JPS5932264A - 固体撮像素子の駆動方法 - Google Patents

固体撮像素子の駆動方法

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JPS5932264A
JPS5932264A JP57141115A JP14111582A JPS5932264A JP S5932264 A JPS5932264 A JP S5932264A JP 57141115 A JP57141115 A JP 57141115A JP 14111582 A JP14111582 A JP 14111582A JP S5932264 A JPS5932264 A JP S5932264A
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JP57141115A
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English (en)
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Norio Koike
小池 紀雄
Kayao Takemoto
一八男 竹本
Shinya Oba
大場 信弥
Toshiaki Masuhara
増原 利明
Seiji Kubo
征治 久保
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
    • H10F39/12Image sensors
    • H10F39/15Charge-coupled device [CCD] image sensors
    • H10F39/153Two-dimensional or three-dimensional array CCD image sensors
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
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    • HELECTRICITY
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/713Transfer or readout registers; Split readout registers or multiple readout registers
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
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    • H04N25/73Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors using interline transfer [IT]

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の対象〕 本発明は、半導体基板上に複数の光電変換素子および各
素子の光学情報を取り出す走査素子(CCI)シフトレ
ジスタ)を集積化した、C(”I)型固体撮像素子の駆
動方法に関するものである。
を従来技術〕 固体撮像素子は、現行のテレビジョン放送で使用されて
いる撮像用市、子管並みの解像力を備fA撮像板を必要
とし、このため約500 X 5 (10個の絵素マト
リックスを構成する光電変換素子と、それに相当し、た
走査素子が必要となる。従一つで、固体撮像素子は、高
集積化が比較的容易なMO8大規模集積回路技術を用い
て作られ、構成素子として一般にCOD (光ダイオー
ド→−CD I)シフトレジスタ)あるいはMOS)ラ
ンジスタ(毘ダイオード+MOSシフトレジスタ)等が
使用されている。
第1図にCCD (電荷結合素子)の動作原理を示す。
半導体3(n形でもp形でもよい。図の場合はn形)と
金属1とで絶縁物2をはさむ。捷ず最初に、左側の金鵬
1に電油5により負の電圧を印)J1]する。す7Lと
1つ導体の絶縁物に近い部分に空乏層が形成され、その
jil’1分に余分の正札電荷4が蓄えられた状態と7
’z 7.)。仁の状すむrおいて、左側よりもさらに
犬さ?r、F!、電荷を電池6により右側の金網lに与
えてやると、蓄えられた旧刊電荷4は、電位のIBい右
隣へσIすれ込む。多数のh’ OS ’、!2−イオ
ードを同一基板上に近接し−CGI2べ、こ0操作を操
り返ノーことにより、片側7ノ・ら一方向へ、電荷を順
次転送することができる。
第2図に、油記CCI)を用いたCCD型揃像素子の基
本構成を示す。1t;1光ダイオードから成る光電変I
Q素子、2および3は光tl、背照素子1に蓄積された
尤信号を出力瑞に取りm1ための垂直CCD7フトレジ
スタおよび水平7フトレジスタ、矢印4は光1rL変換
素子1に糸種さtまた信号を垂直シフトレジスタに送り
込む転送ゲートを示す。水素−f’−(CCD型)の特
徴は、寄生容量が小さいためMO8型素子に較べて雑音
が小さく、実効感度が高い(低照度下で撮像ができる)
ことであり、これからの撮像デバイスとして大きな期待
が寄せられている。
しかしながら、CCDデバイスに走査に使用するCCD
シフトレジスタが一方向のみにしか信号電荷を転送でき
ないため、次のような問題をかかえている。
<1)  CC])シフトレジスタを駆動させるための
タロツクパルスの第1フイールドでは、例えば奇数列、
第2フイールドでは例えば偶数列の信号を読み出す1列
おきのインタレース走査が行われるため、前フィールド
に蓄積された信月が新し7い信号に重畳する、いわゆる
残像が発生する。
(2]  カラー素子の場合、カラー毎に専用の信号出
力線(複数の出力線)を設けることができないため、解
像度の高くなる色フイルータ配列法を採用することがで
きず、さらに、各カラー信号間の混じり(混色)が発生
し良好な画質を得ることができない。
これらの問題点を解決する素子構成概念として、第3図
に示した素子構成を考えることができる。
2.1.2−2は垂直CCDシフトレジスタの中に絶縁
分離帯5を設けることにより形成された複数の垂iff
シフトレジスタ、矢印4−1..4−2は市松状(二つ
の要素が屹い違いに現)つれる四角い形状)に設置され
た転送ゲートであり、4−1は信号を垂直レジスタ2−
1に、4−2は信号を垂直レジスタ2−2に送り込むゲ
ートである。さらに、各垂直レジスタにより転送された
信号電荷は、相当する水平レジスタ(矢印6−1.6−
2)内に送り込まれ、水平レジスタの一端から順次1言
号が取出される。この様な構成を具体的に駆動させるこ
とができれば、従来、CCI)型素子の欠点とされてき
た残像、解像度および混色の問題を解消され、高感度、
高画質を備えた(:’ CD型撮像素子を実現すること
が可能となる。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、前述の如き従来の欠点を改善するため
、フィールドごとに1列ずれた1組の光電変換素子群を
走査するインタレース方式の駆動を実現してフィールド
残像の発生をなくシ、かつカラー素子に対して解像度の
向上と、混合発生の防止が可能な固体撮像素子の駆動方
法を提供することにある。
(発明の詳細な説明〕 本発明は、上記目的を達成するため、腹数列の垂i[c
cDシフトレジスタおよび各レジスタに属する市松配列
の転送ゲートを備えたC C1,1型撮像素子において
、垂直帰線期間内に1組の転1ηゲート開閉パルス(第
1パルスおよヒm 2 ハル102種で1組)を設け、
この1組のパルスを?にのようにする。すなわち、第1
パルスは、第1フイールドでは時間的な遅れがなく、か
つ、第2フ・イールドでは時間的に対応した第2パルス
に対しC,’f、−の第2パルスのパルス幅だけ遅延さ
せて発生させる。
第2パルスは、第1フイールドでは時間的に対応した第
1パルスに対して第1パルスのノくルス幅たけ遅れて発
生させ、第2フイールドでは時間的に遅れのない第2ノ
くルスを発生させるようにする。
本発明は、この(羨なパルスにより、上記転送ゲートヶ
開閉することを特徴とするC CI)型固体撮像素子の
駆動方法である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明奢′4.施例を用いて詳細に説1明する。
第4図は、第3図に示した素子を駆動する本発明のタロ
ツクパルスのタイムチャートを示している。
φ、fま垂直CCl)シフトレジスタを駆動させるため
の第1のクロックパルス、φ、はφ、ト位相の異なるも
う1つの第2のり「1ツクパルスを示している。
第5図は、第3図に示した七子構成の本発明の平面レイ
アウト構成を示している。2−1,2−21d、 CC
D垂直シフトレジスタであり、これらシフトレジスタの
電気的な絶縁は分離帯5(例えば、基板と同型かつst
度の高い不純物によって形成する)によって行われる。
4−1.4−2は1フイ一ルド期間の間に、光ダイオー
ドに蓄積された光信号電荷をシフトレジスタ2−1.2
−2に送り込むだめの転送ゲート領域を示している。ま
た、シフトレジスタ(2−1,2−2)はいずれもクロ
ックパルスφ、が加わる蓄積電極S1、転送電極T1お
よびタロツクパルスφ、が加わる。11電極S2、転送
電極T、によって構成さJしこいる。
以下、信号電荷転送の動作を第4図および第5図を用い
て説明する。第1フイールドの出発点を時間−t、。、
第2フイールドの出発点を時間t、。とする。第1フイ
ールドでは、クロックパルスφ。
の″′、Hレベルは出発時間t、。より所定の時間td
だけ遅れて発生し、クロックパルスφ、の“1″レベル
は出発時間’10より時間t’dlこけ遅れて発生する
ものとする。これとけ逆に、第2フイールドハ、クロッ
クパルスφ、のIt II+IIルが出発時間twoよ
り所定の時間1.だけ遅しテ発生シ、タロツクパルスφ
、の”1”レベルが出発時間ttoより時間t14たけ
遅れて発生するものとする。ここで、クロックパルスの
1”レベルおよヒ本レベルKM<M”レベル、“0”レ
ベルの持続時間(パルス幅)は、それらの合計時間がフ
ィールド毎に設けられている垂直帰線期間(TsL〜2
.7m8ec)  より短かくなる範囲で如何なる値に
設定してもよい。パルス幅の合計時間T wは次式で表
わされる。
Tw =2 、(11%”1” 4− tw”M” )
+td°−°lIJまたφ2.φ2の各クロックパルス
共に、垂直帰線期間TIIT、の後に続くM”、°゛0
”レベルの繰り返し゛”M、 II 、 II Q、 
#、″M 、 ′y 、 tt o、 n。
・・・・・・” M rn ” 、  ” Q rn 
”は垂直CCUシフトレジスタを駆動させるパルスであ
り、通常、′M″。
0″の繰返し周波数は15.7KH2である。垂直CC
I)シフトレジスタをtl/I成する蓄積電極s1訃よ
び転送電極′I゛、にはクロックパルスφ、が印加され
、もう−組の電極Si 、T2にはタロツクパルスφ、
が印〃]1されるものとする。
第4図および第5図にも・いて、第1フイールドの時間
t、、において、クロックパルスφ1のat 1″レベ
ルが転送ゲート4−1 (n−1)、 4−2(n−1
1および電極’J−Z * S+に加わると、1フイー
ルドの期間に(n−1)列目の光ダイオード1−1(n
−1)および1−2 (n −1)に蓄積されていた光
信号電荷Q (n−1) 、 Q、’  (n−1)は
、転送ゲート4−1 (n−1)、 4−2(n−1)
を介して垂直CCL)シフトレジスタ21.2−2の電
極T、に、′1”レベルの期間(’I+ ”’−’It
  )に送り込まれる(2)。さらにこの電荷はtll
”’+3の期間に電極T、よりも’flj、位の低い電
極S、に流れ込む(1))。ここで電位の高低は、素子
制作工程において、例えば電極T、。
T、下の半導体基板表面にはヨ4(板と同一かつJF、
板より101141の高い不純物をイオン杓込みし、′
■“1 。
T!下の電位を81.82の電位よりもそれぞれ高ぐす
ることにより形成される。
次に、時期t8においてタロツクパルスφ、の″1″レ
ベルが転送ゲート4−1 (n)、  4−2(+1)
、電極T’t、Stに加わると、その期間(113〜t
、4 )に、n列目の光ダイ本−F1〜2 (n)、 
 1−1 (n)に蓄偕さItていた光信号電荷Q’ 
 (11)、Q(n)は、転送ゲー1−4−1(n )
 、 4−2 (n )を介して垂直CC])シフトレ
ジスタ2−1.2−2の転送電極T、に送り込まれる(
C)。さらにこの電荷は、t、4〜1.、lの期間に′
市極+p、よりも電位の低いS、に流れ込む(dl。
一方、時間tいで′由、DT、、 S、へのクロックバ
ルブ(このパルス1亀である)が’M”レベルから°゛
0″0″レベルされ、同時に同一時間t0で隣接する(
n列目)電極rll、 l s2に゛′1″レベルのク
ロックパルスが加わるため、(n−111列上りn列目
の方が市1位が低くなり、左側の垂ii CCI)シフ
トレジスタの電極S、■に一時蓄積されていり尤ダイA
−ド1−1. (n−1)、 1−2(n−1)の電荷
Q(n  1)、Q’(n−1)は、K位の低い1゛、
へ移動12、さらによりi14、位の低いS2下に流れ
込む(el。流れ込む時間は’13〜1□である。
前述の説明から分かるように転送eII′i転送dとほ
ぼ同時間(t7、〜’+5 とt、4〜t15 )に行
なわれ、同時(t’s)に完了する。この結果、(n−
1,)列目す?よびn列目の光ダーイオードの信号をよ
、同列(n)の電極S、下に並ぶことになる。
時間’Isで手直CCI)シフトレジスタ内の電極に電
荷転送用クロック″M、n・IIQ、N。
′M、′・IIQ21F、・・・・・・が加わると(1
1−11列、n列目の隣接する2列の光ダイA−ド信号
電荷は、同一時相1に、(n+1)列目、(n−1−2
)列目・・・・・・と送られ、最終列の下に設けらJま
た水平CCI)シフトレジスタに、同時にプり込tyt
イ)。
ここで、例えば(11−1)列目(偶数列) tl)I
i<け電荷i−を水平CC1)シフトレジスタ3−1(
21’S3図)内に、r+何列目奇数列)の信号用、荷
は3−2内に送り込1れ、隣接する2列(n−1,n)
の総ての尤ダイオードの信号電荷は、名水−=F C(
川)シフトレジスタ内を同一時刻に同一行の’ilx 
Ri、へと転送される。従って、各水平CCl)シフト
レジスタの串力には、各列の尤ダイオードの信号電荷を
同一時刻に取り出すことができる。以上の一連の動作は
各列、同時に進行する。さらに、市松状の構成のため、
例えば水平c c I)シフトレジスタ3−1にb偶数
列の電荷が入り、3−2には全数例の電荷が入る。
一方、第2フイールドでは、第1フイールドの場合とは
逆に最初(時間t7.)にタロツクパルスφ2の″IH
レベルが、次(Its)にクロックパルスφ富の″1″
レベルが各電極に加えられる。
この結果、t7.〜tzsの期間に、n列目の光ダイオ
ード1−z(n)、  l−1(n)に蓄積されていた
光信号電荷(この電荷は第1フイールドにおけるそれと
は別のものである。t21〜’23の時間までには、t
Pjlフィールドにおける電荷は、f テK M 、 
 N 、 n o 、  # 、 ” M 、H、’I
 O、”9・・・・・・Mm”・0m″の転送用クロッ
クにより水平CCI)シフトレジスタへ送り込1れて馳
る)が電極S、下に流れ込む(この転送動作を第1フイ
ールドの場合と同様の記号c、dで表わす)。
次ニ、時間itsでタロツクパルスφ、の″1″レベル
が加わることにより、F9〜ttsの期間に、n −1
−1列目の光ダイオードの信号電荷Q(n+t)。
Q’(n+1)が■1千1列目の電極S、下に流れ込む
(a’ l b’ )。同時に、時間tzsでクロック
パルスφ2 (負のパルス)の“M”レベルは″0″ル
ベルに落とされ、この時n + 1列目に印加されてい
るクロックφ、の電位は′”1”および′Mnであるだ
め、n+1列目の電位がn列目より低くなり、右側の垂
直CCI)シフトレジスタにおいてn列目の電極13.
下に一時蓄積されていた電位は、n+1列目の電暖S、
下に転送される(e′)。この結果、第2フイールドに
おいては、n列目、n+1列目の光ダイオードの信号電
荷がn + 1列目の電極S、下に並ぶことになる。こ
れらの電荷は、時間t25から始まる転送用クロックパ
ルス゛NM、IIパO1”、“M、”・N O,1″。
・・・・・・” M m ”・“Om′″が垂直CCD
シフトレジスタの各電極に加わると、同一時刻にn+2
.n+3列目・・・・・・と送られ、例えばn列目(奇
数列)の信号電荷は水平CCDシフトレジスタ3−1(
第3図)内に、(n+1)列目(偶数列)の信号電荷は
水平CCUシフトレジスタ3−2内に送シ込まれる。
以上説明した動作かられかるように、本発明の素子駆動
方式により、第1フイールドでは隣接した2列(n−1
,n列)の光ダイオードの信号電荷を一組として読み出
し、第2フイールt′では、第1フイールドとは1列ず
れた2列(n、n+1列)の信号電荷を一紹七してVδ
7み113ずことができる。そして、前q71sのよう
に、第1フイールドで転送された2列の信号電荷(n−
1,n列)のうち、ロー1列(偶数列)を水平CCU 
2−7トレジスタ(3−1)へ、n列(奇数列)を3−
2へ送り込み、第2フイールドで転送された2タリの信
号電荷(n、n+1列)のうち、n列(奇数列)を水平
CCI)V7トレジス、p(3−tlへ、n −1−1
列(偶数列)を3−2へ送む。この、桔%i5.各水平
CCDシフトレジスタ(3−1,3−2)へは、総ての
列の信号電荷が送出されることになる。すなわち、本発
明の駆動方式を採用することにより、第3図に示しだ如
き複数個の垂直CCD/フトレジスタ(さらには水ゝ1
7.0CI)シフトレジスタ)を設けた素子を現実に駆
動することが可能となる。
また、本実施例においては、2列の光グ・fオードの信
号電荷を2個の水平〇 CI)シフトレジスタに振り分
ける方法を説明したが、水子〇CDシフトレジスタに3
相CCDシフトレジスタ等を使用すれば1個の水平CC
Dレジスタですむ。この用台は、2列の信号とも同一水
平CCI)シフトレジスタ内を1順次転送されるので、
水・F−C(’: J)シフ)レジスタの出力部でサン
プリングを施rことに、しり、2列の信号電荷を各列毎
の時系列信号に分離すればよい。
第4図に示した、駆動パルスは”ビ+ 、 t+ N、
、 u。
0”の31同レベルを備えているが、第7図IFCjく
したように、撮像素子の転送グー+7−1.7−2を垂
IσCCI)シフトレジスタ2−1.2−2を構成する
電極とは別の′141.極で構成する用台にt、1: 
第6図に示した様な’i”、”o”レベルの2個のレベ
ルを備えた駆動パルスとなる。本パルス系においても、
本発明の駆動方式の骨子となっている2相のクロックパ
ルスの各フィールドにおける位相関係は、第4図の場合
と全く同じである。
p Ie I” tは転送ゲルドアー1.7−2を開閉
する転送ゲートパルスで、第4図における2相駆動ハル
y、ty) ” i ”レベルに相当している。パルス
F、 、 F、の周期は、フィールド周波数(通常50
H2または60H2)に等しく、パルスF。
の′1“レベルは第1フイールドの出発点tloから1
.だけ遅れ、パルスF、のIT 、 jlレベルは’1
0からtlシだけ遅れて発生する。寸だ第2フイールド
では、パルスF、の”1”レベルは出発点twoから(
/dだけ、パルスF2の”1″レベルは出発点twoか
ら1.だけ遅れて発生する。これらパルスFI+F2 
も前述と同様、垂直帰線期間内(TBL)に納められ、 ’J’llt、>td+φ /、+φt’w−・・・C
2)なる関係を満たす必要がある(通常、φIwとφ;
Wは等しくとるのがパルス制作上便利である)。さらに
、φ1 ′、φ、′は垂直CCI)シフトレジスタの?
[S、Tを駆動するクロックパルスである。7−1.7
−2は各々、光ダイオード1−1および1−2に蓄積さ
れた信号電荷を対応する垂iK CCDシフトレジスタ
2−1および2−2に送り込む転送ゲートであり、例え
ば電極S、Tが第1/1it′#、−よび第2層の多結
晶シリコンで形成される場合、転送ゲート7−1.7−
2は第3If1目の多結晶シリコンで形成すればよく、
そのレイアウト形状は、第7図に一点鎖線で示したよう
な縦に走る棒状(ストライプ状)のパターンとなる。
信号電荷の転送タイミングは、第4図、第5図の実施例
場合と本質的には同じであるが、以下、本実施例(第2
の実施例)の駆動方式の動作について簡単に説明してお
く。第1フイールドにおいて、時間ill〜”Itの期
間に信号電荷Q(n−1) 、 Q” (n−1)は、
”l  bf:u由し−Cn−1列目の電MS、下に流
れ込む。時間’l〜tI5の期間に電荷Q’(n)、C
,1,C11)はc、dを経由してn列目の1!極S2
下に流れ込む。この時(’13〜t15 )同時にn 
−1列目電極S、下に一時蓄積されていた電荷Q(n−
x)、Q、’(11−1)はeを経由してn列目の′電
極S、下に転送される。この結果、第1フイールドの時
間tll+にはn −1列目とn列目の信号電下が、同
一列(n列)の電極St下に並び、その後、タロツクパ
ルスφ1.φ、により垂1cCDシフトレジスタの各列
電極を経て順次転送される。第2フイールドでは、’2
1〜ttsの期間に、信号T(L荷Q(n)、Q′ (
n)(第1フイールドの信号とは別のもの)はc、dを
経1t−1t、て0列1]の電極82下に流れ込む。’
23〜’25の期間に信号電荷。
(n−l−1) 、 Q’  (fl−ト1 )ia’
 、b’ を経由して11+1列目のfll、i執81
下に流れ込み、同時に、n列目電極S、下に一時蓄積さ
れでいた由、荷。′(n ) 、 Q、 (H)はQ′
を経由して11千1列目の電徐S1ゴに転送される。第
2フイールドの時間t、には、n列目とn + 1列目
の18号′市荷が同一列(n千1列)のt、I+ S 
、下に並ひ、続いて、クロックバルンφI+ φ、によ
り垂直CCDシフトレジスタの各列電極を経で、水平C
Cl) ソフトレジスタの方に向けて順次転送されるこ
とになる。
な督、合までの説明は、CCD撮像素子の中でも集積度
の高いインターライン型を対象にして行ってきたが、本
発明の趣旨を絨えない範囲でもう1つの型式であるフレ
ームトランスファー型にも本発明を適用できることは自
明である。また、光性非晶質薄膜と積層する二階建状の
啜像七子の場合にも、本発明は基板の駆動万代としてぞ
の寸ま適用でき、この場ばには上記の実施例において尤
ダイオードを光碑電R膜素子で置き換えれば上い。
〔発明の効果〕
以上、実施例を用いて詳細に説明したように、本発明の
駆動方法によれは、フィールド毎に1列ずれた1組の光
7毬駕換素子群を走介するインタレース方式を備えたC
 CDへ1)、固体撮像素子を現実に駆動させることが
できる。この結果、従来素子の問題点とされていたフィ
ード残像の発生をIX8市でき、そのうえ、カラー素子
においてはM1象世の向上、混色の発生を防止できる等
、画質の春しい改善をはかることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はCCDl7)動作原理を示す図、第2図は従来
のCCD型像像素子の構成を示す図、第3図は本発明の
駆動方法を適用する、フィールド毎に1列ずれた2列1
組を走査するインタレース方式を採用(7た改良型CC
I)考子のJ、J成概念を示す図、第4図(・」第3回
の素子概念を実現するだめの本発明のyH動方式を示す
図、第5図は第3図に示した構成の平面レイ丁17トの
一例をボず図、第6図は第4図と;・よ別の実施例の本
発明の、も動刃式を示す図、第7図は第5図とtよ別の
第:3図に示した繊成概念の平面レイアウトを示す図で
ちろう1・・・)tダイオ−ド、2・・・垂直CCDシ
フトレジスタ、3・・・水平CCV)/フトレジスタ、
4.7・・・転送ゲート、訃・・絶縁分離帯、6・・・
転送方向を示す矢印、φ3.φ、・・・クロックバルン
:5i−兼用した転f ゲー) パルス、PI r r
;”、・・・kg>’ ケートパルス、φ1′、φ2′
・・・クロックパルス、S・・・蓄PS N 極、T・
・・転送′)i ノ!収(^(11)・・・n列目の尤
ダイオード414 第 1(2] 第 2 図 下I羽羽m汗・ 第 3 区

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、同一半導体基板上に光学情報を取出す光電変換素子
    群、該素子群に蓄潰された光信号電荷を順次転送する複
    数列の垂直CCJ)シフトレジスタ、該光′r4f、変
    換素子群と該垂直シフトレジスタを結ぶ転送ゲート群お
    よび単一あるいは複数々りの水平CCI)ジットレジス
    タを集債比し、かつフィールド毎に1列ずれた2列1組
    を走部するインタレース方式を採用したCCD型固体撮
    像素子において、垂直帰線期間の中に、汀< IF、−
    よび第2の開閉パルスを設け、第1パルスは第1フイー
    ルドでは時間遅れがなく、第2フイールドでは該第2パ
    ルスに対し7て該;p、2パルス幅だけ遅延され、第2
    パルスは第1フイールドでは該第1パルスに対して該第
    1パルスのパルス幅だけ遅延され、第2フイールドでは
    時間遅れのないようにして、両パルスにより該転送ゲー
    トを開閉し、該信号電荷を順次転送することを特徴とす
    る固体撮像素子の駆動方法。
JP57141115A 1982-04-07 1982-08-16 固体撮像素子の駆動方法 Pending JPS5932264A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61127275A (ja) * 1984-11-26 1986-06-14 Hitachi Ltd 電荷結合形撮像素子の駆動方法
JPS63114473A (ja) * 1986-10-31 1988-05-19 Nec Corp 電荷結合撮像素子とその駆動方法
US6160580A (en) * 1996-09-25 2000-12-12 Nec Corporation CCD image sensor having two-layered electrode structure

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5390721A (en) * 1977-01-20 1978-08-09 Sony Corp Solid pickup element
JPS5441017A (en) * 1977-09-08 1979-03-31 Sony Corp Solid color image pickup device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5390721A (en) * 1977-01-20 1978-08-09 Sony Corp Solid pickup element
JPS5441017A (en) * 1977-09-08 1979-03-31 Sony Corp Solid color image pickup device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61127275A (ja) * 1984-11-26 1986-06-14 Hitachi Ltd 電荷結合形撮像素子の駆動方法
JPS63114473A (ja) * 1986-10-31 1988-05-19 Nec Corp 電荷結合撮像素子とその駆動方法
US6160580A (en) * 1996-09-25 2000-12-12 Nec Corporation CCD image sensor having two-layered electrode structure

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