JPS62215850A - 発光分光分析用測光装置 - Google Patents
発光分光分析用測光装置Info
- Publication number
- JPS62215850A JPS62215850A JP6030386A JP6030386A JPS62215850A JP S62215850 A JPS62215850 A JP S62215850A JP 6030386 A JP6030386 A JP 6030386A JP 6030386 A JP6030386 A JP 6030386A JP S62215850 A JPS62215850 A JP S62215850A
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- JP
- Japan
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- photomultiplier tube
- output
- amplification degree
- applied voltage
- photometric
- Prior art date
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は高周波プラズマ発光のような発光分光分析に用
いる測光装置に関するものである。
いる測光装置に関するものである。
（従来技術）
高周波誘導プラズマ等で試料を発光させ、試料中に含有
されている元素の足指分析を行う場合、ｈ−慟＾ｈ１し
仏血上ｊｌ’ｌｌ亭・ −書、プハ鴫 々二専償に推定
含有量に合わせてそれぞれ異なった測定感度を設定する
必要がある。例えば特開昭５９−９９３３６号で提案さ
れた装置は、標準試料における各元素の測定出力の目標
値をあらかじめメモリに記憶させておき、順次プログラ
ムによってメモリから読み出したデータに基づいて光電
子増倍管の感度を自動調整するものであり、オペレータ
の作業負担を軽減するという利点があるが、あらかじめ
各試料について目標推定値を設定しておく必要がある上
に、実際の含有量が推定範囲を超えると分析ができなく
なるという欠点がある。
されている元素の足指分析を行う場合、ｈ−慟＾ｈ１し
仏血上ｊｌ’ｌｌ亭・ −書、プハ鴫 々二専償に推定
含有量に合わせてそれぞれ異なった測定感度を設定する
必要がある。例えば特開昭５９−９９３３６号で提案さ
れた装置は、標準試料における各元素の測定出力の目標
値をあらかじめメモリに記憶させておき、順次プログラ
ムによってメモリから読み出したデータに基づいて光電
子増倍管の感度を自動調整するものであり、オペレータ
の作業負担を軽減するという利点があるが、あらかじめ
各試料について目標推定値を設定しておく必要がある上
に、実際の含有量が推定範囲を超えると分析ができなく
なるという欠点がある。
（発明が解決しようとする問題点）
本発明は、上述のようにあらかじめ目標値を設定してお
かなくても、常に光電子増倍管を最適感度に自動調整で
きる発光分光分析用測光装置を提供することを目的とす
るものである。
かなくても、常に光電子増倍管を最適感度に自動調整で
きる発光分光分析用測光装置を提供することを目的とす
るものである。
（問題点を解決するための手段）
上記の目的を達成するために本発明による測光装置は、
光電子増倍管の検出出力を一定値または一定範囲の値と
比較し、該比較出力を光電子増倍管の印加電圧にフィー
ドバックして光電子増倍管の増幅度を変化させる手段と
、上記印加電圧を検出し、これをあらかじめ記憶してあ
る印加電圧と増幅度の相関データにより増幅度に変換し
て、上記検出出力と増幅度の比として測光値を算出する
手段を備えたものである。
光電子増倍管の検出出力を一定値または一定範囲の値と
比較し、該比較出力を光電子増倍管の印加電圧にフィー
ドバックして光電子増倍管の増幅度を変化させる手段と
、上記印加電圧を検出し、これをあらかじめ記憶してあ
る印加電圧と増幅度の相関データにより増幅度に変換し
て、上記検出出力と増幅度の比として測光値を算出する
手段を備えたものである。
（作用）
上記の構成によれば、光電子増倍管の増幅度が無段階に
制御されて、光入力に対して常に最適の感度に維持され
るので、従来のように入力レベルに応じて測定レンジを
切り替える必要がなく、またＳＮ比ら向上する。
制御されて、光入力に対して常に最適の感度に維持され
るので、従来のように入力レベルに応じて測定レンジを
切り替える必要がなく、またＳＮ比ら向上する。
（実施例）
第１図は本発明の一実施例を示したもので、光電子増倍
管Ｉの出力を抵抗ＲとコンデンサＣとの並列回路により
電圧信号に変換したのち増幅器２で増幅し、得られた検
出出力Ｖａを差動増幅器３により基準電圧ｖｂと比較し
て、差動増幅器３の出力を負高圧電源回路４に入力する
ことにより、光電子増倍管１の印加電圧Ｖｄを制御して
光電子増倍管ｌの増幅度ｒ（ｖ）を変化させている。ま
た光電子増倍管１の印加電圧Ｖｄは、Ａ／Ｄ変換器５で
ディジタル値に変換されてマイクロプロセッサ６に読み
込まれ、これがあらかじめメモリに記憶させである印加
電圧Ｖｄと増幅度ｆ（Ｖ）との相関データを用いて増幅
度ｆ（Ｖ）に変換され、この増幅度ｆ（Ｖ）で上記検出
出力Ｖａが割り算されて測光値が算出される。こうして
得られた測光値はＣＲＴやペンレコーダ等の出力装置７
に出力される。
管Ｉの出力を抵抗ＲとコンデンサＣとの並列回路により
電圧信号に変換したのち増幅器２で増幅し、得られた検
出出力Ｖａを差動増幅器３により基準電圧ｖｂと比較し
て、差動増幅器３の出力を負高圧電源回路４に入力する
ことにより、光電子増倍管１の印加電圧Ｖｄを制御して
光電子増倍管ｌの増幅度ｒ（ｖ）を変化させている。ま
た光電子増倍管１の印加電圧Ｖｄは、Ａ／Ｄ変換器５で
ディジタル値に変換されてマイクロプロセッサ６に読み
込まれ、これがあらかじめメモリに記憶させである印加
電圧Ｖｄと増幅度ｆ（Ｖ）との相関データを用いて増幅
度ｆ（Ｖ）に変換され、この増幅度ｆ（Ｖ）で上記検出
出力Ｖａが割り算されて測光値が算出される。こうして
得られた測光値はＣＲＴやペンレコーダ等の出力装置７
に出力される。
第２図は印加電圧Ｖｄと増幅度ｆ（Ｖ）との相関特性を
示したもので、この特性を関数式または換算テーブルと
して、あらかじめマイクロプロセッサ６のメモリ内に記
憶させておくのである。
示したもので、この特性を関数式または換算テーブルと
して、あらかじめマイクロプロセッサ６のメモリ内に記
憶させておくのである。
このように構成すれば、光入力の大きさに合わせて常に
検出出力Ｖａが一定となるように光電子増倍管１の感度
が連続的に制御されるので、従来のようにあらかじめ標
準試料によって各元素毎に測定レンジを定めておいたり
、あるいは検出出力のスケールオーバーを検出して測定
レンジを段階的に切り替えたりする必要がなく、またＳ
Ｎ比も常に最高の状態に保たれるという利点がある。
検出出力Ｖａが一定となるように光電子増倍管１の感度
が連続的に制御されるので、従来のようにあらかじめ標
準試料によって各元素毎に測定レンジを定めておいたり
、あるいは検出出力のスケールオーバーを検出して測定
レンジを段階的に切り替えたりする必要がなく、またＳ
Ｎ比も常に最高の状態に保たれるという利点がある。
第３図は他の実施例を示したもので、光電子増倍管！の
出力をＡ／Ｄ変換器８を介してマイクロプロセッサ６に
入力し、光電子増倍管１に電圧を供給する負高圧電源４
にマイクロプロセッサ６からの出力データＤｏをＤ／Ａ
変換器９を介して入力し、更に上記出力データＤｏと光
電子増倍管１の増幅度ｆ（Ｖ）との相関テーブルをマイ
クロプロセッサ６に記憶させ、マイクロプロセッサ６に
おいてＡ／Ｄ変換器８からの入力データＤｉが所定範囲
に入るまで出力データＤｏを変化させて、この時の光電
子増倍管ｌの増幅度ｒ（ｖ）で上記入力データＤｉを割
り算して測光値を算出するようにしたものである。
出力をＡ／Ｄ変換器８を介してマイクロプロセッサ６に
入力し、光電子増倍管１に電圧を供給する負高圧電源４
にマイクロプロセッサ６からの出力データＤｏをＤ／Ａ
変換器９を介して入力し、更に上記出力データＤｏと光
電子増倍管１の増幅度ｆ（Ｖ）との相関テーブルをマイ
クロプロセッサ６に記憶させ、マイクロプロセッサ６に
おいてＡ／Ｄ変換器８からの入力データＤｉが所定範囲
に入るまで出力データＤｏを変化させて、この時の光電
子増倍管ｌの増幅度ｒ（ｖ）で上記入力データＤｉを割
り算して測光値を算出するようにしたものである。
このように構成すれば、測光値としてＡ／Ｄ変換器８と
Ｄ／Ａ変換器９とを加えたビット数の分解能が得られる
上に、光入力の大小に拘わらず常に同一の有効桁数でダ
イナミックレンジの広い測定ができるという＋１点があ
る。
Ｄ／Ａ変換器９とを加えたビット数の分解能が得られる
上に、光入力の大小に拘わらず常に同一の有効桁数でダ
イナミックレンジの広い測定ができるという＋１点があ
る。
（発明の効果）
上記のように本発明によれば、光電子増倍管の検出出力
を一定に保つように電子増倍管の印加電圧にフィードバ
ックをかけて、光電子増倍管の感度を制御すると共に、
この印加電圧を検出し、これを印加電圧と増幅度との相
関データを用いて増幅度に変換して、検出出力と増幅度
から測光値を算出するようにしたしのであるから、従来
のように試料中の各元素の量を推定して、各元素毎にあ
らかじめ感度を設定しておく必要がなく、感度調整が完
全に自動化できる上に、広いダイナミックレンジで良好
なＳＮ比を維持できるという利点がある。
を一定に保つように電子増倍管の印加電圧にフィードバ
ックをかけて、光電子増倍管の感度を制御すると共に、
この印加電圧を検出し、これを印加電圧と増幅度との相
関データを用いて増幅度に変換して、検出出力と増幅度
から測光値を算出するようにしたしのであるから、従来
のように試料中の各元素の量を推定して、各元素毎にあ
らかじめ感度を設定しておく必要がなく、感度調整が完
全に自動化できる上に、広いダイナミックレンジで良好
なＳＮ比を維持できるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
同上の動作を示す特性図、第３図は本発明の他の実施例
を示すブロック図である。 １・・・光電子増倍管、２・・・増幅器、３・・・差動
増幅器、４・・・負高圧電源、５・・・Ａ／Ｄ変換器、
６・・・マイクロプロセッサ、７・・・出力装置、８・
・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・Ｄ／Ａ変換器。
同上の動作を示す特性図、第３図は本発明の他の実施例
を示すブロック図である。 １・・・光電子増倍管、２・・・増幅器、３・・・差動
増幅器、４・・・負高圧電源、５・・・Ａ／Ｄ変換器、
６・・・マイクロプロセッサ、７・・・出力装置、８・
・・Ａ／Ｄ変換器、９・・・Ｄ／Ａ変換器。
Claims (1)
- （１）光電子増倍管の検出出力を基準値と比較し、該比
較出力を光電子増倍管の印加電圧にフィードバックして
光電子増倍管の増幅度を変化させる手段と、上記印加電
圧を検出し、これをあらかじめ記憶してある印加電圧と
増幅度との相関データにより増幅度に変換して、上記検
出出力と増幅度の比として測光値を算出する手段を備え
て成ることを特徴とする発光分光分析用測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6030386A JPH0668467B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 発光分光分析用測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6030386A JPH0668467B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 発光分光分析用測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62215850A true JPS62215850A (ja) | 1987-09-22 |
| JPH0668467B2 JPH0668467B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=13138261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6030386A Expired - Lifetime JPH0668467B2 (ja) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | 発光分光分析用測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668467B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1351049A3 (en) * | 2002-04-01 | 2004-02-25 | Central Iron & Steel Research Institute | Analyzer for metal |
| JP2007104510A (ja) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | テレビジョンカメラの感度調整方法および感度調整装置 |
| US9726611B2 (en) | 2014-03-26 | 2017-08-08 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Stabilized ICP emission spectrometer and method of using |
-
1986
- 1986-03-18 JP JP6030386A patent/JPH0668467B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1351049A3 (en) * | 2002-04-01 | 2004-02-25 | Central Iron & Steel Research Institute | Analyzer for metal |
| JP2007104510A (ja) * | 2005-10-07 | 2007-04-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | テレビジョンカメラの感度調整方法および感度調整装置 |
| US9726611B2 (en) | 2014-03-26 | 2017-08-08 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Stabilized ICP emission spectrometer and method of using |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0668467B2 (ja) | 1994-08-31 |
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