JPH04361B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH04361B2
JPH04361B2 JP8443983A JP8443983A JPH04361B2 JP H04361 B2 JPH04361 B2 JP H04361B2 JP 8443983 A JP8443983 A JP 8443983A JP 8443983 A JP8443983 A JP 8443983A JP H04361 B2 JPH04361 B2 JP H04361B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
batio
glass frit
tib
semiconductor
thick film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP8443983A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59208801A (ja
Inventor
Keiichi Noi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58084439A priority Critical patent/JPS59208801A/ja
Publication of JPS59208801A publication Critical patent/JPS59208801A/ja
Publication of JPH04361B2 publication Critical patent/JPH04361B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Thermistors And Varistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面
状発熱体のなかで、ガラスフリツトを必要としな
い厚膜型正特性半導体素子の製造方法に関するも
のである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半導体からなる素子は、所定温度以
上になると急激に抵抗値が増大するスイツチング
特性及びスイツチング後の自己発熱特性を有し、
昇温特性が速く自己温度制御機能を有し、外部の
制御回路を必要としないため、広く利用されてい
る。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半
導体粉末を加圧成形した後焼成して得ていたが、
広い面積を加熱するには多数の素子を必要とし、
大型で組立てが困難であり、また実用可能な厚膜
型の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難で
あるとされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法
としては次のようなものが知られている。
デイスク形に成形した後焼成したものを薄片
に研磨する。
真空蒸着法、スパツタリング法などにより基
板状に薄膜を形成する。
BaTiO3系半導体に導電性を有する添加剤と
ガラスフリツトを加えてペースト状とし、基板
上にスクーン印刷した後焼成する。
しかし、前記の方法ではBaTiO3系半導体の
結晶粒子径が大きくてもろいため、膜状にまで研
磨することは甚だ困難である。また、前記の方
法では操作が面倒であり、大面積の素子が得られ
ず、発熱体に適した大電力を得ることは難しい。
また、前記の方法では面積抵抗が高くなり易く
抵抗値の制御が困難であり、発熱体には適さな
い。さらに、あらかじめガラスフリツトを作つて
おかなければならず面倒であると共に、ガラスフ
リツトの材質によつてはBaTiO3系半導体の持つ
スイツチング特性及び自己発熱特性を劣化させ
る。また、ガラスフリツトを加えることにより
BaTiO3系半導体とガラスフリツトの耐熱性、熱
膨張系数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が劣化し
やすく信頼性に欠ける。さらに、導電性の添加剤
とガラスフリツトを均一に混合することは困難で
あり、特性にばらつきを生じる原因の一つとなつ
ている。
以上述べたように面状発熱体に適した厚膜型正
特性半導体素子を得る方法は従来よりなかつた。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であつた
製造上の繁雑さを解決し、ガラスフリツトを用い
ずに厚膜型にすることにより熱衝撃性、熱伝導性
に優れ、均一な特性を持つ厚膜型正特性半導体素
子を容易に製造できる方法を提供することを目的
としている。
発明の構成 この目的を達成するために本発明は、BaTiO3
系半導体に所定量のTiB2を加えてペースト状に
した混合物を基板上に塗布して厚膜型とした後焼
成することにより、厚膜型正特性半導体素子を得
ようとする製造方法を提案するものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリツトを用いる
方法では、BaTiO3系半導体粉末同士の電気的接
続のために導電性添加剤が必要であり、BaTiO3
系粉末同士を物理的に接続するのにガラスフリツ
トが必要であつた。
しかし、本発明によれば導電性添加剤とガラス
フリツトの両方の役割をはたすTiB2だけで厚膜
化が可能である。すなわち、TiB2は常温では導
体であるが、1100℃以上の高温になると一部分が
分解して粒子表面にB2O3が析出する。このB2O3
層により粒子内部は分解、酸化から保護され、
TiB2のままで残る。従つて、BaTiO3系半導体粉
末とTiB2を混合して焼成すると、TiB2粉末の表
面に析出したB2O3がガラスフリツトと同じ役割
をして粉末粒子を結合させ、未反応の粒子内部の
TiB2が導電性添加剤の役割をはたす。従つて、
TiB2を添加するだけでガラスフリツトを必要と
しない厚膜型正特性半導体素子が得られることと
なる。
実施例の説明 以下に本発明を実施例を挙げて具体的に説明す
る。
〈実施例 1〉 BaTiO3に3.0mol%のSrOを加えてボールミル
などで粉砕混合した後乾燥し、1300℃で1時間焼
成する。その後、ボールミルなどで粉砕して
BaTiO3系半導体粉末を得る。このBaTiO3系半
導体粉末に全重量に対して10重量%のTiB2を加
えボールミルなどで粉砕混合し、乾燥した後、α
−テルピネオール、ポリエチレングリコールなど
を加えてペースト状混合物を作る。そして、第1
図に示すようにAl2O3などからなる基板2上にあ
らかじめ一対のAgなどの導電性物質からなる電
極3,4を設けておき、前記電極3,4上にその
電極3,4の一部が露出するように前記ペースト
状混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、
室温から10℃/minの昇温速度で1390℃まで加熱
し、1時間保持した後炉内放冷する。
〈実施例 2〉 実施例1と同様にしてBaTiO3に3.0mol%の
PbOを加え1250℃で1時間焼成し粉砕した後、全
重量に対して45重量%のTiB2を加え混合、粉砕、
乾燥した後、ポリビニルブチラール、オクチルフ
タレートなどを加えてペースト状混合物を作る。
そして、実施例1と同様の操作でスクリーン印刷
した後焼成、放冷する。
こうして得られた厚膜型半導体素子の25℃での
面積抵抗は、実施例1の場合、195Ω/cm2であり、
実施例2の場合、104Ω/cm2であつた。また、
各々の温度と抵抗値の関係は第2図に示した通り
であつた。第2図でA,Bはそれぞれ実施例1,
2による特性である。
発明の効果 以上のように本発明は構成されているものであ
り、TiB2粉末は従来の導電性添加剤とガラスフ
リツトの両方の役割をはたし、電気的接続と粒子
同士の物理的接続に十分な効果があり、ガラスフ
リツトなしで厚膜型正特性半導体素子が得られ
る。また、ガラスフリツトという熱伝導の悪いも
のにかわつて熱伝導性に優れ導電性を有する
TiB2を用いることにより、熱伝導が良くなり熱
衝撃性も向上する。さらに、スクリーン印刷など
により製造ができることから、作業が容易で大面
積化が可能であり、大量生産ができる。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体として
は、BaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化し
たものであればなんでもよい。
また、TiB2の混合量を全重量に対して1.0〜
60.0重量%と規定したのは、1.0重量%未満では
面積抵抗が大きくなりすぎて発熱体には不適当で
あり、BaTiO3同士の物理的固定もできずもろく
なる。また、60重量%を超えると面積抵抗が小さ
くなりすぎ、自己制御特性(PTC特性)が小さ
くなり、発熱体に不適当になるためである。ま
た、BaTiO3系半導体とTiB2粉末をペースト状に
するのに有機溶剤を用いたが、ペースト状にでき
るものであればなんでもよい。
以上主べたように本発明によれば、ガラスフリ
ツトを必要としない厚膜型正特性半導体素子が容
易に製造でき、その実用上の効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法により得られた厚膜型正特
性半導体素子を示す斜視図、第2図は本発明の実
施例による素子の温度と抵抗値の関係を示す図で
ある。 1…ペースト状混合物、2…基板、3,4…電
極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 BaTiO3系半導体にその混合量が全重量に対
    して1.0〜60.0重量%のTiB2を加えペースト状に
    した混合物を基板上に塗布して厚膜状とした後、
    焼成してなることを特徴とする厚膜型正特性半導
    体素子の製造方法。
JP58084439A 1983-05-13 1983-05-13 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS59208801A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58084439A JPS59208801A (ja) 1983-05-13 1983-05-13 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58084439A JPS59208801A (ja) 1983-05-13 1983-05-13 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59208801A JPS59208801A (ja) 1984-11-27
JPH04361B2 true JPH04361B2 (ja) 1992-01-07

Family

ID=13830620

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58084439A Granted JPS59208801A (ja) 1983-05-13 1983-05-13 厚膜型正特性半導体素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59208801A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59208801A (ja) 1984-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04361B2 (ja)
JPH04362B2 (ja)
JPH04363B2 (ja)
JPH0534808B2 (ja)
JPH04365B2 (ja)
JPS61101008A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPH0534803B2 (ja)
JPH04364B2 (ja)
JPH04565B2 (ja)
JPH04562B2 (ja)
JPH0534807B2 (ja)
JPH0534804B2 (ja)
JPH0534806B2 (ja)
JPH0534805B2 (ja)
JPH0313722B2 (ja)
JPS6158209A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPH04366B2 (ja)
JPH0534802B2 (ja)
JPS61101009A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158210A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPH0558244B2 (ja)
JPS61101003A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPS6158205A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法
JPH04563B2 (ja)
JPS6012704A (ja) 厚膜型正特性半導体素子の製造方法