JPS5939708B2 - 印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ - Google Patents

印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ

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JPS5939708B2
JPS5939708B2 JP58107603A JP10760383A JPS5939708B2 JP S5939708 B2 JPS5939708 B2 JP S5939708B2 JP 58107603 A JP58107603 A JP 58107603A JP 10760383 A JP10760383 A JP 10760383A JP S5939708 B2 JPS5939708 B2 JP S5939708B2
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units
electrical conductor
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TEREDAIN Inc
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    • H01B7/08Flat or ribbon cables
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
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    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Insulated Conductors (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Communication Cables (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 フ 本発明は、回路ボードの試験・検査に関する。
設計上、種々の要素を組み込んだ印刷回路ボード(″P
CB’’)の試験には、通常、複雑で、極めて時間のか
かるテストピンを備えたケーブルアセセンブリが伴なう
。5 本発明の一面においては、要素を組み込んだ試験
されるPCBに対応した他の要素を組み込んでないPC
Bが、試験用取り付け具の評価素子として使用され、他
の面では多線シース内で、ワイヤが容易に摺動できるこ
とを特徴とする新規なケーo ブルアセンブリが提供さ
れる。
他の面では、二層の多線シースを特徴とする新規なケー
ブルアセンブリが提供される。他の面では、要素を組み
込んだのと組み込んでないPCBを把持する新規なり口
スバーアセンブリが提供される。更に他の面で5 は、
テストピンの取り付けを容易にする特別な道具が提供さ
れる。他の新規な特徴、エレメント、面、長所及びその
組み合わせは以下に記載する。1インチのフェノール基
板10は、両端に沿つて、それぞれスロット100、1
02、104、0106を有している。
ス頭ノトは、それぞれヒンジブロック110を受け入れ
る様に構成されており、ヒンジブロックは、ソケットヘ
ッドボルト112によつて、ス頭ノト内に保持され(第
9図)、ナット114が、ボルトをゆるめた時、スロッ
ト5100、102、104、106の広い(ナットが
回転してしまう程ではないが)部分に沿つて動けるよう
になつている。図示の様に、ヒンジプロツクは、対にな
つているスロツ口00と102のそれぞれに取り付けら
れている。各対のヒンジプロツクの盲穴118には、ク
ロスバ一が回転可能に取り付けられている。平行で、対
向したクロスバ一120と122が図示されており、こ
れは、124におけるような断面(第2図)で押し出さ
れ、短絡を防ぐためにテフロン(デユポンの商標)で被
覆されたアルミニウム製である。十字形部分126だけ
が、クロスバ一の端に保持されており、(第9図に示す
ように)その8つの外縁が、盲穴118の各端部でジヤ
ーナル軸受されて、クロスバ一の軸受を形成している。
クロスバ一120と122は、止ねじ108を用いて(
第9図)、回転しないように選択的に締めつけることが
できる。試験用取付具を組立てる場合には、要素を組み
込んだ試験されるPCBll9(第7図)の要素支持体
に、穴の大きさ以外は対応している要素を組込んでない
PCBl2が、テストピン支持体となり、テフロン被覆
された一対のアルミニウム顎部130によつて、各クロ
スバ一の横方向中間部の十字形部分126の下面128
に対して支持され、顎部130の各々は、溝132と丸
い部分131(クロスバ一が回転できるように)を備え
ている。
十字形部分126を貫通しているボルト133は、各顎
部130を所定位置に固定している。そのアレン頭部は
、クロスバーノツチ139に受け入れられる。第8図に
おいて、要素を組み込んでないボード12は、第1図に
示されたテストピンを取り付けるための位置へ動かされ
る。
推奨実施例においては、テストピンを取りつける穴は、
中心は同じにして更に大きくされる。十字形部分126
の下面134は、足140が溝136を備えているプラ
スチツク製配線具138(第10図)の横方向の溝13
6と係合する。スロツト137によるバネ作用により、
配線具が挿入された時、突起135は、押し下げられ、
それから弾性的に元へ戻る。(クロスバ一は、配線具を
取り外せるように回転できる)ケーブルアセンブリ14
6のマイラ一絶縁体160,162の端部142は、配
線具138の面148と接し、ワイヤ150と152は
、配線具138の溝154を貫通する。ケーブルアセン
ブI川46(第5図、第6図)は、それぞれマイラ一(
デユポンの商標)製の縦方向のスリーブ160と162
から成る一対の相接するケーブルサブアセンブリ156
と158を有し、各スリーブは、離間した導管で、摺動
可能に並んで取りつけられた、20本の0.100イン
チ心上に、24ゲージ絶縁線150と152を収納して
いる。
ワイヤとスリーブ間に、シリコン潤滑剤を入れることに
よつて摺動し易くなる。各層の5本目毎のワイヤが、白
色の絶縁体を有している以外は、絶縁線150は黒色で
あり、絶縁線152は、青色で、これらは全て、位置の
認識と同定のためである。ピン基部16aと16bを、
互い違いに束ねて保持するために、ピン受列に隣接して
、短かい、マイラ−スリーブ168と170が設けられ
ている。このマイラ−スリーブは、本発明においては、
出荷及び使用前に、172の所で切断されて、部分17
4が、ワイヤの端部164の外側にまで延在するように
ずらされ、この部分は、実際に使用する時、部分176
全体を取り除くための把手となり、その結果、個個のワ
イヤを、スリーブから引張る場合にワイヤの摩擦を減ら
したり、試験用取付具を装備する場合に、余りに遠くま
で引つ張られているワイヤを、取付け端の所へ、ある程
度まで引き戻すことができる。この2つのスリーブ16
0と162は、1インチ幅の粘着性(両面が)テープで
、178,180のところで接着され、その結果、40
本のワイヤは、0.050インチの心上にある。配線具
138の突起182は、クロスバ一122の幅広の丸い
突起184(後方のコネクターの開口と一直線上にある
)の両側に当接している(その結果、ワイヤは、終端時
、コネクターに垂直となる)。
配線具の溝136を所定位置にはめ込む前に、ワイヤ1
50と152は、ケーブルアセンブリ部分186の個所
で、配線具の溝154に入れられる。配線具を所定位置
にはめ込むと、ワイヤ150,152をマイラジャケッ
ト160,162を通して引つ張つた時、160,16
2は固定される。アンスリ(Ansley)コネクタ1
90のケーブルアセンブリ146の終端は、第1図に示
されている。エレメント192は、標準のアンスリ品目
である。エレメント194は、加え合わされた厚みのこ
のケーブルアセンブリと合う様に改良されている。エレ
メント192と194が、ケーブルアセンブ1川46を
通して結合されると、24ゲージワイヤの40の接点が
構成される。エレメント192は、安定の為に、筋かい
206が設けられている204で示された第2層を備え
ているコネクタ取り付けパネル202の矩形の孔200
に取り付けられたガラスを充てんしたプラスチツク受け
せんハウジング198に固着されている受けせんモジユ
ール196の柱状部195(AMPで販売されている0
.100インチ心上、0.025インチ)にはめ込まれ
る。(ケーブルアセンブリ146は、勿論、アンスリコ
ネクタで終端し、それから、207で示された形状に曲
げる前に、所定の長さに切られる。)受けせん198は
、その長さ方向に固定されるが、取り付けパネル202
の背面に取り付けられる基板214と一体に成形された
可とう性のナイロンプラスチツクから構成されたバネ性
フインガ一212(第11図)によつて、0.050イ
ンチだけ長さ方向に動けるゆとりがある。次に、この装
置の操作について説明すると、クロスバ一120は、ス
ロツト100の前端に位置し、クロスバ一122は、試
験されるPCBのサイズによつて指定される位置にある
スロツト106は、例えば、十分大きなPCBに関して
使用される。取り付け装置の前側に近い第1のクロスバ
一120は、基板の背面と対向する案内面208を有し
ている。それから、選択したスロツトを用いて(ここで
は、スロツト102)第2のクロスバ一122が設置さ
れる。その案内面208は、上向きではあるが、前方を
向くように回転可能である。それから、既述した特性の
要素を組み込んでいないPCBボードを、顎部130を
用いて、クロスバ一122に、第1図に示した位置で取
り付ける。配線具138は、順を追つて取り付けられる
が、ケーブルアセンブl川46を、コネクタ190と一
直線になるよう位置決めする前述したやり方で使用され
、40の端子と、40のテストピン受けが、第5図に示
されるように位置決めされる。それから、各ワイヤ15
0又は152をスリーブ160又は162から一部引き
出し(部分176を引き去つた後)て、要素を組み込ん
だPCBの試験される各位置にテストピンを設けるがこ
れは本出願人の米国特許第4,132,948号明細書
(名称11テストピン1)にも開示されている様に試験
される要素を組み込んだPCBll9の本体に対応した
要素を組み込んでないテストピン支持体であるボード1
2上に、テストピンの部分14と共にテストピン基部1
6を組み立てる。各テストピンは、中間端子が取り付け
られ、冠部20は、上方へバネで、一定程度偏倚させら
れる。テストピンの下側部分は、基板10によつて支持
され、順次、テストピン支持体のボード12を支持して
いる。ピンが挿入される各穴を取りまくようにすること
は、穴を拡げ、その後テストピンを、要素を組み込んで
ないボードに取り付ける場合に有効である。
この様な穴を、5番目毎に、異なつた色で取りまいてあ
れば、白いワイヤとこの様な穴との相互関係により、間
違いがないという確証が、自動的に得られる。40本の
ワイヤと、近接したいづれかの特定のケーブルアセンブ
リのピン基部とを゛一束゛として終端することが望まし
い。
各束のピンを取り付けた後、そのピンからの全てのワイ
ヤは、ピン受の間を通り、しばしば、個個のピン基部の
周わりに巻かれる長いろうを塗つた線を使用した要素を
組み込んでないボードの底部にしつかりと保持される。
各束が配線されると、ゆるみをなくすために、ワイヤ群
を、ケーブルアセンブリの端部(164に近い)で引つ
張りこの群を同じろうを塗られた線(図示せず)と結び
つける。こうして、全ての束を設置した後、要素を組み
込んでないが、試験用に設けられたPCBl2を、第1
図の位置から第2図の位置まで下げて(ピン基部より下
側へ落ちるワイヤなしに)、更に、顎部130で、クロ
スバ一120に固定する。クロスバ一120,122を
、その正しい垂直位置に保持し、止めネジ108を締め
ることによつて要素を組み込んでないボード12の曲り
をほぼ、最小限にすることができる。PCBl2が、そ
の最終的な水平位置にくると、ケーブルアセンブリは切
断され、アンスリコネクタ190が付加され、曲げられ
、はめ込まれる。各コネクタは、40本のワイヤを収納
し、3つのコネクタは、各ハウジング198にはめ込ま
れる。1つの水平列の4つのコネクタが、第2の水平列
を始める前に取り付けられる。
119で示された(第7図)要素を組み込んだ試験され
るPCBボードは、第7図に示された位置を越えて、ク
ロスバ一122と120の傾斜案内面208(クロスバ
一120は、第7図に示されていない)を向けることに
よつて、同じ停止平面211に案内される(要素を組み
込んでないPCBの対角線上の案内穴に取り付けられた
案内ピン210は、互いに対して正確な位置決めができ
るように、要素を組み込んだPCBの対応する案内穴と
係合する。
案内ピン210は、エレメント216に固定され、又、
ボード12を、基板10の面上に、支持するのを助ける
)。案内ピン210を探す場合の助けとなる面208は
、要素を組み込んだ試験されるボードの一部が、下方へ
押圧された時、テストピンへの思わぬ損傷を避ける助け
となる。もし、ピンが損傷を受けた場合には、頂部14
だけを取り換えれば済むという長所がある。ボード11
9によつてテストピンに加えられる力は、ピンを通して
縦方向に伝達され、最終的には、基板10によつて支え
られる。300で示される(第12図、第13図)工具
は、テストピンの位置決めと締めつけの両方に有用であ
る。
ハンドル302は、シヤフト314をささえており、こ
のシヤフト上に、押し込むのを助けるための一体のフラ
ンジ306を有するスリーブ304が、長さ方向に摺動
可能に取り付けられている。シヤフト304は、その端
部の方へ向かつて、二又に分かれて、互いに横方にバネ
偏倚され、尖端312と314を有する部分308と3
10を形成している。集められた尖端312と314を
、テストピン基部16の底部に挿入した後、スリーブを
ハンドルの方へ動かすと、尖端は互いに離れて、ピン基
部16をしつかりと把持し、その結果、ピン支持体であ
るボード12上に位置決めでき、スリツプせずに締めつ
けることができる。以上に述べたところから明らかな如
く、本発明においてテストピン支持体として要素を組み
込んでいないPCBl2は要素を組み込んだPCBll
9と対となつており、これによつて試験すぺき各部分と
テストピンとの整列・整合が著しく容易になる。
さらに、各スリーブの一面を平らな面とし他面をスリー
ブ内の多数の導管を規定する波形面として二つの波形面
を互いに嵌め合いにしたので、重ね合わせによつて個々
に独立したスリーブの集成密度を高めるとともにスリー
ブ同士の横方向の位置ずれをなくするだけでなく、スリ
ーブ内の各ワイヤの個々の摺動のための空隙をそれらの
変形や潰れから守り保持し得るのである。また、本発明
によるケーブルアセンブリでは、導電体ユニツトの軸線
をほぼ共通面内に配夕1ルておりしかも上述の如く位置
決めされたプラスチツク製スリーブ内のワイヤがスリー
ブ内を長さ方向にたやすく摺動できるようにしたため、
導電体ユニツトの接続時又は組立時個々のテストピン支
持体の設置点までそれぞれの距離だけ別々に引き延ばし
て結合させることができこうした結合状態でテストピン
に対応するコネクタを適用し電気的結線の完了後にはワ
イヤ群を摺動することなく固定化し得るものであり、か
くして本発明によれば印刷回路ボードの試験用取付具の
装備に要する労力を節減し、組立時各ワイヤの長さを必
要以上に切り揃える必要性をなくし又半田付けの作業量
を半減させ得るなど様々な特長が実現されるものである
。要素を組み込んだPCBを試験する第一義的価値を有
するが、本発明は、又、要素を組み込んでいようがいま
いが、他の回路ボードを試験するのに使用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、要素を組み込んでないPCBに、テストピン
を取り付ける段階における実施例の一部断面、一部省略
した斜視図、第2図は、第1図の実施例の一部の省略図
で、テストピン全列の一部だけを所定位置に示した概略
図、第3図は、テストピンの推奨実施例の斜視図、第4
図は、前記テストピンの垂直断面図、第5図は、本発明
の推奨ケーブルアセンブリの一部省略した斜視図、第6
図は、第5図の6−6における一部断面図、第7図は、
第2図の7ー7における一部断面図であるが、試験され
るボードの一部を付加した図、第8図は、第1図の8−
8における一部断面図、第9図は、第1図の9−9にお
ける一部断面図、第10図は、本発明の配線具の推奨実
施例の斜視図、第11図は、本発明の推奨実施例のバネ
性フインガユニツトの斜視図、第12図は、テストピン
を位置決めし、締め付けるのに有効な道具の側面図、第
13図は、前記道具の端部図。 10・・・・・・基板、12・・・・・・要素を組み込
んでないボード、14・・・・・・テストピン 16・
・・・・・テストピン基部、20・・・・・・冠部、1
10・・・・・・センジプロツク、119・・・・・・
要素を組み込んだボード、120,122・・・・・・
クロスバ一 138・・・・・・配線具、146・・・
・・・ケーブノげセンブリ、160,162,168,
170・・・・・・スリーブ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一対の相互に当接したプラスチック製スリーブであ
    つて、各スリーブは平らな面と波形の面とを有し、両ス
    リーブの前記平らな面は互いに対向し、前記波形の面は
    互いに嵌め合いになつて当接し合つておりさらに前記平
    らな面は前記波形の面で前記各スリーブ内の多数の導管
    を規定している前記スリーブと、前記多数の導管内に収
    納された多数の導電体ユニットであつて、該導電体ユニ
    ットが該ユニットの長さ方向に沿つて前記導管内を摺動
    し得るような外径を有しこれによつて導電体ユニットの
    端部に接続した電気的接点要素が前記導管の端部から相
    当の長さにわたつて引張可能にされている前記導電体ユ
    ニットと、前記波形の面と導管とは相互に対向しており
    これによつて前記当接時に前記導管は側部と側部を隣接
    し合いさらに前記導電体ユニットはその軸線がほぼ共通
    面にあるように配置されかくして導電体ユニットの二つ
    の集成により多数の導電体ユニットを形成するようにし
    たことを特徴とするケーブルアセンブリ。 2 特許請求の範囲第1項記載のケーブルアセンブリに
    おいて、前記導電体ユニットは複数の絶縁線であり、ま
    た前記電気的接点要素が複数のテストピンであることを
    特徴とする前記ケーブルアセンブリ。
JP58107603A 1977-03-17 1983-06-15 印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ Expired JPS5939708B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/778,505 US4132948A (en) 1977-03-17 1977-03-17 Test fixture using stock printed circuit board having test pins mounted thereon
US778505 1977-03-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5915879A JPS5915879A (ja) 1984-01-26
JPS5939708B2 true JPS5939708B2 (ja) 1984-09-26

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ID=25113572

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53016358A Expired JPS5925186B2 (ja) 1977-03-17 1978-02-15 印刷回路ボ−ド試験装置
JP58107603A Expired JPS5939708B2 (ja) 1977-03-17 1983-06-15 印刷回路ボ−ド試験用ケ−ブルアセンブリ

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53016358A Expired JPS5925186B2 (ja) 1977-03-17 1978-02-15 印刷回路ボ−ド試験装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4132948A (ja)
JP (2) JPS5925186B2 (ja)
CA (1) CA1100576A (ja)
DE (1) DE2811775C3 (ja)
FR (2) FR2384267A1 (ja)
GB (1) GB1591575A (ja)

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