JPS5932836A - 応力測定方法 - Google Patents
応力測定方法Info
- Publication number
- JPS5932836A JPS5932836A JP14440682A JP14440682A JPS5932836A JP S5932836 A JPS5932836 A JP S5932836A JP 14440682 A JP14440682 A JP 14440682A JP 14440682 A JP14440682 A JP 14440682A JP S5932836 A JPS5932836 A JP S5932836A
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- JP
- Japan
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- stress
- sample
- treating material
- surface treating
- specimen
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、応力測定方法に関するものであり、さらに
詳しくいうと、供試品に繰返し応力を加え、この応力の
大きさに対応する供試品の発熱に伴う温度上昇をサーモ
グラフ・ｆを用いて検出する応力測定方法に関するもの
である。
詳しくいうと、供試品に繰返し応力を加え、この応力の
大きさに対応する供試品の発熱に伴う温度上昇をサーモ
グラフ・ｆを用いて検出する応力測定方法に関するもの
である。
従来、応力測定方法として一般に知られているものに、
ひずみゲージを供試品に貼着（〜て多点測定を行ない、
最大応力点を測定する方法がとられていた。しかし、こ
Ω方法は、測定点を多数とる）で 必要があり、多点側車のため多くの時間を要するなどの
欠点がバー）つた。
ひずみゲージを供試品に貼着（〜て多点測定を行ない、
最大応力点を測定する方法がとられていた。しかし、こ
Ω方法は、測定点を多数とる）で 必要があり、多点側車のため多くの時間を要するなどの
欠点がバー）つた。
これに対し、（＋Ｂ試品に繰返えし応力を与え、この応
力の大きさに対応して生じる供試品の発熱を利用して一
す−モグラフイによって温１１１上昇、温度分布を測定
し、応力を測定する方法が桿案さ第１．た。
力の大きさに対応して生じる供試品の発熱を利用して一
す−モグラフイによって温１１１上昇、温度分布を測定
し、応力を測定する方法が桿案さ第１．た。
従来のこの種の応力測定方法を第１図を参照して説明す
ると、同図（ａ）において、供試品／の一端を固定；＜
Ｍ ／ ａとし、供試品／に繰返し振動を加え、この振
動による供試品／の応力に対応して供試品／が発熱する
。この発熱に伴う供試品／の温度上列を赤外線カメラλ
で描記し、温度分布を求めるものである。この場合、供
試品／に生じる発熱は、固定端／ａに近いほど大きく、
したがって、固定端／ａに近いほど温度上昇も大きい。
ると、同図（ａ）において、供試品／の一端を固定；＜
Ｍ ／ ａとし、供試品／に繰返し振動を加え、この振
動による供試品／の応力に対応して供試品／が発熱する
。この発熱に伴う供試品／の温度上列を赤外線カメラλ
で描記し、温度分布を求めるものである。この場合、供
試品／に生じる発熱は、固定端／ａに近いほど大きく、
したがって、固定端／ａに近いほど温度上昇も大きい。
これを赤外線カメラｉによってサーモグラ７にすると、
同図（ｂｌ Ｋおける曲線３のようになる。Ｉ−かし、
従来の方法においてし゛と、このザーへモグラフのパタ
ンにみるよ５Ｋ、温度分布におけろ温度差が小ざく、固
定端／ａに近い点で温度が下がり、実際の温度分布と相
違した結果となる欠点があった。また、金属材料などに
あっては応力に対する温度差が小さく、材料による特性
差もあることなどから、この方法たよる応力測定は実験
程度での確認はされていたものの、実用段階にまでは至
っていなかった。
同図（ｂｌ Ｋおける曲線３のようになる。Ｉ−かし、
従来の方法においてし゛と、このザーへモグラフのパタ
ンにみるよ５Ｋ、温度分布におけろ温度差が小ざく、固
定端／ａに近い点で温度が下がり、実際の温度分布と相
違した結果となる欠点があった。また、金属材料などに
あっては応力に対する温度差が小さく、材料による特性
差もあることなどから、この方法たよる応力測定は実験
程度での確認はされていたものの、実用段階にまでは至
っていなかった。
この発明は、以上の事情に着目してなされたもので、応
力に対応する供試品の温度上昇のサーモグラフを明瞭な
バタンとして得ることができる応力測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
力に対応する供試品の温度上昇のサーモグラフを明瞭な
バタンとして得ることができる応力測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
以下、この発明の方法を第２図を参照して説明すると、
同図（ａ）において、供試品／の表面に、発熱量が犬、
熱容量が小で、かつ、伝熱特性の悪い表面処理材ヴを被
着する。被着の態様は塗布あるいはテープ状体の貼着に
よって行なう。表面処理材ρトシては、ノタル酸アルキ
ド塗料、エポキシ塗料あるいはウレタン塗料などが好適
である。かように表面処理材ｌを被着した供試品／に振
動を加え、従来のごとくしてサーモグラフを描くと、同
図（ト）の曲線、？ａで示゛イーごときバタンがイ？Ｉ
ら第１る。
同図（ａ）において、供試品／の表面に、発熱量が犬、
熱容量が小で、かつ、伝熱特性の悪い表面処理材ヴを被
着する。被着の態様は塗布あるいはテープ状体の貼着に
よって行なう。表面処理材ρトシては、ノタル酸アルキ
ド塗料、エポキシ塗料あるいはウレタン塗料などが好適
である。かように表面処理材ｌを被着した供試品／に振
動を加え、従来のごとくしてサーモグラフを描くと、同
図（ト）の曲線、？ａで示゛イーごときバタンがイ？Ｉ
ら第１る。
この曲線、？ ｎ、 Ｉｃみる。１、うに、表面処理胴
ぐの高発熱性、低熱容量性および低熱伝導性により、温
度上昇のバタンか明瞭となり、正確な応力、応力分布の
測定ができる。
ぐの高発熱性、低熱容量性および低熱伝導性により、温
度上昇のバタンか明瞭となり、正確な応力、応力分布の
測定ができる。
以上の実施例は、−次元的な応力分布であるが、面応力
分布に適用しても同様な効果がイ（ｔら第１、また、振
動人力としては、π力変化、荷重変化等でｋ）つてもよ
い。
分布に適用しても同様な効果がイ（ｔら第１、また、振
動人力としては、π力変化、荷重変化等でｋ）つてもよ
い。
以上のように、この発明１てよれば、温度分布バタンか
明瞭化され、表面処理胴の選択により供試品材質が変っ
てもほぼ一定の感度がイｋ）ら第１、定ｆｉ１化も容易
になる等の効果がある。
明瞭化され、表面処理胴の選択により供試品材質が変っ
てもほぼ一定の感度がイｋ）ら第１、定ｆｉ１化も容易
になる等の効果がある。
第１図（ａ）は従来の方法を説明するための（１１略構
成図、同図（ｂ）は同じく温度分布バタンの線図、第２
図（ａ）はこの発明を説明するだめの概略構成図、同Ｚ
ｆｂ）は同じく温度分布バタンの６１図でｋ）る。 ／・・供試品、／ａ・−固定端、ｌ・・赤外線カメラ、
” ＊−、？ａ・・ｒ煽度分布１１ノ１線、り・・表面
処Ｂ［（材１、 ｌ、［よ・層、各図中、同一符号は同−又は相当部分を
示す。 代理人 葛 野 信 − 殆１図 （ａ） （ｂ） 始２図 （ａ ） （ｂ ） 丁 １”Ａ： ｈ市 止、書（自発）に綽’１４１’
ｊ’ｌ’ Ｉ’Ｉ長１”Ｈｌｌｉ：３１、 Ｈ’ｌ
の／、小 Ｔ冒、１！１昭！１′７−／弘１す６
号２ 賢明のと１（６、 応力測定方法 ：３． １山１１ を ４６と ｌｆｌ’ｌとの１’、！Ｈ，マ ’ｌ”Ｉ’；ｊ’
ｌ’：ｌ暫１１人１１ 所 東京都千代１．
ｌ Ｉ区丸の内二丁１−Ｉ ２ 音３号ｉ’ｌ ｆＭ
、（６ｆ）ｌ ｌ ’−変ｉＮ：機株式会社代表台
片山ｆ−′爪部 ・１ 代 川１ 人 １（１す（東卓都「゛代ｉｔ Ｉ区丸の内゛、ローＩ２
池：員ｊ。 ０） 明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 （１）明細１．第３頁第１行「近い点で温度が下がり」
を１近い点で、固定端／ａへの熱伝導による放熱のため
温度が下がり」と補正する。 １８５−
成図、同図（ｂ）は同じく温度分布バタンの線図、第２
図（ａ）はこの発明を説明するだめの概略構成図、同Ｚ
ｆｂ）は同じく温度分布バタンの６１図でｋ）る。 ／・・供試品、／ａ・−固定端、ｌ・・赤外線カメラ、
” ＊−、？ａ・・ｒ煽度分布１１ノ１線、り・・表面
処Ｂ［（材１、 ｌ、［よ・層、各図中、同一符号は同−又は相当部分を
示す。 代理人 葛 野 信 − 殆１図 （ａ） （ｂ） 始２図 （ａ ） （ｂ ） 丁 １”Ａ： ｈ市 止、書（自発）に綽’１４１’
ｊ’ｌ’ Ｉ’Ｉ長１”Ｈｌｌｉ：３１、 Ｈ’ｌ
の／、小 Ｔ冒、１！１昭！１′７−／弘１す６
号２ 賢明のと１（６、 応力測定方法 ：３． １山１１ を ４６と ｌｆｌ’ｌとの１’、！Ｈ，マ ’ｌ”Ｉ’；ｊ’
ｌ’：ｌ暫１１人１１ 所 東京都千代１．
ｌ Ｉ区丸の内二丁１−Ｉ ２ 音３号ｉ’ｌ ｆＭ
、（６ｆ）ｌ ｌ ’−変ｉＮ：機株式会社代表台
片山ｆ−′爪部 ・１ 代 川１ 人 １（１す（東卓都「゛代ｉｔ Ｉ区丸の内゛、ローＩ２
池：員ｊ。 ０） 明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 （１）明細１．第３頁第１行「近い点で温度が下がり」
を１近い点で、固定端／ａへの熱伝導による放熱のため
温度が下がり」と補正する。 １８５−
Claims (1)
- 供試品に繰返し応力を加えこの応力釦対応する前記供試
品の発熱による温度上昇を赤外線サーモグラフに描記し
て応力分布を測定する方法において、前記供試品の表面
に応力に対して、発熱量が多く、熱容量が小さく、伝熱
１時性の悪い表面処理料を被着して行なうことを特徴と
する応力測定方法０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14440682A JPS5932836A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 応力測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14440682A JPS5932836A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 応力測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5932836A true JPS5932836A (ja) | 1984-02-22 |
Family
ID=15361428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14440682A Pending JPS5932836A (ja) | 1982-08-18 | 1982-08-18 | 応力測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5932836A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61168469U (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-18 | ||
| EP1998293A2 (en) | 2007-05-28 | 2008-12-03 | Asahi Seiko Co., Ltd. | Coin hopper |
| JP2021067558A (ja) * | 2019-10-24 | 2021-04-30 | 株式会社日立製作所 | 検査システム、検査方法及び構造物 |
-
1982
- 1982-08-18 JP JP14440682A patent/JPS5932836A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61168469U (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-18 | ||
| EP1998293A2 (en) | 2007-05-28 | 2008-12-03 | Asahi Seiko Co., Ltd. | Coin hopper |
| US7682230B2 (en) | 2007-05-28 | 2010-03-23 | Asahi Seiko, Co. Ltd. | Coin hopper |
| JP2021067558A (ja) * | 2019-10-24 | 2021-04-30 | 株式会社日立製作所 | 検査システム、検査方法及び構造物 |
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