JPS5931439A - 螢光x線分析用ガラスビード標準試料の作成方法 - Google Patents

螢光x線分析用ガラスビード標準試料の作成方法

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JPS5931439A
JPS5931439A JP57141861A JP14186182A JPS5931439A JP S5931439 A JPS5931439 A JP S5931439A JP 57141861 A JP57141861 A JP 57141861A JP 14186182 A JP14186182 A JP 14186182A JP S5931439 A JPS5931439 A JP S5931439A
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/2202Preparing specimens therefor

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  • Pathology (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
本発明V、1螢光X線分析用標j■試料の作成方法に係
り、特に粉状鉱物類および酸化物系粉状試料などの分析
VC好適なυiil“1ガラスビ一ト螢光Xi分析方法
ItC供嘔れる標準試料の作成方法υこ関するものであ
る1、 螢″/l、X線分析法t、1、試料にX線を照射(1,
試料中の各元素を励起してそれぞれの螢光X、ili、
iヶ発生はせ、その螢光X線の強就から試料中に含−ま
れている元素(又にその化合物)の分析を行なうもので
ある、 しかして近年、鉱石類、スラグ類、フラックス類、レン
ガ類などの粉状鉱物類および各tlii酸化物系粉状試
料を螢光X線分析法で分析”するための試料調製方法と
して、一定置の試料に一足Mの融)ψγ剤(Na、B、
U、 、 Li、B2O,など)を加えて加熱溶融17
、均一な溶湯としたのち冷却固化さ1!:てガラスビー
ドとするというカラスビルド法が注目’g ;)1.−
’r−いる。 このガサスピード法に、迅速性11しでいる螢光x7分
析法を壱効VC活用するためのものであり。 試料を微粉砕1.て加圧成形1−るブリフット法に比べ
て、鉱物学的な偏析、試料の粒就および粒度分布、加圧
条件、標準試料の経時変化などの影響が軽減ないしは解
消されるので分析鞘度が大幅に改善でき、このためにあ
らゆる分野で広く採用恣れている。 しかし々から、このカラスビード法は一般には。 多量に用意できる試料勿対象にしているものであって、
試料05〜1.Of、融解剤4〜15fの割合でガラス
ビード全作JJK I−ており、抽出きれた非金属介在
物のようrC叔l−rh/程度
【7かとれない試料に適
用するのは容易で01ない。 通常、イに光X純分JJi法で分析する7こめの、1&
当な形状のガラスピ=−ドを作成するためには、試料と
融解剤の合h′iが約47以1−心安であり、J−jボ
のような試料用が数十my程度の倣l武になると、融解
剤による痛釈率が1・d大して螢光X線強度が弱くなる
。 あるいv1標準試料ケ梢友、1 <作成するのが著b 
<困難になる1等の問題が生じてくる。 前者の問題についてはX膨強(W含・増太芒せることが
可能な装置が開発さ)またことlri’Tより解決され
つつあるが、後者の問題が残きれている。 しかして後者の問題点ケ評述すれは次の通りである。一
般に螢光X線による定11分析は、標準試料と分析試料
のスペクトル勝のり虫度を・比較するととV(よって行
なわ)するので、標準値(分析値又は標準成分の含南量
)既知の標準試料を必渋とする。 したがって標準試料とするには各元系のL;;準(ll
′!6・決定するための化学分析々どが必須であり、ぞ
tl。 ら各元素の分析分するためには当然多鼠の試料を璧する
。ところが上述のような数十〃l程度しか々い試料では
到底各元素の標準値?f決定することン[できない。 このため1.IC1試築ケ合成して標準試料を作成り。 測定対象元素(又はその化合物)の濃度とスペクトル線
強度との検叶線を求めて分析する方法が考えられる し
かしこの検討h−+求めるI/C除し、試料採取値が#
値である場合にitこれk(あわせて極微量の試薬h■
゛仏V(杵警して標準試料を作成する必要が生ずるがこ
れLi著しく困難であって、秤は誤差が太きくなる。い
擾かりに3011I!1′程1及の微り士しか採取でき
ない試料を分析しようとした場合、測定対象元素紮ざむ
試2s全直接杵肘1.て佇f■試料を作成するに除し、
測定対象元素の自治率が01%のときはその試薬を0.
03 ”’/ 、また0、(11%では0.(103’
Wk正確に杵り取る必要があり、このような極イ)′ν
尾を秤琺すると、秤i−誤差が大きくなって正確な分析
はできない、。 さらに−また5分析試料と同じ種類の標準試料を用いて
検1,1勝法゛で分析する場合pc、 t、r 、試料
の種類別に多数の標準試料を・準備しなけノLはならな
いという不便さがある。 本発明の目的にこのような従来技術の問題点を・M 消
L 、 採取t]1が做!′1′h試料についてもiE
 確kc ’Jk元X線汁析が行なえると」(に、その
作業も容易な螢光X綜分析用標準試1の作+jM方法(
]−提供することにある。 本発明の方法は、出l解Allと1illl定対象ノ巳
素を邑゛む試薬とをこの試薬の昔イJ率が目的とする含
准率r(なるよう1./(秤mlおよび混合し、これら
の試薬と融解剤とが均質なガラス状浴湯と々る壕で加熱
【7だ後冷却固rヒさ貼次いでこの固化物を粉砕するよ
うにしたものである。 本発明の方法VCおいて、測定対象となる元素t、■螢
光X K4A分析法が対象とする任意の元素である。 しかしてこの測定対象元素を含む試薬と[7ては。 白金、白金−金あるいは白金−全一ロジウム製のるつば
が陵さハないものであれば何んでもよい。 また融解剤としては加熱することによってガラスを形成
するガラス形成物質であれば各P−mのものが採用可能
であるが、その中でも一般に採用σiし一’rいるNa
、l3407.  Li、B、O,などが好適である。 これらの試薬と融解剤とは目標とする含有率となるよう
Uこ秤量および混合l〜た後、ガラス状溶湯となるまで
加熱される。この秤駿に際して、試薬と融解剤の杵畦分
鍍は、十分な梢度が確保できる杵着器の測定重置範囲と
な−るように決定智)する。 混合は十分に混ぜ合せるようにするのが、−1−分な攪
拌機構を有するガラスビード作成装置を便用する場合[
は1単に一万を他方に加えるだけでもよい。 また溶融に除しては、試薬と融解剤とはレリえは白金る
つぼ等の中に装入1−電気炉、ガスバーナ等の適宜の加
熱手段によって加熱溶融される。 加熱温度は融解剤の融点よりも少し高い理屈が好適であ
る。 試薬と1.i!11′N1.^11とが吻實々ガラス状
溶渇となった後、こ7L (r−冷却固化ζす1次いで
この固化物を粉砕する。、 この、1う17rLで作成ζtまた1次試料は、試薬と
融解剤Jの什111が正(1′(+であるのでζ−れを
用い友樟準試料が極めて1ト羅々&* Ii4:のもの
となる。 即ら、1−6己の16′試1治−5異なる容土111の
元素&(r−′〕いてfl成しておき、こノ1らの1次
試料の中からs trv又に2柚以上辻】ひ川り、正確
に杵:1. t−た後、fA:Ii ii・C剤をノ泪
え、こflを淫;11UL’ガラスビー ドとすること
により、  iF trtm &U N、I標値通りの
ど〆&度全廟する標Iい試、t・4が芥鵬r(作成坏れ
Z)。 1/すλ&l試料3 Q Inii・融解剤4vのガラ
スビード1:YJ帖試料ケ作成する1鵡台、  5 (
1myの試薬と10rの融解剤と治二溶融、冷却、固化
、及び粉砕して得lこ1次試相紮用し・ビC1この試檗
/fo、i%含有させたいときり(に1 この1次試料
全6 N?秤°祉1−ればよいので+E4面な」牛ht
が一丁能となる。 このようυこ、各試薬VCつい−C目標#問に応じた適
当々1次試料を作成しておき、試薬の合鼠が3014、
融解剤の合(4が4fになるように、各柚の1次試料の
混合&i加えて過当な含有率範囲のガラスピードを作成
す]1.は、30〜の試料を分析するための椋準試料イ
1トが用意できる。なおこのとき、試薬の合鼠に30?
θノとするが、融解剤νま不足分を追加[2て合1tf
4rとするようにした方が操作がf+iM単である。ま
た上記の数値は一例であって、本発明にこれらの数値に
なんら限定はれるもので67rない1以上のようII(
1,て作成した標準試料群では、秤敬梢就がよいので、
各元素とも螢光X線強度と標準1lli(全試薬合成3
0〃l中の目的元素試薬の屯駄バ=セント)どに、非常
に良い相関があり、良好な検量線が得られる。 々お場合に」:つては、上記の検紹糾でスラグやフラッ
クスなど既h−の他の標準試料全分析し7てみると2分
析値Uで偏差を生ずる場合かめる。発明者がこの原因を
追究し女ところ5例えば1000〜1200℃という高
温で浴融するので、融解剤や試薬の灼熱減Uの影響分受
け、さらには試薬の純度にも左右されて、1次試料の試
桑景と融解剤殖の比すなわち目的元素の含有率が変化す
るためであることが認めらねた。 融解剤の灼熱減量にけであれば、同じロットで17かも
萌融温度と時間を一定にしていれば、減量はほぼ−>t
になるので問題tYhいか、試薬の灼熱減h1−や純I
Wなどが関1糸(7てくる場合には次+7)ようにして
標準試料を作成する。 即ち、各試薬とも1次試料全分析]2.その分析値台・
もとII(1,て、目標濃1夏と在るように前述の方法
と同じ方法IIC従って1次試料を朴ki′混合l、て
標準試料群を作成12.その標準値を決定する。こグ)
ようVCすると灼熱減i11.や純度などσ)影f#は
解消塾t1て正確な分析が行なえるようになる。 実施例 試薬の台@、 30 mf 、融解剤4vで作成した標
準試料イ11・全相いて求めたS i O,の検)Ii
線と、試料30yダ、融解剤4vで作成したスラグやフ
ラックス々どの既仔の標準試料のS i O,の標準値
と螢光X線強)Wの関係を第1図に示−4−0 第1図より2本発明方法tC従ってイN+らオ]、る標
準 □試料VC基〈検量線は非常に良好で、し力・も既
存の他の標準試料もこの検ti−ヒによくσ)っており
。 正確な分析ができることが認められる。また第1図には
試薬ケ直接秤fi して合成した場合のSin。 と螢光X線強+Wの関係も7°ロツトされているカミ、
これからも本発明方法に従ってイ番)らfした標準試岑
↓が正確な濃度を有していること力五認めらjl−る。 以上の通り本発明によれば、従来−ト′帛に困−力)ま
たに不可能であったηオーダー程度の7散−試木斗しで
ついても多元素分析が容易になる。 −また、試料の種類ごとに多数の標準試峯[(I:f偉
備しfx<ても、試薬全合成した標準言人ネ斗で分Mr
できるので、分析作業も容易で著【7〈hヒ率力’iT
h<なり、経済性が向上する。 なお本発明は、測定対象試料力;微…なく、σ)たりす
に限定されるものでは力<、当然り力iら、ガラスビー
ド螢光Xi分析法全般に適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はSho□検tu諌の一例である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  融解剤と測定対Ay元素を含む試薬とを適当
    な割合で秤ta’、 L 、ぞの試薬と融解剤とが均質
    なガラス状溶湯となる兼で加熱した後冷却固化させ、べ
    いてこの固化物を粉砕(1,で1次試料とし、各試薬の
    1次試料會それぞ)シの目的元素が目的とする含有率υ
    (なるように秤llt、 L、  内ひ加熱して均質な
    ガラス状溶湯と17た後冷却固化させること′lL−特
    徴と−rる螢光X線分析用ガラスビード標準試料の作成
    )j法。
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