JPS592416A - 電子部品 - Google Patents
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- JPS592416A JPS592416A JP57112319A JP11231982A JPS592416A JP S592416 A JPS592416 A JP S592416A JP 57112319 A JP57112319 A JP 57112319A JP 11231982 A JP11231982 A JP 11231982A JP S592416 A JPS592416 A JP S592416A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Non-Adjustable Resistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Piezo-Electric Transducers For Audible Bands (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電・葦が鉛金属薄膜よりなる電子部品に関す
る。
る。
圧電単結晶、圧電体セラミックス、誘電体セラミックス
、半導体セラミックス、抵抗体セラミックスなどからな
る電気的特性を備えた電子部品の電極としては、従来A
9.Ag−Pd、Ag−Pt、/1−N1などの貴金属
を主体とした金属薄嘆電極ある1/−1は焼付は電極が
使用されてI^だ。
、半導体セラミックス、抵抗体セラミックスなどからな
る電気的特性を備えた電子部品の電極としては、従来A
9.Ag−Pd、Ag−Pt、/1−N1などの貴金属
を主体とした金属薄嘆電極ある1/−1は焼付は電極が
使用されてI^だ。
一方、近年貴金属の高祷に伴な1/1.このような電極
に代わって、ニッケル、銅などの卑′金属からなる無電
解メッキ電極が用1^られるようになつCきた。
に代わって、ニッケル、銅などの卑′金属からなる無電
解メッキ電極が用1^られるようになつCきた。
この無電解メッキ電極は一度に多酸に形成でき、しかも
電極材料そのものが安価であると1−+9利点を備えC
1^るものである。しかしながら、無電解メッキ電極は
もともと湿式で形成されるため、たとえばセラミックス
の電極とし゛C形成すると、セラミックス中に不要な残
留イオンが存在し、電気的特性の経時変化が認められる
ことがあつへ。また無電解メッキ電極はある種のセラミ
ックスには強固に接着するが、他のセラミックスには接
着しにく電へと1^う選択匪を有し、浴組成を種々用意
しなければならな1/>七ともに、浴組成の−W理を厳
しく行わなければなら゛なかった。
電極材料そのものが安価であると1−+9利点を備えC
1^るものである。しかしながら、無電解メッキ電極は
もともと湿式で形成されるため、たとえばセラミックス
の電極とし゛C形成すると、セラミックス中に不要な残
留イオンが存在し、電気的特性の経時変化が認められる
ことがあつへ。また無電解メッキ電極はある種のセラミ
ックスには強固に接着するが、他のセラミックスには接
着しにく電へと1^う選択匪を有し、浴組成を種々用意
しなければならな1/>七ともに、浴組成の−W理を厳
しく行わなければなら゛なかった。
したがつ°C1このような無電解メッキ電極にくらべて
さらに安価で、特性的にも実用価値のある電極の開発が
今後とも必要とされて(八る。
さらに安価で、特性的にも実用価値のある電極の開発が
今後とも必要とされて(八る。
したがって、この発明はかがる目的を達成することがで
きる電極を備えた電子部品を提供せんとするものである
。
きる電極を備えた電子部品を提供せんとするものである
。
詳細には、この発明は安価な電極を有する電子部品を提
供することを目的とする。
供することを目的とする。
また、この発明は安定した特性を示す電極を有する電子
部品を提供することを目的とする。
部品を提供することを目的とする。
すなわち、この発明の要旨とするところは、基板の表面
に鉛金属薄膜からなる電極が形成され“C1oることを
特徴とする電子部品である。
に鉛金属薄膜からなる電極が形成され“C1oることを
特徴とする電子部品である。
まず、電子部品を構成する基板とじでは、圧電単結晶、
圧電体セラミックス、ある1/−1は鉛化合物を含むセ
ラミックスなどがあり、それぞれ電極を形成することに
よって、単結晶圧電体、セラミック圧電体、セラミック
コンデンサ、セラミック半導体、セラミック抵抗体など
の機能特性を有する電子部品として利用することができ
る。
圧電体セラミックス、ある1/−1は鉛化合物を含むセ
ラミックスなどがあり、それぞれ電極を形成することに
よって、単結晶圧電体、セラミック圧電体、セラミック
コンデンサ、セラミック半導体、セラミック抵抗体など
の機能特性を有する電子部品として利用することができ
る。
圧電単結晶としCは、LiNb0.、、LiTaO3,
水晶などがある。また、圧電本セラミックスとしてはB
aTi0.系、(Na、Ka)NbO3系、(Na、L
i)N b O、、系やこれらの薄膜あるinはZn0
脚などがある。さらに鉛化合物を含むセラミックスとし
ては。
水晶などがある。また、圧電本セラミックスとしてはB
aTi0.系、(Na、Ka)NbO3系、(Na、L
i)N b O、、系やこれらの薄膜あるinはZn0
脚などがある。さらに鉛化合物を含むセラミックスとし
ては。
具体的にはPb(Fθ Nb )O,−Pb(MζN
b ”/s)% イ 03 系などからなる誘電体セラミ、クス、PbTiO
3系、PbTi0.−PbZrO,、系、P’b(Mn
、Nb、、)O。
b ”/s)% イ 03 系などからなる誘電体セラミ、クス、PbTiO
3系、PbTi0.−PbZrO,、系、P’b(Mn
、Nb、、)O。
−PbTiOl−PbZrO3系、pb(SH,Sb、
、)03−PbTiO3−PbZrO3系などからなる
圧電体セラミックスがある。
、)03−PbTiO3−PbZrO3系などからなる
圧電体セラミックスがある。
特に、セラミックスとし°C鉛化合物を含むもの如鉛金
属薄膜からなる電極を形成すれば、セラミックスと電極
の双方に鉛を含有しrl、−>るため、化学的結合が生
じ、大きな接着強度が得られると1゜う利点を備え°C
1へる。
属薄膜からなる電極を形成すれば、セラミックスと電極
の双方に鉛を含有しrl、−>るため、化学的結合が生
じ、大きな接着強度が得られると1゜う利点を備え°C
1へる。
基板に形成される鉛金属薄膜の形成手段としCは、真空
蒸着法、スパッタリング法、イオングレーティング法、
気相蒸着法などがある。鉛そのものの融点が627℃で
あることから、特に真空蒸着法による鉛金属薄膜の形成
が経済性、作業性の点から推奨される。
蒸着法、スパッタリング法、イオングレーティング法、
気相蒸着法などがある。鉛そのものの融点が627℃で
あることから、特に真空蒸着法による鉛金属薄膜の形成
が経済性、作業性の点から推奨される。
さらに、基板と鉛金属薄膜電極との間に銅、ニッケル、
クロム、アルミニウムのうち少なくとも1種よりなる単
層電極または多層電極を介在させてもよ1^。ここで多
層電極としてはたとえば第1層が銅、第2層がニッケル
ークロムからなるものがある。かかる構成によれば、鉛
金属薄膜が単層電極′または多層電極の保護躾になると
ともに、半田付けを容易にすることができる。
クロム、アルミニウムのうち少なくとも1種よりなる単
層電極または多層電極を介在させてもよ1^。ここで多
層電極としてはたとえば第1層が銅、第2層がニッケル
ークロムからなるものがある。かかる構成によれば、鉛
金属薄膜が単層電極′または多層電極の保護躾になると
ともに、半田付けを容易にすることができる。
以下、この発明を具体的な実柿例にもとづI^・〔詳、
wiに説明する。
wiに説明する。
基板としC,PbTiO3系からなる圧電体セラミック
スを用−へた。この圧電体セラミックスを真空蒸着装置
の真空槽内に設置した。蒸発ボートに鉛3 を設置しておき、真空槽内を1X1Qtorrの真空度
に設定したのち、鉛を加熱して蒸発させた。
スを用−へた。この圧電体セラミックスを真空蒸着装置
の真空槽内に設置した。蒸発ボートに鉛3 を設置しておき、真空槽内を1X1Qtorrの真空度
に設定したのち、鉛を加熱して蒸発させた。
このようにし゛C圧′覗木セラミックスの片面に鉛金属
薄膜を形成した。同様にして圧電体セラミックスの他面
1(も鉛金属薄膜を形成した。
薄膜を形成した。同様にして圧電体セラミックスの他面
1(も鉛金属薄膜を形成した。
両面に鉛金属薄膜からなる電極を形成した圧電体セラミ
ックスを絶縁油中に浸漬し、温度80′c、印加電圧3
. Q K V、電圧印加時間30分で分極処理を行っ
た。次10で、圧電体セラミックスの鉛金属薄膜の所要
個所にエツチングレジストを塗布し、エツチング液で不
要個所の鉛金属薄膜を除去した。
ックスを絶縁油中に浸漬し、温度80′c、印加電圧3
. Q K V、電圧印加時間30分で分極処理を行っ
た。次10で、圧電体セラミックスの鉛金属薄膜の所要
個所にエツチングレジストを塗布し、エツチング液で不
要個所の鉛金属薄膜を除去した。
このようにして、2朋φの電極からなるセラミック共振
子を作成した。得られた共振子の共振周波数は15MH
Jであった。
子を作成した。得られた共振子の共振周波数は15MH
Jであった。
一方、従東法により銀電極からなる同一構造のセラミッ
ク共振子を作成しな。
ク共振子を作成しな。
両者のセラミック共振子につI^゛C1減衰庫イ減衰−
インピーダンス−周波数特性を測定したところ、第1図
に示すような特性を示した。図中実線はこの発明の実施
例によるもの、破線は従来例のものである。図から明ら
かなように鉛金属薄膜電極からなるセラミック共振子は
従来のものにくらべて同程度の特性を示して(へる。
インピーダンス−周波数特性を測定したところ、第1図
に示すような特性を示した。図中実線はこの発明の実施
例によるもの、破線は従来例のものである。図から明ら
かなように鉛金属薄膜電極からなるセラミック共振子は
従来のものにくらべて同程度の特性を示して(へる。
また、全面に鉛金属薄膜電極を形成したエツチング前の
圧電体セラミックスにつIOて、電極面上に粘着テープ
を張り付けたうそののち粘着テープを引き剥し、電極の
接着強度を測定したところ、鉛金属薄膜電極の剥離は見
られず、実用上十分な接着強度を有して1/−すること
か判明した。
圧電体セラミックスにつIOて、電極面上に粘着テープ
を張り付けたうそののち粘着テープを引き剥し、電極の
接着強度を測定したところ、鉛金属薄膜電極の剥離は見
られず、実用上十分な接着強度を有して1/−すること
か判明した。
次にセラミック共振子につき熱エージングを行った。こ
の熱エージング試験の条件は、セラミック共振子を15
0’cの乾燥器中に1時間放置した。
の熱エージング試験の条件は、セラミック共振子を15
0’cの乾燥器中に1時間放置した。
そし′C電極の酸化度を調べた。
その結果、鉛金属薄膜電極の表面には酸化膜が形成され
たものの、電気的特性の劣化は認められなかった。また
酸化膜は結果的には保穫膿として働らき、鉛金属薄膜電
極そのものを保護し、環境変化に強(へ電極を構成する
ことができ、しかも半田付は性は何ら問題とならなかっ
た。
たものの、電気的特性の劣化は認められなかった。また
酸化膜は結果的には保穫膿として働らき、鉛金属薄膜電
極そのものを保護し、環境変化に強(へ電極を構成する
ことができ、しかも半田付は性は何ら問題とならなかっ
た。
このような効果は次に説明する多層構造からなる電極に
とつCきわめ゛C有効となる。
とつCきわめ゛C有効となる。
以下に鉛金属薄膜電極を含む多層電極の実施例につI/
−1て説明する。
−1て説明する。
基板としてPbTi01系からなる圧電セラミックスを
用1へたう この圧電セラミックスを真空蒸着装置の真空槽内に設置
し、真空槽内をIXl[] torr[設定した。次
10で蒸発ボートを加熱してまず銅を蒸着し、圧電セラ
ミックスの表面に銅電極を形成した。
用1へたう この圧電セラミックスを真空蒸着装置の真空槽内に設置
し、真空槽内をIXl[] torr[設定した。次
10で蒸発ボートを加熱してまず銅を蒸着し、圧電セラ
ミックスの表面に銅電極を形成した。
引き続き、同様に鉛を蒸発させて、銅電極の上に鉛金属
薄膜電極を形成し゛C多層電極を形成した。
薄膜電極を形成し゛C多層電極を形成した。
このようにして得られた試料につき、−上記した実施例
と同[IC1,て電気的特性を測定したところ。
と同[IC1,て電気的特性を測定したところ。
従来品の銅−銀電極からなるセラミック共振子と比較し
゛C同程度の・特性を示し、実用価(直のあることが判
明した。
゛C同程度の・特性を示し、実用価(直のあることが判
明した。
また、上記した実砲例と同様、粘着テープによち電極強
度を測定した結果も、剥離が見られなかったことから実
用上十分な接着強度を有し′(を八ることかわかった。
度を測定した結果も、剥離が見られなかったことから実
用上十分な接着強度を有し′(を八ることかわかった。
さらに得られた試料につき熱エージングを利し。
電極表面の酸化度を測定した。
熱エージング試験は150 ’Cの乾燥器に1時間放置
し′C行つた。
し′C行つた。
その結果、表面層の鉛金属薄膜電極はその表面に酸化膜
が形成されたものの、電気的特性の劣化が見られず、ま
た下層の銅電極の酸化は認められなかった。
が形成されたものの、電気的特性の劣化が見られず、ま
た下層の銅電極の酸化は認められなかった。
しかも、銅−銀電極では、湿虫負荷試験によれば銀のマ
イグレーションが認められたが、このような電極構成で
は何らこのような現象は発生しなかった。また、半田付
は性につ1^゛でも良好な結果を示し、何ら支障となる
ことはなかった。
イグレーションが認められたが、このような電極構成で
は何らこのような現象は発生しなかった。また、半田付
は性につ1^゛でも良好な結果を示し、何ら支障となる
ことはなかった。
また、鉛金属薄膜を電極としたセラミック共振子をディ
スクリミネータに用1へると次のような効果をもたらす
。
スクリミネータに用1へると次のような効果をもたらす
。
第2図はディスクリミネータの回路例を示す。
ディスクリミネータは周波数変化を出力電圧の変化とし
C取り出すもので、セラミック共振子XとコンデンサC
sを直列接続して粘る。セラミック共振子Xの共振周波
数/rと反共振周波数/aの中間の周波数で両方のリア
クタンス価が等しくなるようにすると、ダイオードD!
、D2により差動的に組み合わぜた端子電圧の和は零と
なり、反共振周波数/aで共振子側の端子電圧が最大と
なり。
C取り出すもので、セラミック共振子XとコンデンサC
sを直列接続して粘る。セラミック共振子Xの共振周波
数/rと反共振周波数/aの中間の周波数で両方のリア
クタンス価が等しくなるようにすると、ダイオードD!
、D2により差動的に組み合わぜた端子電圧の和は零と
なり、反共振周波数/aで共振子側の端子電圧が最大と
なり。
共振周波数/rでコンデンサ側の端子電圧が最大となっ
てS字状の弁別l特性が得られる。
てS字状の弁別l特性が得られる。
このS字状の弁別特性は動作上直線性のよ一^範囲を広
くすることが望−まれるが1通常直線性のよ1o範囲は
中心周波数f。附近に限られる。このような要求に答え
る手段とし°Cセラミック共振子Xにインダクタンスを
直列接Mfることか行われる。
くすることが望−まれるが1通常直線性のよ1o範囲は
中心周波数f。附近に限られる。このような要求に答え
る手段とし°Cセラミック共振子Xにインダクタンスを
直列接Mfることか行われる。
ところが、セラミック共4H丁−の電極として鉛金属薄
Ilφ電極を用1/すると、同様な効果が得られるので
ある。第6図1はその結果を示す出力電圧−周波数の関
係を示したものである。図中、破線は従来の銀糸電極、
破線は鉛薄嘆電極によるものである。
Ilφ電極を用1/すると、同様な効果が得られるので
ある。第6図1はその結果を示す出力電圧−周波数の関
係を示したものである。図中、破線は従来の銀糸電極、
破線は鉛薄嘆電極によるものである。
したがって、電極とし”で鉛金属薄11φを用1−1で
ディスクリミネータ用のセラミック共振子を構成すれば
、直線性がよく、帯域幅の広い特性を有するものが得ら
れることになる。
ディスクリミネータ用のセラミック共振子を構成すれば
、直線性がよく、帯域幅の広い特性を有するものが得ら
れることになる。
また、これらはセラミックフィルタ、弾性表面波フィル
タ、セラミックトラップ、セラミック発振子、ある1o
は圧電ブザー、圧電スピーカー、圧電ツイータ用の圧電
体セラミックス(にも適用することができる。
タ、セラミックトラップ、セラミック発振子、ある1o
は圧電ブザー、圧電スピーカー、圧電ツイータ用の圧電
体セラミックス(にも適用することができる。
上記した実施例のうち、PbTiO3系の圧電セラミッ
ク表面に鉛金属1W膜電極を形成したものでは、セラミ
ック中の鉛化合物との化学的結合をもたらし、接着強度
の大きな電極を構成することができた。
ク表面に鉛金属1W膜電極を形成したものでは、セラミ
ック中の鉛化合物との化学的結合をもたらし、接着強度
の大きな電極を構成することができた。
また、上記した各実施例では圧電体セラミックスICつ
1−1で説明したが、このほか圧電体単結晶や鉛化合物
を含む誘電体セラミックス、半導体セラミックス、抵抗
体セラミックスにつl/1 ’(適用しても十分な利用
両値のあるものである。
1−1で説明したが、このほか圧電体単結晶や鉛化合物
を含む誘電体セラミックス、半導体セラミックス、抵抗
体セラミックスにつl/1 ’(適用しても十分な利用
両値のあるものである。
第1図は減衰量(インピーダンスに相当)−周波数特性
図、第2図はティスフリミネータの基本回路、第3図は
出力電圧−周波数/特性図である。 特許出願人 株式会社村田製作所
図、第2図はティスフリミネータの基本回路、第3図は
出力電圧−周波数/特性図である。 特許出願人 株式会社村田製作所
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +1) 基板の表面に鉛金属薄膜からなる電極が形成
され′filへることを特徴とする電子部品。 (2)基板は圧電単結晶、圧電体セラミックス、および
鉛化合物を含むセラミックスの10ずれか1種よりなる
特許請求の範囲第11)項記載の電子部品。 (3)鉛金属I#、嘆からなる雷雨は真空蒸着Jl費、
イオンブレーティング膜、スパッタリングφ、気相蒸着
lIψの10ずれか1種よりなる特許請求の範囲第11
)項記載の電子部品。 (4) 基板と鉛金属薄膜との間に、銅、ニッケル、
クロム、アルミニウムのうち少なくとも1種よシなる単
層雷雨または多層電極が介在して(0る特許請求の範囲
第1I)項記載の電子部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57112319A JPS592416A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57112319A JPS592416A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS592416A true JPS592416A (ja) | 1984-01-09 |
Family
ID=14583690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57112319A Pending JPS592416A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS592416A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6477214A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-23 | Showa Electric Wire & Cable Co | Electrode for ultrasonic delay line |
| JPH04255103A (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-10 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振素子の製造方法 |
| JPH04255102A (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-10 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振素子の製造方法 |
| JP2003095307A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-03 | Seiji Kaneko | 錠剤出しを具えた広口容器内蓋 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57112319A patent/JPS592416A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6477214A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-23 | Showa Electric Wire & Cable Co | Electrode for ultrasonic delay line |
| JPH04255103A (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-10 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振素子の製造方法 |
| JPH04255102A (ja) * | 1991-02-06 | 1992-09-10 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振素子の製造方法 |
| JP2003095307A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-03 | Seiji Kaneko | 錠剤出しを具えた広口容器内蓋 |
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