JPS59231794A - デジタルmos半導体集積回路 - Google Patents

デジタルmos半導体集積回路

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JPS59231794A
JPS59231794A JP59099663A JP9966384A JPS59231794A JP S59231794 A JPS59231794 A JP S59231794A JP 59099663 A JP59099663 A JP 59099663A JP 9966384 A JP9966384 A JP 9966384A JP S59231794 A JPS59231794 A JP S59231794A
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    • G—PHYSICS
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    • G—PHYSICS
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    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は、異なるレベルを有する2つの信号を入力され
る信号入力端を備え、第1のレベルを有する信号により
第1の動作様式が釈放可能であり、第2のレベルを有す
る信号により第2の動作様式が釈放可能であシ、場合に
よっては同時の休IFのもとではその都度の別の動作様
式が釈放可能であるようなデジタル間O8半導体集積回
路に関する。
デジタル間O8半導体集積回路のためのか\る構成は、
例えば余分の行および列を有するデジタル間O8半導体
集積回路にとって、特にこの種のダイナミックメモリに
とって重要である。よく知られているように、か\るメ
モリのマトリックスは最初はメモリの通常動作のために
用意されていない付加的な行および列を有する。しかし
通常動作のために用意されているメモリセルに欠陥が生
じた場合その欠陥を有する行もしくは列がか\る余分の
行もしくは列によって置き換えることができる。これは
、余分の行もしくは列が通常動作(これに対してはそれ
らの行もしくは列は最初は阻止されていた。)に対して
は適当な操作によってアクセスされ、これに対して他方
では欠陥セルを含む行もしくは列が永続的に休止させら
れるようにすることによって行なわれる。このためには
、余分の行および列を分離可能な接続にょシ通常動作時
における応答によって阻止するのが普通である。
余分の行もしくは列の活性化は同様にこれらの短絡接続
を分離することによって行なわれる。この場合に余分の
行もしくは列によって置き換えられたメモリマトリック
スの行および列の識別可能性を自由に有することがしば
しば必要である。
西独特許出願第3,311,427.1においては集積
化されたダイナミック・ライト拳す−ド拳メモリが記憶
されていて、これはメモリマトリックスの通常動作のだ
めに設けられている行もしくは列の余分の行もしくは列
による置き換えはスタティクメモリにおけるいわゆるロ
ール彎コール法に相当して制御信号にて付勢する場合に
データ出力端におけるロジックレベルによって識別可能
である。
そこで、か\るテストに用いられる制御信号をメモリ回
路の特別にこのだめに設けられた信号端子に印加するこ
とができるが、しかしながらこれはよく知られている理
由から望ましくないメモリを含むICデバイスのだめの
接続ピンの増加をもだらす。もちろん一方では通常動作
のために、そして他方ではテスト動作のために、共通の
外部信号入力端に印加される種々に調整された信号電圧
が用いられる。一方のレベルの信号の場合にはこれらは
一方の動作様式をもたらし、他方のレベルの信号の場合
にはこれらは自動的に集積回路の相応の内部構成にした
がって他方の動作様式をもたらす。このだめには切換え
を生せしめる切換装置が必要である。この切換装置は、
共通に両信号様式によって作用を受ける外部信号入力端
に印加される信号に基いて、印加信号が通常動作のだめ
に用意されたかどうか、又は例えばテスト動作のために
用意されたかどうかを確認し、それからこの信号によシ
テスト動作または通常動作への回路の相応せる内部調整
が行なわれるようにする。
例えば、集積回路におけるテスト機能を準備されている
回路部分は、上述のように内部接続されたテスト動作用
信号電極にICデバイスの通常動作電圧よりも大きい信
号電圧を印加することにより活性化される。しかしなが
ら、その際に通常動作のだめに用意された信号電圧が上
述の信号端子に印加されるときにテスト機能が釈放され
ることがないように保証しなければならない。他方では
、テスト信号のだめの電圧は自明な理由からなおも集積
回路の最大許答印加電圧以下になければならない。さら
にテスト信号印加時に上述の入力端を介する電流はでき
るかぎυ避けるべきである。さらにこのテスト動作が上
述のデバイスにおいて前もって通常動作のために用意さ
れている回路部分が余分の回路部分によって置き換えら
れたときのみ可能であることが好ましく、これに対して
前もってテスト動作用回路部分の完全な休止が与えられ
ていることが好ましい。なんとなれば、それにより、余
分を備え回路的に互いに一致させられて構成されたIC
において、余分の部分が既に通常動作に投入された場合
と、そうでない場合と簡単に区別することができるから
である。
〔発明の目的〕
本発明の目的は冒頭に定義にしたデジタル間O8半導体
集積回路を1述の観点にしたがって構成することにある
。
〔発明の構成〕
この目的は、本発明によれば、両信号様式を受ける信号
入力端は第1のMO8電界効果トランジスタのゲートと
接続されていて、この第1のMO8電界効果トランジス
タはドレインを供給電位に置かれ、かつソースを第2の
MO8電界効果トランジスタのソース・ドレイン区間を
介して一方ではシュミツ))リガ回路の入力端と、他方
では第3のMO8電界効果トランジスタのドレインとそ
れぞれ接続されていて、この第3のMO8電界効果トラ
ンジスタはゲートを供給電位に、ソースを基準電位に置
かれ、前記シュミットトリガ回路の出力端は2つの入力
端を備えだ出力増幅器の第1の入力端の匍J御のだめに
用いられ、その出力増幅器は他方で供給電位と基準電位
に置かれ、その出力増幅器の第2の入力端は@4および
第5のMO8電界効果トランジスタの直列接続と2つの
入力端を備えたANDゲートとからなり同時に第2のM
O8t界効果トランジスタの制御のために用いられる回
路部分によって制御されるようになっていて、この回路
部分では第5のMO8電界効果トランジスタがソースを
基準電位に接続され、ドレインを分離可能な接続を介し
て前言自ANDゲートの第1の入力端と第4のMO8O
8電界効果フランジ2スタースとに接続されていて、こ
の第4のMO8電界効果トランジスタのドレインは供給
電位に置かれ、さらに第5のMO8電界効果トランジス
タの制御のだめに第1のクロック信号が、第4のMO8
電界効果トランジスタの制御のために第2のクロック信
号が、前記ANDゲートの第2の入力端の制御のだめに
第3のクロック信号がそれぞれ用意されていて、前記A
NDゲートの出力端は一方では第2のMO8iO8電界
効果トランジスタのためと前記出力増幅器の第2の入力
端の制御のだめに用いられ、前記出力増幅器の出力端に
現れる信号はMO8半導体集積回路の他の部分の付勢な
いしは制御のために用いられるようになっていることに
よって達成される。
〔発明の実施例〕
以下、図面を参照しながら、本発明を実施例について更
に詳細に説明する。
第1図に示されている本発明による回路の第1実施例の
回路図においては、異なるレベルを有する2つの信号様
式Aを受ける本発明による回路部分b(しきい値スイッ
チ)と、更に通常動作のために設けられている回路部分
aが示されている。
回路部分aは通常もしくは実動作に用いられ、回路部分
すはテスト動作に用いられる。発生すべき信号φRによ
ってテスト回路すは作動可能にされる。同時に信号φR
は通常動作のだめに設けられている回路部分aを不動作
にさせるのに用いることができる。
そこで、本発明の定義にしたがって、第1のMO8電界
効果トランジスタT1はゲートを上述の信号端子Aに接
続され、ドレインを供給電位■ccに接続され、ソース
を第2のMO8O8電界効果トランジスタT2−ス・ド
レイン区間を介して一方ではシュミットトリガ回路ST
の入力端Bに接続され、他方では第3のMO8O8電界
効果トランジスタT3−ス・ドレイン区間を介して基準
電位■ss に接続されている。第3のトランジスタT
3のゲートは直接に供給電位■ccに接続されているの
に対して、第2のMO8O8電界効果トランジスタT2
−トはANDゲートUの出力によって制御されるように
なっている。
この個所では、第1図および第3図に示されている実施
例においては、回路に使用されているトランジスタの総
てが自己阻止型であり、且つ同一のチャネル導電型、特
にnチャネル型であることが確認されるはずである。A
NDゲートについては第3図から明らかであるようにこ
れは自己阻止型の唯一のMO8電界効果トランジスタに
よって実現できることをも注目すべきである。
出力増幅器は第1図に示す本発明実施例の場合には直列
接続されている2つの出力トランジスタAt1およびA
t2によって与えられており、電界効果トランジスタA
tlはソースを基準電位vssに、そして電界効果トラ
ンジスタAt2はドレインを供給電位vccに置かれて
いる。トランジスタAt2のソースとトランジスタAt
、lのドレインは共に所望の信号φRを供給する出力端
を形成している。
出力増幅器において基準電位vss側に置かれているト
ランジスタAtlのゲートの制御のためにシュミツ14
リガ回路STの出力端Cが用いられる。
供給電位vcc側にあるトランジスタAt2のゲートの
制御のためにANDゲートUの出力が用意されていて、
このANDゲートUの出力は既に述べたように第2のM
O8O8電界効果トランジスタT2−トの制御のために
用いられる。
本発明における第5のMO8O8電界効果トランジスタ
T5ゲートを第1のクロック信号φAによって制御され
、ソースを基準電位■ssに置かれ、ドレインを分離可
能な接続FLの介在のもとにANDゲートUの一方の入
力端と第4のMO8O8電界効果トランジスタT4−ス
とに接続されている。このトランジスタT4はドレイン
を供給電位vccのだめの供給端子に接続されていて、
ゲートを第2のパルス列によって制御されるようになっ
ている。ANDゲートUの第2の入力端の制御のだめに
第3のパルス列φPが用いられる。
第1図による回路は第3図の回路と次の点で異なってい
る。即ち、第3図による回路においては出力増幅器の複
雑化された構成、シュミットトリガ回路STの実施形態
、MO8電界効果トランジスタによるANI)ゲー)U
の実現が与えられていることである。まずさらにこの第
3図による実施可能性について述べることにする。
トランジスタT、i iT2 ;!T3と信号入力端へ
との接続回路および制御に関しては第1図の構成のもの
と一致している。
第3図において使用されているシュミットトリガ回路S
Tの構成の場合には4つのMO8電界効果トランジスタ
811〜St4が設けられていて、これらのうち1番目
のトランジスタSt1のゲートと2番目のトランジスタ
St2のゲートはシュミットトリガ回路STの信号入力
端Bをなしている。この1番目のトランジスタStlは
ソースを基準電位■ssに置かれ、ドレインを2番目の
トランジスタ812のソースに接続されると共に4番目
のトランジスタSt4のソース・ドレイン区間を介して
供給電位Vccに接続されている。3番目のトランジス
タSt3はソースをシュミツ))リガ回路STの信号出
力端Cと4番目のトランジスタst4のゲートとに接続
され、そしてゲートとドレインとを供給電位vccに置
かれている。
第1のクロック信号φAと第2のクロック信号φ■とに
よって制御される第5のトランジスタT5もしくは第4
のトランジスタT4の回路並びに分離可能な接続PLの
使用に関しては@1図および第3図の両者は一致してい
る。ANDゲートUの実現のためにMO8電界効果トラ
ンジスタが使用され、これのドレインは第3のパルス列
φPを受け、ANDゲートの出力端を形成するこれのソ
ースは第2のトランジスタT2のゲートに直接に接続さ
れると共にコンデンサC1を介して第4のトランジスタ
T4のソース、即ち自分のゲートに接続されている。A
NDゲートUの出力端は、例えば第1図から明らかのよ
うにして(Atl、At2により)構成することのでき
る回路全体の出力端における増幅器回路の入力端に接続
されている。
しかしながら、第3図に示されている本発明実施例では
出力増幅器は同様にンユミットトリガ回路として構成さ
れていて、これはこの場合にはプートストラップ回路と
組合わされている。これの実現のために6つのMO8電
界効果トランジスタAt3〜At8とコンデンサC2が
設けられていて、これらは次のように接続されている。
ANDゲー)Uの出力を受ける出力増幅器の第1の入力
端はトランジスタAt8の一方の通電端子によって与え
られ、このトランジスタAt8はゲートを供給電位vc
cに置かれ、他方の通電端子を回路接続点Sに接続され
ている。この回路接続点Sは(同様に第4のトランジス
タT4の制御のだめに導入される)第2のクロックパル
スφVによってゲートを制御されるMO8電界効果トラ
ンジスタAt5のソース・ドレイン区間を介して基準電
位vssに導かれている。さらに、この回路接続点Sは
コンデンサC2を介して所望のパルスφRを供給する出
力増幅器の信号出力端に導かれている。
そして、この回路接続点SはトランジスタAt6のゲー
トにも接続されていて、このトランジスタAt6はソー
スを信号出力端に接続され、ドレインを供給電位vcc
に置かれている。更に、ANDゲ−)Uの出力端、即ち
トランジスタAt8の入力側端子はブートストラップコ
ンデンfC1を介して接続点りに接続されている。
ンユミッ))リガ回路STの出力端Cは、この場合には
基準電位vssに直接に接続されているMO8電界トラ
ンジスタAt3のゲートとこのトランジスタAt3と直
列に接続されていてドレインを信号出力端に接続されて
いるMO8電界トランジスタAt4のゲートC二接続さ
れている。これらの両トランジスタAt3およびAt4
間の接続点はMO8電界トランジスタAt7のソース・
ドレイン区間を介して供給電位Vccに置かれ、これに
対してトランジスタAt7のゲートは出力増幅器の出力
端に直接に接続されている。
第4図のタイムチャートには、信号入力端Aへの制御と
、パルスφV(第2クロツクパルス)、φA(第1クロ
ツクパルス)、φp (第3クロツクパルス)の経過と
、ンユミッ千斗すガ回路の入力端Bおよび出力端C並び
にANDゲー)Uに接続されている第4のトランジスタ
T4のソースDにおける状態経過と、全体回路の出力端
における発生すべきパルスφRの経過とが例示されてい
る。
しかしながら、これに関する詳細に入る前に先ず@1図
もしくは第3図による回路の挙動について詳しく説明す
る。
第4のトランジスタT4の制御に役立つクロック信号φ
V(即ち第2のクロック信号)はこのトランジスタによ
って制御されるANDゲートUの入力端の電圧値VCC
−UT (Uyr=T4のしきい値電圧)への充電に役
立つ。第5のトランジスタの制御に用いられる第1のク
ロック信号φAはφ■が値vssに切シ換わった後に基
準電位vssから供給電位Vccにまで到達する。これ
によって、T4により制御されるANDゲー)Uの入力
端は、T5とT4との間の接続が完全であるかぎり再び
放電させられる。これに対してその接続が分離されてい
る場合にはANDゲートUへのクロック信号φAの作用
がなくなる。
ANDゲー)Uの制御のために用いられる第3のクロッ
ク信号φPにおいては信号出力端Aにおいて700以上
のレベルがかかるとそのクロック信号φPの立ち土かり
縁が出力信号φRの立ち上がり縁を決めることが確認さ
れる。クロック信号φいおよびφPはいずれも信号φV
の立ち上がりにともなって基準電位vssヘリセットさ
れることが好ましい。
信号入力端Aによって制御されるトランジスタTt、1
1.’r3の直列回路は第2のトランジスタT2と第3
のトランジスタT3との間に、即ちンユミットトリガ回
路STの入力端Bに、第2図から解かるような推移、即
ち信号入力端Aに存在し基準電位vssを基準とする電
圧UAに対する点Bと基準電位■ssとの間の電圧UB
の推移をもたらす。この場合に曲線の傾斜はトランジス
タTl〜T3の設計によって調整できる。第2図に示さ
れている推移は最適設計に相当する。これにより供給電
圧Vccとこれの2倍値との間に信号入力端Aの電EE
UAがあるとき、ンユミットトリガ回路STのしきい値
が到達されるように努められる。
第2のトランジスタT2を介してANDゲートUの介在
のもとじ第3のクロック信号φPはトランジスタT1〜
T3の組合せへ影響を及ぼし、これにより第1図および
第3図に示されている回路ニオケるパワー損失が回路の
動作サイクルの活動時間範囲に限定される。クロック信
号φPは明らかの如(ANDゲートUは分離可能な接続
FLが末だ完全である限り通過し得ない。この場合にT
4とANDゲー)Uとの間にある接続、即ち接続点りが
第5のトランジスタT5および分離可能な接続PLを介
して活動サイクルの開始にともなって電位値Vssに押
えられる。第2のクロック信号φ■およびそれにより制
御される第4のトランジスタT4は接続点りの予備充電
が行なわれるように配慮する。この動作状態では横流は
存在しないので、第1図および第3図に示されている信
号φRの発生に役立つ回路の電流消費が無視できるほど
小さくなる。この際に出力信号φRの発生はしめだされ
る。ここで分離可能な接続FLが遮断されると、相応に
高く定められた信号入力端Aにおける信号電圧U 、例
えばUA=2vccが印加されたとき出力信号が発生す
る。この出力信号は、これまで不動作の回路部分b、例
えばテスト回路の活性化すべく、例えば第1図から分か
るように、信号φRにより例えばテスト動作に用いられ
る回路部分l)を活動状態にスイッチすることによって
、引き出すことができる。これが望まれる場合には困難
なしに回路的にクロックφRによって、信号入力端Aを
通した通常動作用回路部分aの付勢が阻止される。
第4図に示されている第1図および第3図の回゛路への
信号供給から分かるように、信号入力端Aに生じるレベ
ルはvssとvccとの間の値を取り、テスト動作時に
はVccと2 V c cとの間の値を取ることができ
る。ディジタルnチャネルMO8集積回路の場合にはト
ランジスタの許容ゲート電圧が一般に少なくとも最大動
作電圧の2倍の大きさであるので、信号入力端Aにおけ
るか−る電圧印加は回路の損傷をもたらすことはない。
通常動作時の時間特性およびテスト動作時の時間特性が
第4図にそれぞれNB、RCにて示されている欄に表さ
れている。
所望の時間特性を示すクロックφV、φAおよびφPを
得るだめに、最も簡単には第2のパルス列φVから出発
し、これを第1a図の回路に入力すればよい。これは、
パルス列φVを入力されて出力端にパルスφAを発生す
る第1のインバータ1からなる。更に、第1のインバー
タ1の出力は第2のインバータ2の入力端とANDゲー
ト4の第1の入力端を制御する。このANDゲート4の
第2の入力端は第3のインバータ3の出力によって制御
され、この第3のインバータ3の入力端は第2のインバ
ータ2の出力端に接続されている。
ANDゲート4の出力端はパルス列φPを供給する。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明による回路の簡単な実施例を示す回路図
・第1a図はクロック信号を形成するだめの回路例を示
す回路図、第2図は信号入力端に印加される電圧レベル
の応答曲線を示す特性図、@3図は本発明による回路の
好ましい実施例を示す回路図、第4図は本発明による回
路を動作させるに必要なパルスおよび回路要部の動作を
説明するためのタイムチャートである。 A・・・信号入力端、 vss・・・基準電位、 vc
c・・・供給電位、 T1〜T5・・・第1ないし第5
のMO8電界効果トランジスタ、 ST・・・ンユミッ
トトリガ回路、 U・・・ANDゲート、 FL・・・
分離可能な接続、 φA・・・第1のクロック信号、φ
V・・・第2のタロツク信号、 φP・・第3のクロッ
ク信号。 IGI IG 3 IG4

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ■)異なるレベルを有する2つの信号を入力される信号
    入力端を備え、第1のレベルを有する信号により第1の
    動作様式が釈放可能であり、第2のレベルを有する信号
    によυ第2の動作様式が釈放可能であるようなデジタル
    間O8半導体集積回路において、両信号様式を受ける信
    号入力@(A)は第1のMO8電界効果トランジスタ(
    T1)のゲートと接続されていて、この第1のMO8電
    界効果トランジスタはドレインを供給電位(VCC)に
    置かれ、かつソースを第2のMO8電界効果トランジス
    タ(T2)のソース・ドレイン区間を介して一方ではシ
    ュミツ))リガ回路(ST)の入力端tB)と、他方で
    は第3のMO8電界効果トランジスタ(T3)のドレイ
    ンとそれぞれ接続されていて、この第3のMO8電界効
    果トランジスタ(T3)はゲートを供給電位(vCC)
    に、ソースを基準電位(VSS)に置かれ、前記ンユミ
    ットトリガ回路(ST)の出力端(C)は2つの入力端
    を備えた出力増幅器の第1の入力端の制御のだめに用い
    られ、その出力増幅器は他方で供給電位と基準電位に置
    かれ、その出力増幅器の第2の入力端は第4および第5
    のMO8電界効果トランジスタ(’r”、i、’I’s
    )の直列接続と2つの入力σd、1を1eftえたAN
    ’Dゲート(U)とからなり同時に第2のMO8電界効
    果トランジスタ(T2)の制御のために用いられる回路
    部分によって制御されるようになっていて、この回路部
    分では第5のMO8電界効果トランジスタ(T5)がソ
    ースを基準電位(VSS)に接続され、ドレインを分離
    可能な接続(PL)を介して前記ANDゲートの第1の
    入力端と第4のMO8電界効果トランジスタ(T4)の
    ソースとに接続されていて、この第4のMO8電界効果
    トランジスタ(T4)のドレインは供給電位(VCC)
    に置かれ、さらに第5のMO8電界効果トランジスタ(
    T5)の制御のために第1のクロック信号(φA)が、
    第4のMO8O8電果効果トランジスタ4)の制御のた
    めに第2のクロック信号(φV)が、前記ANDゲート
    (U)の第2の入力端の制御のために第3のクロック信
    号(φP)がそれぞれ用意されていて、前記ANDゲー
    )(U)の出力端は一方では第2のMO8電界効果トラ
    ンジスタ(T2)の制御のだめと前記出力増幅器の第2
    の入力端の制御のだめに用いられ、前記出力増幅器の出
    力端に現れる信号(φR)はMO8半導体集積回路の他
    の部分(b)の付勢ないしは制御のために用いられるよ
    うになっていることを特徴とするデジタルMO8半導体
    集積回路。 2)第2のMO8電界4効果トランジスタ(T2)はゲ
    ートを直接に前記ANDゲート(U)の出力端に接続さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    デジタルMO8半導体集積回路。 3)前記出力増幅器は2つのMO8電界効果トランジス
    タ(Ail 、At2)の直列回路からなり、−芳のM
    O8電界効果トランジスタ(Atl)はソースを基準電
    位(VSS)に置かれてゲートをt)ロ記シュミットト
    リガ回路(ST)の出力端(C)に接続されていて、他
    方のMO8電界効果トランジスタ(At2)はドレイン
    を供給電位(vcc)に置かれてゲートを前記ANDゲ
    ートの出力端に、例えば直接に接続されていて、信号出
    力端(φR)はこれらの両MO8電界効果トランジスタ
    (Atl、’At2)間の接続点によって与えられてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項
    記載のデジタルM’O8半導体集積回路。 4)前記出力増幅器は6つのMO8電界効果トランジス
    タ(At3〜At8)と1つのコンデンサ(C2)との
    組み合わせからなシ、これにおいては前記ANDゲー)
    (U)によって作用を及ぼされる入力端はゲートを供給
    電位(VCC)に置かれている1番目のMO8電界効果
    トランジスタ(At8)の一方の通電端子によって与え
    られていて、この1番目のMO8電界効果トランジスタ
    の他方の通電端子は一方では第2のクロック信号(φV
    )によって制御される2番目のMO8電界効果トランジ
    スタ(At5)のソース・ドレイン区間を介して基準電
    位(VSS)に置かれていて、他方では供給電位(Vc
    c)とその出力増幅器の信号出力端との間にある3番目
    のMO8電界効果トランジスタ(At6)のゲートに接
    続されていると共に前記コンデンサ(C2)を介してそ
    の出力増幅器の信号出力端(φR)に接続されていて、
    更にこの信号出力端(φR)は4番目および5番目のM
    O8電界効果トランジスタ(At3 、At4)の直列
    回路を介して基準電位(Vss)に接続されていて、こ
    れらの4番目および5番目のMO8電界効果トランジス
    タ(Ata 、At4 )のゲートは前記シュミツ))
    リガ回路(ST)の出力端(C)に接続されており、ま
    たこれらの4番目および5番目のMO8電界効果トラン
    ジスタ(At3゜At4)間の接続点は6番目のMO8
    電界効果トランジスタ(At7)のソース・ドレイン区
    間を介して供給電位(Vcc)に接続されていて、この
    6番目のMO8電界効果トランジスタ(At7)のゲー
    トはその出力増幅器の信号出力端(φR)に接続されて
    いることを特徴とする特許請求の範囲@1項または第2
    項記載のデジタルMO8半導体集積回路。 5)前記ANDゲート(U)は、ゲートを第4のMO8
    電界効果トランジスタ(T4)のソースに接続され且つ
    ドレインに第3のクロックパルス(φP)を受けるMO
    8電界効果トランジスタによって構成されていて、該M
    O8電界効果トランジスタのソースは第2のMO8電界
    効果トランジスタ(T2)のゲートと前記出力増幅器の
    第2の入力端(At2゜At8)とに接続されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項のい
    ずれかに記載のデジタル間O8半導体集積回路。 6)4つのMO8電界効果トランジスタ(Stl〜5L
    4)からなる前記シュミットトリガ回路(ST)はそれ
    の入力端がこれらのトランジスタのうちの互いに直列接
    続された2つのトランジスタ(Stl、5t2)のゲー
    トによって与えられるように構成されていて、その場合
    に一方のトランジスタ(Stl)は基準電位(VSS)
    に置かれ、他方のトランジスタ(Si2)はこのシュミ
    ットトリガ回路(ST)の出力端(C)に接続されてい
    て、更にこのシュミットトリガ回路(ST)の出力端F
    C)は抵抗として接続されている別のトランジスタ(s
    t3)を介して供給電位(Vcc)に接続されていて、
    このシュミツ))リガ回路(ST)の入力側にある前記
    の2つのトランジスタ(Stl 、812)間の接続点
    は残りの1つのトランジスタ(814)を介して供給電
    位(vcc)に接続されていて、この残りの1つのトラ
    ンジスタ(Si2)のゲートはこのシュミットトリガ回
    路(ST)の出力端(C)に接続されていることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに
    記載のデジタル間O8半導体集積回路。
JP59099663A 1983-05-20 1984-05-17 デジタルmos半導体集積回路 Granted JPS59231794A (ja)

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0186040B1 (de) * 1984-12-28 1990-03-21 Siemens Aktiengesellschaft Integrierter Halbleiterspeicher
JPS61258399A (ja) * 1985-05-11 1986-11-15 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JPS6238599A (ja) * 1985-08-13 1987-02-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
ATE67892T1 (de) * 1985-09-11 1991-10-15 Siemens Ag Integrierter halbleiterspeicher.
JPS62293598A (ja) * 1986-06-12 1987-12-21 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS6337269A (ja) * 1986-08-01 1988-02-17 Fujitsu Ltd モ−ド選定回路
EP0263312A3 (en) * 1986-09-08 1989-04-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device with a self-testing function
US4716302A (en) * 1986-12-22 1987-12-29 Motorola, Inc. Identity circuit for an integrated circuit using a fuse and transistor enabled by a power-on reset signal
EP0327861B1 (de) * 1988-02-10 1993-03-31 Siemens Aktiengesellschaft Redundanzdekoder eines integrierten Halbleiterspeichers

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4071784A (en) * 1976-11-12 1978-01-31 Motorola, Inc. MOS input buffer with hysteresis
NL7704005A (nl) * 1977-04-13 1977-06-30 Philips Nv Geintegreerde schakeling.
US4350906A (en) * 1978-06-23 1982-09-21 Rca Corporation Circuit with dual-purpose terminal
US4318013A (en) * 1979-05-01 1982-03-02 Motorola, Inc. High voltage detection circuit
US4379974A (en) * 1980-09-10 1983-04-12 Mostek Corporation Delay stage for a clock generator
DE3044689C2 (de) * 1980-11-27 1982-08-26 Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg Integrierte Schaltung mit nichtflüchtig programmierbaren Halbleiterspeichern
US4446534A (en) * 1980-12-08 1984-05-01 National Semiconductor Corporation Programmable fuse circuit
US4480199A (en) * 1982-03-19 1984-10-30 Fairchild Camera & Instrument Corp. Identification of repaired integrated circuits

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