JPS593577Y2 - 電解コンデンサ - Google Patents
電解コンデンサInfo
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- JPS593577Y2 JPS593577Y2 JP8474076U JP8474076U JPS593577Y2 JP S593577 Y2 JPS593577 Y2 JP S593577Y2 JP 8474076 U JP8474076 U JP 8474076U JP 8474076 U JP8474076 U JP 8474076U JP S593577 Y2 JPS593577 Y2 JP S593577Y2
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Links
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電解コンデンサの内部素子構造に係る。
アルミニウム電解コンデンサは、内部使用材料が大部分
アルミニウム金属であるため、コンデンサ内部の塩素イ
オンによって陽極部が腐食する欠点があった。
アルミニウム金属であるため、コンデンサ内部の塩素イ
オンによって陽極部が腐食する欠点があった。
この腐食する部分は主として陽極リベットと陽極タブと
の接合部で断線等の事故が発生している。
の接合部で断線等の事故が発生している。
上記の欠点を解決するため従来はコンテ゛ンサ内部の使
用材料には塩素イオンができるかぎり少ないものを選定
し使用していた。
用材料には塩素イオンができるかぎり少ないものを選定
し使用していた。
腐食発生している陽極リベットと陽極タブの接合部の塩
素イオン量を測定した結果、腐食発生した後は塩素イオ
ン量が100〜1000倍に増加している。
素イオン量を測定した結果、腐食発生した後は塩素イオ
ン量が100〜1000倍に増加している。
この測定結果より、コンテ゛ンサ内部に点在している塩
素イオンが該コンデンサに電圧を印加して使用すると、
陽極リベットと陽極タブとの接合部に塩素イオンが集中
する。
素イオンが該コンデンサに電圧を印加して使用すると、
陽極リベットと陽極タブとの接合部に塩素イオンが集中
する。
従来よりアルミニウム電解コンテ゛ンサの腐食ニ伴なう
断線の突発事故を防止するために腐食発生しやすい陽極
リベットと陽極タブの部分に防食被膜、例えば酸化膜や
樹脂膜の形成あるいはゴム、グフース、低分子樹脂等の
絶縁物を塗付する等の技術手段を用いていた。
断線の突発事故を防止するために腐食発生しやすい陽極
リベットと陽極タブの部分に防食被膜、例えば酸化膜や
樹脂膜の形成あるいはゴム、グフース、低分子樹脂等の
絶縁物を塗付する等の技術手段を用いていた。
しかし、上記の絶縁物を被膜することにより、陽極リベ
ットと陽極タブの間に接触抵抗が大きくなる欠点が生じ
る。
ットと陽極タブの間に接触抵抗が大きくなる欠点が生じ
る。
また、塩素イオンが時間の経過と共に陽極リベットと陽
極タブの間に防食処理の不完全部やグリースなど絶縁物
の塗布不完全な部分に塩素イオンが浸入する欠点も生じ
た。
極タブの間に防食処理の不完全部やグリースなど絶縁物
の塗布不完全な部分に塩素イオンが浸入する欠点も生じ
た。
本考案は、上記の欠点を除去するために、塩素イオンの
量も多く含まれている陽、陰極箔で構成されている素子
からの塩素イオンの離脱を防止したものである。
量も多く含まれている陽、陰極箔で構成されている素子
からの塩素イオンの離脱を防止したものである。
アルミニウム電解コンデンサの腐食事故は前記のごとく
、陽極リベットと陽極タブの間で大部分発生する。
、陽極リベットと陽極タブの間で大部分発生する。
このリベットとタブの間が電解液で被われていると、電
解液の種類によって異なるが、特にエチレングリコール
、ホウ酸系のものでは1000〜2000 PPm以上
の濃度に達しなければ腐食が発生しないが、塩素イオン
を空気中にさらすと極微量の塩素イオン濃度であっても
腐食が発生する。
解液の種類によって異なるが、特にエチレングリコール
、ホウ酸系のものでは1000〜2000 PPm以上
の濃度に達しなければ腐食が発生しないが、塩素イオン
を空気中にさらすと極微量の塩素イオン濃度であっても
腐食が発生する。
このことからアルミニウム電解コンデ゛ンサの腐食防止
に最も効果があって簡単なことはコンテンサ内部に存在
する塩素イオンを電解液中、即ち素子中に封じ込めてお
けば腐食が発生しなくなる。
に最も効果があって簡単なことはコンテンサ内部に存在
する塩素イオンを電解液中、即ち素子中に封じ込めてお
けば腐食が発生しなくなる。
以下図面について説明する。第1図はコンデンサ素子の
展開図であり、第2図は第1図の展開図の中心部に空洞
部を設けて捲回した素子の概略図であり、1は電解コン
デンサ素子の概略を示し、2は素子中心部の空洞部、7
,8は陽、陰極タブである。
展開図であり、第2図は第1図の展開図の中心部に空洞
部を設けて捲回した素子の概略図であり、1は電解コン
デンサ素子の概略を示し、2は素子中心部の空洞部、7
,8は陽、陰極タブである。
第3図は素子中に存在する塩素イオンのリベット−タブ
間への移動を防止するための仕切り板で、3は仕切り板
を示す。
間への移動を防止するための仕切り板で、3は仕切り板
を示す。
この仕切り板3には突起部4が設けてあり、この突起部
4は第2図の素子1の空洞部2に挿入できるようになっ
ている。
4は第2図の素子1の空洞部2に挿入できるようになっ
ている。
第4図イPは仕切り板3をA−A’から見た平面図であ
す、町よ左右に切欠部5,6を設け、該切欠部5,6の
部分に素子1から引き出された陽、陰極タブ7.8が挿
入できるようになっている。
す、町よ左右に切欠部5,6を設け、該切欠部5,6の
部分に素子1から引き出された陽、陰極タブ7.8が挿
入できるようになっている。
第5図は本考案の一実施例を示すコンデンサの完成断面
図であり、第2図に示す素子1の陽、陰極タブ7.8の
引き出された方に第3図に示す仕切り板3の突起部4が
素子1の空洞部2に挿入するように組み合わせ、仕切り
板の左右の切欠部5,6に素子1から引き出された陽、
陰極タブ7.8を引き出し、引き出したのち、該切欠部
にシリコン樹脂9を塗布し、塗布したのち素子の全体を
シリコン収縮チューブ又はポリエチレン収縮チューブ等
の収縮チューブ10を被せ、陽、陰極タブ7.8を各陽
、陰極リベットに接合し、仕切り板を装着しない、もう
一方の素子端面を固定剤11で封止するように、固定剤
11の入ったアルミケース12内に前記素子を収納し、
完成させた電解コンデンサである。
図であり、第2図に示す素子1の陽、陰極タブ7.8の
引き出された方に第3図に示す仕切り板3の突起部4が
素子1の空洞部2に挿入するように組み合わせ、仕切り
板の左右の切欠部5,6に素子1から引き出された陽、
陰極タブ7.8を引き出し、引き出したのち、該切欠部
にシリコン樹脂9を塗布し、塗布したのち素子の全体を
シリコン収縮チューブ又はポリエチレン収縮チューブ等
の収縮チューブ10を被せ、陽、陰極タブ7.8を各陽
、陰極リベットに接合し、仕切り板を装着しない、もう
一方の素子端面を固定剤11で封止するように、固定剤
11の入ったアルミケース12内に前記素子を収納し、
完成させた電解コンデンサである。
以上説明した如く、本考案の電解コンデンサの素子内部
構造は素子全体を仕切り板3、収縮チューブ10および
固定剤11で被覆することにより素子中に含まれる塩素
イオンをリベット−タブ間に移動させないことで腐食発
生を防止することができ、また、電解液の蒸発は従来の
コンデンサと比較して士に減少する(表1に示す。
構造は素子全体を仕切り板3、収縮チューブ10および
固定剤11で被覆することにより素子中に含まれる塩素
イオンをリベット−タブ間に移動させないことで腐食発
生を防止することができ、また、電解液の蒸発は従来の
コンデンサと比較して士に減少する(表1に示す。
)さらにIwt%Naclを含有した電解液を含浸した
素子85℃直流電圧負荷テストを実施したところ、従来
構造の電解コンテ゛ンサは100時間で腐食断線が発生
したが、本考案の構造のものは1000時間経過しても
腐食が発生せず、電解液のドライアップを防止して、電
解コンデ゛ンサの寿命を長くすると共に、塩素イオンに
よる陽極タブの腐食断線を防止でき、実用的効果の極め
て高いものである。
素子85℃直流電圧負荷テストを実施したところ、従来
構造の電解コンテ゛ンサは100時間で腐食断線が発生
したが、本考案の構造のものは1000時間経過しても
腐食が発生せず、電解液のドライアップを防止して、電
解コンデ゛ンサの寿命を長くすると共に、塩素イオンに
よる陽極タブの腐食断線を防止でき、実用的効果の極め
て高いものである。
第1図はコンデンサ素子の展開図、第2図は第1図の展
開図の中心部に空洞部を設けて捲回した素子の概略図、
第3図は仕切り板の断面図、第4図イ90は仕切り板を
A−A’から見た平面図、第5図は本考案によるコンデ
ンサの断面図。 図中型な符号は次の通りである。 1は素子の全体概略を示す。 2は空洞部、3は仕切り板、4は突起部、5,6は切欠
部、7,8は陽、陰極タブ、9は樹脂、10は収縮チュ
ーブ、11は固定剤、12はアルミニウムケース。
開図の中心部に空洞部を設けて捲回した素子の概略図、
第3図は仕切り板の断面図、第4図イ90は仕切り板を
A−A’から見た平面図、第5図は本考案によるコンデ
ンサの断面図。 図中型な符号は次の通りである。 1は素子の全体概略を示す。 2は空洞部、3は仕切り板、4は突起部、5,6は切欠
部、7,8は陽、陰極タブ、9は樹脂、10は収縮チュ
ーブ、11は固定剤、12はアルミニウムケース。
Claims (3)
- (1)陽極箔と陰極箔との間に電解紙を介して捲回し、
中心部に空洞部2を設けた筒形素子1の陽極タブ引出側
の端面に該素子1の端面とほぼ同じ大きさの凸形状の絶
縁物よりなる仕切り板3を、該仕切り板3の突起部4が
前記空胴部2に嵌挿するように装着し、該素子1と該仕
切り板3とを熱収縮性チューブ10で被覆し、一体化し
、もう一方の素子端面を固定剤11で封止するようにし
たことを特徴とする電解コンデンサ。 - (2)仕切り板3に切欠部5,6を設け、該切欠部5,
6よりタブ7,8を引出し、該切欠部5,6を樹脂9で
封止したことを特徴とする、実用新案登録請求の範囲第
1項記載の電解コンデンサ。 - (3)熱収縮性チューブに、シリコンチューブ又はポリ
エチレンチューブのいずれかを使用したことを特徴とす
る、実用新案登録請求の範囲第1項乃至第2項記載の電
解コンテ゛ンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8474076U JPS593577Y2 (ja) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | 電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8474076U JPS593577Y2 (ja) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | 電解コンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5316144U JPS5316144U (ja) | 1978-02-10 |
| JPS593577Y2 true JPS593577Y2 (ja) | 1984-01-31 |
Family
ID=28695971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8474076U Expired JPS593577Y2 (ja) | 1976-06-29 | 1976-06-29 | 電解コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593577Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5520313U (ja) * | 1978-07-24 | 1980-02-08 | ||
| JPH0215867Y2 (ja) * | 1985-02-07 | 1990-04-27 | ||
| JPH0215868Y2 (ja) * | 1985-02-12 | 1990-04-27 | ||
| JPH0636019Y2 (ja) * | 1985-12-19 | 1994-09-21 | 村田機械株式会社 | トラックのアオリ固定装置 |
| JPH0651535B2 (ja) * | 1986-02-08 | 1994-07-06 | 西部電機株式会社 | 荷台位置規制装置 |
-
1976
- 1976-06-29 JP JP8474076U patent/JPS593577Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5316144U (ja) | 1978-02-10 |
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