JPS5922046A - 放射線画像読取方式 - Google Patents
放射線画像読取方式Info
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- JPS5922046A JPS5922046A JP57124744A JP12474482A JPS5922046A JP S5922046 A JPS5922046 A JP S5922046A JP 57124744 A JP57124744 A JP 57124744A JP 12474482 A JP12474482 A JP 12474482A JP S5922046 A JPS5922046 A JP S5922046A
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射線画像システムにおける画像読取方式に関
し、さらIc詳しくは蓄積性螢光体材料(以下単K「螢
光体」という)を用いて これに放射線画像を記録し、
この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材料に
最終画像として記録する放射線画像システムにお+Jる
%l像読取方式に関するものである。
し、さらIc詳しくは蓄積性螢光体材料(以下単K「螢
光体」という)を用いて これに放射線画像を記録し、
この放射線画像を読み出して再生し、これを記録材料に
最終画像として記録する放射線画像システムにお+Jる
%l像読取方式に関するものである。
従来、放射線画像を得るために銀塩を使用した、いわゆ
る放射線写真が利用ぎJしているが、近年、特に地球規
模における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しない
で放射線像を画像化J−る方法が望まれるようになった
。
る放射線写真が利用ぎJしているが、近年、特に地球規
模における銀資源の枯渇等の問題から銀塩を使用しない
で放射線像を画像化J−る方法が望まれるようになった
。
」二連の放射線写真法Kかわる方法として、被写体を透
過した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光
体をある種のエネルギ・−で励起してこの螢光体が蓄積
している放射線エネルギーを螢光として放射υ−しめ、
この螢光を検出して画像化する方法が考えられている。
過した放射線を螢光体に吸収せしめ、しかる後この螢光
体をある種のエネルギ・−で励起してこの螢光体が蓄積
している放射線エネルギーを螢光として放射υ−しめ、
この螢光を検出して画像化する方法が考えられている。
具体的な方法として、例えば英国特許第1,462,7
69号および特開昭51−29889号に#i螢光体と
して熱輝尽性螢光体を用い励起エネルギーとして熱エネ
ルギーを用いて放射線像を変換する方法が提唱されてい
る。この変換方法は支持体上に熱螢光性螢光体層を形成
したパネルを用い、このパネルの熱螢光性螢光体層に被
写体を透過した放射線を吸収させて放射線の強弱に対応
した放射線エネルギーを蓄積さぜ、しかる後この熱螢光
性螢光体層を加熱すること例よって蓄積さ71だ放射線
エネルギーを光の信号として取り出し、この光の強弱に
よって画像を得るものである。
69号および特開昭51−29889号に#i螢光体と
して熱輝尽性螢光体を用い励起エネルギーとして熱エネ
ルギーを用いて放射線像を変換する方法が提唱されてい
る。この変換方法は支持体上に熱螢光性螢光体層を形成
したパネルを用い、このパネルの熱螢光性螢光体層に被
写体を透過した放射線を吸収させて放射線の強弱に対応
した放射線エネルギーを蓄積さぜ、しかる後この熱螢光
性螢光体層を加熱すること例よって蓄積さ71だ放射線
エネルギーを光の信号として取り出し、この光の強弱に
よって画像を得るものである。
一方、例えば米国特許第3,859,527号および特
開昭55−12144号には励起エネルギーどして可視
光線および赤外線から選ばれる1℃磁放射線を用いる放
射線像変換方法が提唱されている。
開昭55−12144号には励起エネルギーどして可視
光線および赤外線から選ばれる1℃磁放射線を用いる放
射線像変換方法が提唱されている。
さらに、これに関連して特開昭55−12429号には
S / N Jt w向−[ニさせる方法として前記励
起光どじて600〜700 nmの波長域の光を用いて
螢光体を励起し、該螢光体の発光光のうち300〜50
0 nmの波長域の光を光検出器で受光するようKした
方法が提唱されている。この方法は、上述の熱輝尽性螢
光体を用いる方法のように蓄積された放射線エネルギー
ヲy乙の信号に変える際に加熱しなくてもよく、従って
パネルは耐熱性なイずする必要はなく、この点からより
好ましい放射線像変換方法と言える。
S / N Jt w向−[ニさせる方法として前記励
起光どじて600〜700 nmの波長域の光を用いて
螢光体を励起し、該螢光体の発光光のうち300〜50
0 nmの波長域の光を光検出器で受光するようKした
方法が提唱されている。この方法は、上述の熱輝尽性螢
光体を用いる方法のように蓄積された放射線エネルギー
ヲy乙の信号に変える際に加熱しなくてもよく、従って
パネルは耐熱性なイずする必要はなく、この点からより
好ましい放射線像変換方法と言える。
しかしながら、これらの方法において高いS/N比をイ
ひるために(′i励起yc、による螢光体の発yC元と
励起光とを)完全に分離する必要があり、こt]、 K
は 、 に)(1) 励起光カントフィルターを光検出器の前
に入れ励起光をカットする。
ひるために(′i励起yc、による螢光体の発yC元と
励起光とを)完全に分離する必要があり、こt]、 K
は 、 に)(1) 励起光カントフィルターを光検出器の前
に入れ励起光をカットする。
(2)励起光と螢光体の発光光との波長域を隔離する0
(3) (1) L (2)を、組合わせて使用する
。
。
などの方法が用いられている。
しかし、(1)の方法では励起光カントフィルターによ
り螢光体の発光光もカットされてしまうため発光光の利
用効率が著しく低下してしまう。また、励起光波長域と
螢ye木の発光波長域が近l/λ螢光1弓ではフィルタ
ーによる励起光のカットは困難となるなど応用面で大き
な難点がある。一方(2)の方法においては用いること
のできる励起光、螢光体および光検出器が限定さ12で
しまい、実用に際し′C様々な制約が生じるなどの欠点
なイfしている。
り螢光体の発光光もカットされてしまうため発光光の利
用効率が著しく低下してしまう。また、励起光波長域と
螢ye木の発光波長域が近l/λ螢光1弓ではフィルタ
ーによる励起光のカットは困難となるなど応用面で大き
な難点がある。一方(2)の方法においては用いること
のできる励起光、螢光体および光検出器が限定さ12で
しまい、実用に際し′C様々な制約が生じるなどの欠点
なイfしている。
本発明者等は、螢光体を用いた放射線画像システムにお
ける画像読取方式について研究を行なり本発明の目的は
上記知見を利用して、放射線画像シ・ステムにおける画
像読取方式において螢光体に記録さIしている画(象情
報を高いS/N比で読取るための放射線画像読取方式を
提供することである。
ける画像読取方式について研究を行なり本発明の目的は
上記知見を利用して、放射線画像シ・ステムにおける画
像読取方式において螢光体に記録さIしている画(象情
報を高いS/N比で読取るための放射線画像読取方式を
提供することである。
本発明の他の目的は、前記放射線画像システムにおりる
画像読取方式にお・い°C1励起光と螢光体の発光y0
との波長域とを隔離する必要のない放射線画像読取方式
を提供することである。
画像読取方式にお・い°C1励起光と螢光体の発光y0
との波長域とを隔離する必要のない放射線画像読取方式
を提供することである。
本発明の前記(目的は蓄積性螢光体材料を励起光で走査
し、発光光を光検出器で検出することにより、蓄積性螢
光体材料に記録されている放射線画像を読取る方式にお
いて、前記励起光を蓄積性螢光体材料に照射して励起し
た後、励起光を遮断し、ただちに該蓄積性螢光体材料の
発光y6を光検出器で検出することによって達成ずく)
ことができる。
し、発光光を光検出器で検出することにより、蓄積性螢
光体材料に記録されている放射線画像を読取る方式にお
いて、前記励起光を蓄積性螢光体材料に照射して励起し
た後、励起光を遮断し、ただちに該蓄積性螢光体材料の
発光y6を光検出器で検出することによって達成ずく)
ことができる。
本発明において螢光体とGま、最初の光もしくは高エネ
ルギー放射線が照射された後に1光的、熱的、機械的、
化学的または電気的等の刺激により、最初の光もしくは
高エネルギー放射線の照射量に対応した光を偶発光せし
める、いわゆる輝尽性をとはX線、ガンマ線、ベータ線
、アルファ線、中性子線等を含む。)このような螢光体
としては例えば特開昭48−80487号記載の13n
sO4; Ax(但しAはDy+ T6およびTmのう
ち少なくとも1種であり、X Get 、0.001≦
X(1モル%である、)で表わされる螢光体、特開昭4
8−80488号記載のMgSO4; Ax表わされる
螢光体、特開昭48−80489号記載のSrSO4;
Ax (但しAはTm 、 TしおよびDyのうちの
少なくとも1柚であり、Xは0.001≦X(1モル%
である。)で表わされる螢X体、特開昭51−2988
9号記載のNa2SO4+ CaSO4+およびB a
SO<等にM+1+ Dy +およσT0のうち少な
くとも1種を添加した螢光体、特開昭52−30487
号記載のBoo、 LIF。
ルギー放射線が照射された後に1光的、熱的、機械的、
化学的または電気的等の刺激により、最初の光もしくは
高エネルギー放射線の照射量に対応した光を偶発光せし
める、いわゆる輝尽性をとはX線、ガンマ線、ベータ線
、アルファ線、中性子線等を含む。)このような螢光体
としては例えば特開昭48−80487号記載の13n
sO4; Ax(但しAはDy+ T6およびTmのう
ち少なくとも1種であり、X Get 、0.001≦
X(1モル%である、)で表わされる螢光体、特開昭4
8−80488号記載のMgSO4; Ax表わされる
螢光体、特開昭48−80489号記載のSrSO4;
Ax (但しAはTm 、 TしおよびDyのうちの
少なくとも1柚であり、Xは0.001≦X(1モル%
である。)で表わされる螢X体、特開昭51−2988
9号記載のNa2SO4+ CaSO4+およびB a
SO<等にM+1+ Dy +およσT0のうち少な
くとも1種を添加した螢光体、特開昭52−30487
号記載のBoo、 LIF。
Mg25o4.およびCaFt等の螢光体、特開昭53
−39277号記載のL12 n407 : CuAg
等の螢光体、特開昭54−47883号記載のLi2O
・(Bto2)x : Cu (但しXは2〈Mg3)
、およびL120 (B103 )! =(’u l
Ag (但しXは2(Mg3)’Jの螢光体、米国特許
3,859,527号記載のSrS;Ce+8m X5
rS:Eu、Sm XLa2O2S:Eu+8mおよび
(Zn、Cd ) S:Mn1X (但しXはハロゲン
)で表ゎゼられる螢光体。特開昭55−12142記載
のznS :Cu +P6螢ツ0体、一般式がBao@
島12o、:Ell(但し0.8≦X≦10)で表わさ
れるアルミン酸バリウム螢光体、および一般式力MrI
O−X5IO,:A (但シM i;t Mg + C
a rSr+Zm+Cd+またはBaであり、Aは(’
e 、Tb +Eu +Tm+Pb、TI 、Ill
、およびMnのうち少なくとも1種であり、Xは0.5
≦X≦2.5である。)で表わされるアルカリ土類金属
珪酸塩系螢ツC体。特開昭55−12143号記載の一
般式が (B&+ −x −yMgxCay ) FX : e
Eu’−’(但しXは13rおよびCIの中の少なくと
も1っであり、Xy)+およびaはそれぞれ0 (x
+y≦0.6、xy〆0および10−0≦a≦5x1o
Fなる条件を満たす数である。〕で表わされるγルヵり
土類弗化ハロゲン化物螢光体、特開昭55−12144
υ記載の一般式が LnOX : XA (但しLnはLa、Y、GdおよびLuの少なくとも1
つを、XはC1及び/又゛はBrを、AはCe及び/又
はTb’%、XはLD (x (0,1を満足する数字
を表わす。)で表わされる螢光体、特開昭55 12]
、45号記載の一般式が (I3a、 、Mx)FX i yA(但しMIIは
Ma + Ca + Sr +Znおよびcdのうもの
少なくとも1つを、XはCI+Brおよび工のうちの少
なくとも1つを、AはEu 、’rb +Ce +Tm
+Dy+Pr 、no +Na 、Yb及びErのうち
の少なくとも1つを、X及びyは0)≦X≦0.6及び
O≦y≦0.2なる条件を満す数字を表わす。)で表わ
される螢光体、り4゛開昭55−84389号記載の一
般式がBaFX+xCe+yA (但し、XはCI+B
rおよび■のうちの少なくとも1つAはり。
−39277号記載のL12 n407 : CuAg
等の螢光体、特開昭54−47883号記載のLi2O
・(Bto2)x : Cu (但しXは2〈Mg3)
、およびL120 (B103 )! =(’u l
Ag (但しXは2(Mg3)’Jの螢光体、米国特許
3,859,527号記載のSrS;Ce+8m X5
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(Zn、Cd ) S:Mn1X (但しXはハロゲン
)で表ゎゼられる螢光体。特開昭55−12142記載
のznS :Cu +P6螢ツ0体、一般式がBao@
島12o、:Ell(但し0.8≦X≦10)で表わさ
れるアルミン酸バリウム螢光体、および一般式力MrI
O−X5IO,:A (但シM i;t Mg + C
a rSr+Zm+Cd+またはBaであり、Aは(’
e 、Tb +Eu +Tm+Pb、TI 、Ill
、およびMnのうち少なくとも1種であり、Xは0.5
≦X≦2.5である。)で表わされるアルカリ土類金属
珪酸塩系螢ツC体。特開昭55−12143号記載の一
般式が (B&+ −x −yMgxCay ) FX : e
Eu’−’(但しXは13rおよびCIの中の少なくと
も1っであり、Xy)+およびaはそれぞれ0 (x
+y≦0.6、xy〆0および10−0≦a≦5x1o
Fなる条件を満たす数である。〕で表わされるγルヵり
土類弗化ハロゲン化物螢光体、特開昭55−12144
υ記載の一般式が LnOX : XA (但しLnはLa、Y、GdおよびLuの少なくとも1
つを、XはC1及び/又゛はBrを、AはCe及び/又
はTb’%、XはLD (x (0,1を満足する数字
を表わす。)で表わされる螢光体、特開昭55 12]
、45号記載の一般式が (I3a、 、Mx)FX i yA(但しMIIは
Ma + Ca + Sr +Znおよびcdのうもの
少なくとも1つを、XはCI+Brおよび工のうちの少
なくとも1つを、AはEu 、’rb +Ce +Tm
+Dy+Pr 、no +Na 、Yb及びErのうち
の少なくとも1つを、X及びyは0)≦X≦0.6及び
O≦y≦0.2なる条件を満す数字を表わす。)で表わ
される螢光体、り4゛開昭55−84389号記載の一
般式がBaFX+xCe+yA (但し、XはCI+B
rおよび■のうちの少なくとも1つAはり。
TI+Gd+Sm およUZrのうちの少なくとも1
つでありXおよびyはそrぞn Q+ <、 x≦2×
1o嗣および0〈Mg5 X 10’−”である。)で
表わされる螢光体、および特開昭55−160078号
記載の一般式がMFX xA:yLn (但しM“はHa + Ca + S r + Mg
+ ZnおよびCdのうちの少Ta2O,、およびTh
e、のうちの少なくとも1種、LnはEu、TI)+C
e+Tm+I)y+Pr+Ho+Nd+Yb、Er、S
m およσGdのうちの少なくとも1種、XはCI I
BrおよびIのうちの少なくとも1種であり、Xおよび
yはそれ−Cぞし5 X 10≦X≦0.5およびo<
Mg0.2なる条件を満たず数である。)で表わされる
希土類元素付活2価金属フルオロハライド螢&e体、一
般式がZnS : A 、Cd8 QA i )<1z
r+gea 、) S : A 、ZnS :A +X
およびcds+A、X (但しAはCu、Ag、Au+
またはMnであり、Xはハロゲンである。〕で表わされ
る螢yc体等が挙げられる。しかしながら、本発明の放
射線画像読取方式に用いられる螢光体は上述のLli、
:X;体(こ限られるものではなく・、放射線を照射
した後動i!’V ”/Lを照射した場erK輝尽発光
を示すものであればいがなる螢光体であってもよいこと
は言うまで1−、ない。
つでありXおよびyはそrぞn Q+ <、 x≦2×
1o嗣および0〈Mg5 X 10’−”である。)で
表わされる螢光体、および特開昭55−160078号
記載の一般式がMFX xA:yLn (但しM“はHa + Ca + S r + Mg
+ ZnおよびCdのうちの少Ta2O,、およびTh
e、のうちの少なくとも1種、LnはEu、TI)+C
e+Tm+I)y+Pr+Ho+Nd+Yb、Er、S
m およσGdのうちの少なくとも1種、XはCI I
BrおよびIのうちの少なくとも1種であり、Xおよび
yはそれ−Cぞし5 X 10≦X≦0.5およびo<
Mg0.2なる条件を満たず数である。)で表わされる
希土類元素付活2価金属フルオロハライド螢&e体、一
般式がZnS : A 、Cd8 QA i )<1z
r+gea 、) S : A 、ZnS :A +X
およびcds+A、X (但しAはCu、Ag、Au+
またはMnであり、Xはハロゲンである。〕で表わされ
る螢yc体等が挙げられる。しかしながら、本発明の放
射線画像読取方式に用いられる螢光体は上述のLli、
:X;体(こ限られるものではなく・、放射線を照射
した後動i!’V ”/Lを照射した場erK輝尽発光
を示すものであればいがなる螢光体であってもよいこと
は言うまで1−、ない。
本発明において励起y(、とは7Iλ初の)“Cもしく
は高エネルギー放射線の照射された後の前記41>光体
を光重J5よび/または熱的に輝尽発光せしめることの
できる300nm以上の波長域の↑IL磁放明放射線う
。
は高エネルギー放射線の照射された後の前記41>光体
を光重J5よび/または熱的に輝尽発光せしめることの
できる300nm以上の波長域の↑IL磁放明放射線う
。
このような励起光としては例えば、lie −Cd
レーザ、Krレーザ+ Arレーザl N2レーザ+
He Neレーザ、色素レーザ、半導体レーザ、 C
o、 L−−リ′。
レーザ、Krレーザ+ Arレーザl N2レーザ+
He Neレーザ、色素レーザ、半導体レーザ、 C
o、 L−−リ′。
YAGレーザ、および発ycダイオード等がある。また
タングステンランプX8−ランプ(ま波長JjQが近紫
外、可視から赤外にまで及ぶ力5,300nm以下の波
長域の5Y、をフィルターによってカットずれば使用す
ることができる。
タングステンランプX8−ランプ(ま波長JjQが近紫
外、可視から赤外にまで及ぶ力5,300nm以下の波
長域の5Y、をフィルターによってカットずれば使用す
ることができる。
以下に本発明の放射線画IIシ読取方式について];(
16略図を用いて具体的)′c説明j°る。第1図にお
いて11は放射線発生装置、12は被写体、Bは螢光体
層を有する放射線透像変換パネル、J4は放射線画像変
換パネルの放射線潜像を螢光どして放射さセるための励
起光の光源、15は放射線像変換パネルより放射された
螢光を検出する光検出器、16は例起光を変19.’i
するための光変調器、17は光度I!li器制御は同期
回路を制御するための制御回路、21は預検出器からの
光電変換信号の増幅器、および四は再生された画像を表
示する装置である。21以降は、15からの光電変換信
号を何らかの形どして再生できるものであればよく、上
記に限定されるものではない。
16略図を用いて具体的)′c説明j°る。第1図にお
いて11は放射線発生装置、12は被写体、Bは螢光体
層を有する放射線透像変換パネル、J4は放射線画像変
換パネルの放射線潜像を螢光どして放射さセるための励
起光の光源、15は放射線像変換パネルより放射された
螢光を検出する光検出器、16は例起光を変19.’i
するための光変調器、17は光度I!li器制御は同期
回路を制御するための制御回路、21は預検出器からの
光電変換信号の増幅器、および四は再生された画像を表
示する装置である。21以降は、15からの光電変換信
号を何らかの形どして再生できるものであればよく、上
記に限定されるものではない。
第1図に示されるように、被写体12を放射線発生装置
11ど放射線像変換パネル130間に配置し、(放射線
を照射すると、放射線は被写体12の各部の放射線透過
率の変化に従って透過し、その透過像(すなわち放射線
の強弱の像)が放射線像変換パネル13に入射する。こ
の入射した透過像は放射線像変換パネル13の螢光体N
jK吸収さjL、これKよって螢光(*層中に吸収した
放射線量に比例した数の電子または正孔が発生し、これ
が螢yt体のトラップレベルに蓄積される。すなわち放
射線透過像の蓄積像が形成される。
11ど放射線像変換パネル130間に配置し、(放射線
を照射すると、放射線は被写体12の各部の放射線透過
率の変化に従って透過し、その透過像(すなわち放射線
の強弱の像)が放射線像変換パネル13に入射する。こ
の入射した透過像は放射線像変換パネル13の螢光体N
jK吸収さjL、これKよって螢光(*層中に吸収した
放射線量に比例した数の電子または正孔が発生し、これ
が螢yt体のトラップレベルに蓄積される。すなわち放
射線透過像の蓄積像が形成される。
次に、前記放射線変換パネル13は光度i%1器1GK
よって変調された励起yににより、励起され、前記放射
線像変換パネル13の螢光体層に吸収された放射線エネ
ルギーの強弱に比例した輝尽螢光を放射ており、前記光
検出器制御回路18は、)゛C検出器J5を光変調器1
6に対し一定の時間だけ遅らせてオンし、一定のゲ門ノ
1時間後再びオフする。前記放射線変換パネル13から
放射された螢光は、光度ル・7器16に対し一定の位相
だけ遅れてオンする光検出器15によって光電変換され
、画像表示装置f122ICよりこの画像を表示する。
よって変調された励起yににより、励起され、前記放射
線像変換パネル13の螢光体層に吸収された放射線エネ
ルギーの強弱に比例した輝尽螢光を放射ており、前記光
検出器制御回路18は、)゛C検出器J5を光変調器1
6に対し一定の時間だけ遅らせてオンし、一定のゲ門ノ
1時間後再びオフする。前記放射線変換パネル13から
放射された螢光は、光度ル・7器16に対し一定の位相
だけ遅れてオンする光検出器15によって光電変換され
、画像表示装置f122ICよりこの画像を表示する。
第2図は光変調された励起光、それにより放射される螢
光、および光検出器の感度の時間的変化を示すグラフ。
光、および光検出器の感度の時間的変化を示すグラフ。
(轟)は励起光であり、(b)はそれにより放射される
螢光、および(C)は光検出器の感度である。(a)お
よび(b)かられかるように励起光に対して螢光が放射
する発光光には時間的おくれが見られる。またこれら3
つの関係かられかるように、励起光を光変調して励起光
がオフの状態で光検出器15を副ンし、励起光より時間
的に遅れて放射される螢光を検出すれば、フィルターな
どで励起光と螢光を分離することなく高いS/N比で螢
光を光電変換できる。また、励起光と螢光の発光光の波
長域が非常に近くフィルターでの分離が困難な場合にで
も高いS/N比で螢光な光電変換できる。
螢光、および(C)は光検出器の感度である。(a)お
よび(b)かられかるように励起光に対して螢光が放射
する発光光には時間的おくれが見られる。またこれら3
つの関係かられかるように、励起光を光変調して励起光
がオフの状態で光検出器15を副ンし、励起光より時間
的に遅れて放射される螢光を検出すれば、フィルターな
どで励起光と螢光を分離することなく高いS/N比で螢
光を光電変換できる。また、励起光と螢光の発光光の波
長域が非常に近くフィルターでの分離が困難な場合にで
も高いS/N比で螢光な光電変換できる。
第2図において励起光はデジタル変調したが、かならず
しもデジタル変v11である必要はなくアナログ変調で
もよい。また光検出器についても光検出器を′IJSな
らずしもオン−オフする必要はなく感状部で光検出器1
5がオンとならない範囲であるならばよく光検出器15
のゲート時間は、光変調器16の次のオンの状態と交わ
らない範囲であるならばよい。
しもデジタル変v11である必要はなくアナログ変調で
もよい。また光検出器についても光検出器を′IJSな
らずしもオン−オフする必要はなく感状部で光検出器1
5がオンとならない範囲であるならばよく光検出器15
のゲート時間は、光変調器16の次のオンの状態と交わ
らない範囲であるならばよい。
実際上は、螢光体、励起光強度、読取辻度などによって
異なるが、光検出器150光変t、’i HE 16
K対する時間の遅れは1 n5ec 〜100 m5C
C%好EJ: t、 <は2nsec〜1m5eCであ
り、ツC検出器15のゲート時間は1nsec〜500
m5eCs好ましくは5 n sec 〜]、Qrn
SeCである。
異なるが、光検出器150光変t、’i HE 16
K対する時間の遅れは1 n5ec 〜100 m5C
C%好EJ: t、 <は2nsec〜1m5eCであ
り、ツC検出器15のゲート時間は1nsec〜500
m5eCs好ましくは5 n sec 〜]、Qrn
SeCである。
マタ励起光KJニル励起時間は、l n5cc 〜l
(lomsec、好ましくは5n3eC〜5Qm3eC
である。
(lomsec、好ましくは5n3eC〜5Qm3eC
である。
第3図は別の放射線画像読取方式を示す。第3図におい
ておはスイッチング回路であり、同期回路19からの信
号により、光検出器15からの電気信号を光変調器16
に対し一定の位相だけ遅らせてサンプリングしている。
ておはスイッチング回路であり、同期回路19からの信
号により、光検出器15からの電気信号を光変調器16
に対し一定の位相だけ遅らせてサンプリングしている。
この方式においては、光検出器15の後にスイッチング
回路を設けるだけでよく、方式としては簡単であるが、
光検出器は゛)1ζにオンの状態であり、励起光が螢光
に対して非常に強い場合には好ましくない。
回路を設けるだけでよく、方式としては簡単であるが、
光検出器は゛)1ζにオンの状態であり、励起光が螢光
に対して非常に強い場合には好ましくない。
第4図は、さらに別の放射線画像読取方式を示す。第4
図においてUはシャッターであり、′l!!′)はシャ
ッター制御回路である。同期回路19は、光変W7器1
6とシャッター制御回路部に同期信号を与えており、前
記シャッター制御回路部はシャッター冴を光変調器16
に対しで定の位相だけ遅ら・Uてオン11副フしている
。
図においてUはシャッターであり、′l!!′)はシャ
ッター制御回路である。同期回路19は、光変W7器1
6とシャッター制御回路部に同期信号を与えており、前
記シャッター制御回路部はシャッター冴を光変調器16
に対しで定の位相だけ遅ら・Uてオン11副フしている
。
次に、実施例および比較例を用い°C4・発明を説明す
る。
る。
実施例1
放射線像変換パネルはZnS:Cuの8重度部を結着剤
とし、このニトロセルロース1重量部(てアセトンと酢
酸エチルを等泉混合した溶剤を用いて分散させ、これを
ポリエナレンテレフタレート基板上にワイヤバー乞用い
て塗布して作成した。
とし、このニトロセルロース1重量部(てアセトンと酢
酸エチルを等泉混合した溶剤を用いて分散させ、これを
ポリエナレンテレフタレート基板上にワイヤバー乞用い
て塗布して作成した。
この放射線像変換パネルの螢yC体層の乾燥膜厚は、約
300μ!nであった。
300μ!nであった。
この放射線変換パネルV(管Tη圧BOICVのX線を
照射した後第1図1c 7iクシだ装置aを用いて螢元
本層より放射される発ゲ0元を検出した。すなわち、励
起光として1 mWのHe−Neレーザ(6328A
)光を用い1μsec間螢光体を励起した。励起光を遮
断後20Ofisec後Vこパルス幅:3μsecの高
圧パルスをyc、m子増倍管に印加して螢光体より放射
される発光y/、を検出したところJ(e−Neレーザ
yCと分+4111 して螢)“0体からの発光を観察
できた。
照射した後第1図1c 7iクシだ装置aを用いて螢元
本層より放射される発ゲ0元を検出した。すなわち、励
起光として1 mWのHe−Neレーザ(6328A
)光を用い1μsec間螢光体を励起した。励起光を遮
断後20Ofisec後Vこパルス幅:3μsecの高
圧パルスをyc、m子増倍管に印加して螢光体より放射
される発光y/、を検出したところJ(e−Neレーザ
yCと分+4111 して螢)“0体からの発光を観察
できた。
以上のように本発明の放射線画像読取方式を用いると励
起yCカットフィルターなどを使用万ることなく高いS
/N比を得ることができる。
起yCカットフィルターなどを使用万ることなく高いS
/N比を得ることができる。
比較例1
実IN例1と同じ放射線像変換パネルを用いて管電圧8
0KVのX線を照射した後、l1o−Neレーザ゛(6
32BA )光を用い4μsec間′IJf2九体を励
起しり。光電子増倍管前面f励起光カットフィルターを
用いて励起光から発光光を分離して検出しようとこころ
みたがどのような励起y(、カットフィルターを用いて
も高いS/N比で検出することができなかった。
0KVのX線を照射した後、l1o−Neレーザ゛(6
32BA )光を用い4μsec間′IJf2九体を励
起しり。光電子増倍管前面f励起光カットフィルターを
用いて励起光から発光光を分離して検出しようとこころ
みたがどのような励起y(、カットフィルターを用いて
も高いS/N比で検出することができなかった。
以上のように本発明の放射線画像読取方式を用いると、
励起光と螢光体の発光光の波長域が近ずぎて両者の分離
が困難であるような螢光体でも高いS/N比が得られ十
分実用に供することがわかる。
励起光と螢光体の発光光の波長域が近ずぎて両者の分離
が困難であるような螢光体でも高いS/N比が得られ十
分実用に供することがわかる。
第1図は本発明の放射線画像変換方式の概略説明図、
第2図は本発明の放射線画像変換方式における励起光、
螢光体より放射される発光光、および光検出器の感度の
時間的変化を表ねT図、第3図、第4図は本発明の他の
放射線画像変換方式の概略説明図である。 11・・・放射線発生装置、 12・・・被写体、13
・・・放射線像変換パネル、 14・・・励起光源、1
5・・・光検出器、 16・・・光変調器、17
・・・光変調器制御回路、 18・・・光検出器制御回路、 19・・・同期回路、
2()・・・制御回路、 21・・・電流増幅器
、22・・・画像表示装置、 お・・・スイッチング
回路、24・・・シャッター、25・・・シャッター1
1itl 御rW M代理人 系 原 銭 美 第 2 図 手続補正書 lb’f l’u 58 イ1 8 月29(I′
111・・’r +i’ L〈’1’: 若杉和夫殿
1すfl′l:t))ノシ小 11+″+ 11157 ’11’r ::’l)+・
1’i21’! 124744 リ2 発1(11
の名fブj、 放射線画像読取方式 %式% 4Tイ′1との関(41’r :i’l’ Iff 願
人IJj′J? 、1!: !+!’ 81113
(宿1%l i”? 、fJ(宿I J ’ l l
2 fi 番2 ’;名 Iイj・ (1271
tJ・1ノ!1人7J゛貞 1:業イ朱ヱ(会?1代l
、3(灯↑岐用本信彦 ’ l+1il)ごυ令σ珪目j 自 発 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の(閘 7、 補正の内容
螢光体より放射される発光光、および光検出器の感度の
時間的変化を表ねT図、第3図、第4図は本発明の他の
放射線画像変換方式の概略説明図である。 11・・・放射線発生装置、 12・・・被写体、13
・・・放射線像変換パネル、 14・・・励起光源、1
5・・・光検出器、 16・・・光変調器、17
・・・光変調器制御回路、 18・・・光検出器制御回路、 19・・・同期回路、
2()・・・制御回路、 21・・・電流増幅器
、22・・・画像表示装置、 お・・・スイッチング
回路、24・・・シャッター、25・・・シャッター1
1itl 御rW M代理人 系 原 銭 美 第 2 図 手続補正書 lb’f l’u 58 イ1 8 月29(I′
111・・’r +i’ L〈’1’: 若杉和夫殿
1すfl′l:t))ノシ小 11+″+ 11157 ’11’r ::’l)+・
1’i21’! 124744 リ2 発1(11
の名fブj、 放射線画像読取方式 %式% 4Tイ′1との関(41’r :i’l’ Iff 願
人IJj′J? 、1!: !+!’ 81113
(宿1%l i”? 、fJ(宿I J ’ l l
2 fi 番2 ’;名 Iイj・ (1271
tJ・1ノ!1人7J゛貞 1:業イ朱ヱ(会?1代l
、3(灯↑岐用本信彦 ’ l+1il)ごυ令σ珪目j 自 発 6、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の(閘 7、 補正の内容
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (]) 蓄積性螢光体材料を励起光で走査し、発光光
を光検出器で検出することてより、蓄積性螢光体材料に
記録されている放射線画像を読取る方式において、前記
励起光を蓄積性螢光体材料に照射して励起した後、励起
光を遮断し、だだちに該蓄積性螢光体材料の発光光を光
検出器で検出するようにしたことを特徴とする放射線画
像読取方式。 (2) 前記励起光を変調して蓄積性螢光体材料を励
起し、該蓄積性螢光体材料の発光光を前記励起光と同期
させた光検出器で検出するようにしたことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の放射線画像読取方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57124744A JPS5922046A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 放射線画像読取方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57124744A JPS5922046A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 放射線画像読取方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5922046A true JPS5922046A (ja) | 1984-02-04 |
| JPH0546531B2 JPH0546531B2 (ja) | 1993-07-14 |
Family
ID=14893031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57124744A Granted JPS5922046A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 放射線画像読取方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5922046A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6086539A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Toshiba Corp | 放射線画像情報読取装置 |
| EP0174875A2 (en) | 1984-09-14 | 1986-03-19 | Konica Corporation | Method for converting radiographic image and radiation energy storage panel having stimulable phosphor-containing layer |
| JPH0854201A (ja) * | 1994-02-28 | 1996-02-27 | Natl House Ind Co Ltd | アンカーボルト間ピッチの測定方法およびその治具 |
| US6953941B2 (en) | 2002-02-25 | 2005-10-11 | Konica Corporation | Radiation image conversion panel and producing method thereof |
| EP1619691A2 (en) | 2004-07-22 | 2006-01-25 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation image conversion panel and manufacturing method thereof |
| US7709802B2 (en) * | 2007-03-09 | 2010-05-04 | Fujifilm Corporation | Radiation image capturing apparatus and method of processing image information therefor |
| EP2261932A2 (en) | 2002-11-27 | 2010-12-15 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Radiographic image conversion panel, method for manufacturing the same, method for forming phosphor particle, method for forming photostimulable phosphor precursor, phosphor precursor and photostimulable phosphor |
-
1982
- 1982-07-16 JP JP57124744A patent/JPS5922046A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6086539A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Toshiba Corp | 放射線画像情報読取装置 |
| EP0174875A2 (en) | 1984-09-14 | 1986-03-19 | Konica Corporation | Method for converting radiographic image and radiation energy storage panel having stimulable phosphor-containing layer |
| JPH0854201A (ja) * | 1994-02-28 | 1996-02-27 | Natl House Ind Co Ltd | アンカーボルト間ピッチの測定方法およびその治具 |
| US6953941B2 (en) | 2002-02-25 | 2005-10-11 | Konica Corporation | Radiation image conversion panel and producing method thereof |
| EP2261932A2 (en) | 2002-11-27 | 2010-12-15 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Radiographic image conversion panel, method for manufacturing the same, method for forming phosphor particle, method for forming photostimulable phosphor precursor, phosphor precursor and photostimulable phosphor |
| EP1619691A2 (en) | 2004-07-22 | 2006-01-25 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation image conversion panel and manufacturing method thereof |
| US7183561B2 (en) | 2004-07-22 | 2007-02-27 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | Radiation image conversion panel and manufacturing method thereof |
| US7709802B2 (en) * | 2007-03-09 | 2010-05-04 | Fujifilm Corporation | Radiation image capturing apparatus and method of processing image information therefor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0546531B2 (ja) | 1993-07-14 |
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