JPS5921168B2 - 半導体集積回路の製法 - Google Patents
半導体集積回路の製法Info
- Publication number
- JPS5921168B2 JPS5921168B2 JP56152089A JP15208981A JPS5921168B2 JP S5921168 B2 JPS5921168 B2 JP S5921168B2 JP 56152089 A JP56152089 A JP 56152089A JP 15208981 A JP15208981 A JP 15208981A JP S5921168 B2 JPS5921168 B2 JP S5921168B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pad
- bonding
- wire
- chip
- pads
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07531—Techniques
- H10W72/07532—Compression bonding, e.g. thermocompression bonding
- H10W72/07533—Ultrasonic bonding, e.g. thermosonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5445—Dispositions of bond wires being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/59—Bond pads specially adapted therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/931—Shapes of bond pads
- H10W72/932—Plan-view shape, i.e. in top view
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/90—Bond pads, in general
- H10W72/951—Materials of bond pads
- H10W72/952—Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体集積回路の製法に関し、特に、超音波
ボンディング法によつて半導体チップとワイヤとを接続
するための半導体集積回路の製法に関する。
ボンディング法によつて半導体チップとワイヤとを接続
するための半導体集積回路の製法に関する。
半導体集積回路では、シリコン・チップと外部リードと
を接続するためのボンディング・パッドが必要である。
を接続するためのボンディング・パッドが必要である。
このパッド1は、通常第1図Aに示すように、チップ2
の周辺部すなわち回路素子領域3の外側に形成されてお
り、その形状は正方形である。そしてパッド1とリード
との接続は、Au、Al等の細線(ワイヤ)を用い、そ
の結線には熱圧着法あるいは超音波ボンディング法が利
用される。ここで、特に超音波ボンディングの場合、振
動子からホーンを介して伝達される超音波エネルギーは
、その振動方向をワイヤの長さ方向に設定される。
の周辺部すなわち回路素子領域3の外側に形成されてお
り、その形状は正方形である。そしてパッド1とリード
との接続は、Au、Al等の細線(ワイヤ)を用い、そ
の結線には熱圧着法あるいは超音波ボンディング法が利
用される。ここで、特に超音波ボンディングの場合、振
動子からホーンを介して伝達される超音波エネルギーは
、その振動方向をワイヤの長さ方向に設定される。
このため、ボンディング個所4aにおけるワイヤ4の形
状は、第1図Bに拡大して示すように、ワイヤ4の直径
方向の長さがワイヤ直径dの2倍程度になるに対し、そ
の長さ方向では5〜7倍程度となる。従つて、上記ボン
ディング部4aのワイヤ4の一部がパッド1外に達する
ことがあり、その場合ワイヤ4とパッド1との接着面積
が小さくなりその接着強度が低下してしまう。なお、こ
の接着強度低下の問題点を考慮して、従来一般にはパッ
ド1の面積を大きくすることが行なわれている。しかし
、その形状自体は正方形であるためパッド1が必要以上
に大きくなり、チップ2の集積密度を低下している。従
つて、本発明の目的は、超音波ボンディングにおいて、
デバイスの集積密度を低下することなく、リード細線と
パッドとの接着強度を増すことにある。
状は、第1図Bに拡大して示すように、ワイヤ4の直径
方向の長さがワイヤ直径dの2倍程度になるに対し、そ
の長さ方向では5〜7倍程度となる。従つて、上記ボン
ディング部4aのワイヤ4の一部がパッド1外に達する
ことがあり、その場合ワイヤ4とパッド1との接着面積
が小さくなりその接着強度が低下してしまう。なお、こ
の接着強度低下の問題点を考慮して、従来一般にはパッ
ド1の面積を大きくすることが行なわれている。しかし
、その形状自体は正方形であるためパッド1が必要以上
に大きくなり、チップ2の集積密度を低下している。従
つて、本発明の目的は、超音波ボンディングにおいて、
デバイスの集積密度を低下することなく、リード細線と
パッドとの接着強度を増すことにある。
このため本発明によれば、四角形の半導体チップの周辺
部に複数のボンデイングパツドを設け、該複数のボンデ
イングパツドのそれぞれに超音波ボンデイング法によつ
てワイヤを接続する半導体集積回路の製法において、前
記各ボンデイングパツドを、その相対抗する二辺が互い
に平行となり、その二辺の長さがそれら二辺と直角な方
向の幅よりも大きくなるように形成し、前記複数のボン
デイングパツドのうち、前記半導体チツプのコーナー部
に近接するものを、そのパツドの長さ方向が前記半導体
チツプの一辺を直角でない角度で横切るとともに、前記
半導体チツプのほぼ中央部に向う方向に延在するように
配置し、前記超音波ボンデイング法による接続時に、前
記ワイヤの長さ方向と前記パツドの長さ方向とを一致さ
せ、かつ、超音波の振動方向が前記パツドの長さ方向に
一致するように超音波を前記パツド上のワイヤに印加す
ることを特徴とする。
部に複数のボンデイングパツドを設け、該複数のボンデ
イングパツドのそれぞれに超音波ボンデイング法によつ
てワイヤを接続する半導体集積回路の製法において、前
記各ボンデイングパツドを、その相対抗する二辺が互い
に平行となり、その二辺の長さがそれら二辺と直角な方
向の幅よりも大きくなるように形成し、前記複数のボン
デイングパツドのうち、前記半導体チツプのコーナー部
に近接するものを、そのパツドの長さ方向が前記半導体
チツプの一辺を直角でない角度で横切るとともに、前記
半導体チツプのほぼ中央部に向う方向に延在するように
配置し、前記超音波ボンデイング法による接続時に、前
記ワイヤの長さ方向と前記パツドの長さ方向とを一致さ
せ、かつ、超音波の振動方向が前記パツドの長さ方向に
一致するように超音波を前記パツド上のワイヤに印加す
ることを特徴とする。
以下、本発明の超音波ボンデイング用パツドの1実施例
を第2図A,Bと共に説明する。
を第2図A,Bと共に説明する。
第2図AおよびBはそれぞれ本発明のパツドを備えたチ
ツプの上面図およびそのボンデイング部の拡大図である
。
ツプの上面図およびそのボンデイング部の拡大図である
。
第2図A,Bに示す本発明の実施例では、シリコン・チ
ツプ2上、回路素子領域3の外周辺部に長方形状のアル
ミニウム・パツド11,12,・・・1(n−1),1
nを形成している。
ツプ2上、回路素子領域3の外周辺部に長方形状のアル
ミニウム・パツド11,12,・・・1(n−1),1
nを形成している。
各パツド11,12,・・・1(n−1),1nのたて
、よこの長さP,qは、前記したボンデイング部の形状
を考えて例えばワイヤ4の直径dの3倍および8倍程度
にそれぞれ設定される。しかも長い方のよこ方向はすべ
てチツプ2の中心0に向かつている。さて、パツケージ
に取り付けたチツプ2のアルミニウム・パツド11〜1
nとパツケージの外部リード線とをワイヤ・ボンデイン
グする場合、先ず超音波印加用チツプの先端と各パツド
11〜1nとの位置合わせ(アライメント)を行なう。
、よこの長さP,qは、前記したボンデイング部の形状
を考えて例えばワイヤ4の直径dの3倍および8倍程度
にそれぞれ設定される。しかも長い方のよこ方向はすべ
てチツプ2の中心0に向かつている。さて、パツケージ
に取り付けたチツプ2のアルミニウム・パツド11〜1
nとパツケージの外部リード線とをワイヤ・ボンデイン
グする場合、先ず超音波印加用チツプの先端と各パツド
11〜1nとの位置合わせ(アライメント)を行なう。
この際、超音波印加用チツプは固定されており、従つて
シリコン・チツプ2上のパツド11〜1nをX,y,θ
方向に移動してアライメントが行なわれる。こうして、
例えばパツド1(n−1)のアライメントが終了した段
階で、そのパツド1(n−1)上のワイヤ4に超音波が
加えられ、ワイヤ4とパツド1(n−】)との接続が行
なわれる。この場合、パツド1(n−1)は、第2図B
に示すように、長い方のよこ方向が、印加される超音波
の振動方向と一致しているため、ボンデイング部4aは
パツド1(n−1)からはみ出ることがない。次に、パ
ツド1(n−1)の隣りのパツド1nの接続を行なうに
際し、そのアライメントを行なう。その場合、パツド1
nの長手方向がシリコン・チツプ2の中心0に向いてい
るため、チツプ2を角度θnだけ回転移動した後でX,
y方向の位置修正をずれば良い。従つてそのアライメン
ト自体は非常に簡単であり、しかもアライメントが終了
した状態ではパツド1nの長い方のよこ方向が、印加す
る超音波の振動方向と一致しているため、パツド1(n
−1)の場合と同様ボンデイング部がパツド1n外には
み出ることがない。このように、上記実施例では、アラ
イメントをしやすくするため、各パツド11〜1nの長
い方のよこ方向をチツプ2の中心に向かうようにしてい
る。
シリコン・チツプ2上のパツド11〜1nをX,y,θ
方向に移動してアライメントが行なわれる。こうして、
例えばパツド1(n−1)のアライメントが終了した段
階で、そのパツド1(n−1)上のワイヤ4に超音波が
加えられ、ワイヤ4とパツド1(n−】)との接続が行
なわれる。この場合、パツド1(n−1)は、第2図B
に示すように、長い方のよこ方向が、印加される超音波
の振動方向と一致しているため、ボンデイング部4aは
パツド1(n−1)からはみ出ることがない。次に、パ
ツド1(n−1)の隣りのパツド1nの接続を行なうに
際し、そのアライメントを行なう。その場合、パツド1
nの長手方向がシリコン・チツプ2の中心0に向いてい
るため、チツプ2を角度θnだけ回転移動した後でX,
y方向の位置修正をずれば良い。従つてそのアライメン
ト自体は非常に簡単であり、しかもアライメントが終了
した状態ではパツド1nの長い方のよこ方向が、印加す
る超音波の振動方向と一致しているため、パツド1(n
−1)の場合と同様ボンデイング部がパツド1n外には
み出ることがない。このように、上記実施例では、アラ
イメントをしやすくするため、各パツド11〜1nの長
い方のよこ方向をチツプ2の中心に向かうようにしてい
る。
これによつて、超音波ボンデイング時のアライメントを
しやすくする。特に、アライメントをよりしやすくする
には、上記第2図Aに示す各パツドt1〜1nの位置を
、チツプ2の中心0から一定の距離だけ離れるように設
定すれば良い。さらに、本発明によれば、半導体ペレツ
トの中心部に対して放射状に延在する方向と同一方向に
ボンデイングパツドの両端部が延在することになるので
、半導体ペレツトの周辺部にパツドを密集して形成せし
め、これらに対して多くのワイヤを接続させることを可
能にする。これは、特に、半導体ペレツトのコーナ部に
おいてパツドを密集させて、かつ、そのコーナ部の外周
辺に沿つて外部引出しリードを位置させることができる
ので、特に、大規模の半導体集積回路において、多くの
接続ワイヤを設ける場合に有利である。上述のように、
本発明の超音波ボンデイング用パツドによれば、パツド
自体の面積を必要以上には大きくする必要がなく、デバ
イスの集積密度を向上する上で効果があり、しかもボン
デイング部がパツド外にはみ出ることが防止できるため
、相対的にその密着強度を増すことができる。
しやすくする。特に、アライメントをよりしやすくする
には、上記第2図Aに示す各パツドt1〜1nの位置を
、チツプ2の中心0から一定の距離だけ離れるように設
定すれば良い。さらに、本発明によれば、半導体ペレツ
トの中心部に対して放射状に延在する方向と同一方向に
ボンデイングパツドの両端部が延在することになるので
、半導体ペレツトの周辺部にパツドを密集して形成せし
め、これらに対して多くのワイヤを接続させることを可
能にする。これは、特に、半導体ペレツトのコーナ部に
おいてパツドを密集させて、かつ、そのコーナ部の外周
辺に沿つて外部引出しリードを位置させることができる
ので、特に、大規模の半導体集積回路において、多くの
接続ワイヤを設ける場合に有利である。上述のように、
本発明の超音波ボンデイング用パツドによれば、パツド
自体の面積を必要以上には大きくする必要がなく、デバ
イスの集積密度を向上する上で効果があり、しかもボン
デイング部がパツド外にはみ出ることが防止できるため
、相対的にその密着強度を増すことができる。
第1図A,Bはそれぞれ従来のパツドおよびそのボンデ
イング部を示す図、第2図A,Bはそれぞれ本発明の超
音波ボンデイング用パツドを備えたチツプの上面図およ
びそのボンデイング部の拡大図である。 1,11〜1n・・・・・・アルミニウム・パツド、2
・・・・・・シリコン・チツプ、3・・・・・・回路素
子領域、・・・・・・ワイヤ、4a・・・・・・ボンデ
イング部。
イング部を示す図、第2図A,Bはそれぞれ本発明の超
音波ボンデイング用パツドを備えたチツプの上面図およ
びそのボンデイング部の拡大図である。 1,11〜1n・・・・・・アルミニウム・パツド、2
・・・・・・シリコン・チツプ、3・・・・・・回路素
子領域、・・・・・・ワイヤ、4a・・・・・・ボンデ
イング部。
Claims (1)
- 1 四角形の半導体チップの周辺部に複数のボンディン
グパッドを設け、該複数のボンディングパッドのそれぞ
れに超音波ボンディング法によつてワイヤを接続する半
導体集積回路の製法において、前記各ボンディングパッ
ドを、その相対抗する二辺が互いに平行となり、その二
辺の長さがそれら二辺と直角な方向の幅よりも大きくな
るように形成し、前記複数のボンディングパッドのうち
、前記半導体チップのコーナー部に近接するものを、そ
のパッドの長さ方向が前記半導体チップの一辺を直角で
ない角度で横切るとともに、前記半導体チップのほぼ中
央部に向う方向に延在するように配置し、前記超音波ボ
ンディング法による接続時に、前記ワイヤの長さ方向と
前記パッドの長さ方向とを一致させ、かつ、超音波の振
動方向が前記パッドの長さ方向に一致するように超音波
を前記パッド上のワイヤに印加することを特徴とする半
導体集積回路の製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56152089A JPS5921168B2 (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 半導体集積回路の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56152089A JPS5921168B2 (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 半導体集積回路の製法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49124394A Division JPS5150661A (ja) | 1974-10-30 | 1974-10-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5795642A JPS5795642A (en) | 1982-06-14 |
| JPS5921168B2 true JPS5921168B2 (ja) | 1984-05-18 |
Family
ID=15532801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56152089A Expired JPS5921168B2 (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | 半導体集積回路の製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5921168B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5404047A (en) * | 1992-07-17 | 1995-04-04 | Lsi Logic Corporation | Semiconductor die having a high density array of composite bond pads |
| JP2002324798A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Nissan Motor Co Ltd | 電極構造 |
| JP5634033B2 (ja) | 2008-08-29 | 2014-12-03 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5113009Y2 (ja) * | 1971-02-05 | 1976-04-07 |
-
1981
- 1981-09-28 JP JP56152089A patent/JPS5921168B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5795642A (en) | 1982-06-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3213007B2 (ja) | リード・オーバー・プロセス及びリード・アンダー・プロセスを使用したマルチ・チップ・デバイス及び製造方法 | |
| JPH0613525A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5921168B2 (ja) | 半導体集積回路の製法 | |
| JP2908350B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0546098B2 (ja) | ||
| JP3565454B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
| JP2845841B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPS5930538Y2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2001127244A (ja) | マルチチップ半導体装置およびその製造方法 | |
| JP2971594B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH0344051A (ja) | ワイヤボンディング方法 | |
| JP2758677B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JPS6195559A (ja) | リ−ドフレ−ム及びそれを用いた半導体装置 | |
| JPH01231333A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JP2944591B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JPH06295934A (ja) | フィルムキャリアリード及びそれを用いたlsi構造 | |
| JPS615535A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS63141329A (ja) | Icパツケ−ジ | |
| JP3018225B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH04372161A (ja) | 半導体装置 | |
| JPS6373632A (ja) | 電子装置の製造方法 | |
| JPH0218956A (ja) | 半導体装置用リードフレーム | |
| JP2963952B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH0366150A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPS63160262A (ja) | リ−ドフレ−ムおよびそれを用いた半導体装置 |