JPS5926302B2 - 放射線検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はＸ線またはγ線のような透過性放射線に対する
例えば人体等の被検査体における平面状の仮想輪切り部
分即ち平面状スライス部分の吸収の変化に関する表示を
構成する放射線検査装置に関するものである。

本発明による検査装置は、陰極線管や他の映像形成装置
上の画像や、そのような画像の写真や、あるいはデジタ
ル計算機によつて発生されうる吸収係数の分布図（これ
について、後に輪部を描くこともできる）のような任意
適当な形態の放射線与真を作成するために用いられうる
ものである。

透過性放射線に対する被検査体における平面状の仮想輪
切り部分の吸収の変化に関する表示を構成するための装
置の一例が米国特許第３，７７８，６１４号に記載され
ている。この特許のものにおいては、外部放射線源から
放射線がペンシル・ビーム状をなして被検査体の一部分
を透過せしめられる。そのビームには走査運動が与えら
れ、従つてそのビームは多数の異なる位置を順次採るよ
うになされ、かつそのビームが被検査体を通過した後に
、そのような位置のそれぞれにおけるビームの吸収の測
定値を与えるために検知器が用いられる。ビームがこれ
ら種々の位置を採るように、放射線源と検知器が１つの
平面内で往復運動をなさしめられかつその平面に直交す
る軸線のまわりで軌道運動をなさしめられる。従つて、
この前記種々の位置は、被検査体中の一平面内に存在し
ており、この平面内の吸収係数の分布が，倹知器によつ
て与えられるビーム吸収データを処理することによつて
得られる。この場合の処理は、最終的に表示される吸収
の分布が一連の近似の結果として得られるようにして行
なわれる。その目的を実現するため上述の特許によるＸ
線検査装置は、上述の走査運動をしている間検出装置に
よつて発生された走査運動信号を各角度位置に対応する
出力信号の組に組合せる制御手段を有する。

当該出力信号が被検査体のスライス部分を走査する異な
る方向のビームの組の吸収量を表わし１つの組内の出力
信号の数が５０以上である。上記Ｘ線検査装置はさらに
、出力信号の組を対数信号の組に変換する対数変換器と
、スライス部分に重ね合わされた２次元的な観念上のマ
トリクスを構成する基本領域に対応した記憶要素を有す
る合計出力マトリクス記瞳装置と、処理装置を含む計算
手段と、アドレス選択器とを有し、各対数出力信号から
他の対数出力信号に応じて修正された修正信号を形成し
かつ対応するビーム通路に属するマトリクスの基本領域
に対応する出力マトリクス記憶装置の記憶要素に上記修
正信号を分配することにより出力マトリクス記憶装置に
補正されたレイヤグラムを形成する信号を畜積させる回
路を有する。前記米国特許に記載されているＸ線検査装
置はたとえば頭のような人体の一部分の横断面表面を発
生するのには十分であることが認められた。

本発明の１つの目的は、ビーム吸収データを処理するた
めの新規にして優れた技術を利用して、Ｘ線やγ線のよ
うな透過性放射線に対する被検査体内における仮想輪切
り部分の吸収の変化ｉこ関する表示を構成するための改
良された検査装置を提供することである。「ザ・プロシ
ーデイングス・オブ・ザ・ナシヨナル・アカデミ一・オ
ブ・サイエンスイズ」（米国）第６８巻、第９号、第２
２３６ページ（ＴｈｅＰｒＯｃｅｅｄｉｎｇｓＯｆｔｈ
ｅＮａｔｉＯｎａｌＡｃａｄｅｍｙツＵ−Ｓ−ＡリＶＯ
ｌ．６８，黒９，ｐａｇｅ２２３６）に１９７１年９月
に発表されたジ一・エヌ・ラマチヤナドラン（Ｇ．Ｎ．
Ｒａｍａｃｈａｎａｒａｎ）およびエイ・フィ・ラクシ
ミナラヤナン（Ａ．Ｖ．Ｌａｋｓｈｒｒ）Ｉｎａｒａｙ
ａｎａｎ）による「放射線写真および電子顕微鏡写真か
らの三次元再構成：フーリエ変換にかわるコンポリユー
シヨンの適用］（Ｔｈｒｅｅ−ＤｉｍｅｎｓｉＯｎａｌ
ｒｅｃＯｎｓｔｒｕｃｔｉＯｎｆｒＯｍＲａｄｉＯｇｒ
ａｐｈｓａｎｄＥｌｅｃｔｒＯｎｍｉｃｒＯｇｒａｐＨ
ｓ：ＡｐｐｌｉｃａｔｉＯｎＯｆｃＯｎｖＯｌｕｔｉＯ
ｎｉｎｓｔｅａｄＯｆＦＯｕｒｉｅｒＴｒａｎｓｆＯｒ
ｍｓ）という論文には、前記米国特許に記載されている
装置から得られたもののような吸収データから横断面表
示を再構成するために原理的に適用可能な数学的手法が
記載されている。

すなわちこの論文には３次元の被倹査体のスライス部の
面についての線積分を用いて、該スライス部内の小体積
部分の密度を算定するための数式が示されている。また
関連する理論の解析によれば算定は線積分値に係数を乗
算することによつて行なわれ、係数は小体積部分から各
線までの距離の関数となる。しかしこの論文には数学的
理論を実際に適用した放射線装置は示ざれていない。本
発明の目的は改良した検査装置を提供しようとするもの
で、予定の補正係数を用いて画像全体に分散した基本領
域について信号値を頑次更新して行くことによつて当該
画像を形成するものであるＯ本発明の検査装置は、前述
の米国特許第 ３，７７８，６１４号の装置に比べ、処理時間を短×し
、記憶容量を小さくすることができるものである。

以下図面を参照しながら本発明の実施例について詳細に
説明しよう。

図面を参照すると、患者の頭部を検査するのに適した形
態の装置が示されており、この装置は、その主フレーム
の−部分を構成している固定ケーシング２の内側で回転
可能な回転部材１を有している。

この回転部材１は中心開孔３を有しており、゜その中に
患者の頭部を入れるようになされている。中心開孔３は
、封止用フランジ５に固着された可撓性の材料よりなる
袋状のカバー４によつて水密状に閉塞されている。フラ
ンジ５は部材１の遠い方の面に対して密封状態であるが
回転可能な１関係に保持されている。第１図には袋の断
面が示されている。患者の頭部は開孔３を通じてカバー
４の袋に挿入される。なお、図示されてはいないが、そ
の頭部を袋内に保持するために附加的な頭置きを設けて
もよい。検査中患者の身体を支持するために適当な椅子
またはベツドが設けられている。頭部は、開孔３を通じ
て袋４に挿入されると、側壁７を有する水溜め６に突入
する。この場合、袋４が頭部を水から分離している。水
溜め６は、正面を部材１およびカバー４で、側面をプラ
スチツク壁７で、背面を基壁（図示せず）でそれぞれ閉
塞されている。壁７と基壁は部材１とともに回転するが
、カバー４はそれのフランジ５とともに静止している。
なお、そおフランジは装置のフランジに固着されている
。管８は、溜めに水を送込み且つそれから送り出すため
のポンプに連結されている。患者が袋に挿入されて後に
、水が溜め６に送り込まれて、その袋と患者の頭との間
から空気を追い出す。モータ１０によつて駆動される歯
車９が設けられており、それが回転部材１を１駆動して
その部材をしてそれの軸線（開孔３の軸線でもある）の
まわりで軌道走査運動をなざしめる。

歯車９はケーシング部材２の内周面のまわりに形成され
た歯に係合する。回転部材１は透過性放射線源１１（こ
の実施例ではＸ線発生管）を担持しており、開孔３の他
の側には放射線源１１に対面してＸ線検知器１２が設け
られている。シンチレーテイング・クリスタルおよび二
次電子増倍管よりなる検知器１２はコリメータ１３を有
している。放射線源１１は実効的に点放射線源であるよ
うになされており、且つその放射線源はコリメータ１４
を有している。これらのコリメータ１３および１４は、
検知器１２に到達する放射線を回転部材１の軸線に直交
する平面断面内に位置づけられた単一の細いビーム２１
にする。その平面は溜め６内にある。放射線源１１は、
回転部材１に承支された歯付，駆動軸１６によつて駆動
される歯付ベルト１５に固着されている。ベルト１５は
軸１６と部材１に承支された第２の軸１７との間に架張
されている。軸１６は可逆モータ１８によつて駆動され
るようになされており、そのモータの制御はモータ１０
の制御にインターロツクされている。放射線源１１は質
量が大きいから、釣合Ｍ（図示せず）が設けられベルト
の他の走行部に固着され放射線源といつしよに往復運動
しうるようになつている。この装置の動作時には、放射
線源１１とコリメータ１４は、モータ１８により、回転
部材１の軸線に垂直な前述した平面内で横方向の走査運
動をなさしめられる。検知器１２はそのコリメータ１３
とともにヨーク１９によつて放射線源１１に連結されて
おり、それらの検知器およびコリメータも同じ横方向の
走査運動をなさしめられる。その横方向走査時に放射線
源とコークを支持するためにガイド２０が設けられてい
る。各横方向走査時に検知器１２から出力信号が得られ
るのであるが、それらの信号は検査中の平面状断面内に
おける互いに近接する平行なビーム通路のサンプリング
の組に沿つたビーム２１の透過または吸収を表わす。モ
ータ１０および１８間のインターロツクは、いずれかの
方向における各横方向走査に続いて、例えば１の軌道運
動の増分がモータ１０によつて回転部材１に与えられる
ようになされている。然る後、モータ１８の制御のもと
で他の横方向走査が発生するのであるが、この場合の走
査は前の横方向走査とは反対方向である。近接する平行
なビーム通路の他の組に沿つたビーム２１の透過を表わ
す他の組の信号が得られ、そのビーム通路の組は前の組
に関して１得だけ角度が異なる。横方向走査の変位を監
視し且つ出力信号のタイミングを決定するために、ヨー
ク１９に連結された計数線（図示せず）と協働するフオ
トセル装置２２が設けられている。全体として１８０ル
の軌道運動が完了するまで、交互に軌道および横方向の
走査運動が継続される。第１図に示されているように、
溜め６の横方向の大きさは横方向走査のそれに等しく、
その横方向の大きさの両端が点線ビーム２Ｖおよび２１
２によつて示されている。

それは開孔３の両側に突出していて・各横方向走査の開
始点においてビーム２１が、或る時間の間、溜め内の水
中を既知の通路長だけ透過するようになされている。か
くして、溜めは、それに水が注入されると、被検査体に
ビームが達する以前に各横方向走査の開始時においてビ
ーム２１に既知の減衰を与えるように前記位置決め手段
に関して位置づけられた基準減衰器を与える。次に述べ
るところから明らかなように、ビームが水溜めによつて
さえぎられている間に検知手段から基準信号が得られ、
この基準信号は、ビームが被検査体によつてさえぎられ
た時に得られた出力信号を修正するために利用される。
カバー４を除いて溜めが部材１といつしよに回転するの
で、その溜め６の側部分によつて与えられている基準減
衰器中のビームの通路は、角度に関係なく、各横方向走
査について実質的に同一となる。部材１上には鉛のプロ
ツク２３も取付けられており、その鉛プロツクは、放射
線源１１および検知器１２によつて行なわれる横方向の
走査の一端に配置されている。鉛プロツク２３はＸ線を
実質的に完全に吸収するものであり、且つビームがその
鉛プロツクによつてさえぎられた場合に検知器１２から
得られた出力信号は第２の基準信号を与えるものであり
、その第２の基準信号は、ビーム２１が被検査体によつ
てさえぎられた場合のみならず、それが基準減衰器とし
て作用する溜めの部分によつてさえぎられた場合にも、
検知器から得られた信号を修正するために用いられる。
溜め６は横方向走査運動全体に亘つてビーム２１に減衰
を与えるが、ビームが被検査体によつてさえぎられやす
い領域では減衰が軽減されることに注意すべきである。
水の減衰または吸収係数は、被検査体が袋内に位置づけ
られている間（勿論、ビームが鉛プロツク２３によつて
さえぎられる時を除き）ビーム２１の全吸収が各横方向
走査全体に亘つてほぼ等しくなるようなものである。検
知器１２の出力信号を処理するための回路においては、
各横方向走査の開始点においてビームが既知の減衰をう
けた場合に発生する基準信号の対数が他の出力信号の対
数から差引かれ、そしてその結果得られた出力信号は実
質的に水を透過する場合の減衰と被検査体内におけるビ
ームの減衰の差のみを表わす０基準検知器２４はＸ線源
１１に近接して取付けられていて、コリメータ２５を通
じて放射線源から放射線を直接受取る。

検知器２２はＸ線のエネルギーを監視するために設けら
れている。第２図に示されている装置の回路は第１図に
関して説明した機構の検知器１２および２４からはじま
つている。

検知器１２の出力信号はゲート３０に与えられるが、そ
のゲートは主制御回路３１からのサンプリング・パルス
により、予め定められた時点で開放される。この主制御
回路はフオトセル装置からの入力信号を受取り、且つゲ
ート３０に対してだけではなく、モータ１０および可逆
モータ１８に対しても適当な制御信号を与える。その主
制御回路がゲート３０に与えるサンプリング・パルスは
前述した計数線によつて決定された時間で発生され、平
行なビーム通路のサンプリングの組即ち群を通じてのビ
ーム２１の透過に対応する一連の出力信号を検出器１２
から得るようになされている。その通路の組に対する角
度は回転部材１の角度位置によつて決定される。各サン
プリングの期間の間、検知器１２の出力は積分器３２で
積分され、そして次にアナログ・デジタル変換器３３に
おいてデジタルコードに変換される。各サンプリング・
パルス時に発生される信号は記憶装置３４にデジタル信
号として記憶される。Ｘ線ビーム２１は２つの横方向走
査で一回だけ鉛プロツク２３によつてさえぎられ、従つ
て、検知器１２からの対応する出力信号が２回の横方向
運動の期間の間記憶される。記憶装置３４内の特定の平
行な組の通路の信号は、Ｘ線ビーム２１が溜め６内の基
準通路を通過すべきことがわかつたとき得られた信号と
、被検査体を通過するときに得られた信号とを含んでい
る。ゲート３５は、ビーム２１が鉛プロツク２３によつ
て実質的にさえぎられる時点で検知器から得られた出力
信号を選択するために設けられている。他のゲート３６
は他の運動時点において得られた信号を選択するために
設けられている。その選択は、鉛による事実上完全な減
衰を表わす基準信号が引算回路３７においてサンプリン
グ組のそれぞれの他の信号から差引かれるようにしてサ
ンプリング・パルスによつて制御され、従つて、その引
算の後では、その結果得られた信号が、基準としての鉛
の吸収に関係づけられた被検査体内のビームの透過また
は吸収を表わす。このようにして、検知器１２内におけ
る［アフタ一・グロー」の影響はほとんど除去される。
その結果得られた信号が割算回路３８に入れられる。前
述した基準検知器２４は、ゲート３０に与えられるサン
プリング・パルスと一致した主制御回路３１からのサン
プリングパルスを受取る出力ゲート４０を有している。

ゲート４０を通過する信号は積分器４１内で積分され、
そして変換器４２内でデジタル信号に変換される。それ
らの積分器４１および変換器４２は積分器３２および変
換器３３にそれぞれ対応している。検知器２４から得ら
れたデジタル化された信号は次に記憶装置４３に送られ
、そして前記割算回路３８に与えられる。その割算回路
では、検知器からの各信号が記憶装置４３からの対応す
る信号によつて割算され、放射線源１１のエネルギーの
変化を補償する。そのように補償された信号は、基準と
しての鉛上で基準化された検知器１２からの各信号を対
数に変換し且つそれらをこの形態に保持する対数変換回
路４５に送られる。これらの信号は、主制御回路３１か
らのパルスによつて制御される２つのゲート４６および
４７に与えられる。ゲート４６は、被検査体が位置づけ
られうる領域を特定の横方向運動時にＸ線ビーム２１が
通過する時点に対応する時点で開放され、他方、ゲート
４７は、水の中の基準通路をビーム２１が通過しつつあ
り、従つて既知の減衰を受ける時点に対応する時点にお
いて開放される。従つて、ゲート４７からの信号は基準
信号と呼ばれうるものであり、ゲート４６からの信号は
出力信号として区別される。更に、基準信号は、特定の
走査の各出力信号に一致するように反復的に読み出され
、且つ引算回路４８においてそれらの出力信号から差引
かれ、従つてその出力信号が、溜め内の水によつて生ぜ
しめられた既知の減衰に対するビーム２１の減衰の比を
表わすことになる。検知器１２の感度の迅速な変動に基
因する出力信号のスプリアスな変化がかくして実質的に
補償される。これらの修正後における出力信号は信号処
理器５０に供給され、他のすべての組の出力信号ととも
に、検査中の体の部分における放射線の吸収の分布につ
いての映像再構成に関与する。第３図に示されているよ
うに、前述した実施例においては、第２図に一般的に示
されたゲートおよび積分器回路３０，３２は、２つの積
分器３２ａ，、３２ｂおよび２つのゲート３０ａ，３０
ｂよりなつている。

公知の構成のミラー積分器であるこれらの積分器は検知
器１２に対する連続入力を受取りかつそれらの入力を積
分するように接続されている。しかしながら、積分器３
２ａは、放射線源１１と検知器１２が距離２ａだけ移動
する一定の間隔をもつて存続期間の短いパルス５１ａを
受取る。積分器３２ｂは同様に存続期間の短いパルス５
１ｂを取取るが、それらのパルスは積分器３２ａに与え
られるパルスの間に発生するｒうになされている。これ
らのパルスは両積分器における読取りおよびりセツト動
作を開始する。それらの動作は、隣接パルス間の時間間
隔に比較して無視できる程度に短い時間間隔を占める。
前記両積分器に供給されるパルスは、読取り動作時に、
ゲート３０ａおよび３０ｂにもそれぞれ与えられて各積
分器をアナログ・デジタル変換器３３に結合する。この
動作のモードは、コリメータ１３および１４の寸法を適
当に選定することにより、変換器３３によつてデジタル
型式に変換された各信号をして変換器３３の出力リード
の近傍におけるグラフによつて示されているように、幅
が２ａであつて、その幅を横切つてほぼ正弦波状の強度
分布を有する事実上のビームの透過を表示せしめる作用
を有する。コリメータ１３および１４は横断面が矩形状
であるが、放射線源と放射線自体の性質によつて、事実
上のビーム強度分布はそれらの中心最大値からなめらか
に落下する。さらに、前記のグラフから明らかなように
、変換器３３からの出力信号ａというサンプリング間隔
だけ離間された平行なビームによる被倹査横断面内の吸
収サンプリングを表わす。第２図のゲートおよび積分器
回路４０，４１は第３図に示されているものと同様の構
成を有している。この実施例においては、積分器３２ａ
および３２ｂは、各横方向走査運動において１６０また
はそれ以上のデータ信号を与えるように制御され、その
場合、このような信号の組が１８０組存在している。一
組当りのビーム・データ信号の数およびそのような組即
ち群の数は勿論変更しうるが、常に鮮明度の高い映像を
与えるのに十分なだけ大きく選定されている。実際には
、各数は、種々の寸法の映像を再編成できるようにする
ため、５０またはそれ以上であろう。第４図は第２図に
示された信号処理器５０の全体の構成を概略的に示して
いる。

第４図によれば、処理器５０は、ビーム・データ記憶器
２３９を有しており、引算回路４８からの各信号がこの
記憶器に書き込まれ、この場合、前述の信号はデジタル
符号の対数として表わされる。この記憶段においては、
各信号に対する記憶器内のアドレスがアドレス・セレク
タ２３４によつて選定される。記憶器２３９においてこ
のような対数記憶が完了すると、アドレス・セレクタ２
５１によつてこの記憶器からデータが平行な組ごとに引
き出され、そしてそのデータがデータ処理器２５２に与
えられる。データ処理器２５２は補正されたレイヤーグ
ラム（ＣＯｒｒｅｃｔｅｄｌａｙｅｒｇｒａｍ）と称し
得るものを発生するもので、その性質および動作につい
ては、後に詳しく説明する。各組についての処理が行な
われると、処理されたデータは項ごとに（Ｔｅｒｍ−Ｔ
Ｏ−Ｔｅｒｍ）処理済みデータ記憶器即ち合計データ記
憶器２５３に記憶される。この記憶器２５３は、それぞ
れ各１つの組から得られるデータだけを受取るための異
なる部分を有している。本発明の装置はさらに、すべて
の処理が完了した場合に、データが、被検査横断面の領
域上の吸収係数の分布を直接表わす形態で保持される出
力マトリクス記憶器２５４を包含している。その記憶器
２５４のアドレスは、たとえばデカルトの網（Ｃａｒｔ
ｅｒｓｉａｎｍｅｓｌｌｗＯｒｋ）のメツシユに対応し
ており、この場合各メツシユは被検査横断面の特定の基
本領域を直接表わしており、かつすべてのメツシユは連
続的にともに延長して、検査横断面の少なくとも関心の
ある領域のすべてを包含するようになされている。各メ
ツシユのアドレスには、関連するメツシユの基本領域内
にある被検査体の物質の吸収係数を、装置によつて許容
される程度の精度をもつて、表わす信号が最終的に記憶
される。すべてのメツシユにつき記憶が完了すると、た
とえば陰極線管またはプリンタあるいはそれらと組合せ
たまたはそれらに代替せしめた磁気テープ型記憶装置を
有する装置１３４によつて表示されうる。映像再構成に
は高い精度が要求されるから、記憶器２５３に記憶され
た処理済みデータを出力マトリクス記憶器２５４に転送
する際に、補間器２５５によつて補間が行なわれる。こ
の補間は、後述するように、アドレス・スレクタ２５６
とビーム通路データ記憶器２５７との協働によつて実現
される。信号処理器５０についてさらに説明するまえに
、本発明による補正されたレイヤーグラム技術の理論的
な点につき第５図を参照して説明しよう。第５図におい
て、点０は、被検査体の物質の吸収が要求される探索ビ
ーム２１の平面内の任意の点である。いま詳細に説明し
ようとしている態様でその点における吸収を確定すると
、その平面内の他の点における吸収も同様にして検知さ
れうるので、かくしてその平面内における吸収の映像を
確立することができるのである。点０は出力マトリクス
記憶器の前記デカルトの網を基準としているものとする
。第５図においては、その網（メツシユワーク）の軸線
０ｘはｘ軸の方向にあり、０ｙはｙ軸の方向にある。簡
単のために、透過がサンプリングされる各横方向走査時
の一連の位置におけるビーム２１を一組の平行なビーム
よりなるものと考える。既に述べたように、これらのビ
ームはすべて同様の横断面を有するものであり、ビーム
の間隔は任意の組においで均一でありかつすべての組に
つき同一である。さらに、それらの組は互いに対して均
一に規則的に離間されたシーケンスで存在している。こ
のような探索ビームを用いて上記点０のような点におけ
る吸収を確認するための不正確な方法としては、その点
０を通過するすべてのビームがうける吸収を合計する方
法がある。

点０を通過するすべてのビームに共通な比較的小さい領
域の外側における物質による吸収が比較的小さくて無視
できるような特別の状況においては、この和は点０のす
ぐ近傍における吸収に近似する。しかしながら、実際に
は、点０のまわりの小さい領域の外側における吸収がこ
の方法に誤差を導入することになる。この方法はレイヤ
ーグラム法（１ａＹｅｒｇｒａｒ］１ｔｅｃｈｎｉｑｕ
ｅ）として知られているものであり、一定の点に関する
ｌ組のビームのレイヤーグラムはその点を通過するすべ
てのビームの吸収の和に比例するものど理解される。本
発明の基礎となる補正されたレイヤーグラム法は、点０
に関する単純なレイヤーグラムをその点０における吸収
の表示として取り出す場合に生ずる誤差が点０を通るビ
ームのその点以外のすべての込における吸収による寄与
を包含しているという原理に基づくものである。さらに
、全誤差が点０を通らないビームの吸収から得られるが
、このようにして得られた誤差は前記単純なレイヤーグ
ラムから差引かれ、これによりそのレイヤーグラムの補
正がなされる。ｆ（θν）が軸０ｘに関して角度θνを
もつて点Ｏを通過するビームが受ける吸収であり、かつ
異なる角．度をなすこのようなビームが全体でＮ＋１あ
るとすると、探索される平面のビームの点０に関するレ
イヤーグラムの値Ｇは次の式で定義される。ω（Ｘ，ｙ
）が探索平面内の任意の点（Ｘ，ｙ）（ただしＸおよび
ｙは観念的なデカルト座標系に関するその点のデカルト
座標である）のすぐ近傍における、探索に使用された放
射線の単位長当りの吸収であるとすると、ω（Ｘ，ｙ）
はその平面内の吸収係数の分布を表わす。

さらに、次の式が成立する。ただしＤｓはビームに沿つ
た距離の要素であり、かつこの積分は添字νで識別され
ているような角度θッにおけるビームの軌道に沿つてな
される。

ＤＡが点（Ｘ，ｙ）に位置した探索平面の面積の要素で
ありかつｓが点０から点（Ｘ，ｙ）までの距離を示すも
のであるとすると、次の式が得られる。ただしこの積分
は原点における特異点を除いて前記平面の全体に亘つて
いる。

明らかなごとく、もし所望されれば、その積分は、前記
平面の任意の数の別々の領域が積分の全領域をカバーし
ていれば、それらの別々の領域に亘つてとつたものとみ
なすことができる。特に、その積分は、点０を中心とす
る円によつて境界づけられた第１の領域をカバーすると
ともに、点０に対して同心状の多数の薄い環状体部分を
もカバーしておりかつ面積として前記平面の残部のそれ
を総計したものとみなされうる。点０から第ｋ番目の環
状体部分についての積分は次の式で与えられる。ただし
Ｓ，は点０からのその環状体部分の平均距離である。

これは、その環状体部分が十分に薄いと仮定している。
この積分は点０を通過するすべてのビームの、それらの
ビームが環状体部分ｋを通過することに基因する吸収の
和を表わしている。ω（Ｘ，ｙ）が第１の・領域の全体
に亘つて略同じ値ωｏを有していると考えることができ
るとすれば、この領域についての積分は次の値をとる。
ただしａはその領域の直径であり、すべてのビームは対
称的に点０を通過し、かつすべてのビームがａに比較し
て小さい幅を有しているものとする。しかしながら、ビ
ームがａなる幅を有しており、放射線の強度がそれらの
ビームの横断面にわたつて感知できる程度に均一である
とすると、αは次のような異なる値をとる。この場合、
ビームは探索平面に直交する方向に単位厚さを有するも
のとみなされている。

いずれにしても、もしであれば、Ｇに対して次の式が得
られる。

点０を通る探索ビームの通過に関する対称性の仮定は、
点０が探索平面内の異なる場所に選定されるから、一般
的に完全に成立するわけではない。

しかしながら、近似的には、後でさらに詳細に説明する
ように、その仮定は適当な補間法によつてすべての場所
に対して実効的に成立せしめられうると一般的にいえる
であろう。ω（Ｘ，ｙ）がａという大きさの距離ではど
こでもも感知できる程度には変化しない（このことはω
（Ｘ，ｙ）が周波数帯域を制限された関数であることを
意味する）と一般的に仮定すると、幅ａ（この幅は薄さ
の条件に従う）を有するすべての環状体部分をとりだす
ことができ、したがつてと書くと、Ｇに対する式は次の
ようになる。

このようにして得られた式において、αという項は吸収
関数の所要の値ωｏの大きさ、すなわち点０における値
である。他の項、すなわちｋに関する総和の項はωｏの
値を確定するレイヤーグラム法の誤差を表わしている。
しかしながら、その誤差は、探索の他のビームのすべて
、すなわち項αに寄与する中央の円形領域を通過しない
ビームが受ける吸収を考慮することによつて打消されう
るＯ補正されたレイヤーグラム法の詳細を展開するため
には、直径ａの中央円形領域を通過しない残りのビーム
を異なるクラスに分割する必要がある。

この中央円形領域は帯域０（第５図では符号Ｚ。で示す
）と称されうるものであり、かつその領域を通過するビ
ームはクラスＯのビームと称される。この帯域のまわり
には、平均半径ａの薄い環状領域が存在しており、この
領域は帯域１（Ｚ，）と称されうる。帯域０を通過しな
いビームの中には、単に帯域１を通過する或るビームが
存在している。明らかに、各々順次外側を包囲している
環状体部分は同様にして特定のビーム組を他と区別即ち
識別する。このようにして、原点からの距離の順に他の
環状帯域を２（第５図ではＺ２），３，４，・・・と呼
ぶならば、帯域０，１，２，３，４，・・・はビームの
対応するクラスを識別するということができる。前に仮
定したように、クラス０１ｉＣＮ＋ｌのビームがあると
するならば、他のすべてのクラスには２（Ｎ＋１）のビ
ームが存在することが明らかであろう。任意のクラスに
おけるビームの角度分布は、使用されるビームの性質に
ついて最初になされた仮定により均一である。クラスＯ
のビームは高次の帯域を通過するに際し直角に通過する
であろう。

これに比較して、クラス１，２，３，４，・・・のうち
の任意のクラスのビームは、任意の高次帯域を通過する
に際しては、そのビームのクラスによつて決まる角度を
もつてななめに通過するであろう。このことが第５図に
示されている。第５図は帯域ｋ（第５図ではＺｋ）を直
角に通過するクラスＯのビームを小しているとともに、
帯域ｋを斜めに通過するクラスｊにおけるビームを示し
ている。したがつて、ビーム吸収は、そのビームのクラ
スによるその帯域の切り取り長さ即ちインターセプシヨ
ン（ＩｎｔｅｒｃｅｐｔｉＯｒｌ）が異なるから、これ
に対応して異なる。したがつて、クラスＯのビームによ
る帯域ｋの切り取り即ちインターセプシヨンはで表わさ
れる程度であり、他の任意のクラスｊのビームによる同
じ帯域のインターセプシヨンはで表わされうるところの
対応する程度の吸収を、もなうであろう。

ただし、係数Ｆｊｋはインタセプシヨンの角度が異なる
という事実を考慮しｉものである。ｋ以上のクラスのビ
ームによつて（，帯域ｋはインターセプトされ得ないこ
とがわかイであろう。したがつて、ざらに、クラス１の
ビームが受ける全吸収はであるが、クラス２のビームが
受ける吸収は であり、 クラス３のビームに対する全吸収は であり、以下同様にして各クラスにつき与えらネる。

であれば、 次の式 （ただし、 であり、 かつＬμ で表わされる１組の係数は である。

）の値は単に値αとなる。

係数Ｌ２の組は明らかにこれらの式によつて決定される
。

これらの方程式は、インターセプト係数（その典型的な
ものがＦｊｋである）が決定されれば、Ｌｌ，Ｌ２，Ｌ
３・・・・・・について解くことができる。

極限士１におけるＬ４Ｓｔｔのような項の総和を次に得
て、点０における吸収関数の値を得ることができる。係
数Ｌμは帯域重み付け係数と称し得るものであり、単に
Ｌ係数と呼ばれ得るものである。なぜならば、たとえば
、Ｌｐは帯域μによつて区別されるクラスμのビームが
受ける吸収に掛けられるものだからである。原理的には
、インターセプトすなわちＦ係数が正確にわかつていれ
ば、Ｌ係数を正確に計算することができる。

Ｆ？数はビームの幾何学形状のみならず、そのビームの
横断面上における放射線の強度の分布に関してなされた
仮定にも依存する。前述のように、放射線の強度は、ほ
とんどの場合において「走査開口」効果があるから、ビ
ームの幅方向には一般的に均一ではないが、ビームの厚
さ方向には略均一であると考えることができる。実際的
な目的のためには、Ｆ係数、したがつてＬ係数は、走査
系統の物理的なパラメータに依存する異なる仮定に基づ
いて種々の態様で十分に近似されうる。それらの態様の
うちの幾つかについて説明する。第５図においては、帯
域０が点０を中心にして描かれた円周囲の最も内側のも
のの中の領域とし− １て示されており、その帯域は
前述のように−ａにゝ ２等し
い周囲半径を有している。

帯域０のすぐ外側には、平均半径ａとａに等しい幅とを
有する第１の環状領域すなわち領域１が存在している。
帯域ｋ以外の他の周囲領域は示されていないが、その帯
域は平均半径Ｋａを有しており、かつすべての環状領域
と同様に半径方向の幅ａを有している。クラス０の１つ
のビームは、それが非常に薄いビームであると仮定する
と、第５図における（ト）軸によつて表わされているも
のと考えられうる。このビームはＥ。ＥＯで表わされて
いる長さで示されているように第ｋ番目の帯域をインタ
ーセプトしている。同じ薄い横断面寸法を有するクラス
ｊのビームも示されているが、これは０ｙ軸からＪａの
距離のところに引かれたその軸と平行な破線によって表
わざれている。このビームはＥＦで表わされた長さで示
されているように第ｋ番目の帯域をインターセプトして
いる。これらの場合には、インターセプト係数Ｆｊｋは
インターセプトＥＦの長さをインターセプトＥ。ＦＯの
長さで割つたもので与えられる。この比は、クラス０の
ビームに比較した場合の、帯域ｋを通過するときにクラ
スＪのビームが受ける吸収の増加を表わしている。この
比が有効であるためにはビームが無限に薄くなければな
らない必要はないが、Ｆ係数を近似するこの方法は、隣
接した平行ビームの分離によつて決定される環状体の幅
ａに比較して実効ビーム幅が小さければ、Ｌ係数に対し
て良好な結果を与える。ビームが均一な横断面強度を有
しかつ環状幅ａに等しい幅を有すると仮定しうるとする
ならば、Ｆ係数は次の根拠に基づいて計算されうる。第
５図において、クラス０のビームは、帯域００）周囲円
に正接する平行な線Ｐ。ＱＯおよびＳ。ＲＯによつて境
界づけられて示されている。クラスｊの同様なビームの
一例が、それぞれ座標距離（ｊ＋Ｉ）ａおよび（ｊ−Σ
）ａにおいて０ｘ軸と交差している境界平行線ＰＱおよ
びＳＲによつて表わされている。上記ビームのうちの最
初のものが領域ＰＯＱＯＲＯＳＯ上において第ｋ番目の
帯域をインターセプトし、２番目のビームはインターセ
プト領域ＰＱＲＳを有している。このようなビームの場
合には、インターセプト係数Ｆｊｋの値は後者の領域Ｐ
ＱＲＳの面積と前者の領域ＰＯＱＯＲＯＳＯの面積との
比である。これは、前述したように、ビームの強度がそ
れらの横断面に亘つて略均一でありかつ吸収の程度が十
分に小さいという仮定のもとにいえることである。補正
されたレイヤーグラム法による吸収データの処理への他
のアプローチにつき第６図を参照して説明しよう。

これはここに記載されかつ図示されている装置において
採用されている方法である。第６図においては、第５図
におけると同様に、点０は被検査体の物質の吸収が求め
られているものと仮定されている探索ビームの平面内の
点である。ここでも、この点は、前述のデカルトの網を
基準として位置が特定されているものと考える。なお、
第６図における０ｘ軸はその網（メツシユワワーク）の
Ｘ軸の方向にあり、０ｙは網のｙ軸の方向にある。第６
図は、軸線が０４に平行あるいは略平行であるような角
度を有するビームの平行な組の中の５つのビームＡＢ，
ＣＤ，Ｃ′Ｄ′，ＥＦおよびＥ′Ｆ′を示している。

まず、これらのビームはすべて同一の横断面を有しかつ
幅ａを有していると仮定しよう。さらに、ビームＡＢの
中心線は軸０ｙであると仮定する。他のビームの中心線
は破線で示されている。また、点０と同心状に描かれた
円Ｃ。，Ｃ，およびＣ２はそれぞれΣＡ，ΣａおよびΣ
ａなる半径を有しており、かつそれらの順序はこの通り
であると仮定する〇第６図は１つの特定の平行な組のビ
ームだけしか示していないが、他のすべての角度を持つ
ビーム組も存在していることを考えなければならない。

かくして、もしＮ＋ｌがこのような平行な組の総数であ
るとすると、１つのビームのみが円Ｃ。の領域すなわち
帯域０にインターセプトしている如く図示されているが
、Ｎ＋１のビームが同様にして（角度の差は別にして）
この帯域にインターセプトしていることを想起しなけれ
ばならない。数Ｎ＋１は１つの組当りのビームの数のπ
倍のオーダを有するように選定されうるものであり、映
像再構成に関してはそのようにするのが有利である。こ
のように仮定されたインターセプジヨンは、帯域０をイ
ンターセプトするすべてのビームの中心線が点０を通過
するという意味において理想的である。探索平面内にお
いて点０の選定を変えれば、隣接ビームの吸収データ間
の適当な補間によつて、この理想が一般的に近似されう
る。円Ｃ。

の外側で円Ｃ，の内側の領域をここでも帯域１と称し、
帯域０をインターセプトしないすべてのビームのうち、
２（Ｎ＋ｌ）のビームが帯域１をインターセプトする。
これらは、ここでもまたクラス１のビームである。帯域
０をインターセプトするビームに関してなされた理想的
な仮定に基づいて、クラス１のビームの中心線は、中心
が点Ｏで半径がａの円に接するであろう。さらに、平行
な組が均一な角度配置関係にあるという仮定に基づいて
、ビームの組の角度配置は均一な角度系列のそれ即ちで
あり、かつ接点はこの円のまわりに均一にかつ対応して
分布しているであろう。

円Ｃ１の外側で円Ｃ２の内側に存在する領域をここでも
帯域２と称する。

クラス２のビームは、クラス０および１のビームを除き
、帯域２をインターセプトするすべてのビームよりなつ
ている。このクラスのビームもその数は２（Ｎ＋ｌ）で
あり、かつクラス１のビームと同様にして、半径２ａ１
中心０の円に関して理想的に分布されている。探索面内
にあるビームの分類も、第５図の場合と同様に、このよ
うに継続され、而して順序的に分類される一連のビーム
・クラスすなわち帯域０，１，２，３，４・・・＝・・
に対応するクラス０，１，２，３，４，・・・・・・を
確立する。すでに説明したように、探索平面内の吸収領
域のみが帯域０内に位置しているならば、クラスＯの種
々のビームのすべてが受ける吸収の和がこの吸収領域の
真の吸収値となるであろう。

しかしながら、実際の場合には、それらのビームは帯域
０の外側の他の吸収領域を通過するから、クラスＯのビ
ームの吸収の和は正確な目安とはならない。しかしなが
ら、対応するＬ係数により全帯域ビーム吸収を重み付け
しかつ加算するという前述した−般原理を適用すること
ができ、かつその場合には、次のようにしてＬ係数を近
似することができるＯビームの平面内における被検査体
の物質の吸収が、ビームの幅寸法ａに比して非常に小さ
いと考えることのできる程度の小さい寸法の単一の領域
（この領域は帯域０内にはなくて他の任意の帯域内にあ
る）を除くあらゆる場所でゼロであると仮定する。

このように仮定すると、Ｌ係数が正しく選定されている
場合には、重み即ちウエイトをつけられた吸収の全総和
の加算は、その領域がどこに位置していても、ゼロとい
う結果を与えるべきである。このことから、Ｌ係数を解
として与える１組の方程式が得られる。前記小さい領域
の場所即ち位置が与えられたとき、全総和に吸収を寄与
せしめる任意のクラスのビームの数はその領域をインタ
ーセプトするそのクラスのビームの数であることがわか
るであろう。

ビームはその横断面に亘つて略均一であり、かつ吸収の
程度が十分に小さいと仮定すると、重みを付けない吸収
の総和は領域によつてインターセプトされるビームの数
に単純に比例するであろう。たとえば、その領域が帯域
２内にあるならば、その領域がそのように位置決めされ
ている場合において全総和に吸収を寄与せしめるクラス
１のビームの数は、その領域に重なるすなわちその領域
をインターセプトするクラス１のビームの数であり、か
つクラス１のビームに対するＬ係数による重み付けの前
における吸収寄与はこのビームの数に単純に比例する。
これによつて、中心０に対して同心状でかつ前記小さい
吸収領域を通過し、クラス１のビーム内にある円弧長に
比例するような重み付けされない吸収寄与の式が得られ
る。これに基づいて、中心０からの小さい吸収領域の半
径方向の距離についてある仮定がなされれぱ、Ｌ係数を
得るための方程式を導出することができる。たとえば、
前記小さい領域がどの帯域内に位置していようとも、そ
れはその帯域に対する平均半径のところにあると考える
こととしてもよい。小さい領域の位置として帯域の両極
端の半径の間の或る他の半径が選択されたとすると、イ
ンターセプシヨンの円弧長が異なり、かつそれに対応し
て、平均半径に位置するという仮定に基づく場合と同様
ではあるが同一ではないＬ係数が得られることがわかる
であろう。

このような差異を説明するに当り、第６図に示されてい
る半径２ａの円弧ＪＫＬＭの象限について考えるととも
に、前記小さい領域がこの円弧上の帯域２内にあると仮
定しよう。

クラス２のビームは、円弧ＪＫの長さ即ちクラス２のビ
ームによつてインターセプトされる円弧ＪＫＬＭの長さ
に比例する重み付けされない全吸収寄与をなすであろう
。同時に、クラス１のビームは、円弧ＫＬの長さ即ちク
ラスｌのビームＣＤによつてインターセプトされる円弧
ＪＫＬＭの長さに比例する重み付けされない全吸収寄与
をなすであろう。クラスｌのビームは、円弧ＬＭの長さ
即ちクラスＯのビームの半幅によつてインターセプトさ
れる円弧ＪＫＬＭの長さに比例する対応した寄与をなす
であろう。そのインターセプトとして半分の長さを取る
のは、クラスＯのビームの数が他のすべてのクラスの数
の半分にすぎないという事実を考慮したためである。以
上のような理由づけに基づいて、円弧長ＪＫ，ＫＬ，Ｌ
ＭがＦ係数Ｆｌ２およびＦ２２の値ならびにすべてのＦ
係数に対するそのような値を決定する。しかしながら、
前記小さい領域が平均半径０Ｊ以外のある中間帯域半径
、たとえば円弧Ｊ″Ｋ″ＶＭ″の半径０Ｊ′（ただしＪ
′，Ｋ″，Ｌ′およびＭ′はインターセプトＪ，Ｋ，Ｌ
，Ｍに対応する新しいインターセプトを示している）に
位置しているならば、新しい円弧長Ｊ′Ｋ′，Ｋ′Ｌ′
，Ｌ′ＷはＦ係数Ｆｌ２およびＦ２２を異なる値に決定
し、たとえＬ係数の値が同様であつても、結果は異なる
であろう。実際には、前記小さい領域が平均帯域半径に
位置する場合には、一連の帯域係数Ｌｌ，Ｌ２，Ｌ３・
・・・・・は、境界と遷移領域を強調する傾向のある再
構成された映像を生ずる。

他方、もし前記小さい領域がより大きい半径に位置して
おれば、たとえば、もしその領域が帯域の平均半径と外
側半径との中間に位置しておれば、この強調は事実上除
去される。そのように平均半径と外側半径との中間に位
置している場合には、低次のＬ係数は次のような値をと
る。一方、前記小さい領域が平均帯域半径にあるならば
、最初の３つのＬ係数は１．０００，−０．５００，＋
０．０６０となる。

１つの壊状部分内の小さい領域の半径方向の場所を、そ
の環状部分の内側境界からの前記小さい領域の半径方向
の偏位し、内側境界および外側境界間の半径の差に対す
る比として定義づけられたβで規定すると、最後に述べ
た系列はβの値が０．５０に等しいそれとして説明する
ことができ、一方、最初に述べた系列はβを０．７５に
等しく設定することによつて得られる。

関係する帯域の全範囲に亘つてβの値が一定である必要
はない。たとえば、帯域の顔位が高くなれば、そのβの
値は漸次減少するもの、例えば帯域１に対しては０．７
５の値を有し、然る後、それが最高次の帯域の場合に有
する０．５という値まで漸近的に減少するものであつて
もよい。第５図および第６図についての以上の解析は、
検査の対象となつている平面の吸収係数の分布をあられ
す関数ω（Ｘ，ｙ）が周波数帯域制限されているので任
意の１つの横方向走査時における薄いと仮定されたビー
ム２１の吸収の変化が、距離ａに関係付けられた特定の
空間周波数をこえる割合では発生しないという仮定のも
とでなされた。

実際の場合には、勿論、関数ω（Ｘ，ｙ）はそのような
程度には必らずしも帯域制限されてお゛らず、かつサン
プリング間隔ａの２倍に等しい波長に相当する周波数以
上の空間周波数が存在する場合には、処理時に誤差が発
生して、再構成された映像に実質的な誤差を生ぜしめる
ことになりうる。しかしながら、第１図、第２図および
第３図に示された本発明の実施例においては、このよう
な誤差を減少させるようにしてサンプリングが実施され
る。前述したように、サンプリングは、隣接ビーム間の
間隔の２倍に略等しい幅を有する事実上のビームによつ
てなされ、隣接ビームの間には大きなオーバラツプが存
在する。さらに、実際上のビームはその幅方向に略正弦
波状の強度分布を有している。これが所要のデータに周
波数帯域制限を導入することを示すことができる。正弦
波分布は、次のような形（ここでａはサンプリング間隔
であり、）で表わされる強度分布を有する中央の正の領
域に対する近似を与えるものであり、かつそれは、この
近似が該当する程度において、高い周波数を有する望ま
れない成分を除去するために被探索データを帯域制限す
る作用を有している。

前述したところで仮定されたようにａが帯域幅であり、
かつｘがビーム中心線からの距離をあられすとすると、
の範囲においては、第１図、第２図および第３図による
ビーム強度の分布は近似的に次のごとき形式をとる。各
ビームの通路を横切る吸収物質の適当な分布の導入によ
り、ビームを上記の形または他の所望の形に精密に合致
させ得るが、実際通常の目的のためには、正弦波状であ
ると仮定して適当なＬ係数を計算するに際し、この附加
的な方法を利用しなくても十分な精度が得られることが
実際に認められた。

βの値を０．６２５に等しい値にとると、上述のように
ほぼ正弦波状の放射線強度分布を有するビームの場合に
は、再構成された映像に十分満足しうる程度に高い精度
、たとえば各映像点において１／１０００のオーダの精
度が得られることが認められた。

βをこの値にすると、映像再構成に転換即ちエツジをと
もなう或る程度のオーバーシユートが存在するが、その
程度はほんの僅少である。系列の最初の２０のＬ系数が
第７図の表に示されている。この系列は、再構成を受け
ている映像の基本領域の位値に関係なく、その映像の境
界までの吸収を補償するのに要するだけの個数の係数ま
で継続される。第７図の系列においては、係数Ｌ４Ｏは
−０．０００１より少し大きいが、たとえそのように非
常に小さくても、この値の係数ならびにそれよりも小さ
い値の係数は、それらが多数（いま考えている例の場合
には約１８０）のビームの受ける吸収の和に掛けられる
のであるから、正確な映像再構成にとつて重要であるこ
とに変りない。

一般の画像を得るための比較的不正確な映像再構成の場
合でさえ、Ｌ係数の数は各組におけるビームの数の約半
分でなければならない。一般的に言つて、かつ系列の最
初のほうの項に影響を及ほす小さい動揺を別にすれば、
βが０．６２５に等しい場合の係数（ＬＯは別として）
は、常に負であつてかつ漸近的にゼロに近づき、最初の
数項の後にゆつくりと変化する単調関数に適合する。上
述した動揺の種類は振動成分であり、それは！が数値的
に！よりも小さいという事実によりβ＝０．６２５につ
き立証されている。βが０．７５に等しい場合にはそれ
に対応する動揺はみられないが、βが０．５に等しい場
合には一層顕著にさえなる。このような動揺はＬ５以降
のＬ係数に対しては特に影響を与えない。一般的な特徴
として、ビーム幅が隣接した平行ビームの間隔に比較し
て小さいかあるいはその間隔に匹敵しうるかに関係なく
、Ｌ係数（ＬＯは別として）は負の単調関係に近似する
。前述のようにＬ−μ＝Ｌμという原則について厳密に
いえば、この関数は凡に対して対称であり、かつ両半分
が恐らく前述した小さい動揺は別として、凡のまわりに
単調である。この値の変化は開口補正と同様の作用を有
することが明らかである。

かくして、０．５に近接したβの値は、被検査体の吸収
のステツプ関数に応答して映像再構成に著しいオーバー
シユートを与える傾向がある。ステツプ関数の近傍にお
ける数値精度は或る程度低下することにはなるが、細部
を描写するという見地から、即ち横断面内の或る点が吸
収の急激に変化する部分のすぐ近傍にある場合にその点
の近傍における吸収の大きさを特定の限界内で決定する
という見地から、所望の程度のオーバーシユートが望ま
しいことが多い。他方、一般原則として、βの値が０．
７５を大きく超えると、アンダーシユートに相当する条
件が存在する傾向のあることが認められる。βの実際的
な範囲は０．５と０．７５との限界値間にあり、まれな
ケースではあるが、特別の効果が所望される場合には、
βはこれらの特定された両限界値の外側にあつてもよい
。本明細書で述べられている他の近似に基づいて発生さ
れるＬ係数を適当に調節することにより、開口補正もシ
ユミレートされ得る。以上レイヤーグラム補正について
述べた一般的な手法は、帯域ごとになされる〜連の近似
の連続と見ることができる。

たとえば横断面の物質の吸収が帯域１の外側ではゼロで
あるとすると、帯域０内の吸収に対する単純なレイヤー
グラム評価（数値を定めること）における誤差は、係数
Ｌ１にクラスｌのビームの全吸収を掛けたものにより補
偵される。他方、有限の吸収が帯域２の外側境界まで延
長しているならば、Ｌ１補正は不十分であり、それは同
一のパターンについての！補正によつて補足されなけれ
ばならない。このようにして継続しかつ帯域を次から次
へと考慮に入れると、この方法は各帯域が計算に導入さ
れるにつれて真の結果に常に一層近密に接近する方法で
あると一般的に考えられ得ることが明らかである。第ｎ
番目の帯域の外側で吸収が消える場合には、真の結果を
得るための係数ＬＯまで一連のＬ係数補正が継続されな
ければならない。再構成された映像の境界の外側では吸
収は勿論ゼロであると仮定されている０第７図に示され
た系列を実際に決定する場合には、正弦波状分布の各所
定ビームは、そのビームの全幅に亘つて延長している多
数の隣接した、比較的細いビームと同じ効果を有するも
のと仮定された。

各細いビームはそれの幅方向に均一な強度を有するもの
と考えられたが、そのビームの強度は前記所定のビーム
の強度分布曲線上の一連の点に対応すると仮定された。
概略的に述べた理論により、各場合においてβ＝０．６
２５であると仮定して、Ｌ係数が、対応する細かい帯域
に附与された。これらの係数にも各細いビームの強度が
掛けられて一連の寄与が発生され、これらの寄与は加算
されて正弦波状の強度分布を有する上記所定のビームの
それぞれに対するＬ係数が得られる。第１図および第２
図に関して前述したように、特定の系列のＬ係数を用い
ることを決めかつ平行な組をなすビーム吸収データを対
数の形で得ると、第３図のユニツト２５２によつて実施
されるべき処理が適当なプログラムを与えられた計算機
によつて行なわれる。上述の理論によれば、物質の吸収
係数が評価されるべき基本領域における所定の点に関連
して定義された所定のクラスのすべてのビームが受ける
吸収が総計され、かつその総計に各Ｌ係数が掛けられる
ことに注意すべきである。すべてのクラス（前記所定の
点に関連して定義された）に対するこのような重みをつ
けられた総計の和は所要の吸収係数に比例する。これら
についての手法は原理的には前述したラマチヤナドラン
他の論文に記載された処理に類似している。しかしなが
ら、本発明の理論的な基礎は前記論文に記載されている
ものとは異なるものであり、本発明に従つて用いられる
Ｌ係数は、前記論文において到達した関数とは実質的に
異なつた関数に従つている。また、それらの係数は実質
的に改善された結果を生ずる。さらに、本発明の特徴に
よれば、各組のすべてのビーム吸収値が個々にＬ係数系
列を掛けられるのである。このようにして得られた槓は
処理済データ記憶器２５３の異なる区画における異なる
アドレスに分配即ち仕分けされる（この場合、各平行な
組のビームに対して１つの区画が存在しており、かつ各
区画内の１つのアドレスが各平行な組内の各ビームの中
心線に対応している）。各アドレスは１つの積の系列の
全部を蓄積する。記憶器２５３に蓄積された総計は出力
マトリクス記憶器２５４内の異なるアドレスに分配され
、検査領域における吸収分布に関する所要の表示を形成
する。評価点を一度に１つずつ取り出す基本的に二次元
的な処理法に代えて、すべての評価点に関するすべての
組のすべてのビームに対する一連の線型処理およびこれ
に続く選択的加算を行なえば、動作速度の点で特別な利
点があり、かつまた線型処理を実施するための次に述べ
るような特殊目的用の計算機が使用できる。この特殊計
算機は動作速度を上げる作用をもする。また、この方法
は、出力マトリクス記憶器２５４内のアドレスで表示さ
れるデカルトの網の各メツシユに対する吸収を評価する
場合の補間を容易にする。第８図を参照して、まず線型
手法のシーケンスについて考えてみよう。第８図におい
て、数字２３９はビーム吸収データが前述した平行な組
ないし群をなして記憶される記憶器を示しており、記憶
器は第４図に示すように対数の形のデータを受入れる。

記憶器２３９から出力を取り出すためのアドレス・セレ
クタ２５１ならびに、線型処理法に従つて動作している
と理解されるべき処理器２５２からの処理されたデータ
を保持する処理済データ記憶器２５３も同様に示されて
いる。記憶器２５３の使用について考えるために、１つ
の平行な組の探索ビームに関する吸収データ値が、それ
ぞれそれらのビームがその組を横切つて発生する順序に
従つて、のごとく考えられると仮定する。

また、次の項の列がＬ係数列を構成する列であると仮定
するとともに、値凡か記憶器２３９から引き出されてい
ると考える。この値にはデータ処理器２５２内において
Ｌ係数列の各項がそれぞれ別々に掛けられ、かつその結
果得られた積がアドレス・セレクタ２５１の制御のもと
で処理済データ記憶器２５３の区画２５３′内のアドレ
スにそれぞれ記憶される。

次に、値Ｅ１が記憶器２３９から取り出されそしてそれ
に同様にＬ係数列２５２の各項が掛けられて次のような
積が得られるものと考える。これらの積は記憶器２５３
の区画２５３′におけるアドレスにすでに記憶されてい
る積に加算されそれらのアドレスに記憶される。

次に、記憶器２３９から値Ｅ２を取り出しかつ前と同じ
掛算の手法に従つて、次の積がアドレス にそれぞれ加算して記載される。

前記平行な組のすべての吸収値が使用されるまで同様に
してプロセスが続けられる。すべての吸収値が使用され
た時には、アドレスＭに記憶された大きさはであり、 アドレスＡ，のものは であり、 アドレスＡ２のものは であり、アドレス戊のものは であり、それ以降のアドレスのものもこのパターンに従
つたものとなる。

この手法の次の段階においては、上述と同様にしてでは
あるが、いままでとは逆の順序で記憶器２３９から吸収
値が引き出される。

そのよつに逆顔に取り出される場合には、それらの吸収
値は、記憶器２５３の区画２５３″におけるアドレスも
逆順序で使用されるという点を除けば前述したのと同一
の態様で処理される。これは第８図に示されている。最
後に、次の値 がアドレス に既に蓄積されているものからそれぞれ差し引かれて、
これらのアドレスに最終的な１組の値を生ずる。

この手法はすべての平行なビームの組に対応する吸収値
に対してなされ、平行なビームの各組に対する値の組は
記憶器２５３の異なる区画に蓄積される。

所要の映像再構成を与えるための蓄積された値（大きさ
）に関する好ましい最終処理について次に説明しよう。
値（大きさ）を蓄積するための上述したプロセスは、各
ビームデータ信号につき合計信号を得るプロセスと呼ぶ
ことができよう。このプロセスはレイヤーグラムを形成
するために用いられた場合に補償されたレイヤーグラム
を発生する。第８図に示された一連の動作は適当なプロ
グラムを与えられたデジタルＤｆ算機によつて行なわれ
得るが、本発明のこの実施例では、Ｌ係数データ処理器
は、特殊な計算機の形態をなす。

この計算機では、記憶器２５３に転送されるべき積を発
生する掛算をも実施する回路によつて発生される時系列
の項に内在的にＬ係数が発生される。これは、Ｌ係数が
一般にゆつくりと変化する単調関数に近似するものであ
り、従つてＬ係数のすべてまたはほとんどが有限個の指
数項の組として近似されうる故になされうる。第９図は
このような考え方に従つて動作する回路の一般的な形を
示すものである０この図において、２１０はアドレス・
セレクタ２５１によつて第８図のビーム・データ記憶器
２３９から引き出されたデジタル型のビーム吸収データ
Ｅ・を運ぶ通路である。

この通路２１からＪそのデータが、信号修正回路２１２
１，２１２２等（即ち、これらのみならず、これと同様
の他の回路）の入力に通路２１１を通つて分配される。

これらの回路からのデジタル型の出力が加算回路２１４
を通じて共通の出力通路２１３に供給される。通路２１
３土に現われる変換されたデータは、第８図に関連して
概説された手法に従つて第８図の記憶器２５３の任意の
区画例えば２５３／に転送されかつ言已憶されるのに適
したものである。これらの寄与の発生および性質は２１
２１および２１２２のような回路についての説明から一
層明らかとなるであろう。回路２１２１をこれらの回路
のうち代表的なものと考えると、通路２１０に現われる
吸収データ信号Ｅは通路２１１を通つて加算回路２１５
１に供Ｊ給され、そしてデジタル遅延線２１６１の入力
に供給され、然る後、その信号は、すべての回路２１２
１，２１２２，・・・・・・を制御するために用いられ
る主クロツク・パルス源のクロツク・パルス間の期間に
等しい遅延を有して遅延線２１６１から出て来る。

このようなりロツタ・パルス源を用いることは公知であ
るから図示しない。最初の吸収データ信号はそれの通路
２１０土への出現が１つの平行な組に対する最初の即ち
基準のクロツク・パルスに同期されるように調時される
。これが前述した信号Ｅ。であるとすると、その平行な
組の他の信号Ｅｌ，Ｅ２等は一連のクロツク・パルスと
同期して順次通路２１０土に現われる。遅延機２１６１
から出て来た信号は掛算回路即ち係数回路２１７１に与
えられる。その掛算回路は入力信号に予め定められたｌ
よりも小さい数を掛け、そしてそのように掛算された信
号を加算回路２１５１の２つの入力のうちの他方の入力
に与え、然る後、その信号 一がデジタル型遅延線２１
６１の入力に再び与えられる。次にその信号はループ２
１６１，２１ｒ１，２１５１を再循環し、平行な組を形
成するデータ信号の数、従つて利用されるＬ係数の数よ
りＩたけ少ない数に等しい回数だけ再循壊をくりかえす
。その回路の出力は肌算回路２１５１の出力から取り出
され、そして導体２１８１を通じて予め定められた定数
を掛ける掛算回路即ち係数回路２１９１に与えられる。
掛算回路２１９１の出力は通路２２０１を通じて加４算
回路２１４の入力に与えられ、回路２１２２等の出力と
加算される。

一連のクロツク・パルスの発生にともなつて、信号が加
算回路２１５１の出力に順次現われ、一連の信号が通路
２１３を通じて順次取り出される。このような一連の動
作が、利用されるＬ係数の数によつて定められる時間継
続した時、回路２１２１，２１２２，・・・・・・の遅
延線をクリアすることによつてその動作が終了され、次
に、新しい系列についての動作が開始される。回路２１
２１，２１２２，・・・・・・のグループの動作に関し
て、それらのうちの１つ、たとえば２１２ｋの動作につ
いて考えよう。

前述のように、グループ出力導体２１３における一連の
信号の発生を開始させるときにそのグループに与えられ
る吸収データ信号はＥ。という値を有している。そこで
、まず、信号Ｅ。のその後の経歴のみについて考えると
、信号Ｅ。が与えられてからｒ個のクロツク・パルスの
期間後における出力導体２２０ｋを通る回路２１２ｋの
出力は、なる値を有する。

ここで、であり、Ａｋは回路２１２ｋにおける掛算回路
２１７ｋに設定された１よりも小さい掛算係数であり、
そしてＢｋは回路２１２ｋにおける掛算回路２１８ｋに
設定された掛算係数である。

回路２１２ｋを典型的なものとするｎ個の回路が存在し
ているとすると、時間ｔ（ｒ）においては、その回路に
信号凡を印加したことに基因する導体２１３における出
力（の成分）は次の値を有する。かくして、第９図の回
路は信号Ｅ。

の印加に基づいて時間ｔ（ｒ）において一連の信号Ｅ。
（ｒ）せしめられる。ＡｋおよびＢｋのような乗算係数
を適当に選択することによつて、一連のクロツク・パル
スと同期した信号Ｅ。（ｒ）の系列が、少なくとも数個
の初期項を除くすべての値に対して、高い精度をもつて
次の系列に近似せしめられうることがわかる。

ただしＬは系統に対する一連のＬ系数である。系列Ｅ。
（ｒ）のうちの数個の初期項、すなわちたとえばＥ。（
１），Ｚ２），ＥＯ（３）は、初期係数Ｌｌ，Ｌ２およ
びＬ３が十分正確に近似されていないから、所要の値に
十分正確には対応しないかも知れないが、調節によつて
そのような対応を得ることができるものであり、このよ
うな限定された調節はデジタル計算機により簡単に実現
できる。

２１２ｋのような回路が５つ用いられており、実際には
、ｎ−５であれば、上述のように補正されうる最初の数
個の項を除いて、すべての項が約１／１０００という最
終的な映像再構成における精度に相当する精度をもつて
発生されうることが認められた。

映像再構成の精度がより低くてもよい場合には、上記ｎ
は５より小さくてもよく、１であつてもよい。前述のよ
うに、第９図の回路を使用した場合には、平行なビーム
組の吸収データ信号が順次第９図の回路の入力に与えら
れる。

この場合、新しい値は各クロツク・パルスのタイミング
をもつて与えられる。その回路がそのように動作される
と、各クロツク・パルスにともなつて、前述したのよう
な系列の項が順次出力される。１つの組のすべての吸収
データ信号が入力されかつ遅延線がクリアされた時、同
じ組の吸収データ信号が逆の順序で供給され、他の同様
な系列を発生する。

最後に、に比例した信号が記憶器の対応するアドレスに
供給されて引き算される。

これらの演算動作はすべて、第９図の回路が一部分をな
しているデジタル計算器によつて制御されかつ実施され
る。かくして、関係する記憶器の区画、たとえば２５３
′がマトリクス記憶器２５４への転送のために最終的に
満たされ、第９図の回路におけるデータの再循壊によつ
てステツプ・バイ・ステツプ蓄積が実現される。

Ｌｌ，Ｌ２，Ｌ３という値の発生しうる誤差については
、それらは、大きい場合には、次のように処理すること
が好ましい。

フアントムを検査して、検査結果を期待値と比較するこ
とにより得られる上記誤差がそれぞれであるとすると、
それらはデジタル計算機に記憶される。

また、或るビーム・データ値Ｅ・が第８図ｊの回路に与
えられたとする（添字ｊはデータがＩつの平行な組の第
ｊ番目のビームに対応するものであることを示す）。

次に、計算機により補正値が、その組に対応する記憶器
区画のアドレスＡｊｌおよびＡｊ＋１の内容に加算され
て、それらのアドレスに記憶される。さらに、補正値が
同様にしてアドレスＡ，−３およびＡｊ＋３に供給され
る。

この手法の原理は、その組のすべての値およびすべての
組に対して適用される。第９図によるデータの組の処理
は、吸収データの平行な組を順次取り出しかつそれらを
第９図におけるような再循環型式の単一の処理器に与え
て、直列モードで実施されうるが、再循環型式の処理を
複数の平行なデータの組に１つずつ与えかつそれをプロ
グラムすることによつて、複数の平行なデータの組を並
列に同時的に処理することもできる。

これにより（必要に応じて、）データ処理を非常に迅速
にすることができる。本発明は第９図のデジタル型遅延
線を用いて実施されるのが好ましいが、そのような回路
を実際に用いなくても、それらをシミユレートする標準
的な計算機を用いることによつても実施されうる。

この場合の処理時間の節約はそんなに大きくはないが、
それでも有用である。第１０図は、第８図を参照して説
明した値、例えばアドレスＡ。

，Ａｌ，・・・・・・に最終的に記憶された値を記憶器
２５３から出力マトリクス記憶器２５４（第４図）に転
送するための回路を示すプロツクダイヤグラムである。
この転送時に、第４図に関連して説明した補間が実施さ
れる。この補間は正弦法則に従う。線型補間を用いるこ
とも可能ではあるが、ビームの幅方向の放射線強度分布
がほぼ正弦波状をなしていることを考えて、正弦法則を
選ぶほうが好ましい。第１０図において、プロツク２５
２はここでもＬ係数処理回路を表わしている。

処理されるべき吸収データがＮ＋１の平行な組に入ると
すると、処理回路２５２は、第９図に示された再循環型
回路をＮ＋１個、各組に１個ずつ包含しており、従つて
Ｎ＋１の組がすべて同時に処理されうる。それら種々の
組に対して重みをつけたＬ係数の積は記憶器２５３の区
画２５３，，２５３２，２５３３，・・・・・・２５３
。に記憶される。１つの区画は１つの再循環型Ｌ係数重
み付け回路に関連して作用する。

これらの記憶器に記憶されたデータは、正弦法則による
補間の後に、出力マトリクス記憶器２５４に転送されな
ければならない。この転送は、補間係数の早見表即ちル
ツク・アツプ・テーブル（１００ｋ−Ｕｐｔａｂｌｅ）
が記憶されている基準記憶器２５５に連結されたアドレ
ス・セレクタ２５６の制御のもとで行なわれる。これら
の係数は、探索ビームを横切る方向の放射線強度の分布
を表わす正弦波状の重み付け曲線上の点に合致している
。ユニツ口３４は第３図に関連して前に述べたような表
示、印字記録のいずれか１つまたは２つ以上をなすユニ
ツトである。所要のデータを記録器２５４に入れる目的
のために、セレクタ２５６が記録器２５４のアドレスを
順次に選択する。

この際、１つのアドレスを選択する毎にデータ源例えば
ビーム通路データ記憶器２５７を参照して、選択したア
ドレスを記憶器区画２５３，，２５３２，２５３３，２
５３４，・・・・・・のアドレスに関係づける。記憶器
２５４のアドレスは、前述のように最終的な映像再構成
の基礎をなすデカルトの網のメツシユ要素の中点の座標
を示している。そのデカルトの網の小部分が第１１図に
示されており、そのメツシユにおいては、代表的なメツ
シユの中点０が座標Ｘｐ，ｘ，によつて示されている。
記憶器２５３のアドレスは、第８図および第９図に関す
る説明から理解されるように、平行な組のビームの中心
線を示しており、１つの記憶器区画は各１つの平行な組
のビームに関係している。たとえば、角度θ９をなす平
行な組の２つのビームＢ（Ｋａ）およびＢ（ｋ＋１ａ）
が第１１図に示されており、かつ記憶器２５３にはこれ
ら２つのビームに対応するアドレスがある。般的に、任
意の平行な組のビームの中心線は、アドレス・セレクタ
２５６によつて選択された記憶器２５４における１つの
アドレスに対応する特定のメツシユ要素の中点をいずれ
も通らないが、そのような点の非常に近くを通ることが
ありうる。たとえば、第１１図においては、Ｂ（Ｋａ）
およびＢ（ｋ＋１ａ）の中心線の点０からの距離はｄお
よび（ａ−ｄ）である。ビーム通路データ記憶器２５７
は、記憶器２５４の各アドレスに対応して、そのアドレ
スの中点の各側にあり、その中点に最も近い２つのビー
ムの表示を記憶している。これら２つのビームは中点を
はさんでいるということができる。中点アドレスまでの
各ビーム中心線の距離の表示も記憶されている。この情
報は装置の構成によつて決定され、したがつて計算機に
永久的に記憶されうるものである。アドレス・セレクタ
２５６は、出力マトリクス記憶器２５４内の任意のアド
レスを選択すると同時に記憶器２５４内の選択されたア
ドレスをはさんでいるあらゆる組の２つのビームの表示
をビーム通路データ記憶器２５７から取り出す。たとえ
ば、記憶器２５４内のアドレスＸｐ，ｘｑに関しては、
ビーム通路データ記憶器は、角度θッをなす組のはさむ
ビームが距離ｄおよび（ａ−ｄ）にあるビームＢ（Ｋａ
）およびＢ（ｋ＋１ａ）であるという情報を含んでいる
。その場合、アドレス・セレクタ２５６が記憶器２５３
の各区画における２つの適当なアドレスを選択しかつそ
のような各一対のアドレスにおける値（大きさ）を補間
ユニツト２５５に送らせる。記憶器２５４内の選択され
たアドレスからのビーム中心線の距離についての情報が
同時に補間器２５５に与えられる。記憶器２５３の各区
画からそのように選択された２つの値（大きさ）は、２
５７から受け取られた距離表示に基いて補間器２５５で
選択された適当な正弦波的重み付け係数によつてそれぞ
れ正弦波的に重みをつけられる。これらの重みづけは、
あらゆる場合、２つの選択された値（大きさ）のそれぞ
れによつてなされる寄与を、今問題にしているメツシユ
要素に割当てる作用を有する。記憶器２５３の各区画か
らの選択されたデータは、補間器２５５による重みづけ
の後に、記憶器２５４内の適当なアドレスＸ，，ｘ，に
転送され、そしてそこで加算される。補間器２５５は、
ビーム中心線に関して分散されかつ正弦補間関数に従う
たとえば２０の重み付け係数を含むルツク・アツプ・テ
ーブルを包含しており、その補間で用いられる重み付け
係数はこのテーブルから得られるものである。実際には
第９図に示されたすべての構成要素はプログラムされた
デジタル計算機によつて実現される。第１０図の構成に
よつて得られるものよりも精度の悪い映像再構成でも差
支えないのであれば、補間器２５５は省略してもよい。
これを示すために、記憶器２５３における各区画のアド
レスＡ。

，Ａｌ，Ａ２，Ａ３，Ａ４，・・・・・・，Ｍ，に記憶
された値（大きさ）について前述した方法で考えてみる
。アドレスＡ。は、今考えている平行な組の最初のビー
ム（リード２３によつてインターセプトされるビームは
含まれていない）に対応するものと考えられ、かつアド
レスＡ。に最終的に記憶される値（大きさ）は、このビ
ームの中心線によつてインターセプトされるデカルトの
網のメツシユに対応する網記憶器（ＪｎｅＳｌ］ＷＯｒ
ｋｓｔＯｒｅ）２５４のすべてのアドレスに転送される
。アドレスＡ１はその平行な組の２番目のビームに対応
するものと考えられ、かつそのアドレスＡ１に記憶され
た値（大きさ）は２番目のビームの中心線によつてイン
ターセプトされるメツシユに対応する記憶器２５４のす
べてのアドレスに転送される。この転送はアドレスＡ。
，Ａｌ，Ａ２，Ａ３，Ａ４，・・・・・・，鳩に記憶さ
れたすべての値（大きさ）が使用されるまで継続する。
同様な動作が、記憶器２５４における加算によつて適当
な最終映像再構成を生ずるために、記憶器２５３の他の
すべての区画についても行なわれる。もし所望されれば
、記憶器２５４への転送は、検査される横断面の限定さ
れた領域内だけの場所に対応する記憶器２５４の限定さ
れた数のアドレスに限定・されうる。本発明は多くの組
の平行なビーム通路と交差する探索ビームの受ける対数
的吸収に関係するデータを得るためのシステムの物理的
なパラメータに正しく関係づけられた方法で映像再構成
を実現するための装置に主として関するものである。

本発明の装置はビームの組のパラメータを正しく考慮し
たものであり、かつ近似がなされる点においても、この
種のシステムにおいて妥当なものである。しかしながら
、ビーム吸収データを得るための第１図および第２図に
示された装置は例示のためのものにすぎず、本発明によ
る映像再構成のための装置は多数の組の平行なビーム通
路から吸収データを得るための任意のシステムに適用で
きる。前述のように，図示されている映像再構成のため
に用いられる装置は、第２図に示された構成要素のうち
の幾つかと第８図に示された構成要素とを除けば適当な
プログラムを与えられたデジタル計算機例えば汎用の計
算機によつてほとんど実現される。しかしながら、その
計算機は多かれ少なかれ、特別な集積回路、印刷回路、
永久記憶器等によつて構成されうるものである。以上の
説明および特許請求の範囲において平面状の仮想輪切り
体における吸収の変化に関する表示を発生または構成す
るという場合には、表示される量は明確に吸収である必
要はなく、その表示は吸収の或る関数（放射線に対する
透過のような）であつてもよくあるいは吸収の差であつ
てもよいことが理解されるであろう。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１つの実施例によるＸ線により物体を
検査するための装置の走査機構を概略的に示す図、第２
図はその走査機構から得られた信号を処理してそれらの
信号を、多数の組の平行な通路を通過する探索ビームの
受ける対数吸収を表示する信号に変換するための回路の
概略図、第３図は第２図の一部分を示す詳細なプロツク
図、第４図は第２図の回路からの信号出力を利用して映
像を再構成する回路の概略図、第５図および第６図は第
３図の回路の動作態様を説明するための図、第７図は第
３図の回路で利用される係数の表、第８図は第３図の一
部の詳細なプロツク図、第９図は第７図の回路に用いら
れているデータ処理器の一例を示す図、第１０図は第３
図の他の部分の詳細なプロツク図、第１１図は第１０図
の動作を説明するための図である。 ３・・・・・・開孔、１１・・・・・・放射線源、１２
・・・・・・Ｘ線検知器、４５・・・・・・対数変換器
、５０・・・・・・信号処理器、２１２・・・・・・信
号修正回路、２１５・・・・・・加算回路、２１６・・
・・・・遅延線、２１７・・・・・・乗算回路、２５２
・・・・・・処理装置、２５３・・・・・・処理済デー
タ記憶器、２５４・・・・・・出力マトリクス記憶器、
２５６・・・・・・アドレス・セレクタ、２５７・・・
・・・ビーム通過データ記憶器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 〔Ａ〕Ｘ線又はγ線でなる透過性放射線によつて被
   検査体のほぼ平面部分を検査する放射線検査装置であつ
   て、放射線源と、 ビームのうち少くとも１つのビームに沿つて上記放射線
   源から照射され、検査のために上記平面部分が内部に配
   置される開孔を横切つた放射線を検出するための検出装
   置と、上記被検査体の部分内を互いに異なる角度で透過
   した複数のビームの組に沿つて放射線の透過又は吸収を
   表わす検出信号を上記検出装置に出力させる走査手段と
   、上記被検査体の部分の異なる位置に対応する記憶素子
   と、上記検出信号から得られ、対応する位置またはその
   近傍を通過するビームに関連した信号を各記憶素子に累
   積させる累積手段とを含み、上記位置の各々における上
   記放射線の透過または吸収の表示を形成する計算手段と
   を備えた放射線検査装置であつて以下の特徴を有するも
   の。 〔Ｂ〕上記検査装置は、上記検出装置からの、各ビーム
   の組のビームに対応する検出信号を、各組内のビームの
   位置に対応する順序で順次上記累積手段に供給する手段
   を備える。 〔Ｃ〕（ａ）上記累積手段は信号修正回路２１２を有す
   る。 （ｂ）上記信号修正回路２１２は、加算回路２１５なら
   びに、乗算回路２１７および遅延手段２１６の直列接続
   回路を含む。 （ｃ）上記加算回路２１５は、その第１の入力端子で、
   上記累積手段に供給される検出信号を受ける。 （ｄ）上記乗算回路２１７は、入力される信号に、１よ
   り小さい係数を掛ける。 （ｅ）上記遅延手段２１６は、上記検出信号の各各が供
   給されてから次の検出信号が供給されるまでの時間間隔
   に等しい時間の遅延を生じさせる。 （ｆ）これらにより、加算回路２１５の出力端子に現わ
   れる合計信号の各々は、上記直列接続回路を介して、上
   記加算回路の第２の入力端子に、供給される。 この第２の入力端子への供給は、次の検出信号が上記加
   算回路２１５の上記第１の入力端子に供給される時に、
   行なわれる。（ｇ）上記累積手段はさらに、各ビームの
   組のビームに対応する出力信号が上記累積手段に順次供
   給されるに伴い、上記加算回路２１５の出力端子に順次
   現われる合計信号の各々を、各合計信号が対応する検出
   信号を生じさせたビームに交差する位置に対応する記憶
   素子に供給する手段を備える。 （ｈ）これらにより、上記合計信号の各々が、上記検出
   信号のうちの対応するものに、同じ組の、より早く供給
   された他の検出信号に一連の次第に小さくなる係数を掛
   けたものを加算することによつて得るものとなる。