JPS59200965A - 空間フイルタリングによる粒子速度計測装置 - Google Patents
空間フイルタリングによる粒子速度計測装置Info
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- JPS59200965A JPS59200965A JP7597583A JP7597583A JPS59200965A JP S59200965 A JPS59200965 A JP S59200965A JP 7597583 A JP7597583 A JP 7597583A JP 7597583 A JP7597583 A JP 7597583A JP S59200965 A JPS59200965 A JP S59200965A
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- optical fibers
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P5/00—Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft
- G01P5/18—Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft by measuring the time taken to traverse a fixed distance
- G01P5/20—Measuring speed of fluids, e.g. of air stream; Measuring speed of bodies relative to fluids, e.g. of ship, of aircraft by measuring the time taken to traverse a fixed distance using particles entrained by a fluid stream
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、石炭ガス化炉、石炭ミル及びセメントプラン
ト等において粉粒体の局所速度計測に用いられる空間フ
ィルタリングによる粒子速度計測装置に関する。
ト等において粉粒体の局所速度計測に用いられる空間フ
ィルタリングによる粒子速度計測装置に関する。
従来、空間フィルタリングによる粒子速度計測装置は、
第１図に示すように構成されている。
第１図に示すように構成されている。
即ち、第１図において、０１は、測定対象の粒子群、０
２は、光フアイバプローブで、後述の照明用光ファイバ
及び受光用光ファイバを固着している。０３乃至ｏｚｏ
ｒ６、第１乃至第８の照明用光ファイバで、後述のレー
ザ装置からレーザ光を受けて、粉粒体θノを照明する。
２は、光フアイバプローブで、後述の照明用光ファイバ
及び受光用光ファイバを固着している。０３乃至ｏｚｏ
ｒ６、第１乃至第８の照明用光ファイバで、後述のレー
ザ装置からレーザ光を受けて、粉粒体θノを照明する。
０１１乃至０１Ｂは、第１乃至第８の受光用光ファイバ
で、粉粒体θノからの反射光を受光して、後述の受光素
子へ伝送する。θ１９はレーザ装置でレーザ光を発生す
る。０２０．０２１はそれぞれ第１及び第２の受光素子
で、反射光の強度に比例した電圧全発生し、その出力電
圧を後述の差動増幅器に入力する。０２２は、差動増幅
器で、２つの入力電圧信号の差に比例した電圧を発生す
る。そして、その出力電圧は後述の周波数分析器に入力
される。０２３は、周波数分析器で、入力さｈた電圧信
号の周波数スペクトラムを解析処理して、その結果を出
力する。
で、粉粒体θノからの反射光を受光して、後述の受光素
子へ伝送する。θ１９はレーザ装置でレーザ光を発生す
る。０２０．０２１はそれぞれ第１及び第２の受光素子
で、反射光の強度に比例した電圧全発生し、その出力電
圧を後述の差動増幅器に入力する。０２２は、差動増幅
器で、２つの入力電圧信号の差に比例した電圧を発生す
る。そして、その出力電圧は後述の周波数分析器に入力
される。０２３は、周波数分析器で、入力さｈた電圧信
号の周波数スペクトラムを解析処理して、その結果を出
力する。
第１図の装置において、レーザ装置０１９で発生された
レーザ光を照明用光ファイバ群ｏ３乃至０１０で伝送さ
せて、測定対象の粉粒体０１に照射させる。粉粒体０１
からの反射光の一部分は、第１乃至第８の受光用光フア
イバ０１１乃至０１８に入射する。そして、第１゜第３
．第５．及び第７の受光用光ファイバ０１１゜０１．９
、０１５ 、０１７を伝送された反射光は第１の受光
素子０２０に入射する。また、第２゜第４．第６及び第
８の受光用光ファイバθ１２゜０１４．０１６及び０１
８を伝送された反射光は、第２の受光素子０２１に入射
する。
レーザ光を照明用光ファイバ群ｏ３乃至０１０で伝送さ
せて、測定対象の粉粒体０１に照射させる。粉粒体０１
からの反射光の一部分は、第１乃至第８の受光用光フア
イバ０１１乃至０１８に入射する。そして、第１゜第３
．第５．及び第７の受光用光ファイバ０１１゜０１．９
、０１５ 、０１７を伝送された反射光は第１の受光
素子０２０に入射する。また、第２゜第４．第６及び第
８の受光用光ファイバθ１２゜０１４．０１６及び０１
８を伝送された反射光は、第２の受光素子０２１に入射
する。
上記第１及び第２の受光素子６２０，０２１に入射した
反射光ｔよその光の強さに比例した電圧信号となって、
差動増幅器０２２に入力される。上記差動増幅器０２２
は、２つの入力電圧信号すなわち、第１の受光素子０２
０の出力電圧ｘ １（ｔ）と第２の受光素子０２ノの出
力電圧ｘ ｚ （ｔ）の差［ｘｌ（ｔ） ’ ｘｌｌ
（ｔ） ］に比例した電圧ｘ （ｔ）を発生し、周波数
分析器０２３に出力する。上記周波数分析器０２３はそ
の入力信号ｘ （ｔ）の周波数スペクトラムを解析して
その結果を出力する。その出力結果より、卓越したピー
クの周波数ｆＰが検知される。
反射光ｔよその光の強さに比例した電圧信号となって、
差動増幅器０２２に入力される。上記差動増幅器０２２
は、２つの入力電圧信号すなわち、第１の受光素子０２
０の出力電圧ｘ １（ｔ）と第２の受光素子０２ノの出
力電圧ｘ ｚ （ｔ）の差［ｘｌ（ｔ） ’ ｘｌｌ
（ｔ） ］に比例した電圧ｘ （ｔ）を発生し、周波数
分析器０２３に出力する。上記周波数分析器０２３はそ
の入力信号ｘ （ｔ）の周波数スペクトラムを解析して
その結果を出力する。その出力結果より、卓越したピー
クの周波数ｆＰが検知される。
ところで上記周波数ｆ、が求められると上記受光用光フ
ァイバ群０１１乃至０１Ｂの間隔ｄとの関係より、所要
の粉粒体の速度Ｖは Ｖ ＝ ２ ｄ／Ｐ ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１）で求めら
れる。
ァイバ群０１１乃至０１Ｂの間隔ｄとの関係より、所要
の粉粒体の速度Ｖは Ｖ ＝ ２ ｄ／Ｐ ・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１）で求めら
れる。
上記のようにして、従来の装置では粒子速度を比較的簡
単に測定できるが、以下に述べるような欠点を有してい
る。
単に測定できるが、以下に述べるような欠点を有してい
る。
従来装置で用いられている光フアイバプローブの基本構
造は、第２図（ａ）（第、１図のＸ−Ｘ矢視図）に示す
ように、照明用光ファイバ（・印）と受光用光ファイバ
（Ｏ印）が−列に直線状に配ｖＩ゛されている。このた
め、測定対象の粒子θノがその列方向に対し、斜め方向
へ移動する場合には、その粒子の反射光を受光できる受
光用光ファイバは、数本に限定される。その為、受光用
光ファイバが差動増幅経由で出力する粒子移動に基づく
光強度変化信号は、正弦波波形の半周期あるいは１周期
程度に相当するものとなる。そのような信号を周波数分
析器０２３で解析すると、第２図（ｂ）に示すように、
卓越したピークの斤いスペクトラムとなる。
造は、第２図（ａ）（第、１図のＸ−Ｘ矢視図）に示す
ように、照明用光ファイバ（・印）と受光用光ファイバ
（Ｏ印）が−列に直線状に配ｖＩ゛されている。このた
め、測定対象の粒子θノがその列方向に対し、斜め方向
へ移動する場合には、その粒子の反射光を受光できる受
光用光ファイバは、数本に限定される。その為、受光用
光ファイバが差動増幅経由で出力する粒子移動に基づく
光強度変化信号は、正弦波波形の半周期あるいは１周期
程度に相当するものとなる。そのような信号を周波数分
析器０２３で解析すると、第２図（ｂ）に示すように、
卓越したピークの斤いスペクトラムとなる。
それ故、従来装置では、測定対象粒子θノの移動方向が
光フアイバプローブθ２の列方向に合致しない場合には
、粒子速度を求めることかできない。したがって、粒子
の移動方向が時間的に変化する測定対象、例えば石炭ガ
ス化炉、セメントプラント及び石炭ミル等の性能向上及
び開発実験における固気混相流挙動把握のための粉粒体
の局所速度計測には適用できないという欠点があった。
光フアイバプローブθ２の列方向に合致しない場合には
、粒子速度を求めることかできない。したがって、粒子
の移動方向が時間的に変化する測定対象、例えば石炭ガ
ス化炉、セメントプラント及び石炭ミル等の性能向上及
び開発実験における固気混相流挙動把握のための粉粒体
の局所速度計測には適用できないという欠点があった。
本発明は上ｇ７の事情に鑑みてなされたもので、その目
的は、複数幅の照明用光ファイバと受光用光シアイパの
２列分を一組として、多数の組を相隣り合わせて設置し
た構造のプローブを用いることにより、粒子の移動方向
が時間的に変化する場合でも、粉粒体の局所速度計測を
確実に行なうことができる空間フィルタリングによる粒
子速度計測装置を提供することにある。
的は、複数幅の照明用光ファイバと受光用光シアイパの
２列分を一組として、多数の組を相隣り合わせて設置し
た構造のプローブを用いることにより、粒子の移動方向
が時間的に変化する場合でも、粉粒体の局所速度計測を
確実に行なうことができる空間フィルタリングによる粒
子速度計測装置を提供することにある。
以上図面を参照して本発明の一実施例について説明する
。第３図および第４図（第３図のＸ−Ｘ矢視図）は−夾
施例に係る粒子速度計測装置の構成を示すものである。
。第３図および第４図（第３図のＸ−Ｘ矢視図）は−夾
施例に係る粒子速度計測装置の構成を示すものである。
第３図において、７３は光フアイバプローブ筒体で、光
フアイバ１乃至７２を固着している。光フアイバプロー
ブ筒体７３は、第４図に示すようなイガ造からなり、こ
こで光ファイバ１〜８は、照明用光ファイバで、これら
を一式として、第１の照明用光ファイバ束とする。さら
に、光ファイノぐ１７〜２４は、照明用光ファイバで、
これらを一式として、第２の照明用光ファイバ束とする
。光ファイバ３３〜４０は照明用光ファイバで、これら
を一式として、第３の照明用光ファイバ束とする。光フ
ァイバ４９〜５６は照明用光ファイバで、これらを一式
として、第４の照明用光ファイバ束とする。光ファイバ
６５〜７２は照明用光ファイバで、これらを一式として
、第５の照明用光ファイバ束とする。
フアイバ１乃至７２を固着している。光フアイバプロー
ブ筒体７３は、第４図に示すようなイガ造からなり、こ
こで光ファイバ１〜８は、照明用光ファイバで、これら
を一式として、第１の照明用光ファイバ束とする。さら
に、光ファイノぐ１７〜２４は、照明用光ファイバで、
これらを一式として、第２の照明用光ファイバ束とする
。光ファイバ３３〜４０は照明用光ファイバで、これら
を一式として、第３の照明用光ファイバ束とする。光フ
ァイバ４９〜５６は照明用光ファイバで、これらを一式
として、第４の照明用光ファイバ束とする。光ファイバ
６５〜７２は照明用光ファイバで、これらを一式として
、第５の照明用光ファイバ束とする。
光ファイバ９，１１．１３，１５，２５゜２７．２９，
３１，４１，４３，４５，４７゜５７．５９．６１及び
６３は受光用光ファイバで、これらを一式として、第１
の受光用光ファイバとする。
３１，４１，４３，４５，４７゜５７．５９．６１及び
６３は受光用光ファイバで、これらを一式として、第１
の受光用光ファイバとする。
また光ファイバノ０，１２，１４，１６゜２６．２Ｂ、
３０，３２，４２，４４，４６゜４８．５Ｂ、６０．６
２及び６４は受光用光ファイバで、これらを一式として
、第２の受光用光ファイバとする。
３０，３２，４２，４４，４６゜４８．５Ｂ、６０．６
２及び６４は受光用光ファイバで、これらを一式として
、第２の受光用光ファイバとする。
次に、第３図において、７４は、第１の照明用光ファイ
バ束で、上記照明用光フアイバ１乃至８から成る。７５
は、第２の照明用光ファイバ束で、上記照明用光フアイ
バ１７乃至２４から成る。７６は、第３の照明用光ファ
イバ束で、上記照明用光フアイバ３３乃至４０から成る
。
バ束で、上記照明用光フアイバ１乃至８から成る。７５
は、第２の照明用光ファイバ束で、上記照明用光フアイ
バ１７乃至２４から成る。７６は、第３の照明用光ファ
イバ束で、上記照明用光フアイバ３３乃至４０から成る
。
７７は、第４の照明用光ファイバ束で、上記照明用光フ
アイバ４９乃至５６から成る。７８は、第５の照明用光
ファイバ束で、上記照明用光フアイバ６５乃至７２から
成る。７９は、第１の受光用光ファイバ束で、上記受光
用光ファイバ９．１１．１３．１５，２５，２７，２９
゜３１．４１．４３．４５，４７，５７．５９゜６１、
及び６３から成る。８０は、第２の受光用光ファイバ束
で、上記受光用光ファイバ１０゜１２．１４，１６，２
６．２ＦＩ、３０，３２゜４２．４４．４６．４８．５
Ｂ、６０，６２゜及び６４から成る。８ノは、レーザ装
置でレーザ光を発生する。８２及び８３はそれぞれ第１
及び第２の受光素子で、それぞれ、入射光の強さに比例
した電圧を発生し、その出力信号を後述の差動増幅器へ
送信する。８４は、差動増幅器で、２つの入力電圧信号
の差に比例した電圧を発生する。そして、その出力電圧
信号は後述の周波数分析器に入力される。８５は、周波
数分析器で、入力された電圧信号の周波数ス４クトラム
を解析処理して、その結果を出力する。
アイバ４９乃至５６から成る。７８は、第５の照明用光
ファイバ束で、上記照明用光フアイバ６５乃至７２から
成る。７９は、第１の受光用光ファイバ束で、上記受光
用光ファイバ９．１１．１３．１５，２５，２７，２９
゜３１．４１．４３．４５，４７，５７．５９゜６１、
及び６３から成る。８０は、第２の受光用光ファイバ束
で、上記受光用光ファイバ１０゜１２．１４，１６，２
６．２ＦＩ、３０，３２゜４２．４４．４６．４８．５
Ｂ、６０，６２゜及び６４から成る。８ノは、レーザ装
置でレーザ光を発生する。８２及び８３はそれぞれ第１
及び第２の受光素子で、それぞれ、入射光の強さに比例
した電圧を発生し、その出力信号を後述の差動増幅器へ
送信する。８４は、差動増幅器で、２つの入力電圧信号
の差に比例した電圧を発生する。そして、その出力電圧
信号は後述の周波数分析器に入力される。８５は、周波
数分析器で、入力された電圧信号の周波数ス４クトラム
を解析処理して、その結果を出力する。
８６は、測定対象の粒子群である。
上記のような構成の装置において、その動作を説明する
。卯：３図において、レーザ装置８ノで発生されたレー
ザ光を、第１乃至第５の照明用光ファイバ束７４ 、７
５，７６ 、７７及び７８で、測定対象の粒子群８６に
照明させる。この場合、第１．第２．第３．第４及び第
５の照明用光ファイバ束は、それぞれ、第４図図示の光
ファイバ１〜８．１７〜２４．３３〜４０゜４９〜５６
及び６５〜７２から構成されているので、粒子群８６を
層状の照明光として照明する。
。卯：３図において、レーザ装置８ノで発生されたレー
ザ光を、第１乃至第５の照明用光ファイバ束７４ 、７
５，７６ 、７７及び７８で、測定対象の粒子群８６に
照明させる。この場合、第１．第２．第３．第４及び第
５の照明用光ファイバ束は、それぞれ、第４図図示の光
ファイバ１〜８．１７〜２４．３３〜４０゜４９〜５６
及び６５〜７２から構成されているので、粒子群８６を
層状の照明光として照明する。
層状の照明光で照明された粒子群８６からの反射光は第
１及び第２の受光用光ファイバ束７９．８０で受光され
て、それぞれ、第１及び第２の受光素子８２ 、８．９
に伝送される。この場合、第１の受光用光ファイバ束７
９は、第４図図示のように、格子状に配置された光ファ
イバ９，１１，１３，１５，２５，２７，２９゜３１．
４１，４３，４５．４７．５７．５９゜６１及び６３よ
り構成されているので、粒子群８６が光ファイバ・プロ
ーブ７３の前面をどのような方向へ移動しても、その反
射光は確実に受光される。寸だ、第２の受光用光ファイ
バ束８０も、第４図図示の如く、格子状に配性された光
ファイバ１０，１２，１４，１６，２６゜２８．３０，
３２，４２，４４，４６．４８゜５Ｂ、６０．．６２．
及び６４から構成されているので、粒子群がどの方向へ
移動しても、その反射光は確実に受光される。
１及び第２の受光用光ファイバ束７９．８０で受光され
て、それぞれ、第１及び第２の受光素子８２ 、８．９
に伝送される。この場合、第１の受光用光ファイバ束７
９は、第４図図示のように、格子状に配置された光ファ
イバ９，１１，１３，１５，２５，２７，２９゜３１．
４１，４３，４５．４７．５７．５９゜６１及び６３よ
り構成されているので、粒子群８６が光ファイバ・プロ
ーブ７３の前面をどのような方向へ移動しても、その反
射光は確実に受光される。寸だ、第２の受光用光ファイ
バ束８０も、第４図図示の如く、格子状に配性された光
ファイバ１０，１２，１４，１６，２６゜２８．３０，
３２，４２，４４，４６．４８゜５Ｂ、６０．．６２．
及び６４から構成されているので、粒子群がどの方向へ
移動しても、その反射光は確実に受光される。
上記第１の受光用光ファイバ束７９を伝送された上記反
射光は、第１の受光素子８２へ入射し、その入射光の強
さに比例した電圧信号ｘｌ（ｔ）に変換されて、差動増
幅器８４の２つの入力部の一方に入力される。上記第２
の受光用光ファイバ束８０を伝送された上記反射光（ｄ
、第２の受光末子８３に入射し、その入射光の強さに比
例した電圧信号Ｘ ２ （ｔ）に変換されて、上記差動
増幅器８４の他方の入力部に入力される。
射光は、第１の受光素子８２へ入射し、その入射光の強
さに比例した電圧信号ｘｌ（ｔ）に変換されて、差動増
幅器８４の２つの入力部の一方に入力される。上記第２
の受光用光ファイバ束８０を伝送された上記反射光（ｄ
、第２の受光末子８３に入射し、その入射光の強さに比
例した電圧信号Ｘ ２ （ｔ）に変換されて、上記差動
増幅器８４の他方の入力部に入力される。
上記差動増幅器８４はそれに入力され牟上記２つの電圧
信号ｘ１（ｔ）及びＸ ２（ｔ）の差ＣＸｌ（ｔ）
Ｘ２（ｔ）’］に比勿１した電圧信号ｘ （ｔ）を発生
し、その信号を周波数分析器８５に出力する。上記周波
数分析器８５は、その入力信号ｘ （ｔ）の周波数スペ
クトラムを解析処理して、その結果を出力する。その出
力結果より、卓越したピークの周波数ｆＰが判る。
信号ｘ１（ｔ）及びＸ ２（ｔ）の差ＣＸｌ（ｔ）
Ｘ２（ｔ）’］に比勿１した電圧信号ｘ （ｔ）を発生
し、その信号を周波数分析器８５に出力する。上記周波
数分析器８５は、その入力信号ｘ （ｔ）の周波数スペ
クトラムを解析処理して、その結果を出力する。その出
力結果より、卓越したピークの周波数ｆＰが判る。
ところで、」二記ピーク周波数ｆ／ｐは、笛５図に示す
ように、光フアイバプローブ７３の前面を任意方向へ部
動する粒子群速度Ｖの照明用光ファイバ束７６の列方向
の成分をＶ＝ ｏとおき、受光用光ファイバの直径をα
′とおくと、１／ｆ１．＝２ｄ′／ｖ部θ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・（２）の関係
式が成立する。す々わち、 ＶＣＯｓθ−２ｄ ’ｆ／ｐ ・・
・・・・・・・・・・・・・・・・（３）と々る。した
がって、 測定対象粒子の移動方向と受光用光ファイ／Ｓプローブ
の列方向が一致しなくても粒子速度を測定できる。
ように、光フアイバプローブ７３の前面を任意方向へ部
動する粒子群速度Ｖの照明用光ファイバ束７６の列方向
の成分をＶ＝ ｏとおき、受光用光ファイバの直径をα
′とおくと、１／ｆ１．＝２ｄ′／ｖ部θ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・（２）の関係
式が成立する。す々わち、 ＶＣＯｓθ−２ｄ ’ｆ／ｐ ・・
・・・・・・・・・・・・・・・・（３）と々る。した
がって、 測定対象粒子の移動方向と受光用光ファイ／Ｓプローブ
の列方向が一致しなくても粒子速度を測定できる。
以上詳述したように本発明によれば以下のような効果が
得られる。即ち、従来の方式では、測定対象粒子の移動
方向が、受光用光ファイ・ぐの列方向に合致しない場合
には、粒子速度の信号、すなわち差動増幅器の出力信号
に含才れる正弦波信号の波速（ｔｒａｉｎ ）が半波長
あるいは一波長相当しか得られないので、周波数分析結
果のスペクトラムに卓越したピークが現われなかった。
得られる。即ち、従来の方式では、測定対象粒子の移動
方向が、受光用光ファイ・ぐの列方向に合致しない場合
には、粒子速度の信号、すなわち差動増幅器の出力信号
に含才れる正弦波信号の波速（ｔｒａｉｎ ）が半波長
あるいは一波長相当しか得られないので、周波数分析結
果のスペクトラムに卓越したピークが現われなかった。
その為、粒子の移動方向が時間的に変化する測定対象に
は適用できなかった。
は適用できなかった。
これに対して、本発明によれば、粒子の移動方向が変化
しても、光ファイ／Ｓプローブに固着の受光用光ファイ
バの列方向の粒子速度成分を測定できる。したがって、
従来では測定できなかった石炭ガス化炉流動層あるいは
石炭ミル微粉炭４愉送管等の固気混相流粒子速度計測が
可能となシ、本発明の産業上の価値は著しく大きい。
しても、光ファイ／Ｓプローブに固着の受光用光ファイ
バの列方向の粒子速度成分を測定できる。したがって、
従来では測定できなかった石炭ガス化炉流動層あるいは
石炭ミル微粉炭４愉送管等の固気混相流粒子速度計測が
可能となシ、本発明の産業上の価値は著しく大きい。
第１１ン１は従来の粒子速度計測装置°の構成を示すブ
ロック図、第２図（ａ） 、 （ｂ）は第１図の装置の
動作を説明するための図で同図（ａ）は光フアイバプロ
ーブの４１”￥成［ツ：、同図（ｂ）は周波数分析器で
解析された差動増幅器出力信号の周波数分析結果ケ示す
図、第３ン１は本発明の一実施例に係る粒子速度計測装
置の構成を示すブロック図、第４図は第３１Δの光フア
イバプローブ筒体をｉ洋細に示す構成図、第５図は第３
図の動作を説明するための光フアイバプローブ筒体の栖
″成図である。 ０１９．８１・・・レーザ装置、０２０，８２・・・第
１受光末子、０２１，８３・・・第２受光素子、０２．
７３・・・光フアイバプローブ、０２２゜８４・・・差
動増幅器、０２３，８５・・・周波数分析器。
ロック図、第２図（ａ） 、 （ｂ）は第１図の装置の
動作を説明するための図で同図（ａ）は光フアイバプロ
ーブの４１”￥成［ツ：、同図（ｂ）は周波数分析器で
解析された差動増幅器出力信号の周波数分析結果ケ示す
図、第３ン１は本発明の一実施例に係る粒子速度計測装
置の構成を示すブロック図、第４図は第３１Δの光フア
イバプローブ筒体をｉ洋細に示す構成図、第５図は第３
図の動作を説明するための光フアイバプローブ筒体の栖
″成図である。 ０１９．８１・・・レーザ装置、０２０，８２・・・第
１受光末子、０２１，８３・・・第２受光素子、０２．
７３・・・光フアイバプローブ、０２２゜８４・・・差
動増幅器、０２３，８５・・・周波数分析器。
Claims (1)
- レーザ光を発生するレーザ装置および照明用光ファイバ
と受光用光ファイバがそれぞれ一列に直線状に配置され
ている光ファイバゾローブとを備え、照明用光ファイバ
から測定対象の粉粒体に光を照射して受光用光ファイバ
から得らね、るその反射光の強度の時間的変化に基づい
て粉粒体の移動速度を計測する空間フィルタリングによ
る粒子計測装置において、−列単位で文士の複数列に配
置される光フアイバプローブと、上記照明用光ファイバ
に光を照射する光発生手段と、上記受光用光ファイバか
ら得られる粉粒体の反射光の強度に基づいて粉粒体の移
動速度全測定する測定手段とを具備したことを特徴とす
る空間フィルタリングによる粒子計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7597583A JPS59200965A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 空間フイルタリングによる粒子速度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7597583A JPS59200965A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 空間フイルタリングによる粒子速度計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59200965A true JPS59200965A (ja) | 1984-11-14 |
Family
ID=13591751
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7597583A Pending JPS59200965A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 空間フイルタリングによる粒子速度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59200965A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271257A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Mekkusu:Kk | 速度検出方法およびその装置 |
-
1983
- 1983-04-28 JP JP7597583A patent/JPS59200965A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271257A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Mekkusu:Kk | 速度検出方法およびその装置 |
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