ガス等の試料を分析する質量分析計に
係シ、特に試料を流量制限して實腋分析装置本体へ導く
ための試料導入装置に関する。
係シ、特に試料を流量制限して實腋分析装置本体へ導く
ための試料導入装置に関する。
質量分析計においては、一般に試料を採取し導入する試
料導入チューブと質量分析計本体の分析管との間に、分
析管内への試料流入量を制限するバルブ機構を備えた試
料導入装置が設置される。このような試料導入装置は、
通常、導入される試料（ガス）の粘性流領域や中間流鎖
酸に位置し、状態変化の速い試料に対する応答性や／Ｉ
ｒ種試料に対する汎用性にすぐれ、さらに分析管内の真
空度を低下させ々い構造であることが要求される。
料導入チューブと質量分析計本体の分析管との間に、分
析管内への試料流入量を制限するバルブ機構を備えた試
料導入装置が設置される。このような試料導入装置は、
通常、導入される試料（ガス）の粘性流領域や中間流鎖
酸に位置し、状態変化の速い試料に対する応答性や／Ｉ
ｒ種試料に対する汎用性にすぐれ、さらに分析管内の真
空度を低下させ々い構造であることが要求される。
これらの要求をほぼ満足するものとして、第１図に示す
ような構造の質量分析計の試料導入装置が既に提案され
ている（特願昭５１−１．１．１．５２７号）。図にお
いて、１は試料を採取して試料導入装置へ導入するだめ
の試料導入チューブであり、このチューブ１にはサンプ
リングチャンバと称される第１の容器２の試料導入１」
３が接続されている。第１の容器２にはこれとの間に隔
壁４を弁して、弁ねとしての第２の容器５が一体に形成
されている。第２の容器５には試料２，１ｆ出１」６が
設けられ、この試料導出Ｌｌ ６は賀、８１４分析計本
体７に設けられた分析管内のイオン化室８に接続されて
いる。
ような構造の質量分析計の試料導入装置が既に提案され
ている（特願昭５１−１．１．１．５２７号）。図にお
いて、１は試料を採取して試料導入装置へ導入するだめ
の試料導入チューブであり、このチューブ１にはサンプ
リングチャンバと称される第１の容器２の試料導入１」
３が接続されている。第１の容器２にはこれとの間に隔
壁４を弁して、弁ねとしての第２の容器５が一体に形成
されている。第２の容器５には試料２，１ｆ出１」６が
設けられ、この試料導出Ｌｌ ６は賀、８１４分析計本
体７に設けられた分析管内のイオン化室８に接続されて
いる。
第１ 、ｉｌ”、 ２の容器ｚ、５）ｆの間の隔壁４に
は、ｌＩＩη谷器２容器を連通ずるリーク部材としての
キャピラリと称される細管９が垂直に貫通して設けられ
ている。このキャピラリ９の第１の容器２１１１開Ｉ」
Ｆｈｉ （入口側開口面）は隔壁４の上端面と共に弁１
４１を形成している。そして、第１の容器２の上端開口
部に、上記弁座に対向して上下動ｉ’ｉＪ能な弁体Ｉノ
を含むバルブ機構１ｏが取付けられている。即ち、弁体
ＩＩは電磁石１２によシ上下に動いてキャピラリ９の入
口側開口面を開閉して、試料の導入遮断を行なう。
は、ｌＩＩη谷器２容器を連通ずるリーク部材としての
キャピラリと称される細管９が垂直に貫通して設けられ
ている。このキャピラリ９の第１の容器２１１１開Ｉ」
Ｆｈｉ （入口側開口面）は隔壁４の上端面と共に弁１
４１を形成している。そして、第１の容器２の上端開口
部に、上記弁座に対向して上下動ｉ’ｉＪ能な弁体Ｉノ
を含むバルブ機構１ｏが取付けられている。即ち、弁体
ＩＩは電磁石１２によシ上下に動いてキャピラリ９の入
口側開口面を開閉して、試料の導入遮断を行なう。
更に、キャピラリ９を通して第１の容器２から第２の容
器５への試料の流量、つまり質Ｍ分析計本体７へ導入さ
れる試料の流量が適当な値に制限される。
器５への試料の流量、つまり質Ｍ分析計本体７へ導入さ
れる試料の流量が適当な値に制限される。
なお、弁体１１には排気口１３が穿設され、この排気口
１３は弁１４を介して吸引装置１５へ接がっている。
１３は弁１４を介して吸引装置１５へ接がっている。
ところで、質量分析計の分析対象となる試料は常に清浄
であるとは限らず、通常は塵、埃などが含捷れ、特に呼
吸ガスでは水蒸気や汚物なども異物として含まれてくる
。この場合、リーク部材としてのキャピラリ９は、内径
が３０〜４０μ程度のガラス管が用いられるため、試料
中に含まれる異物による閉塞を起し易い。こうなると当
然、分析は不可能となるばかりでなく、このキャピラリ
９の閉塞を放置したまま使用を続けると、それによる影
響が装置谷部に波及してしまい、装置全体の交換を余儀
なくされることもある。
であるとは限らず、通常は塵、埃などが含捷れ、特に呼
吸ガスでは水蒸気や汚物なども異物として含まれてくる
。この場合、リーク部材としてのキャピラリ９は、内径
が３０〜４０μ程度のガラス管が用いられるため、試料
中に含まれる異物による閉塞を起し易い。こうなると当
然、分析は不可能となるばかりでなく、このキャピラリ
９の閉塞を放置したまま使用を続けると、それによる影
響が装置谷部に波及してしまい、装置全体の交換を余儀
なくされることもある。
このようにキャピラリ９が閉塞した場合は、これを速や
かに交換すればよい。しかしながら、キャピラリ９は第
１図に示すように試料導入装置内部に組込まれ、隔壁４
に、接着剤によって固定されているため、キャピラリ９
を新品と交換することは非常に困難であシ、多大の労力
と時間を要する。このため従来では、ガス導入チューブ
１の先端に異物の侵入を阻止するフィルタを装着するこ
とによシキャビラリ９の閉塞を防止していたが、この方
法は所期の目的の一つである分析の応答性向上を犠牲に
することになり好捷しくない。
かに交換すればよい。しかしながら、キャピラリ９は第
１図に示すように試料導入装置内部に組込まれ、隔壁４
に、接着剤によって固定されているため、キャピラリ９
を新品と交換することは非常に困難であシ、多大の労力
と時間を要する。このため従来では、ガス導入チューブ
１の先端に異物の侵入を阻止するフィルタを装着するこ
とによシキャビラリ９の閉塞を防止していたが、この方
法は所期の目的の一つである分析の応答性向上を犠牲に
することになり好捷しくない。
この発明の目的は、キャピラリ等のリーク部材の交換を
短時間で容易に行なえるようにした′に線分析Ｂ［の試
料導入装置を提供することである。
短時間で容易に行なえるようにした′に線分析Ｂ［の試
料導入装置を提供することである。
この発明は、質量分析計本体へ連通する第２の容器の第
１の容器との隔壁に対向する位置に開１」部を設け、こ
の開口部にリーク部材を支持するとともにリーク部材の
出口側開口面と第２の容器とを連通させる連通部を有す
る支持体を着脱自在に、且つ上記開口部を気密封止する
ように装着したことを特徴としている。
１の容器との隔壁に対向する位置に開１」部を設け、こ
の開口部にリーク部材を支持するとともにリーク部材の
出口側開口面と第２の容器とを連通させる連通部を有す
る支持体を着脱自在に、且つ上記開口部を気密封止する
ように装着したことを特徴としている。
この発明によれば、支持体の着脱操作のみによってリー
ク部材の交換を速やかに行なうことができる。従ってリ
ーク部材の閉塞に際して、リーク部材の交換に要するわ
ずかな休止期間を置くのみで分析を継続して行なうこと
が可能となり、時間的、経済的な損失が著しく低減され
る。また、リーク部材として内径の異なるキャビ２す゛
を棟々変換することができるため、装置の特性あるいは
分析条件等に適合した試料流入量を設定することができ
、しかもリーク部材を交換するだけでよいので、池の諸
物件に何ら影響を及ぼすことはない等の利点を有する。
ク部材の交換を速やかに行なうことができる。従ってリ
ーク部材の閉塞に際して、リーク部材の交換に要するわ
ずかな休止期間を置くのみで分析を継続して行なうこと
が可能となり、時間的、経済的な損失が著しく低減され
る。また、リーク部材として内径の異なるキャビ２す゛
を棟々変換することができるため、装置の特性あるいは
分析条件等に適合した試料流入量を設定することができ
、しかもリーク部材を交換するだけでよいので、池の諸
物件に何ら影響を及ぼすことはない等の利点を有する。
第２図はこの発明の一実施例に係る質量分析装置の試料
導入装置の断面図、第３図はその沙部を取出して示す斜
視図であシ、第１図と同一あるいは対応する部分には同
一符号を付しである。
導入装置の断面図、第３図はその沙部を取出して示す斜
視図であシ、第１図と同一あるいは対応する部分には同
一符号を付しである。
第２図においては、弁箱を兼ねる第２の容器５の第１の
容器２との間の隔壁４に対向する位置に１ｍ ｌ」部５
ａが設けられておシ、ここにリーク部材としてのキャピ
ラリ９を支持する支持体が装着されている。この支持体
はこの例では第２の容器５の壁にねじによって嵌合する
蓋を兼ねる第１の支１寸体２１と、この第１の支持体２
１とキャピラリ９との間に介在する第２の支持体２２と
からなっている。そして、キャピラリ９の中空９ａの出
口側開口面と第２の容器５内部とを連通させるための連
通部として、第３図に示すように第２の支持体２２には
キャピラリ９の中空と連通ずる中空２２ａが形成され、
虜だ第１の支持体２１には第２の支持体２２の中空２２
ａと第２の容器５内部とを連通させる（４２Ｚ ａが形
成されている。さらに第１の支持体２１と第２の容器５
の外壁との間、および第２の支持体２２と隔壁４との間
には、それぞれ０リングｚ３．２４が挿入され、これに
よって第２の容器５の気密封止を行なっている。
容器２との間の隔壁４に対向する位置に１ｍ ｌ」部５
ａが設けられておシ、ここにリーク部材としてのキャピ
ラリ９を支持する支持体が装着されている。この支持体
はこの例では第２の容器５の壁にねじによって嵌合する
蓋を兼ねる第１の支１寸体２１と、この第１の支持体２
１とキャピラリ９との間に介在する第２の支持体２２と
からなっている。そして、キャピラリ９の中空９ａの出
口側開口面と第２の容器５内部とを連通させるための連
通部として、第３図に示すように第２の支持体２２には
キャピラリ９の中空と連通ずる中空２２ａが形成され、
虜だ第１の支持体２１には第２の支持体２２の中空２２
ａと第２の容器５内部とを連通させる（４２Ｚ ａが形
成されている。さらに第１の支持体２１と第２の容器５
の外壁との間、および第２の支持体２２と隔壁４との間
には、それぞれ０リングｚ３．２４が挿入され、これに
よって第２の容器５の気密封止を行なっている。
このような構成とすれば、キャピラリ９に閉塞が生じた
場合、第１の支持体２１を蛎して第２の容器５の開口部
５ａから取外すことにより、第２の支持体２２とともに
キャピラリ９を外部に取出すことができるので、容易に
キャピラリを新品と父換できることになる。
場合、第１の支持体２１を蛎して第２の容器５の開口部
５ａから取外すことにより、第２の支持体２２とともに
キャピラリ９を外部に取出すことができるので、容易に
キャピラリを新品と父換できることになる。
なお、この発明は種々変形して実施が可能−Ｃあシ、例
えば上記実施例ではリーク■ＩＳ祠を支持する支持体を
２分割構造としだが、勿論単一部品であってもよく、さ
らには支持体をリーク部材と一体に形成してもよい。捷
た、リーク部組としてキャピラリに代えて多孔質材料等
の他の構造のものを用いた場合にも、この発明を同様に
適用できることは勿論である。
えば上記実施例ではリーク■ＩＳ祠を支持する支持体を
２分割構造としだが、勿論単一部品であってもよく、さ
らには支持体をリーク部材と一体に形成してもよい。捷
た、リーク部組としてキャピラリに代えて多孔質材料等
の他の構造のものを用いた場合にも、この発明を同様に
適用できることは勿論である。
第１図は従来の′直置分析計の試料導入装置の断面図、
第２図はこの発明の一実施例に係る質ｉ分析計の試料導
入装置の断面図、第３図は第２図の要部を取出して示す
が［視図である。 １・・・試料導入チューブ、２・・・第１の容器（サン
プリングチャンバ）、３・・・試料導入口、４・・・隔
壁、５・・・第２の容器（弁箱）、６・・・試料導出口
、７・・・實址分析計本体、８・・・イオン化室、９・
・・キャピラリ（リーク部材）、１ｏ・・・パルプ機構
、２１．２２・・・支持体、２１ａ、２２ａ・・・連通
部、２３．２４・・・０リング。
第２図はこの発明の一実施例に係る質ｉ分析計の試料導
入装置の断面図、第３図は第２図の要部を取出して示す
が［視図である。 １・・・試料導入チューブ、２・・・第１の容器（サン
プリングチャンバ）、３・・・試料導入口、４・・・隔
壁、５・・・第２の容器（弁箱）、６・・・試料導出口
、７・・・實址分析計本体、８・・・イオン化室、９・
・・キャピラリ（リーク部材）、１ｏ・・・パルプ機構
、２１．２２・・・支持体、２１ａ、２２ａ・・・連通
部、２３．２４・・・０リング。
Claims (1)
- 試料導入口を有する第１の容器と、この第１の容器と隔
壁を介して一体に形成され、買置分析１本体へ連通する
試料導出口を有する第２の容器と、これら第１、第２の
容器を連通させるように前記隔壁を貫通して設けられる
リーク部材と、このリーク部材の第１の容器側にある入
口側開口面を開閉して質量分析計本体への試料の流入を
制御するバルブ機構とを備えた質量分析計の試料導入装
置において、第２の容器の前記隔壁に対向する位置に開
口５ｉｔ−設け、この開口部に前記リーク部材を支持す
るとともに、リーク部材の出口側開口面と第２の容器と
を連通させる連通部を有する支持体を着脱自在に、且つ
上記開口部を気密封止するように装着したことを特徴と
する質量分析針の試料導入装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111215A JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111215A JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59845A true JPS59845A (ja) | 1984-01-06 |
| JPS5919623B2 JPS5919623B2 (ja) | 1984-05-08 |
Family
ID=14555437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111215A Expired JPS5919623B2 (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 質量分析計の試料導入装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919623B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5736741A (en) * | 1996-07-30 | 1998-04-07 | Hewlett Packard Company | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary |
| US5750988A (en) * | 1994-07-11 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry |
| USRE36892E (en) * | 1994-07-11 | 2000-10-03 | Agilent Technologies | Orthogonal ion sampling for electrospray .[.LC/MS.]. mass spectrometry |
| WO2012088817A1 (zh) * | 2010-12-31 | 2012-07-05 | 同方威视技术股份有限公司 | 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 |
| US8278627B2 (en) | 2010-12-31 | 2012-10-02 | Nuctech Company Limited | Sample feeding device for trace detector and trace detector with sample feeding device |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57111215A patent/JPS5919623B2/ja not_active Expired
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5750988A (en) * | 1994-07-11 | 1998-05-12 | Hewlett-Packard Company | Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry |
| USRE36892E (en) * | 1994-07-11 | 2000-10-03 | Agilent Technologies | Orthogonal ion sampling for electrospray .[.LC/MS.]. mass spectrometry |
| US5736741A (en) * | 1996-07-30 | 1998-04-07 | Hewlett Packard Company | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary |
| WO2012088817A1 (zh) * | 2010-12-31 | 2012-07-05 | 同方威视技术股份有限公司 | 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 |
| CN102564805A (zh) * | 2010-12-31 | 2012-07-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 |
| US8278627B2 (en) | 2010-12-31 | 2012-10-02 | Nuctech Company Limited | Sample feeding device for trace detector and trace detector with sample feeding device |
| CN103698386A (zh) * | 2010-12-31 | 2014-04-02 | 同方威视技术股份有限公司 | 用于痕量探测仪的进样装置以及具有该进样装置的痕量探测仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5919623B2 (ja) | 1984-05-08 |
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