JPS5927253A - ガスセンサおよびその製造法 - Google Patents
ガスセンサおよびその製造法Info
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- JPS5927253A JPS5927253A JP57136244A JP13624482A JPS5927253A JP S5927253 A JPS5927253 A JP S5927253A JP 57136244 A JP57136244 A JP 57136244A JP 13624482 A JP13624482 A JP 13624482A JP S5927253 A JPS5927253 A JP S5927253A
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- Japan
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の分野
本発明しよ/IB応、目とし″’CA I30 ;
(ここてAは希土類元素又はその一部をアルカリ土類全
表1で置換してもよい、Bは14:ii以上の遷移金属
元素である)で表わされるぺ「コブスカイト型抜含酸化
物を用いたガスセンリ及びその製造法にr、!+、IL
、更に訂しくはガス吸脱着による感応材04′i性変化
を低減したガスセンサとその製造法に関する。
(ここてAは希土類元素又はその一部をアルカリ土類全
表1で置換してもよい、Bは14:ii以上の遷移金属
元素である)で表わされるぺ「コブスカイト型抜含酸化
物を用いたガスセンリ及びその製造法にr、!+、IL
、更に訂しくはガス吸脱着による感応材04′i性変化
を低減したガスセンサとその製造法に関する。
本発明のガスセンサは、燃焼排ガス、炎、空気などのガ
ス中における酸素、炭化水素、アルコール、水分、−酸
化炭素などのガス成分の濃度の測定又は測定に基づいて
ガス成分の濃度の制御などに用いることができる。
ス中における酸素、炭化水素、アルコール、水分、−酸
化炭素などのガス成分の濃度の測定又は測定に基づいて
ガス成分の濃度の制御などに用いることができる。
(2)従来技術
ABO3(Aは希土類元素又はその一部をアルカリ土類
金属元素で置換したもの、Bは1種以上の遷移金属元素
である)で示される複合酸化物は、ペロブスカイト型病
造を有するp型半導体である。
金属元素で置換したもの、Bは1種以上の遷移金属元素
である)で示される複合酸化物は、ペロブスカイト型病
造を有するp型半導体である。
この半導体は、例えばガス中の酸素濃度が増加すると抵
抗(lt′Jが減少するので、ガスセンサの感応材とし
て用いることが提案されている。
抗(lt′Jが減少するので、ガスセンサの感応材とし
て用いることが提案されている。
米国特許13,951,603号(Ga5− SenS
OrFJJement and Method
for l〕etecNng几educing
Gas Or □xygen gaS ) VJ:、ペ
ロブスカイト型複合酸化物半導体を含むペーストをアル
ミナ基板上に塗布、焼付けして得られた還元性ガスに感
知するガスセンサが開示されている。
OrFJJement and Method
for l〕etecNng几educing
Gas Or □xygen gaS ) VJ:、ペ
ロブスカイト型複合酸化物半導体を含むペーストをアル
ミナ基板上に塗布、焼付けして得られた還元性ガスに感
知するガスセンサが開示されている。
まだ、米国’PTh it’r’第3,953,173
V’i ((L+S−8e1190r1弓1emen
t Ind Mctl+od for J、)el
ectingoxldiznble (JaS )には
、ペロブスカイト型複合・酸化物とKt hi g F
4 との混合物からなる感応+4を用いたガスセンサ
が開示され一〇いる。
V’i ((L+S−8e1190r1弓1emen
t Ind Mctl+od for J、)el
ectingoxldiznble (JaS )には
、ペロブスカイト型複合・酸化物とKt hi g F
4 との混合物からなる感応+4を用いたガスセンサ
が開示され一〇いる。
更に米国時’fr′rm 4,044,601 号(S
moke alldGas 5ensor Eleme
+目 )にt」1、ペロブスカイト型複合酸化I吻とC
(10,ln、(〕s + 8 ’ U 、 ’J、’
7−vos又はI’ l) 0との混a物からなる感
16 A4’ を用いfr、ガスセン−リが開示されて
いる。
moke alldGas 5ensor Eleme
+目 )にt」1、ペロブスカイト型複合酸化I吻とC
(10,ln、(〕s + 8 ’ U 、 ’J、’
7−vos又はI’ l) 0との混a物からなる感
16 A4’ を用いfr、ガスセン−リが開示されて
いる。
その他米国f1“M n’I’第4,221,827弓
、特開昭55=132941 号、 71ケ開昭50
−1443911+ ’l’f 1iil 114号5
6−8537号+ ’F!l開昭50−110385す
:t’+’l’¥開昭55−166030 号、1特開
昭56−31631号、特開昭56 35533号、特
開昭51i−166469号などにも、ペロブスカイト
型複合酸化f吻を感応材として用いたガスセンサが開示
されている。
、特開昭55=132941 号、 71ケ開昭50
−1443911+ ’l’f 1iil 114号5
6−8537号+ ’F!l開昭50−110385す
:t’+’l’¥開昭55−166030 号、1特開
昭56−31631号、特開昭56 35533号、特
開昭51i−166469号などにも、ペロブスカイト
型複合酸化f吻を感応材として用いたガスセンサが開示
されている。
べ「jブス力−()型複合酸化物半導体を感応44とし
て用いたガスセン−リにおいて、例えk」:燃″I、1
目:11ガスの組成%に酸素1i訓現が変ると、ある経
時変化が起ることが糾察さitだ。完全燃焼炎に曝され
た後不完全燃焼炎に一ヒンリーがilされると、感応材
の7(1゜気抵抗fil′iが時間と共に変化し一〇行
き1.i+i+^(完全燃焼炎に尺しても、元の抵抗値
に瞬間的に復)4jIするのではなく、ある特出1をか
け−C徐々に変化してガス濃度と平衡する元の抵抗値に
戻って行く。
て用いたガスセン−リにおいて、例えk」:燃″I、1
目:11ガスの組成%に酸素1i訓現が変ると、ある経
時変化が起ることが糾察さitだ。完全燃焼炎に曝され
た後不完全燃焼炎に一ヒンリーがilされると、感応材
の7(1゜気抵抗fil′iが時間と共に変化し一〇行
き1.i+i+^(完全燃焼炎に尺しても、元の抵抗値
に瞬間的に復)4jIするのではなく、ある特出1をか
け−C徐々に変化してガス濃度と平衡する元の抵抗値に
戻って行く。
第1図に示すように、p型ペロブスカイト複合酸化物(
1,aN 10s)のみで4′1り成した感応材を用い
たガスセンリ゛−ご燃焼実験をしたところ、二次空気の
存在するノ9iで完全燃焼域であるa(グロバン0、4
t K対し空気101−7分の割合)から、空気鼠な
・減らし−rAat1分にすると、抵抗値は増加する(
!’j 、!!々1))。史pr空気を減らし8t/
分にすると、u(抗値は上ケ゛1−)゛る(領域C)。
1,aN 10s)のみで4′1り成した感応材を用い
たガスセンリ゛−ご燃焼実験をしたところ、二次空気の
存在するノ9iで完全燃焼域であるa(グロバン0、4
t K対し空気101−7分の割合)から、空気鼠な
・減らし−rAat1分にすると、抵抗値は増加する(
!’j 、!!々1))。史pr空気を減らし8t/
分にすると、u(抗値は上ケ゛1−)゛る(領域C)。
空気厭i 7 /−7分(Wtj城d)、6/、7分(
領域e)に減少させた後、P4び空気R(:’rニアt
/分(領域[1,84/分(領域gl、9t/分(領域
h )と増加し1行つでも、抵抗値tま元のfi+’i
。K戻るのてt」、なく、やや高い値を示す。なお、図
において1つの領域の時1141 tit fま1分で
ある。
領域e)に減少させた後、P4び空気R(:’rニアt
/分(領域[1,84/分(領域gl、9t/分(領域
h )と増加し1行つでも、抵抗値tま元のfi+’i
。K戻るのてt」、なく、やや高い値を示す。なお、図
において1つの領域の時1141 tit fま1分で
ある。
理想的なガスセン′すとしてCよ、燃焼条件が同じなら
ば常に同じ抵抗値を示す特性が要求される。
ば常に同じ抵抗値を示す特性が要求される。
上述の上うな文°ロブスカイトハ1!腹合酸化物半導体
の経時変化は、酸素分子や還元性物質(例えば−酸化炭
素)の吸脱着に伴う複fヤ酸化物自体の可逆的変化また
は導1[を型の転換、あるいeよ温度による影響による
ものと考えられる。特にガス分子の吸脱着による化学変
化は、p型ぺr1ブスカイト複冶酸化物の表面と内r〜
ISでのガス分子の拡故による時間的なずれとなって現
われるものと考えられる。
の経時変化は、酸素分子や還元性物質(例えば−酸化炭
素)の吸脱着に伴う複fヤ酸化物自体の可逆的変化また
は導1[を型の転換、あるいeよ温度による影響による
ものと考えられる。特にガス分子の吸脱着による化学変
化は、p型ぺr1ブスカイト複冶酸化物の表面と内r〜
ISでのガス分子の拡故による時間的なずれとなって現
われるものと考えられる。
この現象(これを本発明でtよプーリングfallin
g効果と11・Yぶ)t」1.0型の酸化物半導体(例
えば酸化゛)ず)でも見られるリナ、象である。
g効果と11・Yぶ)t」1.0型の酸化物半導体(例
えば酸化゛)ず)でも見られるリナ、象である。
自動車の排ガス中の酸素濃IWや−・酸化炭素濃度に上
る燃焼11tll闘〜・、家庭の暖房器具の燃焼制御、
−ボ・fうの燃焼制御などのように、燃焼条件が頻繁に
変化する分野でしょ、J、−、fl[、’のようなプー
リング効果tJ、ガスー1町ン−リにとつ−L極めて不
都合である。
る燃焼11tll闘〜・、家庭の暖房器具の燃焼制御、
−ボ・fうの燃焼制御などのように、燃焼条件が頻繁に
変化する分野でしょ、J、−、fl[、’のようなプー
リング効果tJ、ガスー1町ン−リにとつ−L極めて不
都合である。
(3)発明の閥旨
本発明の目的tよ、燃焼条件の変動特に空燃比の変動あ
るいtJ: ?1lll定幻象ガス中の検知物質の濃1
大〔変化に敏速に対応できる感応特性′fc’+4する
ガスセンザどその製造法を提供することである。
るいtJ: ?1lll定幻象ガス中の検知物質の濃1
大〔変化に敏速に対応できる感応特性′fc’+4する
ガスセンザどその製造法を提供することである。
本発明eよ、ペロブスカイト型構造を有・J゛るp型複
合酸化物半導体が優れたガス感応特性を有することを利
用し、その経時変化即ちテーリング効果を減少ないし除
去したガスセンリ゛に関し、具体的にtよ」二記%)型
複合酸化物半導体中に、少量の特定元素又tよその化合
物全添加した感応月を用いたことr、 tJ°H&とす
るガスセンザに関する。
合酸化物半導体が優れたガス感応特性を有することを利
用し、その経時変化即ちテーリング効果を減少ないし除
去したガスセンリ゛に関し、具体的にtよ」二記%)型
複合酸化物半導体中に、少量の特定元素又tよその化合
物全添加した感応月を用いたことr、 tJ°H&とす
るガスセンザに関する。
本発明1よ−また最も感応IF!j性が・J−ぐれかク
チ−リング効果を減少ないし除去したp型べ(1プス力
イト複合酸化物半導体を使用したガスセンリ°の製造法
に関”Jる。
チ−リング効果を減少ないし除去したp型べ(1プス力
イト複合酸化物半導体を使用したガスセンリ°の製造法
に関”Jる。
(4) 発明の説明
イ) り型ペロゲスカイト複合酸化物前記公知刊行I
吻に記載されているように、ペロブスカイト複合酸化物
を用いたガスセン“すtよ公知である。本発明でもかか
る複合酸化物を用い得るが、p型複合酸化物半導体を用
いる。l)型半導体は、酸素のき1シ少にf1′な−ク
゛(抵抗1i1iが人きくなる憔l)(をイ〕ノ゛るの
C,飯にガスセンリの感1ら膜が破断し゛C抵抗(的が
(l[F限犬となつでも、−’(−れeよ不完全燃焼を
防市する1d号となる。これに対し+1型半導体を用い
ると、不完全燃焼域では411; b’i、値が減少V
るので、ガスセンリの小都合によっては燃焼器具が埜走
する恐れがある。こJしを防ぐため保禮回h’6が必要
となり、ガスセン−リ″が複雑、高価となる。
吻に記載されているように、ペロブスカイト複合酸化物
を用いたガスセン“すtよ公知である。本発明でもかか
る複合酸化物を用い得るが、p型複合酸化物半導体を用
いる。l)型半導体は、酸素のき1シ少にf1′な−ク
゛(抵抗1i1iが人きくなる憔l)(をイ〕ノ゛るの
C,飯にガスセンリの感1ら膜が破断し゛C抵抗(的が
(l[F限犬となつでも、−’(−れeよ不完全燃焼を
防市する1d号となる。これに対し+1型半導体を用い
ると、不完全燃焼域では411; b’i、値が減少V
るので、ガスセンリの小都合によっては燃焼器具が埜走
する恐れがある。こJしを防ぐため保禮回h’6が必要
となり、ガスセン−リ″が複雑、高価となる。
べ゛
ツ°ロブヌカ・イト(よ一般式で示ぜば、A 、110
mで示される。こ仁てAを」、ランタン、−ヒリウム
、グラ1−」ジノ、などのランタノイドで、その一部を
一アルカリ土類金属例えばス1ロンチウノ、で置換し=
Cもよい。[3tJ:ニラクル、りrl)1.ブ゛クン
、釘V、コバルト、バナジウムなどの遷移金属元素であ
る。
mで示される。こ仁てAを」、ランタン、−ヒリウム
、グラ1−」ジノ、などのランタノイドで、その一部を
一アルカリ土類金属例えばス1ロンチウノ、で置換し=
Cもよい。[3tJ:ニラクル、りrl)1.ブ゛クン
、釘V、コバルト、バナジウムなどの遷移金属元素であ
る。
具体的に(ま、1.+aN IQs + IJaC”U
s + 、lia’1.’ lOs +It a (−
i ” Os + 1.” Tは)3 、 Ce’J、
’ 10B 、 La+−x Srt ’JOs(0,
1≦X、I>0.4 ) + 、La1−xs”x’l
’1Uj(0,1SX≦0.41などがある。
s + 、lia’1.’ lOs +It a (−
i ” Os + 1.” Tは)3 、 Ce’J、
’ 10B 、 La+−x Srt ’JOs(0,
1≦X、I>0.4 ) + 、La1−xs”x’l
’1Uj(0,1SX≦0.41などがある。
蛸 ベロゲスカイト複合酸化物膜の形成法本発明では、
′アルミナなどのTICIC気絶系性基板上−まずDi
望のff[j極膜を形成し、その電極に′電気的に感応
;(′A層が接するように、適ψJft手段で複合酸化
物膜f3:形成する。“また、感応月層化形成した後、
′1を極tia i焼料けでもよい。
′アルミナなどのTICIC気絶系性基板上−まずDi
望のff[j極膜を形成し、その電極に′電気的に感応
;(′A層が接するように、適ψJft手段で複合酸化
物膜f3:形成する。“また、感応月層化形成した後、
′1を極tia i焼料けでもよい。
本発明者の萌り1〕によれば、ペロブスカイト複合酸化
膜が7Ji期の感応特性を発揮するには、その膜の状態
が竹もめt型費であることがわが=ンた。前記公知刊行
物に記載されたペロブスカイト複合酸化物j模の形成法
(・」1、ペロブスカイト複合酸化物の粉末をメチルセ
ルロースなどに分散しでベーストk作り、これを−アル
ミナ基板上に印刷 J、Jl^(=Jけるものである。
膜が7Ji期の感応特性を発揮するには、その膜の状態
が竹もめt型費であることがわが=ンた。前記公知刊行
物に記載されたペロブスカイト複合酸化物j模の形成法
(・」1、ペロブスカイト複合酸化物の粉末をメチルセ
ルロースなどに分散しでベーストk作り、これを−アル
ミナ基板上に印刷 J、Jl^(=Jけるものである。
(〜か1〜、]し来ぺr1ブスカイj−は焼結性が悪い
ため、゛アルミラー基板への密着力が低く、存易に剥1
11f#し−Cしまう。
ため、゛アルミラー基板への密着力が低く、存易に剥1
11f#し−Cしまう。
本発明者(」1、ペロブスカイト複合酸化物の微粉末を
電気絶縁性基板上に密着させることを検討しρ−0その
結果、次の方法が有効であることがわかった。
電気絶縁性基板上に密着させることを検討しρ−0その
結果、次の方法が有効であることがわかった。
(1) プラズマ溶#J法
ペロブスカイト複合酸化物の微粉末(171m以下、l
[庁に500o人以−トで100人以−J二)を公知の
プラズマ溶射によりアルミナなどの電気絶縁性基板上に
溶射する。厚さtよ一様で薄い!1とよいが0.5〜5
014 ln、特にl−10tr口1がよい。
[庁に500o人以−トで100人以−J二)を公知の
プラズマ溶射によりアルミナなどの電気絶縁性基板上に
溶射する。厚さtよ一様で薄い!1とよいが0.5〜5
014 ln、特にl−10tr口1がよい。
プラズマ溶射によると、ペロブスカイト粉末は強い力で
基版面に衝突し、一部融合又は機械的に結合して強く密
着する。従って、従来のペースト印刷焼料法のようにガ
ラス系バインダ−1ユ本質的に不要である。勿論、有害
でない範囲ならバインダーを添加してもよい。
基版面に衝突し、一部融合又は機械的に結合して強く密
着する。従って、従来のペースト印刷焼料法のようにガ
ラス系バインダ−1ユ本質的に不要である。勿論、有害
でない範囲ならバインダーを添加してもよい。
溶射膜のより大きな利点tよ、溶射膜に形成される多数
の微小なりラックである。ガスセンリ゛の反応Vよガス
分子の吸脱着時の拡散が不iiJ欠であるから、溶射膜
が薄いということならびに微小クラックの存在によって
、ガス分子の拡散が迅速に行われ本発明の、ガスセン′
す“の感度は著しく高いのである。
の微小なりラックである。ガスセンリ゛の反応Vよガス
分子の吸脱着時の拡散が不iiJ欠であるから、溶射膜
が薄いということならびに微小クラックの存在によって
、ガス分子の拡散が迅速に行われ本発明の、ガスセン′
す“の感度は著しく高いのである。
(11)化学的分解析出法(CV D法)ランタン族の
ハロゲン化物及び遷移金属のハロゲン化物をキャリアー
ガスを用い−こ反応炉に導入し、IIJ、膜とすること
もできる。例えばJJ a N l Q*の場合シ」4
、塩化ランタン及び塩化ニック′ルをアルゴン+5%水
素からなるキャリアーガスで反応炉内に導入する。塩化
ランタン及び塩化ニック°ルの工Aは、分解後のモル比
でほぼ1:1となる。Lうに調整する。反応炉中にはさ
らにアルゴンをキャリアーとして酸′J?、奮加え、1
3 Q torr以上にした。600t:”以上に予熱
した絶縁基板面を反応ガスに曝すことに上9、多孔−j
’j IJ aN + Q s膜が得られる。
ハロゲン化物及び遷移金属のハロゲン化物をキャリアー
ガスを用い−こ反応炉に導入し、IIJ、膜とすること
もできる。例えばJJ a N l Q*の場合シ」4
、塩化ランタン及び塩化ニック′ルをアルゴン+5%水
素からなるキャリアーガスで反応炉内に導入する。塩化
ランタン及び塩化ニック°ルの工Aは、分解後のモル比
でほぼ1:1となる。Lうに調整する。反応炉中にはさ
らにアルゴンをキャリアーとして酸′J?、奮加え、1
3 Q torr以上にした。600t:”以上に予熱
した絶縁基板面を反応ガスに曝すことに上9、多孔−j
’j IJ aN + Q s膜が得られる。
G11l 物理的分解析出法(P V D法)A2炉
内にランタン、ニッケルの単独又は合金板を負極に対内
、近接してアルミナ基板を設置した。この場合、陽極を
炉内に股りるか、炉壁を兼用してもよい。
内にランタン、ニッケルの単独又は合金板を負極に対内
、近接してアルミナ基板を設置した。この場合、陽極を
炉内に股りるか、炉壁を兼用してもよい。
炉内を約10−” torrに減圧後、酸累を含んだ′
アルゴンガスを投入し、10”2〜l Q−’ tor
rにした。この状態で′EiL極間に0.8〜5. O
K Vの1白filF、 k印加し、スパッタリング法
により、600U以−(二に予熱した基板上に約3μm
の多孔質L RN l □ *膜を形成する。
アルゴンガスを投入し、10”2〜l Q−’ tor
rにした。この状態で′EiL極間に0.8〜5. O
K Vの1白filF、 k印加し、スパッタリング法
により、600U以−(二に予熱した基板上に約3μm
の多孔質L RN l □ *膜を形成する。
ハ) il、極形成
アルミナなどの[j気絶縁性基板に、白金などの耐熱性
金属粉のペースト奢印刷し、焼料り1、所望の白金?I
i、極を形成する。仁の市、極上にペロブスカイト複合
酸化物膜を形成するか又eよその反対の111(4序で
形成すればよい。
金属粉のペースト奢印刷し、焼料り1、所望の白金?I
i、極を形成する。仁の市、極上にペロブスカイト複合
酸化物膜を形成するか又eよその反対の111(4序で
形成すればよい。
二)通気性無機絶縁膜
ペロブスカイト複合酸化物膜又t」、電極の機械的保護
めため、該膜上に通気性の耐熱性無機絶縁膜を形成する
。この絶縁膜は、ガス透過性であることが必要で、従っ
て多孔質の膜が作りやすいプラズマ溶射法によるのがよ
い。PVl)法でも同様の絶縁膜が得られる。
めため、該膜上に通気性の耐熱性無機絶縁膜を形成する
。この絶縁膜は、ガス透過性であることが必要で、従っ
て多孔質の膜が作りやすいプラズマ溶射法によるのがよ
い。PVl)法でも同様の絶縁膜が得られる。
無機絶縁膜とし−U )j: 、アルミナなどの安尾で
中性七K〕無機物が適する。
中性七K〕無機物が適する。
ホ)Va族元素又tJ、七の化合物の添加バナジウム、
ニオブ及びタンタルの3種の元素又tJ、その化合物が
前記テーリング効果を減少ないし除去する効果があるこ
とがわかった。
ニオブ及びタンタルの3種の元素又tJ、その化合物が
前記テーリング効果を減少ないし除去する効果があるこ
とがわかった。
上fli: ’I!i定元素の酸化物の作用は未だ充分
に解明されていないが、これらは「l型半導体を作シ得
るものであシ、p型ペロブスカイト複合酸化物中におい
で、該腹合酸化物の安定化に寄与していると推定される
。かかる化合物の重加用が多すぎると、■)型ペロブス
カイト複合酸化物の感応特性が1氏下する。一般的な用
途についてVよ、添加jtt tJ、0.01〜5重鼠
%(複合酸化物に対する添加化伯物鼠)、1時に()、
1〜2車量%が適する。
に解明されていないが、これらは「l型半導体を作シ得
るものであシ、p型ペロブスカイト複合酸化物中におい
で、該腹合酸化物の安定化に寄与していると推定される
。かかる化合物の重加用が多すぎると、■)型ペロブス
カイト複合酸化物の感応特性が1氏下する。一般的な用
途についてVよ、添加jtt tJ、0.01〜5重鼠
%(複合酸化物に対する添加化伯物鼠)、1時に()、
1〜2車量%が適する。
上記酸化物を絵加する方法として、例えば次の方θ(が
ある。
ある。
1)気中拡散法
添加すべき元素又はその化合物の蒸気中に、p型ペロブ
スカイト複合酸化物の溶射膜を有する基体を設置し又加
熱拡散する。
スカイト複合酸化物の溶射膜を有する基体を設置し又加
熱拡散する。
11)含浸法
上記溶射膜に、添加すべき元素又はその化合物の溶at
含浸し、乾燥後酸化性雰囲気中で加熱拡散する。あるい
は、通気性絶縁膜をベロブスカイI−複含酸化物膜−ヒ
に形成し、この絶縁膜を介して上記溶液な含浸、乾燥し
た後、酸化雰囲気中で加熱拡散する。
含浸し、乾燥後酸化性雰囲気中で加熱拡散する。あるい
は、通気性絶縁膜をベロブスカイI−複含酸化物膜−ヒ
に形成し、この絶縁膜を介して上記溶液な含浸、乾燥し
た後、酸化雰囲気中で加熱拡散する。
111)狗未調製法
アルミナ基板に形成する感応利粉末を作る段階で、予め
p型ペロブスカイト複合酸化物粉末に所望鼠の際加兄素
ヌeよ化合l吻を添加し、酸化雰囲気中で焼成する。
p型ペロブスカイト複合酸化物粉末に所望鼠の際加兄素
ヌeよ化合l吻を添加し、酸化雰囲気中で焼成する。
添加元素の溶液を作るにt」5、なるべく塩素やナトリ
ウムなどの有害元素に含まず、分解すれば逸散する炭素
、水素、酸素、窒素の化合物を用いるのがよい。例えば
、Nl14 vo3の水溶液、Nl> (IletO<
) sの修酸溶液などがある。ノ・ロゲン化物でも塩
化物、弗化物、臭化物であれに、J:、使用しつる。[
りえげN l) Fsの硝酸溶液、Ill +”l J
−il。
ウムなどの有害元素に含まず、分解すれば逸散する炭素
、水素、酸素、窒素の化合物を用いるのがよい。例えば
、Nl14 vo3の水溶液、Nl> (IletO<
) sの修酸溶液などがある。ノ・ロゲン化物でも塩
化物、弗化物、臭化物であれに、J:、使用しつる。[
りえげN l) Fsの硝酸溶液、Ill +”l J
−il。
の水溶液などがあげられる。これ1、酸化雰囲気中で焼
成すれば酸化物になる。
成すれば酸化物になる。
前記公知刊行物において、特開昭55−132941号
、特開昭56 46452号公報に与られるように、L
aN I Us −やL aCOOj のN1又はQo
の一部1;ir−A4 nなどで一部置換したものが知
られている。これらの腹合酸化物は、結局1〕型ペロブ
スカイトである。これに7J して本発明の感応(」で
し」、p型ペロブスカイト複合酸化物に特定元素又eよ
その化合物が拡散、又eま分散し−しおり、混合系であ
る。この混合系によって、p型ペロブスカイトのテーリ
ング効果を減少メし、L除去できるのであって、全体が
p型ペロブス力・イトのみでない点に両者の違いがある
。
、特開昭56 46452号公報に与られるように、L
aN I Us −やL aCOOj のN1又はQo
の一部1;ir−A4 nなどで一部置換したものが知
られている。これらの腹合酸化物は、結局1〕型ペロブ
スカイトである。これに7J して本発明の感応(」で
し」、p型ペロブスカイト複合酸化物に特定元素又eよ
その化合物が拡散、又eま分散し−しおり、混合系であ
る。この混合系によって、p型ペロブスカイトのテーリ
ング効果を減少メし、L除去できるのであって、全体が
p型ペロブス力・イトのみでない点に両者の違いがある
。
へ)ガス士ンザの適用例
本発明に卦いて、1つの電気絶縁性基板上に、前記感応
4A層と111.極とを形成する他に、白金ヒータどそ
のIIC極、ザーミスタとその電極、あるいは他の酸化
物半導体、例えば11型酸化物半導体層とその電極とを
g1股してもよい。
4A層と111.極とを形成する他に、白金ヒータどそ
のIIC極、ザーミスタとその電極、あるいは他の酸化
物半導体、例えば11型酸化物半導体層とその電極とを
g1股してもよい。
ヒータを併設すれば、低温のガス中でそのヒータによυ
センツ全予熱又は加熱して所定の温度に保つことにより
、目的の感応特性を得ることができる。
センツ全予熱又は加熱して所定の温度に保つことにより
、目的の感応特性を得ることができる。
一す−ミスタを01股J−れば、ガスの温度全測定する
ことができ、また心間に応じガス温度をガスセン゛すの
補正又はガス渦jルの制御に使用することができる。
ことができ、また心間に応じガス温度をガスセン゛すの
補正又はガス渦jルの制御に使用することができる。
n型酸化物半導体膜を91°設すれ(」:、p型ベロゲ
スカイ+−m含酸化物半導体との起?IN力の差により
、ノイズの影+′11を小窩〈シてガスの測定、検知を
することができる。
スカイ+−m含酸化物半導体との起?IN力の差により
、ノイズの影+′11を小窩〈シてガスの測定、検知を
することができる。
本発明のガスセンリは、酸素、−酸化炭素、アルコール
、炭化水素、水分などの<4 III測定及びそれに基
づくガス濃度の制(j(Iに利用ノーることかできる。
、炭化水素、水分などの<4 III測定及びそれに基
づくガス濃度の制(j(Iに利用ノーることかできる。
(5) 図面及び実施例の説明
本発明の代表的実施例を示す第2図ないし第4図におい
゛t、−rルミナセラミック基板l上基板山上ヘースト
を印刷し、1ooop以」二でll′、fK13oO〜
l 400 [で廃刊に)゛C1白金電極2,2′を形
成する。その電極にまたがるように、l)型ペロブスカ
イト複合酸化物の粉末(200〜2000人)をプラズ
マ溶射してp LllQペロブスカイト層3を形成する
。溶射に先立って、基板i 600 t:;以上11′
七に7 (l 011;〜1400tTに予熱しておく
と、密着力の強い溶射層が得られる。
゛t、−rルミナセラミック基板l上基板山上ヘースト
を印刷し、1ooop以」二でll′、fK13oO〜
l 400 [で廃刊に)゛C1白金電極2,2′を形
成する。その電極にまたがるように、l)型ペロブスカ
イト複合酸化物の粉末(200〜2000人)をプラズ
マ溶射してp LllQペロブスカイト層3を形成する
。溶射に先立って、基板i 600 t:;以上11′
七に7 (l 011;〜1400tTに予熱しておく
と、密着力の強い溶射層が得られる。
溶射層の厚さは数μ口1で、顕微鏡で観察すると微細な
りラックが無数存在していることがわかる。
りラックが無数存在していることがわかる。
更に、粒径数1口n以下のアルミナ粉末をプラズマ溶射
して、通気性の無機絶縁膜4をp型ペロブスカイト1す
4上に形成する。この絶縁+1Aにも同様に微小なりラ
ックが存在する。
して、通気性の無機絶縁膜4をp型ペロブスカイト1す
4上に形成する。この絶縁+1Aにも同様に微小なりラ
ックが存在する。
次いで、Nll4VUs の飽和水溶液に上述のよう
にして得た複合fδ射膜を浸漬して乾燥後、空気中でI
oooc〜1400rで数分ないし数時間加熱してメタ
バナジン酸アンモニウノ、を分解すると共に酸化物にし
、溶射層に拡散する。これIcよって目的の感応利層が
得られる。
にして得た複合fδ射膜を浸漬して乾燥後、空気中でI
oooc〜1400rで数分ないし数時間加熱してメタ
バナジン酸アンモニウノ、を分解すると共に酸化物にし
、溶射層に拡散する。これIcよって目的の感応利層が
得られる。
tl’−2図(IにJ、’!(2図(a)(7)(11
1H#i図であり、上述のようにしてバナジウノ、化合
物の拡散が終ったあと、銀ロウ伺けにより)・トメ5に
ステンレス製のリード端子6を固着する。
1H#i図であり、上述のようにしてバナジウノ、化合
物の拡散が終ったあと、銀ロウ伺けにより)・トメ5に
ステンレス製のリード端子6を固着する。
第3図(a)及び0)) tj: 、上述のセンザ素体
において、−9のアルミナ基体の片面にpカー講ペロブ
スカイト層を他方の而に白金ヒータの抵抗膜7とそのi
+を極2“全形成し7、アルミナ・マグネシアスピネル
の溶射による通気性保膿膜8を形成したものである。
において、−9のアルミナ基体の片面にpカー講ペロブ
スカイト層を他方の而に白金ヒータの抵抗膜7とそのi
+を極2“全形成し7、アルミナ・マグネシアスピネル
の溶射による通気性保膿膜8を形成したものである。
第3図(a) 、 (1))に示Jガスセンリを用いる
と、例えば密閉された排気煙道などの低温のガスに対し
ても所期の感応特性を得ることができる。即ち、ヒータ
によってセンーリ′を加熱又e」、予熱rれば、低温で
も充分な感応特性を発揮することができる。
と、例えば密閉された排気煙道などの低温のガスに対し
ても所期の感応特性を得ることができる。即ち、ヒータ
によってセンーリ′を加熱又e」、予熱rれば、低温で
も充分な感応特性を発揮することができる。
ザーミスタケヒータの代りに形成すれば、ガス温度の検
知と制御に使うことができる。
知と制御に使うことができる。
第4図は、本発明のガスヒンザの取(□Jti’j:i
i’*の例を示す斜視図である。1llII熱性及び機
械的強度が要求される用途にtよ、第2図ないし第3図
に示ノーセンザ素体を金属フランジ11にマイカ板10
及び面j熱セメント9で固定Jる。フランジ11にしよ
取伺用穴12やビン13をもうk)る。なお、取付構造
やケースH1第4図に示すものの他、用途や目的により
任意に選択できる。
i’*の例を示す斜視図である。1llII熱性及び機
械的強度が要求される用途にtよ、第2図ないし第3図
に示ノーセンザ素体を金属フランジ11にマイカ板10
及び面j熱セメント9で固定Jる。フランジ11にしよ
取伺用穴12やビン13をもうk)る。なお、取付構造
やケースH1第4図に示すものの他、用途や目的により
任意に選択できる。
実施例1
(イ)感応拐粉末のル14製
LatU31629 g、 NIO747g、 、及び
NFUHCUs2376、g粉末ヲ」、<混合し、アル
ミノ°ルツボ中で火気中85(1〜950Cで約10時
間加熱後冷却し、純水で1−4)に6を浄した。残った
黒色のLaN to s 1tWl!45)末(約ZO
O〜2000 人11000gをメタバナジン酸アンモ
ニウムの飽和水溶液ltに加え、混合、乾燥して約90
0Cで数分間加熱し、更に135(l Uで数時間加熱
した後、微粉砕して、截白ないり、数千人のp型感応利
粉末を得た。
NFUHCUs2376、g粉末ヲ」、<混合し、アル
ミノ°ルツボ中で火気中85(1〜950Cで約10時
間加熱後冷却し、純水で1−4)に6を浄した。残った
黒色のLaN to s 1tWl!45)末(約ZO
O〜2000 人11000gをメタバナジン酸アンモ
ニウムの飽和水溶液ltに加え、混合、乾燥して約90
0Cで数分間加熱し、更に135(l Uで数時間加熱
した後、微粉砕して、截白ないり、数千人のp型感応利
粉末を得た。
(ロ)−lニ ン リ の訃!:I青
°アルミナ士ラミック基板(厚σ0.6 nnn )に
、電極形状に白金ベースl−ミスクリーン印刷L7、乾
燥後窒気中で約1 :l 5 (l Gで焼料りた。次
いで、」二記(イ)でA11l!1事°2した■)lζ
1島&応41粉末を、8001;に予熱した基板にプラ
ズマ溶射して、厚さ4μmの感応、1′/1層を形成し
た。
、電極形状に白金ベースl−ミスクリーン印刷L7、乾
燥後窒気中で約1 :l 5 (l Gで焼料りた。次
いで、」二記(イ)でA11l!1事°2した■)lζ
1島&応41粉末を、8001;に予熱した基板にプラ
ズマ溶射して、厚さ4μmの感応、1′/1層を形成し
た。
更に平均粒径()、5μIIIのアルミプ粉末有:プラ
ズマ溶射して厚さ5μm110通気性無機絶縁を形成し
た。次いで、白金電極に端子を銀ロウで固着し、第2図
のようなノノスセンリに1:)だ。
ズマ溶射して厚さ5μm110通気性無機絶縁を形成し
た。次いで、白金電極に端子を銀ロウで固着し、第2図
のようなノノスセンリに1:)だ。
実施例
“アルミナセラミック基板に、実b1−例1(ロ)と同
様の方法で白金111”、極を形成し、該上極間に実M
N3111(イ)で得たp型ペロブスカイト粉末(バナ
ジウムを拡散しないもの)をプラズマ溶射し一℃、埋さ
3μI11の感応利層を形成した。次いでその上に実施
例1(ロ)と同様にし7て厚さ5μmの通気性アルミナ
絶縁膜を形成した。これ6 NIL VOs 飽41
1水溶11!に1〜7回浸漬し−CNII4V(J3
kアルミナ絶縁膜及び感応月層に含躍し7た。1回の倉
浸毎に、七ン′リー素体を20〜1(目)Uで’i’l
I”4’ L/、5 D (1〜950CでNU、V
O,を分)管し、更に空気中で1250〜1380tr
で加熱拡散[2/辷。次いで、夾bfli tall
lと同様に、リード端子%:nつ伺りし7”Gガスセン
リを得た。
様の方法で白金111”、極を形成し、該上極間に実M
N3111(イ)で得たp型ペロブスカイト粉末(バナ
ジウムを拡散しないもの)をプラズマ溶射し一℃、埋さ
3μI11の感応利層を形成した。次いでその上に実施
例1(ロ)と同様にし7て厚さ5μmの通気性アルミナ
絶縁膜を形成した。これ6 NIL VOs 飽41
1水溶11!に1〜7回浸漬し−CNII4V(J3
kアルミナ絶縁膜及び感応月層に含躍し7た。1回の倉
浸毎に、七ン′リー素体を20〜1(目)Uで’i’l
I”4’ L/、5 D (1〜950CでNU、V
O,を分)管し、更に空気中で1250〜1380tr
で加熱拡散[2/辷。次いで、夾bfli tall
lと同様に、リード端子%:nつ伺りし7”Gガスセン
リを得た。
実施例
実施例1(ロ)と同様の方法で、アルミナセラミック基
板のハ面に白金′^を極を、他力の而に白金抵抗膜全形
成した。
板のハ面に白金′^を極を、他力の而に白金抵抗膜全形
成した。
白金111.極全形成した面に、実MII例1(イ)で
得たp型ペロブス力−fト粉末(バナジウム酸化物を拡
散しないもの)をプラズマ溶射し、次いで両1riiに
アルミナ微粉末ケ実施例1(ロ)と同様の方法で通気性
無機絶縁膜全形成した。
得たp型ペロブス力−fト粉末(バナジウム酸化物を拡
散しないもの)をプラズマ溶射し、次いで両1riiに
アルミナ微粉末ケ実施例1(ロ)と同様の方法で通気性
無機絶縁膜全形成した。
更に実施例2と同様の方法でNll 4 VU s
を含浸。
を含浸。
分解、拡散してから実施例1と同様にしてリード端子を
とりつけた。その後、結合部分にマイカ板全巻キ、スデ
ンレス興フランジに挿入して耐熱セメントで固着して第
4図に示すガスセンリーを得た。
とりつけた。その後、結合部分にマイカ板全巻キ、スデ
ンレス興フランジに挿入して耐熱セメントで固着して第
4図に示すガスセンリーを得た。
実施例4
実施例1と同様の方法で、アルミナセラミック基板の両
面に白金′電極を形成した後、片面に高温用゛リーミス
タベースト(サーミスタの組成しよ荷分11(157−
3202号公報記載のもの)を印刷、焼料りした。他力
の而に、実施例1で得たI) /〜リペロブス力イト粉
末(パナジウl−酸化物を含浸したもの)をプラズマ溶
射し、更に両面に実Mu例1と同様の方法でアルミナ絶
縁膜を形成した。
面に白金′電極を形成した後、片面に高温用゛リーミス
タベースト(サーミスタの組成しよ荷分11(157−
3202号公報記載のもの)を印刷、焼料りした。他力
の而に、実施例1で得たI) /〜リペロブス力イト粉
末(パナジウl−酸化物を含浸したもの)をプラズマ溶
射し、更に両面に実Mu例1と同様の方法でアルミナ絶
縁膜を形成した。
次いで実施例1と同様にしてリード1γ114子を形成
(1、実施例3ど同様&(−L”しスデンレス夷フラン
ジレ(、耐熱上メンl−C固定しfc。
(1、実施例3ど同様&(−L”しスデンレス夷フラン
ジレ(、耐熱上メンl−C固定しfc。
以上の、Lうにし°L得たガスセン′すの種々のIF!
3′(り一を測定した。これ4以下図而に1つ一〇説明
・ノーる。
3′(り一を測定した。これ4以下図而に1つ一〇説明
・ノーる。
(n) デー IJング効果の減殺につい−C実6(
i−倒2で得たガスセンーリについ−し、Nl(*V(
Js溶l浅の含浸、拡ハ(回数が、テーリング効果の減
殺にどう影響するかケ検削した。
i−倒2で得たガスセンーリについ−し、Nl(*V(
Js溶l浅の含浸、拡ハ(回数が、テーリング効果の減
殺にどう影響するかケ検削した。
第5図id、二次空気の存在するバーナーでプロパン0
.4t/分と架気107/分又は7t/分の混合物の燃
焼炎中での71スセンリ゛の抵抗値の変化を示すもので
ある。
.4t/分と架気107/分又は7t/分の混合物の燃
焼炎中での71スセンリ゛の抵抗値の変化を示すもので
ある。
図において、t、まではプロパン0.4t/分に対し空
気1011分(完全燃焼域)にした炎中での抵抗値であ
る。+1から1.まで(30分間)は、プロパン0.4
t1分にえ」し空気f:、71−/分にした炎中での[
(抗値で、電、以降t」、空気1ctoz/分にした炎
中での抵抗値である。
気1011分(完全燃焼域)にした炎中での抵抗値であ
る。+1から1.まで(30分間)は、プロパン0.4
t1分にえ」し空気f:、71−/分にした炎中での[
(抗値で、電、以降t」、空気1ctoz/分にした炎
中での抵抗値である。
図中A 、 A ’ tJ: J、aN I Q s
tプラズマ溶射で形成したもので、バナジウム化合物を
拡散しない他ば、実b1(1例のガスセンナと同じであ
l)、。
tプラズマ溶射で形成したもので、バナジウム化合物を
拡散しない他ば、実b1(1例のガスセンナと同じであ
l)、。
i(,13’ン」、実hイ(例2においてN、l(、、
V O,溶液を1回含lu、拡散した場合、C、C’
k、J:Nil 4V Os溶液を3回合U、拡散した
。協会、JJ、J、)’tよ5回、L )V tJ、7
回含浸、拡散した場合の%性を示す。
V O,溶液を1回含lu、拡散した場合、C、C’
k、J:Nil 4V Os溶液を3回合U、拡散した
。協会、JJ、J、)’tよ5回、L )V tJ、7
回含浸、拡散した場合の%性を示す。
仁れらの・1乙ンザtよ、完全燃焼域(’+ まで)
eよ11ぐΩの抵抗値を示し同−勃性を示ず。そし”C
1空気’i 717分に変化させると、数ミ+)秒(Δ
t)の以内に約1.01 KΩに変化する。これは、溶
射によるべ[17゛スカイト膜が非宮に応答性がよいこ
とを示す−1+すである。
eよ11ぐΩの抵抗値を示し同−勃性を示ず。そし”C
1空気’i 717分に変化させると、数ミ+)秒(Δ
t)の以内に約1.01 KΩに変化する。これは、溶
射によるべ[17゛スカイト膜が非宮に応答性がよいこ
とを示す−1+すである。
しかし、この不完全燃焼域(’+ ’t)にセン°
すff、置くと、燃焼条件の変化がないのに、バナジウ
ム化合物の拡散の有無及び拡散回数によ−)1、抵抗値
が上昇したり、低下したり、あるいt」、全く変化しな
いものがある。
すff、置くと、燃焼条件の変化がないのに、バナジウ
ム化合物の拡散の有無及び拡散回数によ−)1、抵抗値
が上昇したり、低下したり、あるいt」、全く変化しな
いものがある。
バナジウム化合物を全く添加しないものは、tlかも1
2までの間に、抵抗値1」、著しく増加(曲、%!A)
する。
2までの間に、抵抗値1」、著しく増加(曲、%!A)
する。
バナジウム化合物を添加したもの(1回含浸。
拡14’(Hま、t、t’rの間ニ約110 K Ω(
ItlUj13 )になり、3回含浸、拡tri t、
たものは約105 KΩ(曲線C)に〃る。とこイ)が
5回含浸したものeよ、約101 KΩ(lll線1)
)で不変である。
ItlUj13 )になり、3回含浸、拡tri t、
たものは約105 KΩ(曲線C)に〃る。とこイ)が
5回含浸したものeよ、約101 KΩ(lll線1)
)で不変である。
これに対し7回急に+拡散し/(、もの(,11、約8
0I(Ωに低下する(曲線l・])。
0I(Ωに低下する(曲線l・])。
1、において、空気bJ會書び10/、/分に戻すと、
バナジウム化合物な拡販しないものシま抵抗111jが
低下しく曲線A′ )、以下パナジウノ・化合物の拡散
回数に応じ一〇曲線13′2曲線C′のように低Fする
。ところがパナジウノ・化合物を5回拡散したものは、
直ちに元のI■(Ωに戻り、以(&変化しない(直線D
’ )。また含浸拡散回数が多いもの1よ、初めに0.
9 KΩとなり、徐々にl KΩに復帰する。
バナジウム化合物な拡販しないものシま抵抗111jが
低下しく曲線A′ )、以下パナジウノ・化合物の拡散
回数に応じ一〇曲線13′2曲線C′のように低Fする
。ところがパナジウノ・化合物を5回拡散したものは、
直ちに元のI■(Ωに戻り、以(&変化しない(直線D
’ )。また含浸拡散回数が多いもの1よ、初めに0.
9 KΩとなり、徐々にl KΩに復帰する。
以」二のことから、パリ・ジウノ・化合物の拡散を行う
と、拡散をしない場合に比べ“しう゛−リング効果を減
少下)せ、あるいケ」、除去することができる。
と、拡散をしない場合に比べ“しう゛−リング効果を減
少下)せ、あるいケ」、除去することができる。
(1))耐久性
実施例21い17実lAl1例4でイl)たガスセン゛
す゛にりいて、各種耐久テストを行なった。その結果を
第6図(a)〜(C)に示J゛。
す゛にりいて、各種耐久テストを行なった。その結果を
第6図(a)〜(C)に示J゛。
実験1(耐久ル−ツ、テスト)
プ1コハンを0.4t/分に一定し、空気11を(3〜
13/、/分に変化し、900〜1100υの炎中で抵
抗値の初期値、40時間後、80時間後及び500時間
後の値會測定した。
13/、/分に変化し、900〜1100υの炎中で抵
抗値の初期値、40時間後、80時間後及び500時間
後の値會測定した。
第6図(a)に示すように、本発明のガスセン・すは抵
抗値の経時変化が非富に小さいことがわかる。
抗値の経時変化が非富に小さいことがわかる。
実験2(耐熱°リイクルテスト)
380Ud1050tl’ (1サイクル#J、約5分
間)での耐熱り・rクルテストを実施した。燃焼条件は
上記実験lと同じである。抵抗値t、初期値、1250
゛リーfクル後、2500′vイクル後、5000す゛
・fクル後に測定した。5000サイクル後も抵抗値の
変化tよ非富に小さいことが第6図(1))により明ら
かである。
間)での耐熱り・rクルテストを実施した。燃焼条件は
上記実験lと同じである。抵抗値t、初期値、1250
゛リーfクル後、2500′vイクル後、5000す゛
・fクル後に測定した。5000サイクル後も抵抗値の
変化tよ非富に小さいことが第6図(1))により明ら
かである。
実験3(耐熱性テス]・)
1000〜1oaocの空気中でセンサを加熱して、抵
抗値’(r 1111定したが、第6図(C)に示すよ
うに、10000時間加熱久も抵抗IIAの変1ヒが非
常に小さい。
抗値’(r 1111定したが、第6図(C)に示すよ
うに、10000時間加熱久も抵抗IIAの変1ヒが非
常に小さい。
上1;己実験l及び2におい′C1小完全燃焼域では黒
ヒン゛す表面にカーボンが我里に句着したが、そのため
のテーリング効果)、’l認められ〃がっ/こ。
のテーリング効果)、’l認められ〃がっ/こ。
実験4(不完全燃焼テスト)
実施ド−!I l−c’得た士ンリについ=C、プロパ
ン0,4t/分に対し7空気%、6t/分以ト止でダf
しさぜ、その抵抗値変化全測定したところ第7図の結果
を得た。
ン0,4t/分に対し7空気%、6t/分以ト止でダf
しさぜ、その抵抗値変化全測定したところ第7図の結果
を得た。
通常の燃93%で空気/ノ゛l’+パンの谷h1比が1
5以下になることt」、ないが、−1−れ1−駆〕よっ
な燃す尭及びノー11當の燃焼をしたところ、過+J3
−のカーボッ1j着状IBMからjE′畠l状態に戻゛
ノ空燃比にょっ又、異なっフL抵抗値変化を示すことが
第7図かられかる。
5以下になることt」、ないが、−1−れ1−駆〕よっ
な燃す尭及びノー11當の燃焼をしたところ、過+J3
−のカーボッ1j着状IBMからjE′畠l状態に戻゛
ノ空燃比にょっ又、異なっフL抵抗値変化を示すことが
第7図かられかる。
即ら、gと;2I、 FIL 5の信;ヅ尭炎中に−1
−ン゛す゛を置き、空気糺會増やすとする。、空気mL
5.4から1F、當な燃焼に戻ずど、抵抗値(よ曲線
Qの軌跡tたどっ−C変化する。
−ン゛す゛を置き、空気糺會増やすとする。、空気mL
5.4から1F、當な燃焼に戻ずど、抵抗値(よ曲線
Qの軌跡tたどっ−C変化する。
同様に、空気量が5.6のときV」2曲線1)、空気量
5.7ノときe」、曲1tJj! N、空気1j 5.
75(7) (’: % ItJ、曲線Δ1、空気M5
.8のとき目、曲線り、!2気1往す、85のときeユ
曲曲線く、空気量5,86のときt」、曲線J、空気級
5.87のと@は曲線II、空気県5.88のときは曲
線O,墾気に6のときt」、曲線jパである。このJ:
′)fx、特性から、本発明のガスセンサ1」1、過度
ニ空気不足の燃焼状態でも、コj涌1i(LIに燃焼状
ル11を検知することができる。
5.7ノときe」、曲1tJj! N、空気1j 5.
75(7) (’: % ItJ、曲線Δ1、空気M5
.8のとき目、曲線り、!2気1往す、85のときeユ
曲曲線く、空気量5,86のときt」、曲線J、空気級
5.87のと@は曲線II、空気県5.88のときは曲
線O,墾気に6のときt」、曲線jパである。このJ:
′)fx、特性から、本発明のガスセンサ1」1、過度
ニ空気不足の燃焼状態でも、コj涌1i(LIに燃焼状
ル11を検知することができる。
実施例5
v!:Mli (+す4 〕IW、Tuft リーミス
タル4に代工′(,5ilo。
タル4に代工′(,5ilo。
膜を形成した。第8図(a)は上6cのようにして得た
−1−ンリーの等価回路図である。第8図(8)のJ(
、、。
−1−ンリーの等価回路図である。第8図(8)のJ(
、、。
[L、ケ101<Ωにしたとき及びI(、、を10(月
ぐΩにしたときのル−ツ・内での起′rljカを(測定
したところ、第8図(l〕)の結果を得た。なおりレー
ノ、に対しξシ」、二次空気のbIL人力向(ル−ツ・
の中心へ向う方向)と?L3.極が並行となるように、
センν゛を配lべした。
ぐΩにしたときのル−ツ・内での起′rljカを(測定
したところ、第8図(l〕)の結果を得た。なおりレー
ノ、に対しξシ」、二次空気のbIL人力向(ル−ツ・
の中心へ向う方向)と?L3.極が並行となるように、
センν゛を配lべした。
第8図(i〕)から明らかなように、p型感応4Aと口
型感応利を組合せれば、その相乗作用で起′tlt力の
大@lセンリ′t−看る仁とができ、回路内のノイXに
よるエラーの少ないu111定又&J、検知がでへる。
型感応利を組合せれば、その相乗作用で起′tlt力の
大@lセンリ′t−看る仁とができ、回路内のノイXに
よるエラーの少ないu111定又&J、検知がでへる。
実施例6
実施例1と同様に、LaN1(Jsの感応椙粉末ケ製造
した。この感応44に対し、N1)CLa及び’rRe
CI−14を単独で0.5〜3%の範囲で添加混合し
、上記添jJII物の分W(温度以上で熱処理後、10
00U、50時間の拡散処理をイjなった。これらの粉
末會実6fIIl+IJ tと同様に白金導体をもうけ
た°アルミナ基板」二にプラズマ溶射した。被膜の厚さ
tよ5〜10μ川である。その後M応素子をグロノシ゛
φ /燃焼炭中で試験したところ、ツーリング効果音顕著に
防止できることが認めら)1だ。
した。この感応44に対し、N1)CLa及び’rRe
CI−14を単独で0.5〜3%の範囲で添加混合し
、上記添jJII物の分W(温度以上で熱処理後、10
00U、50時間の拡散処理をイjなった。これらの粉
末會実6fIIl+IJ tと同様に白金導体をもうけ
た°アルミナ基板」二にプラズマ溶射した。被膜の厚さ
tよ5〜10μ川である。その後M応素子をグロノシ゛
φ /燃焼炭中で試験したところ、ツーリング効果音顕著に
防止できることが認めら)1だ。
(6)発明の効果
本発明しよれば、燃焼状態など測定対象のガス組成の変
化による感応利の経時変化又t」、テーリング効果の少
ないガスセン・す゛を11ることができ、信頼性の高い
測定、検知、制6111を行うことができる0
化による感応利の経時変化又t」、テーリング効果の少
ないガスセン・す゛を11ることができ、信頼性の高い
測定、検知、制6111を行うことができる0
tn1図kJ: 、従来のp型ペロブスカイト使用ガス
センザの抵抗値答:化と空燃比変化との関係を示すグラ
フ、第2図(a)tよ本発明の一実施例によるガスセン
サ°の要部114造を示す断面斜視図、第2図(13)
IJその側11ri iI、li而面図第3図(a)は
本発明の他の実施例によるガスセン−リ′の平面図、第
3図(13) t;1.’その反対・側の平1rIi図
、第4図は更に他の実施1シリによるガスセン゛す゛の
斜視図、第5図は本発明の一実IA例によるガスセンサ
と公知のガスセンサの特性を示すグラフ、第6図(n)
、 (+3) 、及び(C) tユそれぞれ本発明に
よるガスセンサの耐久フレームテスト、耐熱・す゛イク
ルデスト及び耐熱テスト結果を示J゛グラノ、第7図は
本発明の−・実施例によるガスセンサの特性を示−Jグ
ラフ、第8図(a)は他の実施例に上る複合ガスヒンジ
゛の等filli回路図、及び第8図(1)ンは第8図
(a)のガスセン・す゛のl+’、s性を示すグラフで
ある。 l・・・アルミナ基板、2・・・白金電極、3・・・I
)型感応利、4・・・固気性無機絶縁膜、5・・・ハト
メ、6・・・リード端子、7・・・白金ヒータ抵抗膜。 第 2 目 (0−) (6) 第 3 図 第 4 凹 12ど も 、′) 腸 第 乙 目 (0−) 堂負量(些今9 第 b 目 9矢!−(偽り 第 b 口 工A z (ρh)
センザの抵抗値答:化と空燃比変化との関係を示すグラ
フ、第2図(a)tよ本発明の一実施例によるガスセン
サ°の要部114造を示す断面斜視図、第2図(13)
IJその側11ri iI、li而面図第3図(a)は
本発明の他の実施例によるガスセン−リ′の平面図、第
3図(13) t;1.’その反対・側の平1rIi図
、第4図は更に他の実施1シリによるガスセン゛す゛の
斜視図、第5図は本発明の一実IA例によるガスセンサ
と公知のガスセンサの特性を示すグラフ、第6図(n)
、 (+3) 、及び(C) tユそれぞれ本発明に
よるガスセンサの耐久フレームテスト、耐熱・す゛イク
ルデスト及び耐熱テスト結果を示J゛グラノ、第7図は
本発明の−・実施例によるガスセンサの特性を示−Jグ
ラフ、第8図(a)は他の実施例に上る複合ガスヒンジ
゛の等filli回路図、及び第8図(1)ンは第8図
(a)のガスセン・す゛のl+’、s性を示すグラフで
ある。 l・・・アルミナ基板、2・・・白金電極、3・・・I
)型感応利、4・・・固気性無機絶縁膜、5・・・ハト
メ、6・・・リード端子、7・・・白金ヒータ抵抗膜。 第 2 目 (0−) (6) 第 3 図 第 4 凹 12ど も 、′) 腸 第 乙 目 (0−) 堂負量(些今9 第 b 目 9矢!−(偽り 第 b 口 工A z (ρh)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電気絶縁性基体上に形成された感応拐層と、該感応
月層に電気的に接続した電極とを有するものにおいて、
該感応材層がペロブスカイト型の結晶構造を有するp型
の複合酸化物事4体を主成分とし、バナジウム、ニオブ
及びタンタル又はそれらの化合物の1種以上を小成分と
する均一混合物の多孔質膜からなることを特徴とするガ
スセンサ。 2、上記感応材層が、プラズマ溶射膜であることを特徴
とする特rl′請求の範囲第1項記載のガスセンサ。 3、上記感応利層が、上記複合酸化物半導体のプラズマ
溶射膜に上記小成分の少なくとも一部が拡散されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のガスセン
サ。 4、上記感応拐層を覆り荊気性無機絶縁膜を形成したこ
とを特徴とするl時打請求の範囲第1項ないし第3項の
いずれかに記載のガスセンサ。 5、前t+e基体上に、上記感応H層とその′111i
i!8ならびに抵抗膜を有するヒータとその電極を形成
したことを特徴とする特許請求のRITy、 v11第
1項ないし第4項のいずれかに記載のガスセンッ。 6、前記基体上に、サーミスタ膜とその’に4’4+
1:、 ラびに前記感応材1−とその電極を形成したこ
とを特徴とする特rr請求の範囲第1項ないし第4項の
いずれかに記載のガスセンサ。 7、電気絶縁性基体上に所定の電極膜及び該電極膜に電
気的に接続するようにペロブスカイト構造余有するp型
複合酸化物半涛体の多孔質層を形成し、次いで該多孔質
層にバナジウム、ニオブ又はタンタルの化合物溶液を含
浸し、該含浸体を加熱して該化合物を分解して感応材層
を形成することを特徴とするガスセンサの製造法。 8、上記複合酸化物半導体の多孔質層をプラズマ溶射に
より形成することを特徴とする特許61I¥求の範囲第
7項記載のガスセンサの製造法。 9、上記複合酸化物半導体にバナジウム、ニオブ又はタ
ンタルの化合物溶液を含浸し、核化合物を分解し1得た
感応性Ihの粉末な前記基板上に密着し1多孔賀感応−
1−4層を形成することをth徴とするl特許請求の範
囲第7項記、IVのガスセン・す°の製造法。 10、前記感応材層を形成した後、該感応拐層を被覆す
る辿気注無1’AJ M’3縁膜を形成したことを11
)徴とする特許請求の範囲第9項記載のガスセンサの製
造法。 11、前記複合酸化物半導体のプラズマ溶射層を形成し
た後、該%射)iff被覆」゛る通気性無(1絶縁膜を
形成し、該絶縁膜を介して前記化合物溶液を該溶射層に
含dし、次いで該化合′吻を7JII熱分解して拡散す
ることをl[¥Nuする特許請求の範囲第7項記載のガ
スセンサの製造法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57136244A JPS5927253A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | ガスセンサおよびその製造法 |
| CA000433479A CA1199064A (en) | 1982-08-06 | 1983-07-28 | Semiconductor compound oxide gas sensor of perovskite structure |
| US06/518,110 US4507643A (en) | 1982-08-06 | 1983-07-28 | Gas sensor with improved perovskite type material |
| DE8383304480T DE3375213D1 (en) | 1982-08-06 | 1983-08-03 | Gas sensor |
| EP83304480A EP0101249B1 (en) | 1982-08-06 | 1983-08-03 | Gas sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57136244A JPS5927253A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | ガスセンサおよびその製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5927253A true JPS5927253A (ja) | 1984-02-13 |
| JPS6155061B2 JPS6155061B2 (ja) | 1986-11-26 |
Family
ID=15170651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57136244A Granted JPS5927253A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | ガスセンサおよびその製造法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4507643A (ja) |
| EP (1) | EP0101249B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5927253A (ja) |
| CA (1) | CA1199064A (ja) |
| DE (1) | DE3375213D1 (ja) |
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-
1983
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