JPS5923236A - 物体組成判別法 - Google Patents
物体組成判別法Info
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- JPS5923236A JPS5923236A JP57134392A JP13439282A JPS5923236A JP S5923236 A JPS5923236 A JP S5923236A JP 57134392 A JP57134392 A JP 57134392A JP 13439282 A JP13439282 A JP 13439282A JP S5923236 A JPS5923236 A JP S5923236A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
人工宝石類．ガラス，セラミソク，鉱石，岩石。
貴金属，名古物等の個体物，種々の液体．粉体。
有機物，人体，！ＩＩＩＩ物等の広範囲の物体の組成を
非破壊で半定量的且つ計数的に判別するための方法に関
する。
非破壊で半定量的且つ計数的に判別するための方法に関
する。
従来、連続Ｘ ＷＡを物体に投射して、そのＸ線爪の透
過率又はＸ線フィルムより物体をおおざっばに判別する
ことは既に知られているが、物体の組成とＸ線垣の１色
対値，厚みと使用波長とが複雑な相関関係にあり計数的
に判別することは勿論正確且つ迅速に判別することは出
来ず、実用化まで至っていない。
過率又はＸ線フィルムより物体をおおざっばに判別する
ことは既に知られているが、物体の組成とＸ線垣の１色
対値，厚みと使用波長とが複雑な相関関係にあり計数的
に判別することは勿論正確且つ迅速に判別することは出
来ず、実用化まで至っていない。
本発明はかかる問題点を解消した非破壊で判別でき実用
的価値の高い優れた物体組成判別法を提供せんとするも
のである。
的価値の高い優れた物体組成判別法を提供せんとするも
のである。
本発明の要旨は連続Ｘ線発生源からのＸ線をフィルター
に通過させ、連続Ｘ線の０８人 波長以下゛における最
強度波長λｍの（１＋０．７）ｉｍ以上の長い波長及び
（１−０．７）λｍ以下の短い波長を遮断し、そしてそ
のフィルターを通過したＸ線に組成を判別しようとする
鉱物，セラミック等、固体Ｊ）るいは液体、有機物、生
物体の物体を通過させた時の透過Ｘ線量と物体を通過さ
せないＸ線の透過Ｘ線の対数比と物体の厚みとから物体
の組成を非破ＩＪで判別する物体組成判別法にある。
に通過させ、連続Ｘ線の０８人 波長以下゛における最
強度波長λｍの（１＋０．７）ｉｍ以上の長い波長及び
（１−０．７）λｍ以下の短い波長を遮断し、そしてそ
のフィルターを通過したＸ線に組成を判別しようとする
鉱物，セラミック等、固体Ｊ）るいは液体、有機物、生
物体の物体を通過させた時の透過Ｘ線量と物体を通過さ
せないＸ線の透過Ｘ線の対数比と物体の厚みとから物体
の組成を非破ＩＪで判別する物体組成判別法にある。
ここで、フィルターとしては錆、アルミ等金属板が使用
されその材質と厚みはＸ線ｖＪ匍圧、ＸｐＡ管ターゲッ
トによって適宜選択される。Ｘ線管のターゲットとして
はタングステンＷ、クロムＣｒ等がある。又、フィルタ
ーで遮断されたＸ線波長は１７λｎ＋）λ〉０．８λｍ
のすべての波長を使用してもよいし、更にその範囲内
の特定波長又は更に狭く絞っｊこ波長域の波長を使用し
てもよい。そして、ｘＦＰビームの波長は狭く絞られる
程その分解能、判別精度は高まる。
されその材質と厚みはＸ線ｖＪ匍圧、ＸｐＡ管ターゲッ
トによって適宜選択される。Ｘ線管のターゲットとして
はタングステンＷ、クロムＣｒ等がある。又、フィルタ
ーで遮断されたＸ線波長は１７λｎ＋）λ〉０．８λｍ
のすべての波長を使用してもよいし、更にその範囲内
の特定波長又は更に狭く絞っｊこ波長域の波長を使用し
てもよい。そして、ｘＦＰビームの波長は狭く絞られる
程その分解能、判別精度は高まる。
更に、被判別物の厚さと、通過・非通過の二つのＸ線量
の比の対数値との比（傾き）又はその逆数値は後述する
様にＸ線管の種類、Ｘ線管の電圧。
の比の対数値との比（傾き）又はその逆数値は後述する
様にＸ線管の種類、Ｘ線管の電圧。
フィルターを同一にするならば物体の厚み、Ｘ線管の使
用時の経時的変動、自然界Ｘ線に影響されることなく、
高い精度で物体の組成によって定まるものであり、予め
多数の物体組成の傾き（比例係数）又はその逆数値を本
発明方法によって求めてデータとしてストックさせてお
き、物体を判別する時にデータをとった同一条件（Ｘ線
管の種類。
用時の経時的変動、自然界Ｘ線に影響されることなく、
高い精度で物体の組成によって定まるものであり、予め
多数の物体組成の傾き（比例係数）又はその逆数値を本
発明方法によって求めてデータとしてストックさせてお
き、物体を判別する時にデータをとった同一条件（Ｘ線
管の種類。
Ｘ線の電圧、フィルター）によって再現してＸ線ビーム
のＸ線量の比の対数値と厚みとを計測してその傾き（比
）を求め、データと照合させるものである。
のＸ線量の比の対数値と厚みとを計測してその傾き（比
）を求め、データと照合させるものである。
品質管理等において、物体が同一組成か否かの検査ある
いは品質のバラツキ、組成の変動のみを求める場合は予
めのデータのストック作業は不要とすることもできる。
いは品質のバラツキ、組成の変動のみを求める場合は予
めのデータのストック作業は不要とすることもできる。
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。この実施例で
はＸ線管としてタングステンターゲットのＸ線管（１）
を使用、Ｘ線管（１）に所定電圧を印加してＸ線を発生
させ、透孔（３）のあるＸ線完全遮断材からなるシール
ド板Ｏ→に向けて投射せしめる。シールド板０やの透孔
（３）上には銅、又はアルミの金属板のフィルター（２
）が載置されている。タングステンターゲットＸ線管（
１）から発生したＸ線は連続線スペクトルの特性をもち
、Ｑ８Ａ以下において波長λｍで強度のピークをもつフ
ィルター（２）を通過するＸｉビームの波長λは１．７
λｍ〉λ＞０．８””となって１７λｍ以上、０８２ｍ
以下の波長は遮断される。
はＸ線管としてタングステンターゲットのＸ線管（１）
を使用、Ｘ線管（１）に所定電圧を印加してＸ線を発生
させ、透孔（３）のあるＸ線完全遮断材からなるシール
ド板Ｏ→に向けて投射せしめる。シールド板０やの透孔
（３）上には銅、又はアルミの金属板のフィルター（２
）が載置されている。タングステンターゲットＸ線管（
１）から発生したＸ線は連続線スペクトルの特性をもち
、Ｑ８Ａ以下において波長λｍで強度のピークをもつフ
ィルター（２）を通過するＸｉビームの波長λは１．７
λｍ〉λ＞０．８””となって１７λｍ以上、０８２ｍ
以下の波長は遮断される。
尚、照射されるＸ線をビームにするためのシールド板（
４）、（１つの孔（３）、（ｆｉ）はいずれか一方（上
又は下）だけでもよいし、又上下二個設けることによっ
てＸ線ビーム（一つの方向のＸ線）を選択することがで
きる。
４）、（１つの孔（３）、（ｆｉ）はいずれか一方（上
又は下）だけでもよいし、又上下二個設けることによっ
てＸ線ビーム（一つの方向のＸ線）を選択することがで
きる。
宝石、セラミック等固体又は液体、生物体等の被判別物
（財）をシールド板（／ｌ）の一方の孔（５）上に１４
き、Ｘ線ビームを投射する。フィルター（２）によって
長い波長及び短い波長を遮断されたＸ線ビームはシール
ド板θうの透孔（３）を通過して被判別物体■、孔（５
）を透過してその下方のＸ線セン→ｔ −（０）によっ
てＸ線ｊｌＡが測定される。又、シールド板（４）の孔
（５）上から被判別物体（６）を移動させ、又は被判別
物体（ロ）を孔（５）上にのせる前に被判別物体（財）
を通ｉ１ｈさせないＸ線ビームのＸ線？ＡＢをＸ線セン
サー（６）に」、って測定し、これらＸ線ｆｉＡ−Ｂを
計算回路（７）に入力し、同計算回路（７）によっ°Ｃ
そのＸ線量の比の対数値（ｌｎｘを計算する。又被判別
物体σ（２）の厚み（物体のＸ線透過距離）をマイクロ
メータ等の手段によって測定し、その厚みを厚み測定値
インプット回路（８）を介し゛て傾き計算回路（９）に
入力して、厚み（／β２１Ｘの値又はその逆数値を計算
し、これを照合回路０→に入力し、一方便用したＸ線管
（］）の印印加圧の値をＸ線￥Ｉ亀圧インプット回路０
（）を介して照合回路θカに入力し、照合回路０埠にお
いてそのＸ線データ記憶回路α０から引出し、その傾き
（ｆｌｒに対応する物体組成を横木して判別結果その基
礎データを表示器θ）に物体名、識別記号、数字でもっ
て表ポするものである。この様に連続Ｘ線の特定領域の
波長を使用することによってＸ線管電圧が一定であれば
被判別物の厚みと二つのＸ線ビームの透ｊ尚Ｘ線量の比
の対数値は淳みにかかわらず、比例関係とするこ七がで
きる。しかもその傾き（厚みｔ／６ ｎλ）はその物体
組成によって一意的に定まるものである。例えばガラス
では１５．ダイヤモンドでは４８．水晶は１８．ヒスイ
は１８．方解石は９．ホタル石は７の、測値をとる。同
様に他の考古物。貴金属。
（財）をシールド板（／ｌ）の一方の孔（５）上に１４
き、Ｘ線ビームを投射する。フィルター（２）によって
長い波長及び短い波長を遮断されたＸ線ビームはシール
ド板θうの透孔（３）を通過して被判別物体■、孔（５
）を透過してその下方のＸ線セン→ｔ −（０）によっ
てＸ線ｊｌＡが測定される。又、シールド板（４）の孔
（５）上から被判別物体（６）を移動させ、又は被判別
物体（ロ）を孔（５）上にのせる前に被判別物体（財）
を通ｉ１ｈさせないＸ線ビームのＸ線？ＡＢをＸ線セン
サー（６）に」、って測定し、これらＸ線ｆｉＡ−Ｂを
計算回路（７）に入力し、同計算回路（７）によっ°Ｃ
そのＸ線量の比の対数値（ｌｎｘを計算する。又被判別
物体σ（２）の厚み（物体のＸ線透過距離）をマイクロ
メータ等の手段によって測定し、その厚みを厚み測定値
インプット回路（８）を介し゛て傾き計算回路（９）に
入力して、厚み（／β２１Ｘの値又はその逆数値を計算
し、これを照合回路０→に入力し、一方便用したＸ線管
（］）の印印加圧の値をＸ線￥Ｉ亀圧インプット回路０
（）を介して照合回路θカに入力し、照合回路０埠にお
いてそのＸ線データ記憶回路α０から引出し、その傾き
（ｆｌｒに対応する物体組成を横木して判別結果その基
礎データを表示器θ）に物体名、識別記号、数字でもっ
て表ポするものである。この様に連続Ｘ線の特定領域の
波長を使用することによってＸ線管電圧が一定であれば
被判別物の厚みと二つのＸ線ビームの透ｊ尚Ｘ線量の比
の対数値は淳みにかかわらず、比例関係とするこ七がで
きる。しかもその傾き（厚みｔ／６ ｎλ）はその物体
組成によって一意的に定まるものである。例えばガラス
では１５．ダイヤモンドでは４８．水晶は１８．ヒスイ
は１８．方解石は９．ホタル石は７の、測値をとる。同
様に他の考古物。貴金属。
ヒラミック等の固体、アルコール等の液体、有機物でも
同様に固有の測値をもつものである。従って所定のＸ線
管電圧に対するこれら直線の傾き又は逆数値をデータ記
憶回路θυに予め測定して記憶させておけばＸ線管電圧
と被判別物の〃みｔとＸ線量の比の対数値ｌｎλとから
その物体の組成が計数的に判別でき、その物体が間であ
るか簡単に判別できるものである。しかも被判別物体い
つの庁みにかかわらず、比例関係、傾きは不変であるか
ら正確に、且つ迅速に判別できるものとなっている。
同様に固有の測値をもつものである。従って所定のＸ線
管電圧に対するこれら直線の傾き又は逆数値をデータ記
憶回路θυに予め測定して記憶させておけばＸ線管電圧
と被判別物の〃みｔとＸ線量の比の対数値ｌｎλとから
その物体の組成が計数的に判別でき、その物体が間であ
るか簡単に判別できるものである。しかも被判別物体い
つの庁みにかかわらず、比例関係、傾きは不変であるか
ら正確に、且つ迅速に判別できるものとなっている。
尚Ｘ線％［圧は、その被判別物体α勺が金１４か鉱物、
セラミック等の固体、液体、有機物、生物体かによって
、及びその厚みによって適切な電圧のものに選択される
ものである。
セラミック等の固体、液体、有機物、生物体かによって
、及びその厚みによって適切な電圧のものに選択される
ものである。
尚、本発明は物体の組成の判別を目的とするが、同一組
成と明らかに分っている場合又は同一組成と仮定できる
場合は本発明の方法によって逆に物体の厚みを８１測す
ることができる。又Ｘ線ビームを二本以上として被判定
物を通過させないＸ線量人を専用のＸ線センサーで測定
してもよい。
成と明らかに分っている場合又は同一組成と仮定できる
場合は本発明の方法によって逆に物体の厚みを８１測す
ることができる。又Ｘ線ビームを二本以上として被判定
物を通過させないＸ線量人を専用のＸ線センサーで測定
してもよい。
以上の様に本発明によれば、厚さと二つのＸ線ビームの
Ｘ線量の比の対数値とから被判別物の厚みにかかオ〕ら
ず正確、且つ迅速にその物体の組成を判定量的に且つ計
数値的に判別することが出来、従来判別困難となされて
きた人工宝石、セラミック、考古物等ばかりでなく、液
体、有機物の判別が可能となるばかりか、非破壊で且つ
正確・迅速に判別できるので予防医学としての人体の骨
や歯の悪化防止と病気の発見、製品の品質検査、品質１
１理上寄与するところが大であるという餞れｊこ効果を
得る仁とが出来る。
Ｘ線量の比の対数値とから被判別物の厚みにかかオ〕ら
ず正確、且つ迅速にその物体の組成を判定量的に且つ計
数値的に判別することが出来、従来判別困難となされて
きた人工宝石、セラミック、考古物等ばかりでなく、液
体、有機物の判別が可能となるばかりか、非破壊で且つ
正確・迅速に判別できるので予防医学としての人体の骨
や歯の悪化防止と病気の発見、製品の品質検査、品質１
１理上寄与するところが大であるという餞れｊこ効果を
得る仁とが出来る。
第１図は本発明物体組成判別法を示す説明図である。
（１）＝Ｘ線管
（２）：フィルター
（３）：透孔
（４ン：シールド板
（５）、＜５）：孔
ＣＧ） 、 （６） ： Ｘ線センサーＯの：シールド
板 ０７つ：被判別物体
板 ０７つ：被判別物体
Claims (1)
- １）連続Ｘ線発生源からのＸ線をフィルターに通過させ
、連Ｒａ’、 Ｘ ＩＩＩＩの０．８．Ａ波長以下にお
ける最強度波長λｍの（１＋０．７）λｍ以上の長い波
長及び（１−０，７）λｍ以下の短い波長を遮断し、そ
してそのフィルターを通過したＸ線に組成を判別しよう
とする鉱物、ｔ！ラミック等、固体あるいは液体、有１
災物、生物体の物体を通過させた時の透過Ｘ線量と物体
を通過させないＸ線の透過Ｘ線爪の対数比と物体のＪＳ
Ｅみとから物体の組成を非破壊で判別する物体組成判別
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57134392A JPS5923236A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 物体組成判別法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57134392A JPS5923236A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 物体組成判別法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63111153A Division JPH01229948A (ja) | 1988-05-07 | 1988-05-07 | Ｘ線物体検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923236A true JPS5923236A (ja) | 1984-02-06 |
Family
ID=15127323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57134392A Pending JPS5923236A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 物体組成判別法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923236A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5720648B2 (ja) * | 1977-10-31 | 1982-04-30 |
-
1982
- 1982-07-29 JP JP57134392A patent/JPS5923236A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5720648B2 (ja) * | 1977-10-31 | 1982-04-30 |
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