JPS593227A - 直接比測光方式分光光度計 - Google Patents
直接比測光方式分光光度計Info
- Publication number
- JPS593227A JPS593227A JP11197882A JP11197882A JPS593227A JP S593227 A JPS593227 A JP S593227A JP 11197882 A JP11197882 A JP 11197882A JP 11197882 A JP11197882 A JP 11197882A JP S593227 A JPS593227 A JP S593227A
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- Japan
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- signal
- output
- sample
- pulse
- ratio
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は測定試料に対する測光信号を基部試別に対する
測光信号で割勢、シて両側光信号の比を求める直接化測
光方式分光光度計に関する。
測光信号で割勢、シて両側光信号の比を求める直接化測
光方式分光光度計に関する。
比記録方式分光光度計において、測定試料の基準試ネ］
に対する透過率を測定する方式として、基準試イ；４の
測光信号が常に一定になるように可変利−，−１，−− 得増幅の利？Ｏを制御したり或は検出器の感度を制御す
る（フォトマルチプライヤを用いた場合のダイノードフ
ィードバック制御）、或は又光学系のスリット幅を制御
する等の負帰還方式と、負帰還制御を行わず測定試料の
測光信号を直接基準試別の測光信号で割算する直接比測
光方式とがある。
に対する透過率を測定する方式として、基準試イ；４の
測光信号が常に一定になるように可変利−，−１，−− 得増幅の利？Ｏを制御したり或は検出器の感度を制御す
る（フォトマルチプライヤを用いた場合のダイノードフ
ィードバック制御）、或は又光学系のスリット幅を制御
する等の負帰還方式と、負帰還制御を行わず測定試料の
測光信号を直接基準試別の測光信号で割算する直接比測
光方式とがある。
この直接比測光方式は特別な負帰還回路や利得或は感度
可変の調節要素が不要であるため、負帰還方式に比し機
器構成が単純で安定性が良い等の利点を有し非常に有用
な方式であるが、反面、信号の絶対量が少い場合には測
定試料信月、基準試別信号が小さいため所定精度を得る
計算手段の実現が困難であると云う欠点がある。即ち上
述した割算をアナログ的電気回路により実現する場合に
は、アナログ割算器の精度を保証するだめの分母のダイ
ナミックレンジが通常−桁程度とせまい点が問題となり
、ディジタル演算方式を用いる場合、Ａ／Ｄ変換におい
て有効データ分解能が低下する、いわゆるビット落ち（
例えば８ビットのデータを扱うものとすると２０Ｊｊ：
２進数８桁だが同じ有効数字３桁でも］、 Ｏ，Ｏ，ｉ
ｄ： ２進数４桁となる）のため測定１ｉ’ｉ一度が確
保できない。また負帰還方式中電気的利得を制御する方
式や直接比測光方式では測定信号量が減少すると検出器
及び増幅器が本来持っている’Ａ（音ｄ、一定であるか
らＳ ／ Ｎ比が悪化する。ダイノードフィードバック
方式はフォトマルチプライヤが感度を上げた場合、雑音
が増加傾向を有するものの感度に比例しては増加しない
ので、弱信号の場合でもＳ／Ｎ比が余り低下しないと云
う特徴を有するが直接比測光方式に比し装置が高価にな
る。
可変の調節要素が不要であるため、負帰還方式に比し機
器構成が単純で安定性が良い等の利点を有し非常に有用
な方式であるが、反面、信号の絶対量が少い場合には測
定試料信月、基準試別信号が小さいため所定精度を得る
計算手段の実現が困難であると云う欠点がある。即ち上
述した割算をアナログ的電気回路により実現する場合に
は、アナログ割算器の精度を保証するだめの分母のダイ
ナミックレンジが通常−桁程度とせまい点が問題となり
、ディジタル演算方式を用いる場合、Ａ／Ｄ変換におい
て有効データ分解能が低下する、いわゆるビット落ち（
例えば８ビットのデータを扱うものとすると２０Ｊｊ：
２進数８桁だが同じ有効数字３桁でも］、 Ｏ，Ｏ，ｉ
ｄ： ２進数４桁となる）のため測定１ｉ’ｉ一度が確
保できない。また負帰還方式中電気的利得を制御する方
式や直接比測光方式では測定信号量が減少すると検出器
及び増幅器が本来持っている’Ａ（音ｄ、一定であるか
らＳ ／ Ｎ比が悪化する。ダイノードフィードバック
方式はフォトマルチプライヤが感度を上げた場合、雑音
が増加傾向を有するものの感度に比例しては増加しない
ので、弱信号の場合でもＳ／Ｎ比が余り低下しないと云
う特徴を有するが直接比測光方式に比し装置が高価にな
る。
上述したように従来用いられて来た種々な方式の比記録
方式分光光度計は何れも問題点を有する。
方式分光光度計は何れも問題点を有する。
これらの問題は整理すると演算精度の問題２弱信号時の
Ｓ ／ Ｎ比の問題、装置価格の問題である。
Ｓ ／ Ｎ比の問題、装置価格の問題である。
本発明はこれらの諸問題を調和的に解決した比記録方式
分光光度計を得ることを目的としてなされたもので、直
接比測光方式を採用するととて装置価格を安価ならしめ
、信号を積分して割算を行うことで弱信号時の演算精度
の低下を防ぐと共にＳ／Ｎ比についても改善を得た比記
録方式分光光度計を提供する。
分光光度計を得ることを目的としてなされたもので、直
接比測光方式を採用するととて装置価格を安価ならしめ
、信号を積分して割算を行うことで弱信号時の演算精度
の低下を防ぐと共にＳ／Ｎ比についても改善を得た比記
録方式分光光度計を提供する。
本発明直接化測光方式分光光度計は測定試料に対する測
光信号（サンプル信号と云う）及び基準試料に対する測
光信号（リファレンス信号と云う）を夫々積分し、リフ
ァレンス信号の積分出力が予め定めた一定レベル以上に
なったとき両方の積分を停止ｊ〜でサンプル信号の積分
出力をリファレンス信号の積分出力で割算するようにし
た点に特徴を有する。こ＼で信号の積分を停止するタイ
ミングはリファレンス信号の積分出力が予め定めた一定
レベルに一致すると云うことにこだわらず、一定レベル
に到達した後停止すればよいのである。
光信号（サンプル信号と云う）及び基準試料に対する測
光信号（リファレンス信号と云う）を夫々積分し、リフ
ァレンス信号の積分出力が予め定めた一定レベル以上に
なったとき両方の積分を停止ｊ〜でサンプル信号の積分
出力をリファレンス信号の積分出力で割算するようにし
た点に特徴を有する。こ＼で信号の積分を停止するタイ
ミングはリファレンス信号の積分出力が予め定めた一定
レベルに一致すると云うことにこだわらず、一定レベル
に到達した後停止すればよいのである。
このようにするのけ、信号を連続的に扱う場合は積分出
力が予め定めた一定レベルに丁度一致すると云う時点が
求め得るが、信号を時分割的にサンプリングして積算ｊ
〜で行く形で積分を行う場合には積分出力が適宜に定め
た一定値と一致すると云うことは一般にあり得ないから
で、即ち本発明は信号を連続的に扱う場合、時分割的に
サンプリングする場合の何れにも適用できるものである
。以下実施例に」二つて本発明を説明する。
力が予め定めた一定レベルに丁度一致すると云う時点が
求め得るが、信号を時分割的にサンプリングして積算ｊ
〜で行く形で積分を行う場合には積分出力が適宜に定め
た一定値と一致すると云うことは一般にあり得ないから
で、即ち本発明は信号を連続的に扱う場合、時分割的に
サンプリングする場合の何れにも適用できるものである
。以下実施例に」二つて本発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す。１は分光器で測定試
料透過光と基準試料透過光とが交互に出射され、光検出
器２に入射される。３は増幅器で光検出器２の出力を増
幅する。４，５はサンプリング回路で分光器コ−から送
られて来る同期信号によって、分光器ｌから基準試料透
過光が出射している間はサンプリング回路４が増幅器３
の出力を取込み、分光器１から測定試料透過光が出射し
ている間−、サンプリング回路５が増幅器３の出力を取
込む。即ちサンプリング回路４はリファレンス信号をサ
ンプリングしており、５はサンプを芦プ信号を取込んで
いる。ここまでの構成は従来の複光束分光光度計の基本
構成と同じである。６．′７はＡ ／ Ｄ変換器でこの
実施例では電圧周波数変換型が用いられており、サンプ
リング回路４，５によって直流平滑化されたリファレン
ス信号及びサンプル信号を入力信号に比例したパルス列
に変換している。このパルス列は夫々アンドゲート８゜
９を通して次段のカウンタ１．０．１１に入力され計数
される。この計数動作が前述した測光信号の積分動作で
、カウンタ１０，１．１は積分器に相当する。アンドゲ
ート８，９は通常開いており、サンプル信号の積分出力
であるカウンタ１０の計数出力がディジタルコンパレー
タ１３によって設定器１４に予め設定しである一定値と
比較され、カウンタ］０の計数出力Ａが設定器１４に予
め設定しである値Ｃに対してＡ〉Ｃの関係になったとき
コンパレータ１３の出力は１”から１０” に変り、ア
ンドゲート８，９はこのコンパレータ１３の出力″１”
で開、′０”で閉となるので、Ａ〉Ｃになるとカウンタ
１０，１１による積分動作は停止する。
料透過光と基準試料透過光とが交互に出射され、光検出
器２に入射される。３は増幅器で光検出器２の出力を増
幅する。４，５はサンプリング回路で分光器コ−から送
られて来る同期信号によって、分光器ｌから基準試料透
過光が出射している間はサンプリング回路４が増幅器３
の出力を取込み、分光器１から測定試料透過光が出射し
ている間−、サンプリング回路５が増幅器３の出力を取
込む。即ちサンプリング回路４はリファレンス信号をサ
ンプリングしており、５はサンプを芦プ信号を取込んで
いる。ここまでの構成は従来の複光束分光光度計の基本
構成と同じである。６．′７はＡ ／ Ｄ変換器でこの
実施例では電圧周波数変換型が用いられており、サンプ
リング回路４，５によって直流平滑化されたリファレン
ス信号及びサンプル信号を入力信号に比例したパルス列
に変換している。このパルス列は夫々アンドゲート８゜
９を通して次段のカウンタ１．０．１１に入力され計数
される。この計数動作が前述した測光信号の積分動作で
、カウンタ１０，１．１は積分器に相当する。アンドゲ
ート８，９は通常開いており、サンプル信号の積分出力
であるカウンタ１０の計数出力がディジタルコンパレー
タ１３によって設定器１４に予め設定しである一定値と
比較され、カウンタ］０の計数出力Ａが設定器１４に予
め設定しである値Ｃに対してＡ〉Ｃの関係になったとき
コンパレータ１３の出力は１”から１０” に変り、ア
ンドゲート８，９はこのコンパレータ１３の出力″１”
で開、′０”で閉となるので、Ａ〉Ｃになるとカウンタ
１０，１１による積分動作は停止する。
第２図は第１図の装置の動作の一サイクルのタイムチャ
ートで、ａはディジタルコンパレータの出力でｔがＡ〉
Ｃとなった時点である。］、５は第２図にす、 ｃで
示す信号を発生する制御パルス発生回路で、２つのワン
ショット回路よシナリ、コンハｌ／−夕１３の出力の立
下りで第１のパルス信号すを出力し、信号すの立下りで
第２のパルス信号Ｃを出力する。第３図に戻り、１２は
ディジタル割算器で、カランタコ］、の計数出力Ｂ即ち
サンプル信号の積分値をカランタコ−００計数出力Ａ即
ちリファレンス信号の積分値Ａで割算しており、］−６
はデークラッチ回路でパルス信号ｂ（第２図ｂ）が印加
されることにより、そのときの割算器］２の出力をラッ
チする。第２図Ｃの信号の立下りでカウンタ１０，１．
］はクリヤされ、同時にコンバレータコ３の出力は］”
に戻ってゲート８，９が開き積分が再開される。
ートで、ａはディジタルコンパレータの出力でｔがＡ〉
Ｃとなった時点である。］、５は第２図にす、 ｃで
示す信号を発生する制御パルス発生回路で、２つのワン
ショット回路よシナリ、コンハｌ／−夕１３の出力の立
下りで第１のパルス信号すを出力し、信号すの立下りで
第２のパルス信号Ｃを出力する。第３図に戻り、１２は
ディジタル割算器で、カランタコ］、の計数出力Ｂ即ち
サンプル信号の積分値をカランタコ−００計数出力Ａ即
ちリファレンス信号の積分値Ａで割算しており、］−６
はデークラッチ回路でパルス信号ｂ（第２図ｂ）が印加
されることにより、そのときの割算器］２の出力をラッ
チする。第２図Ｃの信号の立下りでカウンタ１０，１．
］はクリヤされ、同時にコンバレータコ３の出力は］”
に戻ってゲート８，９が開き積分が再開される。
この装置ではリファレンス信号の大小によって積分時間
が減増され、リファレンス信号が１７ Ｍ倍になると積
分時間はＭ倍になる。サンプル信号及びリファレンス信
号に含まれるノイズが信号の大小に関係なく一定である
場合、積分時間をＭ倍することによって信号はＭ倍され
るがランダムノイズは政倍されるだけであるので、信号
強度を１としたときのＳ ／ Ｎ比を１９とすると、信
号強度が１．７ＭになったときのＳ ／ Ｎ比は１７
Ｍであり、Ｍ倍時間積分１〜だときは信号強度は１．ノ
イズは凸であるから、Ｓ ／ Ｎ比は」／凸になり、結
局信号強度が１７ ＭになったときＳ ／ Ｎ比がｌ
／ Ｍになるべき所を０倍だけＳ ／ Ｎ比が改善され
たことになる。
が減増され、リファレンス信号が１７ Ｍ倍になると積
分時間はＭ倍になる。サンプル信号及びリファレンス信
号に含まれるノイズが信号の大小に関係なく一定である
場合、積分時間をＭ倍することによって信号はＭ倍され
るがランダムノイズは政倍されるだけであるので、信号
強度を１としたときのＳ ／ Ｎ比を１９とすると、信
号強度が１．７ＭになったときのＳ ／ Ｎ比は１７
Ｍであり、Ｍ倍時間積分１〜だときは信号強度は１．ノ
イズは凸であるから、Ｓ ／ Ｎ比は」／凸になり、結
局信号強度が１７ ＭになったときＳ ／ Ｎ比がｌ
／ Ｍになるべき所を０倍だけＳ ／ Ｎ比が改善され
たことになる。
上述実施例では一回の測光動作（積分動作）を終了する
タイミングとしてリファレンス信号の積分値が一定値以
−にになるタイミングを用いているが、反対にサンプル
信号の積分が一定値以上になるタイミングを用いてもよ
く、これは本発明の本質とは無関係のことである。まだ
本発明はアナログ方式で実施することも勿論可能である
。
タイミングとしてリファレンス信号の積分値が一定値以
−にになるタイミングを用いているが、反対にサンプル
信号の積分が一定値以上になるタイミングを用いてもよ
く、これは本発明の本質とは無関係のことである。まだ
本発明はアナログ方式で実施することも勿論可能である
。
本発明分光光度計は上述したような構成で、利得制御要
素が全く不要な北側光方式の長所はそのま＼受継いで安
定性が良い等の特徴を有し、ダイナミックレンジについ
て制約がなく、弱信号域でも演算精度が低下せず高精度
の測定が可能であバまだ弱信号時においてもＳ ／ Ｎ
比の低下が抑制できる等の効果を有する。
素が全く不要な北側光方式の長所はそのま＼受継いで安
定性が良い等の特徴を有し、ダイナミックレンジについ
て制約がなく、弱信号域でも演算精度が低下せず高精度
の測定が可能であバまだ弱信号時においてもＳ ／ Ｎ
比の低下が抑制できる等の効果を有する。
第１図は本発明の一実施例装置のブロック図、第２図は
同実施例装置の動作の一部を示すタイムチャートである
。 ］・・・分光器、２・・・光検出器、４，５・・・サン
プリング回路、６，７・・・Ａ ／ Ｄ変換器、１０，
１１．・・・積分器としてのカウンタ、］２・・・ディ
ジタル割算器、］３・・・ディジタルコンパレータ、］
、４・・・一定値設定器、コ５・・・制御パルス発生回
路、１６・・・データラッチ。 代理人 弁理士 蒜 浩 介 大２又
同実施例装置の動作の一部を示すタイムチャートである
。 ］・・・分光器、２・・・光検出器、４，５・・・サン
プリング回路、６，７・・・Ａ ／ Ｄ変換器、１０，
１１．・・・積分器としてのカウンタ、］２・・・ディ
ジタル割算器、］３・・・ディジタルコンパレータ、］
、４・・・一定値設定器、コ５・・・制御パルス発生回
路、１６・・・データラッチ。 代理人 弁理士 蒜 浩 介 大２又
Claims (1)
- 測定試料に対する測光信号（ザンプル信号）及び基準試
料に対する測光信号（リファレンス信号）を夫々積分す
る手段と、何れかの積分手段の出力を予め定めた一定値
と比較し、同積分手段の出力がその一定値以上になった
とき、上記両積分手段の積分動作を停止させる手段と、
そのときの」二記サンプル信号積分手段の出力を上記リ
ファレンス信号積分手段の出力で割算する割算手段とを
有することを特徴とす、る直接化測光方式分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11197882A JPS593227A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 直接比測光方式分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11197882A JPS593227A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 直接比測光方式分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593227A true JPS593227A (ja) | 1984-01-09 |
| JPH0567892B2 JPH0567892B2 (ja) | 1993-09-27 |
Family
ID=14574885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11197882A Granted JPS593227A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 直接比測光方式分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593227A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6327538A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-05 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 剥離性処理されたポリ塩化ビニルの薄葉体 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101879276B1 (ko) * | 2017-02-03 | 2018-07-18 | 주식회사 코어볼트 | 고정수단 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50115878A (ja) * | 1974-02-22 | 1975-09-10 | ||
| JPS55140121A (en) * | 1979-03-05 | 1980-11-01 | Pye Ltd | Spectrophotometer |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP11197882A patent/JPS593227A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50115878A (ja) * | 1974-02-22 | 1975-09-10 | ||
| JPS55140121A (en) * | 1979-03-05 | 1980-11-01 | Pye Ltd | Spectrophotometer |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6327538A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-05 | Nitto Electric Ind Co Ltd | 剥離性処理されたポリ塩化ビニルの薄葉体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0567892B2 (ja) | 1993-09-27 |
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