JPS594250B2 - 放電加工における放電パルスの良否判別装置 - Google Patents
放電加工における放電パルスの良否判別装置Info
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- JPS594250B2 JPS594250B2 JP9750675A JP9750675A JPS594250B2 JP S594250 B2 JPS594250 B2 JP S594250B2 JP 9750675 A JP9750675 A JP 9750675A JP 9750675 A JP9750675 A JP 9750675A JP S594250 B2 JPS594250 B2 JP S594250B2
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Landscapes
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放電加工における各放電の良否、すなわち正常
又は異常放電を加工間隙の放電電圧、放電電流、または
放電中の間隙インピーダンスに含有または重量されてい
る高周波成分の有無または含有レベルにより検出判別す
る放電加工における5 放電パルスの良否判別装置の改
良に係る。
又は異常放電を加工間隙の放電電圧、放電電流、または
放電中の間隙インピーダンスに含有または重量されてい
る高周波成分の有無または含有レベルにより検出判別す
る放電加工における5 放電パルスの良否判別装置の改
良に係る。
従来より正常放電の放電電圧、放電電流または放電中の
間隙インピーダンスには10MH2前後程度の高周波成
分が含まれていることは知られている。これを図で説明
すると、第1図は電極と被10加工物とからなる加工間
隙に休止時間をおきながら間欠的にパルス電圧を印加し
た場合に発生する放電の電圧波形図を拡大して示したも
ので、Dは正常放電の場合に比較的多く現われるパルス
電圧印加開始時を。よシ放電開始時点tlまでの期間1
5の無負荷電圧部分、Aは正常放電の放電電圧波形で前
記放電開始時点を、より所望の設定された放電持続時間
の間すなわちパルス終了時点を2まで継続する。Bはア
ーク放電等の不良又は異常放電の放電電圧波形で、この
場合には前記無負荷電圧20部分Dは現われないことが
多い。又Cは間隙短絡時の電圧波形で、この場合には前
記無負荷電圧部分は通常現われない。しかして正常放電
の場合にはその放電中の放電電圧波形(放電電流の場合
には放電電流波形)に第1図波形Aで示したように25
通常約10MH2前後程度の絶えず変化する不定周波数
の高周波成分が重畳して現われる。すなわち放電電圧波
形は上記の高周波で絶えず振動しておわ、放電電圧は絶
えず高周波で変化している。
間隙インピーダンスには10MH2前後程度の高周波成
分が含まれていることは知られている。これを図で説明
すると、第1図は電極と被10加工物とからなる加工間
隙に休止時間をおきながら間欠的にパルス電圧を印加し
た場合に発生する放電の電圧波形図を拡大して示したも
ので、Dは正常放電の場合に比較的多く現われるパルス
電圧印加開始時を。よシ放電開始時点tlまでの期間1
5の無負荷電圧部分、Aは正常放電の放電電圧波形で前
記放電開始時点を、より所望の設定された放電持続時間
の間すなわちパルス終了時点を2まで継続する。Bはア
ーク放電等の不良又は異常放電の放電電圧波形で、この
場合には前記無負荷電圧20部分Dは現われないことが
多い。又Cは間隙短絡時の電圧波形で、この場合には前
記無負荷電圧部分は通常現われない。しかして正常放電
の場合にはその放電中の放電電圧波形(放電電流の場合
には放電電流波形)に第1図波形Aで示したように25
通常約10MH2前後程度の絶えず変化する不定周波数
の高周波成分が重畳して現われる。すなわち放電電圧波
形は上記の高周波で絶えず振動しておわ、放電電圧は絶
えず高周波で変化している。
これに対しアーク放電等の異常放電の場30合には第1
図波形Bで示したように放電柱がアーク放電という安全
状態にあるためか前述正常放電の場合のような高周波成
分の重畳、換言すれば放電電圧波形の高周波振動はなく
、ほとんど一定の直線的な波形となる。従つて各パルス
放電の放電95中の放電電圧又は放電電圧波形に前記の
如き高周波成分が含まれ、又は現われているか否か或い
はその大きさ(レベル)が大きいか小さいか若しくは所
望レベルの上下何れに属するか等を検出判別すればその
放電が所望の正常放電か或いはアーク又はその他の異常
放電であるかを知ることができる。かくて放電電圧に於
ける高周波成分の有無や含有レベルを検出判別するのに
コンデンサや適宜のフイルタを使用し、該コンデンサ等
によつて間隙の直流電圧成分及びパルス電圧又は放電繰
返り周波数程度の比較的低周波の電圧変化成分をカツト
オフして前記の高周波の電圧成分を検出し、これを必要
に応じて整流して抵抗端子より取リだすとかあるいは必
要に応じ積分して取りだし、この取り出した信号を適宜
増幅等して放電加工に訃ける各種制御系の制御信号とし
て使用しているものがある。
図波形Bで示したように放電柱がアーク放電という安全
状態にあるためか前述正常放電の場合のような高周波成
分の重畳、換言すれば放電電圧波形の高周波振動はなく
、ほとんど一定の直線的な波形となる。従つて各パルス
放電の放電95中の放電電圧又は放電電圧波形に前記の
如き高周波成分が含まれ、又は現われているか否か或い
はその大きさ(レベル)が大きいか小さいか若しくは所
望レベルの上下何れに属するか等を検出判別すればその
放電が所望の正常放電か或いはアーク又はその他の異常
放電であるかを知ることができる。かくて放電電圧に於
ける高周波成分の有無や含有レベルを検出判別するのに
コンデンサや適宜のフイルタを使用し、該コンデンサ等
によつて間隙の直流電圧成分及びパルス電圧又は放電繰
返り周波数程度の比較的低周波の電圧変化成分をカツト
オフして前記の高周波の電圧成分を検出し、これを必要
に応じて整流して抵抗端子より取リだすとかあるいは必
要に応じ積分して取りだし、この取り出した信号を適宜
増幅等して放電加工に訃ける各種制御系の制御信号とし
て使用しているものがある。
そして最も普通には加工中常時加工間隙の電圧等より高
周波を検出する方式が採用されているが、各加工パルス
の放電開始時、又は放電開始時の間隙絶縁破壊に伴つて
発生する高周波成分の勢力が放電開始後の放電中に発生
している高周波成分の勢力に対して極めて大きく、かつ
前記の放電開始時に発生する高周波は各加工パルスによ
る放電が異常等の不良放電であつてもパルス電圧休止時
間の後に電圧パルスが印加されてその電圧印加と共にア
ーク等の異常放電を開始するものであるから放電開始時
に発生する高周波成分の勢力は弱いものではあつても、
前記高周波成分は或る程度発生して訃り、従つて雑音の
ない正確な放電パルスの良否判別ができないだけでなく
所望の制御を行なうに適した制御信号が得られない欠点
があつた。又上記のコンデンサ等のカツトオフによる高
周波成分の検出方式は、その回路構成等が比較的簡単で
あるものの、上記の如き放電中を含むパルス電圧印加期
間中は勿論のこと、常時検出及び判別作動を継続してい
るため雑音の入力を判別さらには防止することができず
、また放電の中途以後の後半部分に於て異常放電に移行
したパルス放電については判別が難かしく、正確な検出
判別が期待できなかつた。また前記の如く放電電圧等に
重畳されている高周波成分を検出して各放電の良否を判
別する場合に前述の如き放電開始の時の放電の不安定に
よる雑音の混入を防止するために放電開始から放電状態
が安定する或る時間遅延させた後所定検出期間を規定す
るチエツクパルスを出力せしめ当該チエツクパルスの期
間のみ検出判別を行なう等のことが必要となるが、構成
が複雑で加工パルス巾があまジ広くない条件では放電開
始後の遅延時間が充分取れず、加工条件によつていちい
ち遅延期間その他を切換えることもできないから正確な
検出ができないことがあつた。
周波を検出する方式が採用されているが、各加工パルス
の放電開始時、又は放電開始時の間隙絶縁破壊に伴つて
発生する高周波成分の勢力が放電開始後の放電中に発生
している高周波成分の勢力に対して極めて大きく、かつ
前記の放電開始時に発生する高周波は各加工パルスによ
る放電が異常等の不良放電であつてもパルス電圧休止時
間の後に電圧パルスが印加されてその電圧印加と共にア
ーク等の異常放電を開始するものであるから放電開始時
に発生する高周波成分の勢力は弱いものではあつても、
前記高周波成分は或る程度発生して訃り、従つて雑音の
ない正確な放電パルスの良否判別ができないだけでなく
所望の制御を行なうに適した制御信号が得られない欠点
があつた。又上記のコンデンサ等のカツトオフによる高
周波成分の検出方式は、その回路構成等が比較的簡単で
あるものの、上記の如き放電中を含むパルス電圧印加期
間中は勿論のこと、常時検出及び判別作動を継続してい
るため雑音の入力を判別さらには防止することができず
、また放電の中途以後の後半部分に於て異常放電に移行
したパルス放電については判別が難かしく、正確な検出
判別が期待できなかつた。また前記の如く放電電圧等に
重畳されている高周波成分を検出して各放電の良否を判
別する場合に前述の如き放電開始の時の放電の不安定に
よる雑音の混入を防止するために放電開始から放電状態
が安定する或る時間遅延させた後所定検出期間を規定す
るチエツクパルスを出力せしめ当該チエツクパルスの期
間のみ検出判別を行なう等のことが必要となるが、構成
が複雑で加工パルス巾があまジ広くない条件では放電開
始後の遅延時間が充分取れず、加工条件によつていちい
ち遅延期間その他を切換えることもできないから正確な
検出ができないことがあつた。
またこのような従来の検出方式では例えば上記チエツク
パルスの終了後の如き放電の途中から不良放電に移行し
たものは検出できず、このため制御動作が遅延したり次
の加工電圧パルスを印加してまたは該パルスによる放電
により検出判別して始めて間隙状態の悪化が判明する等
の不都合があつた。このような点を考慮して本発明では
加工用直流電源と、該電源に直列に接続されたオンオフ
スイツチングによつて加工間隙に加工パルスを供給する
スイツチング素子と、該スイツチング素子にオンオフ作
動のパルス信号を供給する時間装置を備えた放電加工装
置の放電パルスの良否判別装置に於て、前記時間装置よ
り出力するスイツチング素子のオン終了信号或はオフ開
始信号により作動して加工間隙の放電電圧、放電電流、
またはインピーダンスに重畳されている高周波成分の有
無を検出判別する装置を設けたものである。
パルスの終了後の如き放電の途中から不良放電に移行し
たものは検出できず、このため制御動作が遅延したり次
の加工電圧パルスを印加してまたは該パルスによる放電
により検出判別して始めて間隙状態の悪化が判明する等
の不都合があつた。このような点を考慮して本発明では
加工用直流電源と、該電源に直列に接続されたオンオフ
スイツチングによつて加工間隙に加工パルスを供給する
スイツチング素子と、該スイツチング素子にオンオフ作
動のパルス信号を供給する時間装置を備えた放電加工装
置の放電パルスの良否判別装置に於て、前記時間装置よ
り出力するスイツチング素子のオン終了信号或はオフ開
始信号により作動して加工間隙の放電電圧、放電電流、
またはインピーダンスに重畳されている高周波成分の有
無を検出判別する装置を設けたものである。
しかして既述の如き高周波成分の有無による検出判別は
例えば電圧レベルの検出判別の揚合ほどには加工条件に
よつて検出レベルや増幅度等を切換える必要がない点ま
たは正常放電と高周波成分がほとんど零のアーク放電と
の判別が正確、かつ確実に行なわれる所から有効なもの
である。以下本発明装置を第2図の1実施例プロツク線
図で説明する。
例えば電圧レベルの検出判別の揚合ほどには加工条件に
よつて検出レベルや増幅度等を切換える必要がない点ま
たは正常放電と高周波成分がほとんど零のアーク放電と
の判別が正確、かつ確実に行なわれる所から有効なもの
である。以下本発明装置を第2図の1実施例プロツク線
図で説明する。
先ずVGは放電間隙の電圧信号が入力する信号入力端子
で、それぞれ抵抗R1を介して演算増幅器0Pの+一両
端子に前記信号が入力する。+側入力端子には入力端子
VGで検出された電圧信号がそのまま同相で入力するが
、一側入力端子には抵抗R1コンデンサC1が設けられ
ているので、コンデンサC1のキヤパシタンスに応する
遅延信号が入力する。また一側入力端子と出力端子A1
間及び+側入力端子と接地間にはそれぞれ抵抗R2が設
けられており、演算増幅器0Pの出力端子A1には端子
VGよりの入力検出信号に同相の信号と、遅れの位相差
を有する遅延信号の和(この場合引算)が造られて出力
するようになつている。
で、それぞれ抵抗R1を介して演算増幅器0Pの+一両
端子に前記信号が入力する。+側入力端子には入力端子
VGで検出された電圧信号がそのまま同相で入力するが
、一側入力端子には抵抗R1コンデンサC1が設けられ
ているので、コンデンサC1のキヤパシタンスに応する
遅延信号が入力する。また一側入力端子と出力端子A1
間及び+側入力端子と接地間にはそれぞれ抵抗R2が設
けられており、演算増幅器0Pの出力端子A1には端子
VGよりの入力検出信号に同相の信号と、遅れの位相差
を有する遅延信号の和(この場合引算)が造られて出力
するようになつている。
演算増幅器0Pの出力端子A1にはパルス電圧印加に基
づく放電が正常放電であつて、放電電圧中に高周波成分
が含まれていれば信号が出力するがアーク放電等の異常
放電であれば放電開始時点以外の放電中は信号が出力し
ない。
づく放電が正常放電であつて、放電電圧中に高周波成分
が含まれていれば信号が出力するがアーク放電等の異常
放電であれば放電開始時点以外の放電中は信号が出力し
ない。
第3図A,bは第2図の回路の作動を説明するために第
2図に記載したVG,Al,A2,BO,BIyB2F
B3FM29Ml9O2夕01各端子の電圧信号を同一
時相で示した波形線図で、第3図aは正常放電の場合第
3図bはアーク放電等の異常放電の場合をそれぞれ示し
ている。
2図に記載したVG,Al,A2,BO,BIyB2F
B3FM29Ml9O2夕01各端子の電圧信号を同一
時相で示した波形線図で、第3図aは正常放電の場合第
3図bはアーク放電等の異常放電の場合をそれぞれ示し
ている。
伺先にも述べたように本発明では高周波成分が或る所定
レベル以上含まれているか否かの検出によつて判別する
ものであるから、その検出判別時点としてパルス電圧の
印加時点の前後またはパルス電圧の印加以後放電が開始
された時点の前後を選定することは少なくとも好ましく
ない。また放電開始時点はその放電開始がパルス電圧印
加時点と同時、または遅延しているの如何を問わず放電
開始に伴なう高周波成分の発生があるからこの意味でも
好ましくもなく、検出判別時点は間隙で放電が開始した
時点よりある時間を置いた以後放電終了までの期間から
所望の期間が選定されるものである。
レベル以上含まれているか否かの検出によつて判別する
ものであるから、その検出判別時点としてパルス電圧の
印加時点の前後またはパルス電圧の印加以後放電が開始
された時点の前後を選定することは少なくとも好ましく
ない。また放電開始時点はその放電開始がパルス電圧印
加時点と同時、または遅延しているの如何を問わず放電
開始に伴なう高周波成分の発生があるからこの意味でも
好ましくもなく、検出判別時点は間隙で放電が開始した
時点よりある時間を置いた以後放電終了までの期間から
所望の期間が選定されるものである。
しかして斯種の装置では、加工間隙にトランジスタ等の
電子スイツチ素子のオン、オフにより所望の休止時間を
}いて一定または不定のパルス持続時間を有するパルス
電圧を印加して間欠放電により放電加工をするものであ
り、このような装置に於ては上記スイツチ素子に対する
オンゲート信号がオフした後も該スイツチ素子は数μ8
以下の非常に短い時間ではあるがゲートオン信号があつ
た期間に引き続いて僅かな期間オンを継続した後オフす
る如くゲートオン信号が終了した後もな卦放電継続期間
が僅かながら存在するものである。
電子スイツチ素子のオン、オフにより所望の休止時間を
}いて一定または不定のパルス持続時間を有するパルス
電圧を印加して間欠放電により放電加工をするものであ
り、このような装置に於ては上記スイツチ素子に対する
オンゲート信号がオフした後も該スイツチ素子は数μ8
以下の非常に短い時間ではあるがゲートオン信号があつ
た期間に引き続いて僅かな期間オンを継続した後オフす
る如くゲートオン信号が終了した後もな卦放電継続期間
が僅かながら存在するものである。
即ち、これはトランジスタやシリコン制御整流素子等の
半導体スイツチング素子に於てはストレージタイム(蓄
積時間)によるターンオフ時間によるもので、放電加工
の加工パルス成形に用いられる作動定格電圧及び電流が
数10程度以上及び数A程度以上の通常半導体スイツチ
ング素子に於ては、上記ターンオフ時間が数μs前後あ
るもので、このような傾向及び特性は電子管等の他のス
イツチング素子に於てもほぼ同様のものである。本発明
はかかる点に着目し、放電電圧等に含まれる高周波成分
の有無またはその含有成分のレベルの検出期間を、前記
のスイツチング素子のゲートオン信号が終了またはオフ
信号の開始時点以後放電が終了するまでの期間または前
記オン終了信号(またはオフ開始信号)の時点より間隙
での放電が終了する以前の所定の短い期間としたもので
かくすることにより、スイツチング素子のオン終了信号
またはオフ開始信号を検出作動または検出期間開始の信
号としてそのまま利用することができ、従つてパルス幅
等の加工条件が切換えられても何等の変更、切換えの必
要もなく、また放電の途中以後終了までの期間で異常放
電に移行したパルス放電も確実に検出判別することがで
きる等の利点が得られるようになつたものである。前記
第2図に於て演算増幅器0Pの出力は正常放電の場合出
力端子A1に第3図AOAlに示す信号を出力するが、
その出力はアンド回路ANDの一方の入力端子に加えら
れ、該アンド回路ANDの他方の入力端子には端子B1
から前記オンゲート信号がオフになつた時信号が入力す
るよう構成されている。
半導体スイツチング素子に於てはストレージタイム(蓄
積時間)によるターンオフ時間によるもので、放電加工
の加工パルス成形に用いられる作動定格電圧及び電流が
数10程度以上及び数A程度以上の通常半導体スイツチ
ング素子に於ては、上記ターンオフ時間が数μs前後あ
るもので、このような傾向及び特性は電子管等の他のス
イツチング素子に於てもほぼ同様のものである。本発明
はかかる点に着目し、放電電圧等に含まれる高周波成分
の有無またはその含有成分のレベルの検出期間を、前記
のスイツチング素子のゲートオン信号が終了またはオフ
信号の開始時点以後放電が終了するまでの期間または前
記オン終了信号(またはオフ開始信号)の時点より間隙
での放電が終了する以前の所定の短い期間としたもので
かくすることにより、スイツチング素子のオン終了信号
またはオフ開始信号を検出作動または検出期間開始の信
号としてそのまま利用することができ、従つてパルス幅
等の加工条件が切換えられても何等の変更、切換えの必
要もなく、また放電の途中以後終了までの期間で異常放
電に移行したパルス放電も確実に検出判別することがで
きる等の利点が得られるようになつたものである。前記
第2図に於て演算増幅器0Pの出力は正常放電の場合出
力端子A1に第3図AOAlに示す信号を出力するが、
その出力はアンド回路ANDの一方の入力端子に加えら
れ、該アンド回路ANDの他方の入力端子には端子B1
から前記オンゲート信号がオフになつた時信号が入力す
るよう構成されている。
この場合端子B。は前記オンゲート信号の入力端子で該
オンゲート信号はタイマーT1に入力し、該タイマーT
1は前記オンゲート信号がOになつた時出力端子B1に
信号を出力するように構成されている。またアンド回路
ANDの前段に設けられているSは増幅及び波形成形の
ためのセンス・アンブリフアイアでシユミツト.トリカ
ー回路やICのデユアル.チヤンネル.センス.アンブ
リフアイア等が使用されている。このようにして間隙で
の放電が正常であれば、オンゲート信号がなくなつた時
点でアンド回路M1の出力端子A2より、例えば1μs
前後のパルス幅で信号が出力し、該出力信号はタイマT
4に入力する。他方端子B1の信号はタイマT2にも入
力しており、該タイマT2を動作させタイマT3及び前
記タイマT4を動作させる信号を端子B2より例えば0
.6μs程度のパルス信号として出力する。タイマT4
は端子A2及びB2よりの信号入力により動作し互いに
逆位相の2つの出力端子M1及びM2より出力信号をナ
ンド回路NAND,及びNAND2の一方の端子を入力
せしめる。前記それぞれのナンド回路NANDl,NA
ND2の他方の端子には前記タイマT3より端子B3か
ら微少パルス幅のパルス、例えばパルス幅0.2μsの
チエツクパルスがタイマT2の動作終了時点で入力し、
タイマT4の2つの逆位相出力端子M1及びM2と2つ
のナンド回路NANDl及びNAND2により構成され
た論理回路により放電電圧等の放電中の間隙のアナログ
量信号中に高周波成分が含まれている場合にはナンド回
路NAND2の出力端子02よりパルス信号、即ち正常
放電であるというパルス信号が出力し、アーク放電等の
異常放電で高周波成分が含まれていない場合には第3図
bに示すように他方のナンド回路NANDlの端子01
よりパルス信号即ち異常放電であるというパルス信号が
出力する。しかして、上記本発明の目的を達成する第2
図プロツク線図の各能動素子の具体例を示せば次の通り
である。演算増幅器0Pは、所謂リニアIC等と呼称さ
れているもので、テレダイン社製1322、センス.ア
ンプリフアイアS及びアンド回路ANDも同様に所謂1
Cの一種であつてテキサス社製、SN7524、タイマ
Tl,,T2,T3,及びT4はいずれもテキサス社製
デイジタルIC<7)SN74l2l、一部を使用した
ナンド回路NANDl,2はテキサス社製のSN74O
Oである。
オンゲート信号はタイマーT1に入力し、該タイマーT
1は前記オンゲート信号がOになつた時出力端子B1に
信号を出力するように構成されている。またアンド回路
ANDの前段に設けられているSは増幅及び波形成形の
ためのセンス・アンブリフアイアでシユミツト.トリカ
ー回路やICのデユアル.チヤンネル.センス.アンブ
リフアイア等が使用されている。このようにして間隙で
の放電が正常であれば、オンゲート信号がなくなつた時
点でアンド回路M1の出力端子A2より、例えば1μs
前後のパルス幅で信号が出力し、該出力信号はタイマT
4に入力する。他方端子B1の信号はタイマT2にも入
力しており、該タイマT2を動作させタイマT3及び前
記タイマT4を動作させる信号を端子B2より例えば0
.6μs程度のパルス信号として出力する。タイマT4
は端子A2及びB2よりの信号入力により動作し互いに
逆位相の2つの出力端子M1及びM2より出力信号をナ
ンド回路NAND,及びNAND2の一方の端子を入力
せしめる。前記それぞれのナンド回路NANDl,NA
ND2の他方の端子には前記タイマT3より端子B3か
ら微少パルス幅のパルス、例えばパルス幅0.2μsの
チエツクパルスがタイマT2の動作終了時点で入力し、
タイマT4の2つの逆位相出力端子M1及びM2と2つ
のナンド回路NANDl及びNAND2により構成され
た論理回路により放電電圧等の放電中の間隙のアナログ
量信号中に高周波成分が含まれている場合にはナンド回
路NAND2の出力端子02よりパルス信号、即ち正常
放電であるというパルス信号が出力し、アーク放電等の
異常放電で高周波成分が含まれていない場合には第3図
bに示すように他方のナンド回路NANDlの端子01
よりパルス信号即ち異常放電であるというパルス信号が
出力する。しかして、上記本発明の目的を達成する第2
図プロツク線図の各能動素子の具体例を示せば次の通り
である。演算増幅器0Pは、所謂リニアIC等と呼称さ
れているもので、テレダイン社製1322、センス.ア
ンプリフアイアS及びアンド回路ANDも同様に所謂1
Cの一種であつてテキサス社製、SN7524、タイマ
Tl,,T2,T3,及びT4はいずれもテキサス社製
デイジタルIC<7)SN74l2l、一部を使用した
ナンド回路NANDl,2はテキサス社製のSN74O
Oである。
な訃加工電圧パルスを形成するスイツチング素子はトラ
ンジスタ2SC558(最大定格VCE:100V,I
c:5A、電気的特性TOffMAX:4.0μs)を
20個並列で用い、加工パルス条件は、例えば無負荷電
圧:80V1放電電流パルス巾:4001ts電圧パル
ス休止巾:50μs、放電電流振巾、80Aとして加工
するものである。第2図Aは、演算増巾器0P入出力部
分の1設計例の詳細を示したもので、回路素子定数の具
体例を示すと下記の通ジである。
ンジスタ2SC558(最大定格VCE:100V,I
c:5A、電気的特性TOffMAX:4.0μs)を
20個並列で用い、加工パルス条件は、例えば無負荷電
圧:80V1放電電流パルス巾:4001ts電圧パル
ス休止巾:50μs、放電電流振巾、80Aとして加工
するものである。第2図Aは、演算増巾器0P入出力部
分の1設計例の詳細を示したもので、回路素子定数の具
体例を示すと下記の通ジである。
抵抗 R1 : 5KΩ
R2:200KΩ
R3: 1KΩ
R4:10KΩ
R5: 2KΩ
R6: 50Ω
コンデンサ C,:0.001μf
な卦、抵抗R5の出力と後段との間に、必要に応じ増幅
器を挿設する。
器を挿設する。
またタイマTl,T2,T3,T4の各CR時定数は前
述の各タイマ出力のパルス巾に応じ例えばタイマT4に
於けるR=1.8KΩ、C=1000PFの如く適宜設
定するものである。放電間隙における放電の繰返しは通
常1KHz以上の高い周波数であるから前記出力端子0
,及び02からの出力信号で間隙の放電状態が正常また
は良好であるか異常であるかを表示判別または判別によ
り制御信号を得るには、例えばそれぞれの出力端子01
及び02にカウンタを設けておき、両カウンタのカウン
ト数を所定の時間間隔ごとに比較するとか、端子01に
対応して設けたカウンタを4個のカウントにより信号を
出力せしめるように設定するのに対し端子02に対応し
て設けたカウンタを8個のカウントにより信号を出力す
るように設定し、後者の8個カウントする前に前者が4
個カウントすれば加工状態が悪いという表示または不良
加工状態を解消する制御系に制御信号を出力するように
構成するとか、あるいは端子B。,Bl,B2,B3の
何れかからパルス電圧のオンゲート信号を検出してそれ
をカウンタによりカウントせしめ該オンゲートカウンタ
のカウント数と前記出力端子01,02に設けたカウン
タの少なくとも一方のカウント数と比較または各設定カ
ウント数に応じて出力する信号を論理演算回路に加えて
2つ以上のパルス電圧の印加期間に訃ける放電状態の検
出判別または判別に基づく制御をする等任意に利用する
ことができる。本発明によれば上記のようにして正常放
電とアーク等の異常放電とは各放電ごとに確実に検出判
別でき、かつ電極被加工物の種類や組合せ及び加工条件
の設定変更の場合等にも放電電圧値の検出による判別等
の場合のように検出レベル設定を変更する等の必要がな
くなるが例えば短絡放電等は検出判別できるにしても短
絡は直ちにその解消を必要とするから別個に短絡検出器
を付設して短絡に対する防御の制御信号を別途に出力し
て必要な制御を行なわせる等の本発明の検出判別とは異
質の放電間隙状態に対する別個の検出制御装置を設ける
ことを何等妨げるものではない。上記実施例は放電電圧
、放電電流、または放電中間隙インピーダンス等の加工
間隙の放電中のアナログ量に重量または含有されている
高周波成分の検出手段として前記アナログ量を検出し、
該検出アナログ量信号の遅相(または進相)によジ前記
アナログ量信号と位相差を有する信号を造り、次いで前
記アナログ量信号と前記位相差を有する信号との差(ま
たは和)を造り、その差(または和)の信号の存否によ
り前記高周波成分の有無を判別するように構成してある
が、従来より知られているコンデンサカツト方式や高域
パスフイルタを使用する方式等も同様に適用できる。
述の各タイマ出力のパルス巾に応じ例えばタイマT4に
於けるR=1.8KΩ、C=1000PFの如く適宜設
定するものである。放電間隙における放電の繰返しは通
常1KHz以上の高い周波数であるから前記出力端子0
,及び02からの出力信号で間隙の放電状態が正常また
は良好であるか異常であるかを表示判別または判別によ
り制御信号を得るには、例えばそれぞれの出力端子01
及び02にカウンタを設けておき、両カウンタのカウン
ト数を所定の時間間隔ごとに比較するとか、端子01に
対応して設けたカウンタを4個のカウントにより信号を
出力せしめるように設定するのに対し端子02に対応し
て設けたカウンタを8個のカウントにより信号を出力す
るように設定し、後者の8個カウントする前に前者が4
個カウントすれば加工状態が悪いという表示または不良
加工状態を解消する制御系に制御信号を出力するように
構成するとか、あるいは端子B。,Bl,B2,B3の
何れかからパルス電圧のオンゲート信号を検出してそれ
をカウンタによりカウントせしめ該オンゲートカウンタ
のカウント数と前記出力端子01,02に設けたカウン
タの少なくとも一方のカウント数と比較または各設定カ
ウント数に応じて出力する信号を論理演算回路に加えて
2つ以上のパルス電圧の印加期間に訃ける放電状態の検
出判別または判別に基づく制御をする等任意に利用する
ことができる。本発明によれば上記のようにして正常放
電とアーク等の異常放電とは各放電ごとに確実に検出判
別でき、かつ電極被加工物の種類や組合せ及び加工条件
の設定変更の場合等にも放電電圧値の検出による判別等
の場合のように検出レベル設定を変更する等の必要がな
くなるが例えば短絡放電等は検出判別できるにしても短
絡は直ちにその解消を必要とするから別個に短絡検出器
を付設して短絡に対する防御の制御信号を別途に出力し
て必要な制御を行なわせる等の本発明の検出判別とは異
質の放電間隙状態に対する別個の検出制御装置を設ける
ことを何等妨げるものではない。上記実施例は放電電圧
、放電電流、または放電中間隙インピーダンス等の加工
間隙の放電中のアナログ量に重量または含有されている
高周波成分の検出手段として前記アナログ量を検出し、
該検出アナログ量信号の遅相(または進相)によジ前記
アナログ量信号と位相差を有する信号を造り、次いで前
記アナログ量信号と前記位相差を有する信号との差(ま
たは和)を造り、その差(または和)の信号の存否によ
り前記高周波成分の有無を判別するように構成してある
が、従来より知られているコンデンサカツト方式や高域
パスフイルタを使用する方式等も同様に適用できる。
また本発明の実施に卦いて検出を行なう加工パルスを例
,えば3個於きの如くサンプリング検出を行なう如く本
発明の精神を逸脱しない範囲での各種の設計変更が可能
なことは勿論である。
,えば3個於きの如くサンプリング検出を行なう如く本
発明の精神を逸脱しない範囲での各種の設計変更が可能
なことは勿論である。
以上のように本発明は間隙での放電を終了せしめる信号
が得られた時点以後その信号をきつかけとして加工間隙
の当該放電の状態または良否を放電電圧等に含有されて
いる高周波成分の有無やレベルにより判別するようにし
たもので、既述の如く検出判別方式として新規かつ有用
なものである。
が得られた時点以後その信号をきつかけとして加工間隙
の当該放電の状態または良否を放電電圧等に含有されて
いる高周波成分の有無やレベルにより判別するようにし
たもので、既述の如く検出判別方式として新規かつ有用
なものである。
第1図は放電加工に}けるパルス電圧印加に基づく放電
波形線図、第2図は本発明装置の実施例プロツク線図、
第2図Aは1設計例の詳細回路図、第3図A,bは第2
図装置の作動説明用波形線図である。 0Pは演算増幅器、Sはセンス、アンプリフアイア、T
l,T2,T3,T4はタイマ、ANDはアンド回路、
NANDl,NAND2はナンド回路。
波形線図、第2図は本発明装置の実施例プロツク線図、
第2図Aは1設計例の詳細回路図、第3図A,bは第2
図装置の作動説明用波形線図である。 0Pは演算増幅器、Sはセンス、アンプリフアイア、T
l,T2,T3,T4はタイマ、ANDはアンド回路、
NANDl,NAND2はナンド回路。
Claims (1)
- 1 加工用直流電源と、該電源に直列に接続されオン・
オフスイッチングによつて加工間隙に電圧パルスを供給
するスイッチング素子と、該スイッチング素子に上記オ
ン・オフ作動の制御信号を供給する時間装置を備えた放
電加工における放電パルスの良否判別装置に於て、前記
電圧パルス印加により発生する放電の放電中の放電電圧
、放電電流、または間隙インピーダンスに重量されてい
る高周波成分の有無を判別し検出信号を出力する検出装
置と、前記時間装置より出力する制御信号におけるスイ
ッチング素子のオン終了信号またはオフ開始信号と同期
してパルス信号を発生する装置と、該パルス信号発生装
置の発生パルス信号と前記検出装置の出力検出信号とが
入力する論理回路であつて、前記検出信号の有無に応じ
て当該放電パルスの良否信号を出力する判別回路とから
成ることを特徴とする放電加工に於ける放電パルスの良
否判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9750675A JPS594250B2 (ja) | 1975-08-13 | 1975-08-13 | 放電加工における放電パルスの良否判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9750675A JPS594250B2 (ja) | 1975-08-13 | 1975-08-13 | 放電加工における放電パルスの良否判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5140695A JPS5140695A (ja) | 1976-04-05 |
| JPS594250B2 true JPS594250B2 (ja) | 1984-01-28 |
Family
ID=14194132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9750675A Expired JPS594250B2 (ja) | 1975-08-13 | 1975-08-13 | 放電加工における放電パルスの良否判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS594250B2 (ja) |
-
1975
- 1975-08-13 JP JP9750675A patent/JPS594250B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5140695A (ja) | 1976-04-05 |
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