JPS59208801A - 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 - Google Patents
厚膜型正特性半導体素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS59208801A JPS59208801A JP58084439A JP8443983A JPS59208801A JP S59208801 A JPS59208801 A JP S59208801A JP 58084439 A JP58084439 A JP 58084439A JP 8443983 A JP8443983 A JP 8443983A JP S59208801 A JPS59208801 A JP S59208801A
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- JP
- Japan
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- thick film
- positive temperature
- semiconductor element
- temperature coefficient
- tib2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面状発熱体
のなかで、ガラヌフリソトを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
のなかで、ガラヌフリソトを必要としない厚膜型正特性
半導体素子の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
Ba Ti Os系半導体からなる素子は、所定温度具
−ヒになる・と急激に抵抗値が増大するスイッチング特
性及びヌイソチング後の自己発熱特性ぞ有し、JA−W
特性ガ凍〈自己温度制御機能を有し、外部の制御回路を
必要としないため、広く利用されている。
−ヒになる・と急激に抵抗値が増大するスイッチング特
性及びヌイソチング後の自己発熱特性ぞ有し、JA−W
特性ガ凍〈自己温度制御機能を有し、外部の制御回路を
必要としないため、広く利用されている。
従来の正特性サーミヌタ発熱体はBa Ti Os系半
導体粉末を加圧成形した後焼成して得ていたが、広い面
積を加熱するには多数の素子を必要とし、大型で組立て
が困難であり、また実用可能な原模型の正特性ザーミヌ
タ発熱体を得ることは困難であるとされていた。
導体粉末を加圧成形した後焼成して得ていたが、広い面
積を加熱するには多数の素子を必要とし、大型で組立て
が困難であり、また実用可能な原模型の正特性ザーミヌ
タ発熱体を得ることは困難であるとされていた。
従来、Ba Ti 03系半導体を膜状に加工する方法
としては次のようなものが知られている。
としては次のようなものが知られている。
■ ディヌク形に成形した後焼成したものを薄片に研磨
する。
する。
■ 真空蒸着法、ヌバッタリング法などにより基板状に
薄膜を形成する。。
薄膜を形成する。。
■ Ba Ti Os系半導体に導電性を有する添加剤
とガラヌフリノトを加えてペーヌト状とし、基板上にヌ
クーン印刷した後焼成する。
とガラヌフリノトを加えてペーヌト状とし、基板上にヌ
クーン印刷した後焼成する。
しかし、前記■の方法ではBa’TiO3系半導体の結
晶粒子径が大きくてもろいため、膜状に寸で4[磨する
ことは甚だ困難である。また、前記■の方法では操作が
面倒であシ、大面積の素子が得られず、発熱体に適した
大電力を得ること1は難しい。
晶粒子径が大きくてもろいため、膜状に寸で4[磨する
ことは甚だ困難である。また、前記■の方法では操作が
面倒であシ、大面積の素子が得られず、発熱体に適した
大電力を得ること1は難しい。
また、前記■の方法では面積抵抗が高くなシ易く抵抗値
の制御が回帰であシ、発熱体には適さない。
の制御が回帰であシ、発熱体には適さない。
さらに、あらかじめガラスフリットを作っておかなけれ
ばならず面倒であると共に、ガラヌフリノ1′の41質
によってはBa TIOZ系半導体の持つヌイノチンク
特性及び自己発熱特性を劣化させる。また、ガラヌフリ
ノ1〜を加えることにょI)BaTiO3系半導体とガ
ラスフリットの耐熱性、熱膨張系数の差からrI!!衝
撃に弱く、熱伝導が劣化しゃすく信頼性に欠ける。さら
に、導電性の添加剤とガラスフリノ1−を均一に混合す
Σことは困難であシ、特性にばらつきを生じる原因の一
つとなっている。
ばならず面倒であると共に、ガラヌフリノ1′の41質
によってはBa TIOZ系半導体の持つヌイノチンク
特性及び自己発熱特性を劣化させる。また、ガラヌフリ
ノ1〜を加えることにょI)BaTiO3系半導体とガ
ラスフリットの耐熱性、熱膨張系数の差からrI!!衝
撃に弱く、熱伝導が劣化しゃすく信頼性に欠ける。さら
に、導電性の添加剤とガラスフリノ1−を均一に混合す
Σことは困難であシ、特性にばらつきを生じる原因の一
つとなっている。
以」二述べたように面状発熱体に適した厚膜型正特性半
導体素子を得る方法は従来よシながった。
導体素子を得る方法は従来よシながった。
発明の目的
そこで本発明では前記従来技術の欠点であった製造上の
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜型にす
ることによシ熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
繁雑さを解決し、ガラスフリットを用いずに厚膜型にす
ることによシ熱衝撃性、熱伝導性に優れ、均一な特性を
持つ厚膜型正特性半導体素子を容易に製造できる方法を
提供することを目的としている。
発明の構成
この目的を達成するために本発明は、BaT工03糸半
導体に所定量のTiB2を加えてベーヌト状にした混合
物を基板上に塗布して厚膜型とした後焼成することによ
シ、厚膜型正特性半導体素子を得ようとする製造方法を
提案するものである。
導体に所定量のTiB2を加えてベーヌト状にした混合
物を基板上に塗布して厚膜型とした後焼成することによ
シ、厚膜型正特性半導体素子を得ようとする製造方法を
提案するものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリットを用いる士
方法では、Ba Ti O3系半導体粉末同皆の市:気
的接続のために導電性添加剤が必要であシ、Ba Ti
Os系粉末同森を物理的に接続するのにガラスフリッ
トが必要であった。
的接続のために導電性添加剤が必要であシ、Ba Ti
Os系粉末同森を物理的に接続するのにガラスフリッ
トが必要であった。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラスフリノI
・の両方の役割をはたすTiBまたけで厚膜化が可能で
ある。すなわち、TiB2は常温では導体であるが、1
100℃以」二の高温になると一部分が分解して粒子表
面にB2’03が析出する。このB2O5層によシ粒子
内部は分解、酸化から保護され、TiB2のままで残る
。従って、Ba Ti O3系半導体粉末とTiBzを
混合して焼成すると、TiB2粉末の表面に析出したB
20sがガラスフリットと同じ役割をして粉末粒子を結
合させ、未反応の粒子内部のTiB2が導電性添加剤の
役割をはだす。
・の両方の役割をはたすTiBまたけで厚膜化が可能で
ある。すなわち、TiB2は常温では導体であるが、1
100℃以」二の高温になると一部分が分解して粒子表
面にB2’03が析出する。このB2O5層によシ粒子
内部は分解、酸化から保護され、TiB2のままで残る
。従って、Ba Ti O3系半導体粉末とTiBzを
混合して焼成すると、TiB2粉末の表面に析出したB
20sがガラスフリットと同じ役割をして粉末粒子を結
合させ、未反応の粒子内部のTiB2が導電性添加剤の
役割をはだす。
従って、TiB2を添加するだけでガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が得られることとな
る。
要としない厚膜型正特性半導体素子が得られることとな
る。
実施例の説明
以下に本発明を実施例を挙げて具体的に説明する。
〈実施例1〉
Ba Ti O5に3.0mod%のSrOを加えてボ
ー7レミルなどで粉砕混合した後乾燥し、1000℃で
1時間焼成する。その後、ボールミル してBa Ti O3系半導体粉末を得る。このBa
Ti O3系半導体粉末に全重量に対して10重量%の
TiB 2を加えボールミル α−テルピネオール、ポリエチレングリコールなどを加
えてペースト状混合物を作る。そして、第1図に示すよ
うにA1203などからなる 基板2」二にあらかじめ
一対のAqなどの導電性物質からなる電極3,4を設け
ておき、前記電極3 + 4」二にその電極3,4の
一部が露出するように前記べ一ヌト状混合物1をヌクリ
ーン印刷などにより塗布し、室温カラ1o′Cy.n7
ノ昇温速度で1390°Cまで加熱し、1時間保持した
後炉内放冷する。
ー7レミルなどで粉砕混合した後乾燥し、1000℃で
1時間焼成する。その後、ボールミル してBa Ti O3系半導体粉末を得る。このBa
Ti O3系半導体粉末に全重量に対して10重量%の
TiB 2を加えボールミル α−テルピネオール、ポリエチレングリコールなどを加
えてペースト状混合物を作る。そして、第1図に示すよ
うにA1203などからなる 基板2」二にあらかじめ
一対のAqなどの導電性物質からなる電極3,4を設け
ておき、前記電極3 + 4」二にその電極3,4の
一部が露出するように前記べ一ヌト状混合物1をヌクリ
ーン印刷などにより塗布し、室温カラ1o′Cy.n7
ノ昇温速度で1390°Cまで加熱し、1時間保持した
後炉内放冷する。
〈実施例2〉
実施例1と同様にしてBaTiO3に3 ’. O m
od’%のpboを加え1250’Cで1時間焼成し粉
砕した後、全重量に対して45重量%のTiB2を加え
混合,粉砕,乾燥した後、ポリビニルブチラール。
od’%のpboを加え1250’Cで1時間焼成し粉
砕した後、全重量に対して45重量%のTiB2を加え
混合,粉砕,乾燥した後、ポリビニルブチラール。
オクチルフタレートなどを加えてペースト状混合物を作
る。そして、実施例1と同様の操作でスクリーン印刷し
た後焼成、放冷する。
る。そして、実施例1と同様の操作でスクリーン印刷し
た後焼成、放冷する。
こうして得られた厚膜型半導体素子の25°Cでの面積
抵抗は、実施例1の場合、1 g s ”/6aであシ
、実施例2の場合、104十′2であった。また、0m 各々の温度と抵抗値の関係は第2図に示した通シであっ
た。第2図でA, Bはそれぞれ実施例1。
抵抗は、実施例1の場合、1 g s ”/6aであシ
、実施例2の場合、104十′2であった。また、0m 各々の温度と抵抗値の関係は第2図に示した通シであっ
た。第2図でA, Bはそれぞれ実施例1。
2による特性である。
発明の効果
以」二のように本発明は構成されているものであシ、T
iB2粉末は従来の導電性添加剤とガラヌフリノI・の
両方の役割をはたし、電気的接続と粒子士− 同者の物理的接続に十分な効果があシ、ガラヌフリノ1
−なしで厚膜型正特性半導体素子が得られる。
iB2粉末は従来の導電性添加剤とガラヌフリノI・の
両方の役割をはたし、電気的接続と粒子士− 同者の物理的接続に十分な効果があシ、ガラヌフリノ1
−なしで厚膜型正特性半導体素子が得られる。
まだ、ガラヌフリン1〜という熱伝導の悪いものにかわ
って熱伝導性に優れ導電性を有するTiB2を用いるこ
とにより、熱伝導が良くなシ熱衝撃性も向上する。さら
に、スクリーン印刷などによシ製逍ができることから、
作業が容易で大面積化が可能であり、大量生産ができる
。
って熱伝導性に優れ導電性を有するTiB2を用いるこ
とにより、熱伝導が良くなシ熱衝撃性も向上する。さら
に、スクリーン印刷などによシ製逍ができることから、
作業が容易で大面積化が可能であり、大量生産ができる
。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体としては、
BaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したもの
であればなんでもよい。
BaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化したもの
であればなんでもよい。
寸だ、TiB2の混合量を全重量に対して1.0〜60
.0重量%と規定したのは、1.0重量%未満では面積
抵抗が大きくなシすぎて発熱体には不適当であり、Ba
Ti O3同巷の物理的固定もできすもろくなる。捷
だ、600重量%超えると面積抵抗が小さくなりすぎ、
自己制御特性(PTC特性)が小さくなシ、発熱体に不
適当になるためである。
.0重量%と規定したのは、1.0重量%未満では面積
抵抗が大きくなシすぎて発熱体には不適当であり、Ba
Ti O3同巷の物理的固定もできすもろくなる。捷
だ、600重量%超えると面積抵抗が小さくなりすぎ、
自己制御特性(PTC特性)が小さくなシ、発熱体に不
適当になるためである。
また、BaTiO3系半導体とTiB2粉末をベーヌト
状にするのに有機溶剤を用いたが、ベーヌト状にできる
ものであればなんでもよい。
状にするのに有機溶剤を用いたが、ベーヌト状にできる
ものであればなんでもよい。
以上主べたように本発明によれば、ガラスフリットを必
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きい。
要としない厚膜型正特性半導体素子が容易に製造でき、
その実用上の効果は大きい。
第1図は本発明方法により得られた厚膜型正特性半導体
素子を示す斜視図、第2図は本発明の実施例による素子
の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ベーヌト状混合物、2・・・・・・基板
、3.4・・・・・電極。
素子を示す斜視図、第2図は本発明の実施例による素子
の温度と抵抗値の関係を示す図である。 1・・・・・・ベーヌト状混合物、2・・・・・・基板
、3.4・・・・・電極。
Claims (1)
- BaTiO3系半導体にその混合量が全重量に対して1
.0〜60.o重量係のTiBzを加えベーヌト素子の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58084439A JPS59208801A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58084439A JPS59208801A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59208801A true JPS59208801A (ja) | 1984-11-27 |
| JPH04361B2 JPH04361B2 (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=13830620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58084439A Granted JPS59208801A (ja) | 1983-05-13 | 1983-05-13 | 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59208801A (ja) |
-
1983
- 1983-05-13 JP JP58084439A patent/JPS59208801A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04361B2 (ja) | 1992-01-07 |
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