JPS5945575U - 論理回路パツケ−ジ試験装置 - Google Patents

論理回路パツケ−ジ試験装置

Info

Publication number
JPS5945575U
JPS5945575U JP14110482U JP14110482U JPS5945575U JP S5945575 U JPS5945575 U JP S5945575U JP 14110482 U JP14110482 U JP 14110482U JP 14110482 U JP14110482 U JP 14110482U JP S5945575 U JPS5945575 U JP S5945575U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic circuit
circuit package
package
testing equipment
package testing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14110482U
Other languages
English (en)
Inventor
山本 忠義
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP14110482U priority Critical patent/JPS5945575U/ja
Publication of JPS5945575U publication Critical patent/JPS5945575U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の実施例のブロック図である。 1・・・ランダムパルスジェネレータ、2・・・シリア
ル′・パラレル変換回路、3・・・ドライバー、4・・
・比較回路、5・・・クロックジェネレータ、6・・・
入・出力ディスプレイ回路、7・、・・電源回路、a・
・・被試験パツケニジ、b・・・良品パッケージ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ランダム論理信号を発生する試験信号供給手段と、この
    試験信号供給手段からのランダム論理信号を被試験パラ
    撥−ジと良品パッケージとに均等に与える手段と、被試
    験パッケージと良品パッケージのそれぞれの出力を比較
    し、その出力に不一致が生じた時点でクロック停止信号
    を発生するようにした比較手段とより成る論理回路パッ
    ケージ試験装置。
JP14110482U 1982-09-20 1982-09-20 論理回路パツケ−ジ試験装置 Pending JPS5945575U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14110482U JPS5945575U (ja) 1982-09-20 1982-09-20 論理回路パツケ−ジ試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14110482U JPS5945575U (ja) 1982-09-20 1982-09-20 論理回路パツケ−ジ試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5945575U true JPS5945575U (ja) 1984-03-26

Family

ID=30315690

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14110482U Pending JPS5945575U (ja) 1982-09-20 1982-09-20 論理回路パツケ−ジ試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5945575U (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4826344A (ja) * 1971-08-09 1973-04-06

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4826344A (ja) * 1971-08-09 1973-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5945575U (ja) 論理回路パツケ−ジ試験装置
JPS6029295U (ja) 多チヤンネル時間−電圧変換装置
JPS5846124U (ja) 超電導線による極低温液化ガス用液面計の測定用電流発生回路装置
JPS59104249U (ja) 論理回路試験器
JPS58170574U (ja) 高集積回路の試験装置
JPS58118600U (ja) パルス発生回路
JPS6029289U (ja) 集積回路試験装置
JPS59138773U (ja) しきい値測定装置
JPS58156282U (ja) パルストランス伝送特性検査装置
JPS6121994U (ja) 信号遅延時間測定回路
JPS58184675U (ja) バツクアツプ電圧の検査回路
JPH0352682U (ja)
JPS60114978U (ja) Icテスト装置
JPS5991042U (ja) デジタル波形弁別回路
JPS6061662U (ja) 最大需要電力計
JPS60168076U (ja) 混成icの遅延時間測定回路
JPS6019978U (ja) パツケ−ジ試験機用ピンアクセス回路
JPS58114744U (ja) パルス発生装置
JPS58190744U (ja) 入出力インタフエ−ス回路のアドレス試験装置
JPS5847944U (ja) マイクロプロセツサアナライザ
JPS6117891U (ja) インバ−タの制御装置
JPS59166177U (ja) パルス間隔測定装置
JPS604959U (ja) 自動測定装置
JPS5929776U (ja) ノイズ試験装置
JPS5937642U (ja) 待機信号発生装置