JPS5928247B2 - 波長自動選定装置 - Google Patents

波長自動選定装置

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Publication number
JPS5928247B2
JPS5928247B2 JP14977576A JP14977576A JPS5928247B2 JP S5928247 B2 JPS5928247 B2 JP S5928247B2 JP 14977576 A JP14977576 A JP 14977576A JP 14977576 A JP14977576 A JP 14977576A JP S5928247 B2 JPS5928247 B2 JP S5928247B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotary table
diffraction grating
computer
rotation
pulse motor
Prior art date
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Expired
Application number
JP14977576A
Other languages
English (en)
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JPS5374488A (en
Inventor
利章 松本
守 井上
昭夫 橋本
紀行 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Original Assignee
Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd filed Critical Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
Priority to JP14977576A priority Critical patent/JPS5928247B2/ja
Publication of JPS5374488A publication Critical patent/JPS5374488A/ja
Publication of JPS5928247B2 publication Critical patent/JPS5928247B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は波長自動選定装置に係り、特に原子吸光分析装
置に適用して効果のある波長自動選定装置に関するもの
である。
一般に原子吸光分析装置においては1900〜9000
Aの範囲の波長が分析できるように構成されており、回
折格子を分析手段として使用し、この回折格子を角度で
約500回転させることにより前記波長範囲をカバーし
ている。
従つて回折格子の角度選定には高精度が必要である。従
来はこの回折格子の角度選定にあたつては求める波長近
傍にまで回折格子を回転させておき、検出器からの出力
を視認しつつ操作ハンドルを手で回転させることにより
回折格子の角度を微調整することによつて検出器から得
られる出力の最大ピーク位置を検出すると言う方法を採
用していた。しかし、このような方法は極めて繁雑であ
り、分析すべき物質が多種類に及ぶときはこの繁雑さ’
は極端なものとなり、時間的にも、労力的にも不都合
であつた。
本発明は以上の点に鑑み、このような問題を解決すると
共にかかる欠点を除去すべくなされたもので、その目的
は簡単な構成によつて測定すべき門 波長を自動的にか
つ極めて高精度に、選定することができ、原子吸光分光
分析装置による物質分析の自動化に大きく貢献し、遠隔
分析をも完全に行うことができる波長自動選定装置を提
供することにある。
フ このような目的を達成するため、本発明は、中心に
回折格子を垂直に固定した回転テーブルの歯車に噛合し
電算機によつて回転制御されるパルスモータと、上記回
転テーブルの回転を検出しその出力を上記電算機に入力
するポテンショメータと、5 上記回折格子よりの光を
受けてスペクトル域でそのスペクトルを識別できる感度
の受光器と、上記回折格子によつて分解されたスペクト
ル中の特定の吸1戊線または輝線を検出し電気信号に変
換して上記電算機に入力させる検出器とを備え、上記検
出器によつて得られた上記回転テーブルの回転角度を上
記パルスモータにフイードバツクせしめ、上記回転テー
ブルの回転角度をスペクトル位置に合わせ得るようにし
たものである。
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に説明する。
図は本発明の一実施例の概略を示す構成図で、説明に必
要な部分のみを示す。
図において、符号1で示すものは回転テーブル(以下、
ターンテーブルと呼称する)で、その外周面には歯車2
が形成されている。
このターンテーブル1の歯車2には波長検出用のパルス
モータ3および多回転の波長検出用のポテンシヨメータ
4の回転軸に取付けられた歯車が噛合している。そして
、ターンテーブル1の中央部には回折格子5が固定され
ている。一方、符号6で示すものは装置筐体で、この装
置筐体6の一部に穿設された開口部7から装置筐体内に
入射された光線8は凹面反射鏡9によつて平行光線束と
され、回折格子5に入射し、所定の分解能を持つ回折格
子5によつてスペクトルに分解され、もう1つの凹面反
射鏡10に入射される。
ここで、この凹面反射鏡10は上記回折格子5よりの光
を受けてスペクトル域でそのスペクトルを識別できる感
度の受光器を構成している。こQ凹面反射鏡10によつ
て平行光線束とされたスペクトルはスリツト11を通つ
て検出器12によつて受光される。この検出器12はス
ペクトル中の吸収線の存在を光の濃淡によつて検出し、
これを電圧値に変換して電気信号とし、増幅器13に人
力する。増幅器13によつて増幅された検出器12から
の出力は指示計14に入力されて出力状態が視認できる
ように構成してある。
また、増幅器13によつて増幅された検出器12の出力
信号は変換器15にも入力され、各種情報の計算を行う
電算機16に入力できる電気信号に変換される。
この変換器15にはポテンシヨメータ4からの出力信号
も入力され、電算機16に入力される。一方、電算機1
6からの制御信号は変換器15を介してパルスモータ3
にフイードバツクされるように構成されている。
つぎに、以上のように構成された本実施例の動作につき
説明する。
まず、前程として、以上のように構成された本実施例に
おいてはターンテーブル1の回転角度、すなわち回折格
子の回転角度とポテンシヨメータ4の出力はあらかじめ
対応するように定められている。
従つて、ポテンシヨメータ4からの出力によつて現在ど
の物質に対応する波長を測定しているのかどうかが明確
に判定できるように構成されている。たとえば、いま銀
の分析線を測定しようとする場合、その吸収線は328
0.7λと3282.8λの位置に表われることがわか
つている。
そこで、電算機16からの制御信号によつてパルスモー
タ3を回転させてターンテーブル1、すなわち回折格子
5を回転させ、回折格子5が銀の吸収線を検出する位置
まで到らせる。目的とする位置、すなわち銀の吸収線に
対応する位置にあるかどうかはポテンシヨメータ4の出
力によつて検出できるため、その相当出力位置にまでタ
ーンテーブル1が回転すると電算機16からの制御信号
によつてパルスモータ3の回転は停止され、ターンテー
ブル1の回転も停止する。一方、電算機16には検出器
12から出力信号が入力されるため回折格子5の回転位
置が正しく銀の吸収線を検出しているかどうかが判定さ
れ、正しい位置、すなわち検出器12の出力信号がピー
ク位置にあるかどうかが判定される。
そこで、その判定結果が正しい位置にないことが明らか
となれば電算機16からはパルスモータ3に対し正転ま
たは逆転の制御信号を与えターンテーブルを回転させ、
回折格子5を正しい位置に回転させる。そして、その吸
収状態によつて銀なら銀という物質の含有率を測定する
わけである。以上の説明から明らかなように本発明によ
れば、回折格子よりの光を受けてスペクトル域でそのス
ベクトルを識別できる感度の受光器を設け、かつ電算機
からの信号によつて回転制御がなされるパルスモータに
よつて回転されるターンテーブル上に回折格子を位置さ
せ、このターンテーブルの回転角度をポテンシヨメータ
によつて検出して電算機に入力させ、回折格子によつて
回折されれスベクトル中から吸収線を検出する検出器か
らの出力信号を電算機に入力し、前記ポテンシヨメータ
からの出力信号と比較することにより、パルスモータに
対して微調整のための回転指命をフイードバツクするよ
うに構成されているため、測定すべき波長を自動的に選
定することができ、原子吸光分光分析装置による物質分
析の自動化に大きく貢献し、遠隔分析をも完全に可能に
するなどの優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例の慨略を示す構成図である。 1・・・・・・ターンテーブル、2・・・・・・歯車、
3・・・・・・パルスモータ、4・・・・・・ポテンシ
ヨメータ、5・・・・・・回折格子、6・・・・・・装
置筐体、7・・・・・・開口部、8・・・・・・光線、
9,10・・・・・・凹面反射鏡、11・・・・・・ス
リツト、12・・・・・・検出器、13・・・・・・増
幅器、14・・・・・・指示計、15;・・・・・変換
器、16・・・・・・電算機。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 中心に回転格子を垂直に固定した回転テーブルの回
    転角度を各波長の屈折角に対応させてこの回転テーブル
    を廻すことにより波長を選定する装置において、前記回
    転テーブルの歯車に噛合し電算機によつて回転制御され
    るパルスモータと、前記回転テーブルの回転を検出しそ
    の出力を前記電算機に入力するポテンショメータと、前
    記回折格子よりの光を受けてスペクトル域でそのスペク
    トルを識別できる感度の受光器と、前記回折格子によつ
    て分解されたスペクトル中の特定の吸収線または輝線を
    検出し電気信号に変換して前記電算機に入力させる検出
    器とを備え、前記検出器によつて得られた前記回転テー
    ブルの回転角度を前記パルスモータにフィードバックせ
    しめ、前記回転テーブルの回転角度をスペクトル位置に
    合わせ得るようにしたことを特徴とする波長自動選定装
    置。
JP14977576A 1976-12-15 1976-12-15 波長自動選定装置 Expired JPS5928247B2 (ja)

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JP14977576A JPS5928247B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 波長自動選定装置

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JP14977576A JPS5928247B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 波長自動選定装置

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Publication Number Publication Date
JPS5374488A JPS5374488A (en) 1978-07-01
JPS5928247B2 true JPS5928247B2 (ja) 1984-07-11

Family

ID=15482447

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JP14977576A Expired JPS5928247B2 (ja) 1976-12-15 1976-12-15 波長自動選定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0544711U (ja) * 1991-11-21 1993-06-15 株式会社アイチコーポレーシヨン 作業車のバツテリパワーユニツト

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4318616A (en) * 1980-03-07 1982-03-09 The Perkin-Elmer Corporation Manual wavelength adjustment for a microprocessor based spectrophotometer
JPS57153226A (en) * 1981-03-18 1982-09-21 Hitachi Ltd Spectrophotometer
GB2113830B (en) * 1982-01-19 1985-05-01 Philips Electronic Associated Optimising operation of atomic spectrophotometers
JPS59120844A (ja) * 1982-12-27 1984-07-12 Shimadzu Corp 分光分析装置
JPH07122594B2 (ja) * 1986-12-27 1995-12-25 株式会社島津製作所 分光光度計
JPH01118729A (ja) * 1988-09-14 1989-05-11 Trguv Magnusson Harcon Jr サンプルの分光分析方法及び分光光度計
JP2737263B2 (ja) * 1989-06-29 1998-04-08 株式会社島津製作所 原子吸光分光光度計

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0544711U (ja) * 1991-11-21 1993-06-15 株式会社アイチコーポレーシヨン 作業車のバツテリパワーユニツト

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JPS5374488A (en) 1978-07-01

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