JPS5933700A - メモリ内容チエツク方式 - Google Patents

メモリ内容チエツク方式

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Publication number
JPS5933700A
JPS5933700A JP57142917A JP14291782A JPS5933700A JP S5933700 A JPS5933700 A JP S5933700A JP 57142917 A JP57142917 A JP 57142917A JP 14291782 A JP14291782 A JP 14291782A JP S5933700 A JPS5933700 A JP S5933700A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
stored
circuit
check
Prior art date
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Pending
Application number
JP57142917A
Other languages
English (en)
Inventor
Sumio Nagashima
永島 純雄
Nobushi Suzuki
鈴木 悦四
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP57142917A priority Critical patent/JPS5933700A/ja
Publication of JPS5933700A publication Critical patent/JPS5933700A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing

Landscapes

  • Detection And Correction Of Errors (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、マイクロコンピュータに使用されるリード・
オンリー・メモリ(ROM )  やランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM )  等のメモリの内容全簡易に
正誤141定し得るようにしたメモリ内容チェック方式
に関する。
〔発明の技術的背景〕
近時、マイクロコンピュータの使用範囲の広;;・15
、化に伴ない、そのプログラム用メモリには多種多様な
プログラムが格納されるようになっている。ところが、
プログラム用メモリにプログラム街〒1き込む際、メモ
リ自体の不良や店−き込み回路の故障、雑音の混入等の
種々原因により実際にメモリに書き込1れた内容が男き
込むべき内容と異なることがある。このf−め、マイク
ロコンピュータを製品に組の込む場合に(−11、その
前もしくは絹み込んだ後に、メモリの記憶内容をチェッ
クする必要がある。
そこで従来では、メモリに記I11するプログラムの各
ワード毎にパリティピットやECC(誤り検出・訂正機
能)ビットを付加し、これによりチェックを行なうこと
によりメモリの記憶内容の正誤判定不τ行なっていた。
〔背以技術の問題点〕
ところが、このような従来のチェック方式は、各ワード
毎にパリティピット等を1ビット以上ずつ付加するため
に、メモリの記憶′讐−后螢が」11大してメモリの大
容量化が必要となり、これによりメモリが高価となる欠
点がちる。また、一般にメモリの111容は改訂される
ことかぐ・く、如何なる内容のプログラムが格納されて
いるが全認識する必要がある。ところが上記従来のチェ
ック方式でl:t 、格納されているプログラム自体が
正しければブエック結果は必ずiLF常となるため、所
望のプログラムが格納きれているか否かの判定は行なえ
なかった。咬た、異なるメモリを誤って組み込んだ場合
にも、この誤りを)ζヱ出できなかった。
〔発明の目的〕
本発明は、少なくともメモリ容量の増大を招くことなく
、簡単にh12憶1ノ]容のチェック全行ない得るよう
にしブーメモリ内容ナエック方式全提供することを目的
とづ°る。
〔発明の枳′(要〕
本発明Q、1、上記目的を達成する7’v、 y>に、
メモリの7優数のワード領域のうちil−斉のワード領
域かもしく i+、このワード領域分の記憶イト4〜4
を有する外部メモリに、」二記メモリの名ワード領域に
層1世されるデータが正常で・Pンる鳴合の所5Nの演
算結果に相当する基準データを予め記憶しておき、上記
メモリから各ワード令LI域の記憶データをそれぞ11
.読出して上記所定の)′1(算による演算結果を求め
、この演′算結果を上記)’、f j%l、データと比
較してその比較結果からL :jC,メモリの各記憶デ
ータの正誤全判定するよθにし1mものである。
〔発明の実施例〕
第1図は、本発明の一実施例におけるメモリ内容チェッ
ク方式を適用したヂエック装置の概略構成図で、この装
4jit(はチェックプログラム介内蔵したマイクロプ
ロセッサ(CPU)  1.11m、例えばFROM 
からなる被チエツクメモリ2と、この被チエツクメモリ
2がらデータバス3へのデータの出カイ・す作を制商1
するダート回路4と、上j+F2 CPU Jからアド
レスバス5へ送出されるアドレス情報をW(読して上記
ケ゛−ト回路4を開閉制御するデコーダ回路6と、チェ
ック回路7とがら構成でゾ1.ている。
チェック回路7は、基ヱ(ヘデータ全記憶するレジスタ
71と、このレジスタ71に基準データを設定するたど
)σ)スイッチ回路72と、上記レゾスタフ1からデー
タバス3への基準データの出力を制御するダート回路7
3と、前記CPU 7からアドレスバス5に送出される
アドレス情報全解読して、上記ダート回路73および前
記被チエツクメモリ2の出方制御用ダート回路4を相反
的に開閉fli制御するデコーダ回路74とから構成さ
れている。なお、図中75は前記各デコーダ回路6,7
4の制御出方をそれぞれ論理積処理するアンド回路であ
る。
ここで、上記レジスタ71に記憶する基Iff、’+デ
ータは、被チエツクメモリ2の各ワード負1域21、〜
,2(N−1,’)に記憶されるデータが正常である場
合のその加算値に定められ、スイッチ回路72により手
!!”!+にてし・ゾスタ7ノに設定される。
一方CPU 1は、例えば第2]う1のフローチャート
に示す如きチェックプログラムを有しており、このプロ
グラムに従って次のチェック動作を行なうものである。
すなわち、そのチェック動作とは、 (1)  被チエツクメモリ2の各ワード令頁域21゜
〜、2(N−1)に1己1.へされているデータをそれ
ぞれ読出して加算演算を行フチう動作、・(11)  
被チエツクメモリ2のワード傾梗、 2Nに対応するア
ドレス情報を送出してデコーダ回路74にゲート(l路
73合開成させ゛、これによりレジスタ71かも基準デ
ータを読2.−込んで前R11加碧。
結果をこの基準データと比較演勢す石動作。
(iii)  この比較演算の結果、力[1算結果と基
準デ−タとが一致したときは前記被チエツクメモ1ノ2
の記憶データが正常であると崖11定するとともに、一
致しない場合は記憶データに誤t’l 75iイf在す
るものと判定する動作・ (iv)  (iii)で得た各判定結果をそれぞれ図
示しない表示部に表示せしめる動イ乳 である。
次に、以上のような構成に基づいて、本実施例のメモリ
内容チェック方式を説明する。先ず被チエツクメモリ2
をソケットに差し込む等して所定の状態にセットし、か
つこの被チエツクメモリ2の記憶データに対応して予め
定めておいた基準データを、スィッチ回路72f操作し
てレジスタ71に設定する。
そして、この状態でCPU 1 ’lfスタートさせる
そうすると、CPU1から先ず被チエツクメモ1ノ2の
各ワード領域21.〜,2(N−1)に対応するアドレ
ス情報が順次送出され、lfi己各ワード領域21.〜
,2(N−1)5;アク−ヒスされる。このとき、デコ
ーダ回路74にしワード(iQ域2Nのアドレス情報が
到来したときのみ°’H“レベルの信号を発生する。1
−うにムrf成されているので、r−ト回路4は開成〕
しく態不・、一方ケゝ−ト回路73は閉成状態をそI]
、ぞれ維持する。したがって、CPU1には被チエツク
メモリ2の記憶データがそれぞオ)入力され、こり!、
らのhl】1彦データはCPU fで順次側3つされて
−・特記1意さ1する。
この加算111J作が終了すると、CPU 1からは被
チエツクメモリ2のワード領j1ρ、 2Nに対応する
アドレス4青報が出力さ゛れる。そうすると、デコーダ
回路74からn H++tレベルの信号が発生されてダ
ート回路4に代わってケ゛−1・回路73が開成し、こ
の結果レノスタフ1に設定しである基準データがCPU
 Zに取り込まれる。これによりCPU 1では 先に
算出し一特記iEしておいた加算結果が上記基Iν(デ
ータと比較され、両者が一致する場合には被チエツクメ
モリ2の記憶データは正常と判定され、一方不一致のJ
、”th合tよ異常と判定されて、表示部で表示きれる
。かくして、メモリ2の記憶データの正誤判定がなさ第
1.る。
このように、本実施例のチーツク方式であれば、被チエ
ツクメモリ2のワード領域2Nkチエツク用とし、て蟻
牲にするだけで、言い換えればこのワード領域2N分だ
け記憶容!Aを予め増やしてJ’i−< ;/η二けで
チェックを行なえるので、メモリ2の容Ii8不犬幅に
増・マ・すことなくチェックを行なうことができる。し
たがって、各メモリの低価格化をはかることができる。
また、本実施例であれば、被チエツクメモリ2の記憶デ
ータに応じて基準データをその都匿手動設定できるので
、記・11γデ一タ自体の正誤」′]1足げかりでなく
、メモリに格納をれているデータのA″重類誤りやメモ
リの差し違い等を確実に検出することができる。
なお、不発明a、上記実施例に限冗寧れるもので(弓:
ない。例えば、」1記実施例では、基1”μデータを外
部メモリ(レジスタ71)に記憶′させた場合について
示し、たが、メモIJ 2 Kデータ(プログラム)を
宵き込む際に、チェック用ワード領吠2Nに基準データ
を吉き込力・、このワード領域2Nから基準データを読
出してチェックを行なうようにしてもよい。このように
すれば、少なくとも記憶データ自体の正誤判定だけd、
何7. c、、)1に行なうことができ、またメモリ容
針の増大も防止できる。さらに前記実施例でに11、チ
ェック専用のCPo 1 k用いてチェック4行なうブ
R合について示したが、実際に製品に絹公込むCPU 
1にチェック用のプログラムを伺JJi L、、このC
PUにメモリを接わ′11シた状態でチェックを行なオ
るようにしてもよい。このようにすオL IHI’、 
、マイクロコンピュータとしての自己’I’ll 7.
J−1/バ可用元となる。また、各記憶データの演)I
、の方式としては、加算以外に排他的論理和処理による
θ;r Fや減+D等の他の演算方式を適用してもよい
。その他、被グーニックメモリのワード領域の数、つ随
りl−己1、音容量や演算するデータの数および基準デ
ータの数、回路構成、メモリの種類等についても、不発
明の・周旨を逸脱しない範囲でfilT /r少二形し
て実施できる。
〔発明の効果〕
以上1イ述したように本発明は、メモリの複数のワード
領域のうち任意のワード領域かもしくはこのワード領域
分の記憶容U″をイイする外部メモリに、上記ワード領
域に記憶ネれるデータにノルづいて予め51“められた
JiX鵡デークΔ」1〕・let L、て卦キ、−ヒh
己メモリから各ワード領域の記憶データをそflぞれm
l:LIIして所定の演り′(゛を行ない、その演算結
果を上記基準データと比較し7でその比較結果から上記
メモリの各記憶データの正誤全判定するようにしたもの
である。
したがって本発明によれば、少なくともメモリ容量の増
大を招くことなく、簡単に記憶内容のチェックを行ない
得るメモリ内容チェック方式全1是伊することができる
【図面の簡単な説明】
即、1図は本発明の一実施例におけるメモリ内容チェッ
ク方式を・適用したチェック装置の概略構成図、第2図
は同装置のCPUの動作プログラムを示すフローチャー
トでirる。 1・・・CPU、 2・・・被チエツクメモリ、3・・
・データバス、4・・・ダート回路、5・・・アドレス
バス、6・・・デコーダ回路、7・・・チェ、り回路、
71・・・レジスフ、72・・・スイッチ回路、73・
・・ケ1−ト回路、74・・・デコーダ回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  複数ワード分の記憶領域を有するメモリの任
    意のワード領域かもしくはこのワード領域に相当する記
    憶構成を有する外部メモリに、前記メモリの各ワード領
    域に記憶されるデータが正常である場合の所定の演算結
    果に相当する基準データを記憶し、前記メモリの各ワー
    ド領域から記憶データをそれぞれ読出して前記所定の演
    算による演算値を求め、この演算値を別途読出した前記
    基準データと比較してその比−:;′ン結果から前記メ
    モリの記憶データの正誤を判定するように構成したこと
    を特徴とするメモリ内り゛Yチェック方式0
  2. (2)外部メモリは、メモリの記憶データに応じて基準
    データを手動設定可能に構成したものであるll’l許
    、171求の範囲第(1)項記載のメモリ内容チェック
    方式。
JP57142917A 1982-08-18 1982-08-18 メモリ内容チエツク方式 Pending JPS5933700A (ja)

Priority Applications (1)

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JP57142917A JPS5933700A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 メモリ内容チエツク方式

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57142917A JPS5933700A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 メモリ内容チエツク方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5933700A true JPS5933700A (ja) 1984-02-23

Family

ID=15326623

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57142917A Pending JPS5933700A (ja) 1982-08-18 1982-08-18 メモリ内容チエツク方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7600161B2 (en) * 2004-08-13 2009-10-06 Gm Global Technology Operations, Inc. Method of verifying integrity of control module arithmetic logic unit (ALU)

Cited By (1)

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