JPS592355B2 - 集積回路試験装置における被試験集積回路のピン接続確認方式 - Google Patents
集積回路試験装置における被試験集積回路のピン接続確認方式Info
- Publication number
- JPS592355B2 JPS592355B2 JP53059757A JP5975778A JPS592355B2 JP S592355 B2 JPS592355 B2 JP S592355B2 JP 53059757 A JP53059757 A JP 53059757A JP 5975778 A JP5975778 A JP 5975778A JP S592355 B2 JPS592355 B2 JP S592355B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- test
- pin
- connection
- under test
- Prior art date
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- Expired
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は集積回路試験装置における被試験集積回路のピ
ン接続確認方式、さらに詳しく言えば、集積回路試験装
置において、被試験集積回路の接続ピンを試験装置のピ
ン接続子に挿入した場合、試験パルス発生器と上記接続
ピンとの接続を確認する方式に関する。
ン接続確認方式、さらに詳しく言えば、集積回路試験装
置において、被試験集積回路の接続ピンを試験装置のピ
ン接続子に挿入した場合、試験パルス発生器と上記接続
ピンとの接続を確認する方式に関する。
集積回路の試験に際しては、被試験集積回路の接続ピン
を試験装置のピン接続子に挿入して接続し、試験装置で
は試験用パルス発生器の出力を切換器によつて切換え該
ピン接続子を経て被試験集種回路の接続ピン１個毎にそ
れぞれ試験用パルスを送る。
を試験装置のピン接続子に挿入して接続し、試験装置で
は試験用パルス発生器の出力を切換器によつて切換え該
ピン接続子を経て被試験集種回路の接続ピン１個毎にそ
れぞれ試験用パルスを送る。
この際切換器の導通、あるいは接続ピンとピン接続子と
の接続が不完全であればその接続ピンには試験用パルス
は送られず十分な試験が行なわれない。試験に先き立ち
、これ等の確認が必要であるが近時集積回路の規模が大
きくなりその接続ピンの数が１００個程度ともなると上
記の確認は容易でな〜゛。
の接続が不完全であればその接続ピンには試験用パルス
は送られず十分な試験が行なわれない。試験に先き立ち
、これ等の確認が必要であるが近時集積回路の規模が大
きくなりその接続ピンの数が１００個程度ともなると上
記の確認は容易でな〜゛。
本発明は上記のピン接続の確認、すなわち切換器の導通
およびピン接続子と接続ピンとの接続の確認を試験の実
施に先立つて、接続ピン毎に容易にかつ短時間で行なう
ことを目的とするものであ゜ る。
およびピン接続子と接続ピンとの接続の確認を試験の実
施に先立つて、接続ピン毎に容易にかつ短時間で行なう
ことを目的とするものであ゜ る。
次に本発明の実施例を図面について説明する。
図は本発明の一実施例の接続図である。図において、Ｐ
Ｇは試験用パルス発生器、ＳＷは切換器、ＩＣは被試験
集積回路、ＣＰは被試験集積回路・ ＩＣの接続ピンで
現在では普通９６個程度である。Ｃは上記接続ピンＣＰ
に対応して設けられたピン接続子である。切換器ＳＷは
同軸スイッチあるいはリレー接点のツリー接続で構成す
ることができる。フ 被試験集積回路ＩＣの試験を行な
うには、まづ接続ピンＣｐをピン接続子Ｃの対応するも
のに挿入する。
Ｇは試験用パルス発生器、ＳＷは切換器、ＩＣは被試験
集積回路、ＣＰは被試験集積回路・ ＩＣの接続ピンで
現在では普通９６個程度である。Ｃは上記接続ピンＣＰ
に対応して設けられたピン接続子である。切換器ＳＷは
同軸スイッチあるいはリレー接点のツリー接続で構成す
ることができる。フ 被試験集積回路ＩＣの試験を行な
うには、まづ接続ピンＣｐをピン接続子Ｃの対応するも
のに挿入する。
切換器ＳＷを作動させ試験用パルス発生器ＰＧの出力を
第１のピン接続子Ｃに接続し、所定の試験パルスを上記
第１のピン接続子より対応ワする第１の接続ピンに送り
、該接続ピンについて試験を行なう。次に切換器ＳＷを
第２、第３ ・・・のピン接続子に切換え、第２、第３
・・・の接続ピンについて試験を行ない、全部の接続
ピンについて試験を行ない被試験集積回路１Ｃの試験を
終了する。上記試験の実施に先立つて、本発明により試
験パルス発生器ＰＧの出力が被試験集積回路の接続ピン
ＣＰに接続されていることの確認を行なう。一般に、集
積回路はその１個の接続ピンに電圧を与えてると或程度
の電流が流れる。この確認に際しては試験パルス発生器
ＰＧの出力を一定の直流電圧に設定する。これには、試
験パルス発生器ＰＧをこのように構成しておく。しかし
、別の電源に切換えてもよい。切換器ＳＷを作動させ試
験用パルス発生器ＰＧの出力（一定直流電圧）を第１の
ピン接続子Ｃに接続する。
第１のピン接続子Ｃに接続し、所定の試験パルスを上記
第１のピン接続子より対応ワする第１の接続ピンに送り
、該接続ピンについて試験を行なう。次に切換器ＳＷを
第２、第３ ・・・のピン接続子に切換え、第２、第３
・・・の接続ピンについて試験を行ない、全部の接続
ピンについて試験を行ない被試験集積回路１Ｃの試験を
終了する。上記試験の実施に先立つて、本発明により試
験パルス発生器ＰＧの出力が被試験集積回路の接続ピン
ＣＰに接続されていることの確認を行なう。一般に、集
積回路はその１個の接続ピンに電圧を与えてると或程度
の電流が流れる。この確認に際しては試験パルス発生器
ＰＧの出力を一定の直流電圧に設定する。これには、試
験パルス発生器ＰＧをこのように構成しておく。しかし
、別の電源に切換えてもよい。切換器ＳＷを作動させ試
験用パルス発生器ＰＧの出力（一定直流電圧）を第１の
ピン接続子Ｃに接続する。
試験用パルス発生器ＰＧの出力を分岐し高抵抗Ｒを経て
電圧監視装置ＶＭに導く。上記ピン接続子Ｃとこれに挿
入された接続ピンとの接続が完全ならば、切換器ＳＷを
介して該接続ピンを経て或る程度の電流が被試験集積回
路１Ｃに流入し、このため試験パルス発生器ＰＧの出力
電圧が降下する。この電圧を電圧監視装置ＶＭで監視し
、試験パルス発生器ＰＧに設定された直流電圧より低い
電圧を検知したとき、ピン接続は完全であり、切換器Ｓ
Ｗにおける上記の電流通路が完全に導通していることが
確認される。ピン接続あるいは切換器ＳＷの導通が不良
であれば、試験パルス発生器ＰＧの出力から上記直流電
流が流れないので、電圧降下を生ぜず、電圧監視部ＶＭ
においては試験パルス発生器ＰＧに設定した直流電圧と
同一の電圧を検知する。
電圧監視装置ＶＭに導く。上記ピン接続子Ｃとこれに挿
入された接続ピンとの接続が完全ならば、切換器ＳＷを
介して該接続ピンを経て或る程度の電流が被試験集積回
路１Ｃに流入し、このため試験パルス発生器ＰＧの出力
電圧が降下する。この電圧を電圧監視装置ＶＭで監視し
、試験パルス発生器ＰＧに設定された直流電圧より低い
電圧を検知したとき、ピン接続は完全であり、切換器Ｓ
Ｗにおける上記の電流通路が完全に導通していることが
確認される。ピン接続あるいは切換器ＳＷの導通が不良
であれば、試験パルス発生器ＰＧの出力から上記直流電
流が流れないので、電圧降下を生ぜず、電圧監視部ＶＭ
においては試験パルス発生器ＰＧに設定した直流電圧と
同一の電圧を検知する。
上記の操作を、試験の場合と同様に、切換器ＳＷを順次
に切換えて、接続ピン全部に対して行なう。
に切換えて、接続ピン全部に対して行なう。
本発明は以上述べたように構成されており、被試験集積
回路の試験に先立つて、その接続ピンと試験装置との接
続が、簡単な操作により短時間で確認することができ、
集積回路の試験の能率を向上させる効果がある。
回路の試験に先立つて、その接続ピンと試験装置との接
続が、簡単な操作により短時間で確認することができ、
集積回路の試験の能率を向上させる効果がある。
図は本発明の一実施例のプロツク図である。
Claims (1)
- １ 試験パルス発生器と、被試験集積回路の接続ピンが
挿入される複数個のピン接続子とを備えた集積回路試験
装置において、上記試験パルス発生器の出力を上記ピン
接続子の何れか１個に切換え接続する切換器と、試験パ
ルス発生器の出力部に抵抗を介して接続した電圧監視部
を設け、上記切換器により試験パルス発生器に選択接続
された接続ピンの接続を、試験パルス発生器の出力に設
定された直流電圧と上記監視部における電圧と比較して
確認することを特徴とする集積回路試験装置における被
試験集積回路のピン接続確認方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059757A JPS592355B2 (ja) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | 集積回路試験装置における被試験集積回路のピン接続確認方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53059757A JPS592355B2 (ja) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | 集積回路試験装置における被試験集積回路のピン接続確認方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54151478A JPS54151478A (en) | 1979-11-28 |
| JPS592355B2 true JPS592355B2 (ja) | 1984-01-18 |
Family
ID=13122443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53059757A Expired JPS592355B2 (ja) | 1978-05-19 | 1978-05-19 | 集積回路試験装置における被試験集積回路のピン接続確認方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS592355B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5911741U (ja) * | 1982-07-14 | 1984-01-25 | 株式会社丸山製作所 | 消火器の安全装置 |
| JPS5976256U (ja) * | 1982-11-17 | 1984-05-23 | 株式会社丸山製作所 | 消火器 |
| JPS59133244U (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-06 | 宮田工業株式会社 | 消火器の安全装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5772569A (en) * | 1980-10-17 | 1982-05-06 | Canon Inc | Paper sheet handling device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512803Y2 (ja) * | 1975-01-13 | 1980-03-22 |
-
1978
- 1978-05-19 JP JP53059757A patent/JPS592355B2/ja not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5911741U (ja) * | 1982-07-14 | 1984-01-25 | 株式会社丸山製作所 | 消火器の安全装置 |
| JPS5976256U (ja) * | 1982-11-17 | 1984-05-23 | 株式会社丸山製作所 | 消火器 |
| JPS59133244U (ja) * | 1983-02-24 | 1984-09-06 | 宮田工業株式会社 | 消火器の安全装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54151478A (en) | 1979-11-28 |
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