JPS5925186B2 - 印刷回路ボ−ド試験装置 - Google Patents

印刷回路ボ−ド試験装置

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JPS5925186B2
JPS5925186B2 JP53016358A JP1635878A JPS5925186B2 JP S5925186 B2 JPS5925186 B2 JP S5925186B2 JP 53016358 A JP53016358 A JP 53016358A JP 1635878 A JP1635878 A JP 1635878A JP S5925186 B2 JPS5925186 B2 JP S5925186B2
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JP
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test
board
test device
insulating material
base
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ジヨナソン・ホワ−ド・カツツ
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TEREDAIN Inc
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    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
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    • H01B7/08—Flat or ribbon cables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
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    • G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Insulated Conductors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Communication Cables (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、回路ボードの試験・検査に関する。
設計上、種々の要素を組み込んだ印刷回路ボード6PC
B″の試験には、通常、複雑で、極めて時間のかかるテ
ストピンを備えた試験装置の製造が伴なう。本発明の一
面においては、要素を組み込んだ試験されるPCBに対
応した他の要素を組み込んでないPCBが、試験用装置
の評価素子として使用される。
他の面で(は多線シース内で、ワイヤが容易に摺動でき
ることを特徴とする新規なケーブルアセンブリが提供さ
れる。他の面では、二層の多線シースを特徴とする新規
なケーブルアセンブリが提供される。他の面では、要素
を組み込んだのと組み込んでないPCBを把持する新規
なりロスバーアセンブリが提供される。更に他の面では
、テストピンの取り付けを容易にする特別な装置が提供
される。他の新規な特徴、エレメント、面、長所及びそ
の組み合わせは以下に記載する。1インチのフエノール
基板10は、両端に沿つて、それぞれスロツト100,
102,104,106を有している。
スロツトは、それぞれヒンジプロツク110を受け入れ
る様に構成されており、ヒンジプロツクは、ソケツトヘ
ツドボルト112によつて、スロツト内に保持され(第
9図)、ナツト114が、ボルトをゆるめた時、スロツ
ト100、102,104,106の広い(ナツトが回
転してしまう程ではないが)部分に沿つて動けるように
なつている。図示の様に、ヒンジプロツクは、対になつ
ているスロツト100と102のそれぞれに取り付けら
れている。各対のヒンジプロツクの盲穴118には、ク
ロスバ一が回転可能に取り付けられている。平行で、対
向したクロスバ一120と122が図示されており、こ
れは、124におけるような断面(第2図)で押し出さ
れ、短絡を防ぐためにテフロン(デユポンの商標)で被
覆されたアルミニユーム製である。十字形部分126だ
けが、クロスバ一の端に保持されており、(第9図に示
すように)その8つの外縁が、盲穴118の各端部でジ
ヤーナル軸受されて、クロスバ一の軸受を形成している
。
クロスバ一120と122は、止ねじ108を用いて(
第9図)、回転しないように選択的に締めつけることが
できる。試験装置を組立てる場合には、電気的要素を組
み込んだ試1験されるPCBll9(第7図)の要素支
持体に、穴の大きさ以外は対応している電気的要素を組
込んでないPCBl2が、テストピン支持体となり、テ
フロン被覆された一対のアルミニユーム顎部130によ
つて、各クロスバ一の横方向中間部の十字形部分126
の下面128に対して支持され、顎部130の各々は、
溝132と丸い部分131(クロスバ一が回転できるよ
う!こ)を備えている。
十字形部分126を貫通しているボルト133は、各顎
部130を所定位置に固定している。そのアレン頭部は
、クロスパーツツチ139に受け入れられる。第8図に
おいて、電気的要素を組み込んでないボード12は、第
1図に示されたテストピンを取り付けるための位置へ動
かされる。
推奨実施例においては、テストピンを取りつける穴は、
中心は同じにして更に大きくされる。十字形部分126
の下面134は、足140が溝136を備えているプラ
スチツク製配線具138(第10図)の横方向の溝13
6と係合する。スロツト137によるバネ作用により、
配線具が挿入される時、突起135は、押し下げられ、
それから弾性的に元へ戻る。(クロスバ一は、配線具を
取り外せるように回転できる)ケーブルアセンブリ14
6のマイラ一絶縁体160,162の端部142は、配
線具138の面148と接し、ワイヤ150と152は
、配線具138の溝154を貫通する。ケーブルアセン
ブリ146(第5図、第6図)は、それぞれマイラ一(
デユポンの商標)製の縦方向のスリーブ160と162
から成る一対の相接するケーブルサブアセンブl川56
と158を有し、各スリーブは、離間した導管で、摺動
可能に並んで取りつけられた、20本の0.100イン
チ心上に、24ゲージ絶縁線150と152を収納して
いる。ワイヤとスリーブ間に、シリコン潤滑剤を入れる
ことによつて摺動し易くなる。各層の5本目毎のワイヤ
が、白色の絶縁体を有している以外は、絶縁線150は
黒色であり、絶縁線152は、青色で、これらは全て、
位置の認識と同定のためである。ピン基部16aと16
bを、互い違いに束ねて保持するために、ピン基部列に
隣接して、短かい、マイラ−スリーブ168と170が
設けられている。このマイラ−スリーブは、本発明にお
いては、出荷及び使用前に、172の所で切断されて、
部分174が、ワイヤの端部164の外側にまで延在す
るようにずらされ、この部分は、実際に使用する時、部
分176全体を取り除くための把手となり、その結果、
個々のワイヤを、スリーブから引張る場合にワイヤの摩
擦を減らしたり、試験装置を装備する場合に、余りに遠
くまで引つ張られているワイヤを、取付け端の所へ、あ
る程度まで引き戻すことができる。この22のスリーブ
160と162は、1インチ幅の粘着性(両面が)テー
プで、178,180のところで接着され、その結果、
40本のワイヤは、0.050インチの心上にある。配
線具138の突起182は、クロスバ一122の幅広の
丸い突起184(後方のコネクターの開口と一直線上に
ある)の両側に当接している(その結果、ワイヤは、終
端時、コネクターに垂直となる)。
配線具の溝136を所定位置にはめ込む前に、ワイヤ1
50と152は、ケーブルアセンブリ部分186の個所
で、配線具の溝154に入れられる。配線具を所定位置
にはめ込むと、ワイヤ150,152をマイラジャケッ
ト160,162を通して引つ張つた時、160,16
2は固定される。アンスリ(Ansley)コネクタ1
90のケーブルアセンブリ146の終端は、第1図に示
されている。エレメント192は、標準のアンスリ品目
である。エレメント194は、加え合わされた厚みのこ
のケーブルアセンブリと合う様に改良されている。エレ
メント192と194が、ケーブルアセンブリ146を
通して結合されると、24ゲージワイヤの40の接点が
構成される。エレメント192は、安定の為に、筋かい
206が設けられている204で示された第2層を備え
ているコネクタ取り付けパネル202の矩形の孔200
に取り付けられたガラスを充てんしたプラスチツク受け
せんハウジング198に固着されている受けせんモジユ
ール196の柱状部195(AMPで販売されている0
.100インチ心上、0.025インチ)にはめ込まれ
る。(ケーブレアセンブリ146は、勿論、アンスリコ
ネクタで終端し、それから、207で示された形状に曲
げる前に、所定の長さに切られる。)受けせん198は
、その長さ方向に固定されるが、取り付けパネル202
の背面に取り付けられる基板214と一体に成形された
可撓性のナイロンプラスチツクから構成されたバネ性フ
インガ一212(第11図)によつて、0.050イン
チだけ長さ方向に動けるゆとりがある。次に、この装置
の操作について説明すると、クロスバ一120は、スロ
ツト100の前端に位置し、クロスバ一122は、試験
されるPCBのサイズによつて指定される位置にある。
スロツト106は、例えば、十分大きなPCBに関して
使用される。試験装置の前側に近い第1のクロスバ一1
20は、基板の背面と対向する案内面208を有してい
る。それから、選択したスロツトを用いて(ここでは、
スロツ口02)第2のクロスバ一122が設置“される
。その案内面208は、上向きではあるが、前方を向く
ように回転可能である。それから、既述した特性の要素
を組み込んでいないPCBボードを、顎部130を用い
て、クロスバ一122に、第1図に示した位置で取り付
ける。配線具138は、順を追つて取り付けられるが、
ケーブルアセンブl川46を、コネクタ190と一直線
になるよう位置決めする前述したやり方で使用され、4
0の端子と、40のテストピン受けが、第5図に示され
るように位置決めされる。それから、各ワイヤ150又
は152をスリーブ160又は162から一部引き出し
(部分176を引き去つた後)て、要素を組み込んだP
CBの試1験される各位置にテストピンを設ける197
6年12月27日出願、現在係属中の第757,778
号、名称゛テストピン゛で述べられた方法で試験される
要素を組み込んだPCBll9の本体に対応した要素を
組み込んでないテストピン支持体であるボード12土に
、テストピンの部分14と共にテストピン基部16を組
み立てる。各テストピンは、中間端子が取り付けられ、
冠部20は、上方へバネで、一定程度偏倚させられる。
テストピンの下側部分は、基板101こよつて支持され
、順次、テストピン支持体であるボード12を支持して
いる。ピンが挿入される各穴を取りまくようにすること
は、穴を拡げ、その後テストピンを、要素を組み込んで
ないボードに取り付ける場合iこ有効である。
この様な穴を、5番目毎に、異なつた色で取りまいてあ
れば、白いワイヤとこの様な穴との相互関係により、間
違いがないというざつとした確証が、自動的に得られる
。40本のワイヤと、近接したいづれかの特定のケーブ
ルアセンブリのピン基部とを゛一束゛として終端するこ
とが望ましいO各束のピンを取り付けた後、そのピンか
らの全てのワイヤは、ピン基部の間を通り、しばしば、
個々のピン基部の周わりに巻かれる長いろうを塗つた線
を使用した要素を組み込んでないボードの底部にしつか
りと保持される。
各束が配線されると、ゆるみをなくすために、ワイヤ群
を、ケーブルアセンブリの端部(164に近い)で引つ
張りこの群を同じろうを塗られた線(図示せず)と結び
つける。こうして、全ての束を設置した後、要素を組み
込んでないが、試験用に設けられたPCBl2を、第1
図の位置から第2図の位置まで下げて(ピン基部より下
側へ落ちるワイヤなしに)、更に、顎部130で、クロ
スバ一120に固定する。クロスバ一120,122を
、その正しい垂直位置に保持し、止めネジ108を締め
ることによつて要素を組み込んでないボード12の曲り
をほぼ、最小限にすることができる。PCBl2が、そ
の最終的な水平位置にくると、ケーブルアセンブリは切
断され、アンスリコネクタ190が付加され、曲げられ
、はめ込まれる。各コネクタは、40本のワイヤを収納
し、3つのコネクタは、各ハウジング198にはめ込ま
れる。1つの水平列の4つのコネクタが、第2の水平列
を始める前に取り付けられる。
119で示された(第7図)要索を組み込んだ試験され
るPCBボードは、第7図に示された位置を越えて、ク
ロスバ一122と120の傾斜案内面208(クロスバ
一120は、第7図に示されていない)を向けることl
こよつて、同じ停止平面211に案内される(要素を組
み込んでないPCBの対角線上の案内穴に取り付けられ
た案内ピン210は、互いに対して正確な位置決めがで
きるように、要素を組み込んだPCBの対応する案内穴
と係合する:案内ピン210は、エレメント216に固
定され、又、ボード12を、基板10の面上に、支持す
るのを助ける)。
案内ピン210を探す場合の助けとなる面208は、要
素を組み込んだ試験されるボードの一部が、下方へ押圧
された時、テストピンへの思わぬ損傷を避ける助けとな
る。もし、ピンが損傷を受けた場合には、頂部14たけ
を取り換えれば済むという長所がある。ボード119に
よつてテストピンに加えられる力は、ピンを通して縦方
向に伝達され、最終的には、基板10によつて支えられ
る。300で示される(第12図、第13図)工具は、
テストピンの位置決めと締めつけの両方に有用である。
ハンドル302は、シヤフト314をささえており、こ
のシヤフト上に、押し込むのを助けるための一体のフラ
ンジ306を有するスリーブ304が、長さ方向に摺動
可能に取り付けられている。シヤフト304は、その端
部の方へ向かつて、二又lこ分かれて、互いに横方にバ
ネ偏倚され、尖端312と314を有する部分308と
310を形成している。集められた尖端312と314
を、ピン基部16の底部に挿入した後、スリーブをハン
ドルの方へ動かすと、尖端は互いに離れて、ピン基部1
6をしつかりと把持し、その結果、ピン支持体であるボ
ード12上に位置決めでき、スリツプせずに締めつける
ことができる。PCBl2は、要素を組み込んだPCB
ll9の要素を組み込んでない対となつているので、試
験すべき部分へテストピンの向きを合わせることが大層
容易になる。位置決めされたプラスチツク製スリーブ内
で、ワイヤを摺動できることが重要な特徴である接続を
行うために開示されたこの技術は、労力を節減し、ワイ
ヤを所定の長さまで切る必要性をなくし、必要な半田付
けを半減するという大きな長所を有し、更に一般に適用
可能である。
要素を組み込んだPCBを試験する第一義的価値を有す
るが、本発明は、又、要素を組み込んでいようがいまい
が、他の回路ボードを試験するのに使用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、要素を組み込んでないPCBに、テストピン
を取り付ける段階における本発明の推奨実施例の一部断
面、一部省略した斜視図、第2図は、第1図の実施例の
一部の省略図で、テストピン全列の一部だけを所定位置
に示した概略図、第3図は、テストピンの推奨実施例の
斜視図、第4図は、前記テストピンの垂直断面図、第5
図は、本発明の推奨ケーブルアセンブリの一部省略した
斜視図、第6図は、第5図の6−6における一部断面図
、第7図は、第2図の7一rにおける一部断面図である
が、試験されるボードの一部を付加した図、第8図は、
第1図の8−8における一部断面図、第9図は、第1図
の9−9における一部断面図、第10図は、本発明の配
線具の推奨実施例の斜視図、第11図は、本発明の推奨
実施例のバネ性フインガユニツトの斜視図、第12図は
、テストピンを位置決めし、締め付けるのに有効な道具
の側面図、第13図は、前記道具の端部図。 10・・・・・・基板、12・・・・・・要素を組み込
んでないボード、14・・・・・・テストピン、16・
・・・・・テストピン基部、20・・・・・・冠部、1
10・・・・・・ヒンジプロツク、119・・・・・・
要素を組み込んだボード、120,122・・・・・・
クロスバ一、138・・・・・・配線具、146・・・
・・・ケーブルアセンブリ、160,162,168,
170・・・・・・スリーブ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 特定の穴のパタンを有すると共に印刷回路用導体を
    担持した絶縁材料製の第1のボードと、ボボードに装荷
    された印刷回路を構成する電気的要素との間の電気的特
    性を試験するための試験装置であつて、該試験装置は、
    絶縁材料製の第1のボードと同一の絶縁材料製であつて
    且つ前記第1のボードと同一の穴のパタンを有する第2
    のボードと、前記装荷された印刷回路ボード上の試験点
    と空間的に対応せしめて前記絶縁材料製の第2のボード
    内に取り付けられた複数のテストピンとを具備し、さら
    に前記試験装置が、基部と、該基部に対して選択的に回
    転する前記基部の上方に取り付けられた一対の平行なク
    ロスバーであつて試験位置に回転される時傾斜案内面お
    よび共通の水平停止面に対向するようにした前記クロス
    バーと、前記基部によつて支持された前記テストピンの
    下方部分とを有しており、該テストピンの下方部分が前
    記基部上に支持された絶縁材料製の前記第2のボードを
    支持していること、を特徴とする前記試験装置。 2 特許請求の範囲第1項の試験装置において、特定の
    穴のパタンを有すると共に印刷回路用導体を担持した絶
    縁材料製の第1のボードと、ボードに装荷された印刷回
    路を構成する電気的要素との間の電気的特性を試験する
    ための試験装置であつて、該試験装置は、絶縁材料製の
    前記第1のボードと同一の絶縁材料で作られた第2のボ
    ードを具備し、該第2のボードが前記絶縁材料製の第1
    のボードと同じパタンの穴を有すると共に前記第1のボ
    ードと同一形状の印刷回路用導体を担持しており、さら
    に、前記試験装置が、装荷された印刷回路ボード面の試
    験点と空間的に対応せしめて前記絶縁材料製の装荷され
    ていない第2のボードの前記穴内に取り付けてなる複数
    のテストピンを具備してなること、を特徴とする前記試
    験装置。 3 特許請求の範囲第1項の試験装置において、テスト
    ピンが該ピンの長さの中間で固定されており、この場合
    、前記テストピンは上向きにバネで偏向させられた冠部
    を有するとともに、該冠部の上向きの運動を制限する手
    段を有してなることを特徴とする前記試験装置。 4 特許請求の範囲第1項の試験装置において、クロス
    バーの端部は、クロスバー間の距離を可変にするために
    、基部に摺動可能に取り付けられたヒンジブロックにジ
    ャーナル軸受されている前記試験装置。 5 特許請求の範囲第1項の試験装置において、前記試
    験位置において、クロスバーの下端は、断面十字形であ
    り且つ該クロスバー間に、顎部と協働して絶縁材料で作
    られた第2のボードを固定する前記試験装置。 6 特許請求の範囲第5項の試験装置において、クロス
    バーの両端において、断面十字形部分が、クロスバーの
    全断面であり、クロスバー間の距離を可変にするため基
    部に摺動可能に取り付けられたヒンジブロックの盲穴に
    ジャーナル軸受されている前記試験装置。 7 特許請求の範囲第6項の試験装置において、十字形
    部分が、同一断面の押し出し成形された長片から構成さ
    れている前記試験装置。 8 特許請求の範囲第5項の試験装置において、顎部が
    、基部上に支持するため下端と協働し、さらに選択的回
    転を可能にするため、丸い隅部分を有している前記試験
    装置。 9 特許請求の範囲第1項の試験装置において、テスト
    ピン支持体の、冠部とは反対側のテストピンの下方部分
    は、ケーブルアセンブリに接続されている前記試験装置
    。 10 特許請求の範囲第5項の試験装置において、下端
    から離れた側のクロスバーの一部は少なくとも1つの突
    起を形成する為に取り除かれており、更に配線具エレメ
    ントを有し、前記配線具エレメントは、その横方向の位
    置決めのため、両側の突起と係合する立ち上がり部分と
    、縦方向の位置決めのため前記下端と係合してつかめる
    ようにした横方向の溝と、前記配線具エレメントが動作
    位置にあるときクロスバーの方に延びワイヤを受け入れ
    る多数の溝と、さらに、前記配線具エレメントが動作位
    置にあるとき、長さ方向に可動で、中から延びているワ
    イヤを収納しているケーブルアセンブリスリーブの端部
    と協働し且つ、収納されているワイヤを引つ張る際に延
    びてスリーブが動かないように固定しておくためのクロ
    スバーから離れた側の面とを有することを特徴とする試
    験装置。
JP53016358A 1977-03-17 1978-02-15 印刷回路ボ−ド試験装置 Expired JPS5925186B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/778,505 US4132948A (en) 1977-03-17 1977-03-17 Test fixture using stock printed circuit board having test pins mounted thereon
US000000778505 1977-03-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS53116477A JPS53116477A (en) 1978-10-11
JPS5925186B2 true JPS5925186B2 (ja) 1984-06-15

Family

ID=25113572

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53016358A Expired JPS5925186B2 (ja) 1977-03-17 1978-02-15 印刷回路ボ−ド試験装置
JP58107603A Expired JPS5939708B2 (ja) 1977-03-17 1983-06-15 印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58107603A Expired JPS5939708B2 (ja) 1977-03-17 1983-06-15 印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4132948A (ja)
JP (2) JPS5925186B2 (ja)
CA (1) CA1100576A (ja)
DE (1) DE2811775C3 (ja)
FR (2) FR2384267A1 (ja)
GB (1) GB1591575A (ja)

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