JPS5945934B2 - 絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方法及びその装置 - Google Patents
絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方法及びその装置Info
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- JPS5945934B2 JPS5945934B2 JP3246779A JP3246779A JPS5945934B2 JP S5945934 B2 JPS5945934 B2 JP S5945934B2 JP 3246779 A JP3246779 A JP 3246779A JP 3246779 A JP3246779 A JP 3246779A JP S5945934 B2 JPS5945934 B2 JP S5945934B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J3/00—Processes of utilising sub-atmospheric or super-atmospheric pressure to effect chemical or physical change of matter; Apparatus therefor
- B01J3/006—Processes utilising sub-atmospheric pressure; Apparatus therefor
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、絶縁物製密閉容器内の真空度を電気的に検出
する方法およびその装置に関するものである。
する方法およびその装置に関するものである。
従来の技術
医薬品等に使用するアップル・バイアル瓶等の製品にお
いて、施栓が不完全な場合には、施栓口から空気が容器
内に侵入し、内部の薬品によつては、酸化され、そのた
めガスが発生し、薬品の効力が著しく減少することがあ
る。
いて、施栓が不完全な場合には、施栓口から空気が容器
内に侵入し、内部の薬品によつては、酸化され、そのた
めガスが発生し、薬品の効力が著しく減少することがあ
る。
このため、従来より、容器内部を真空にしたうえで、ゴ
ム等の弾性材よりなる栓により施栓し、栓を容器内部の
真空で施栓口に吸着させ、施栓を完全なものとする゜施
栓方式が汎用されている。
ム等の弾性材よりなる栓により施栓し、栓を容器内部の
真空で施栓口に吸着させ、施栓を完全なものとする゜施
栓方式が汎用されている。
この施栓方式では、内部真空度が高ければ高いほどより
完全な施栓が行えるが、一応50Torr以下であれば
施栓を完全なものにすることができることが確認されて
いる。換言すれば、内部真空度が50Torr以下であ
ることが確認できれば、その施栓は完全であると考える
ことができる。したがつて、アップル・バイアル瓶等の
製品の内部真空度を簡単に外部から検出することができ
れば、施栓の良否を容易に検査することができる。
完全な施栓が行えるが、一応50Torr以下であれば
施栓を完全なものにすることができることが確認されて
いる。換言すれば、内部真空度が50Torr以下であ
ることが確認できれば、その施栓は完全であると考える
ことができる。したがつて、アップル・バイアル瓶等の
製品の内部真空度を簡単に外部から検出することができ
れば、施栓の良否を容易に検査することができる。
このため、本願出願人は、特願昭52−144665号
の特許出願において、第1図に検査原理図を示すように
、検査対象たる絶縁物製密閉容器Aの外面に密着もしく
は近接させ、内部空間を介して対向させた一対の電極B
,C間に高周波高電圧電源Dにより高周波高電圧を印加
し、内部放電の有無を検出抵抗Rに流れる放電々流量を
判別器Qにより判別することにより検査するようにし、
かかる検査原理によつて容器の内部真空度を検査する検
査方法の発明を提案している。
の特許出願において、第1図に検査原理図を示すように
、検査対象たる絶縁物製密閉容器Aの外面に密着もしく
は近接させ、内部空間を介して対向させた一対の電極B
,C間に高周波高電圧電源Dにより高周波高電圧を印加
し、内部放電の有無を検出抵抗Rに流れる放電々流量を
判別器Qにより判別することにより検査するようにし、
かかる検査原理によつて容器の内部真空度を検査する検
査方法の発明を提案している。
しかしながら、上記の如き、一対の電極を用いて密閉容
器に内部放電を100f)確実に起させるためには、大
容量の電力が必要となり、したがつて低い印加電圧では
長時間電圧を印加する必要があつて検査効率が悪くなる
一方、高い印加電圧では判別器の負荷が大きくなつてそ
の判別精度が悪くなる欠点があつた。このため、密閉容
器として、例えば製薬工場等で、多量のアンプルを検査
する場合には、高電圧の印加時間をできるだけ短くして
小型の判別器で判別精度を土げるものが強く望まれてい
た。発明の目的 したがつて、本発明は、上記従来の要望に答えるべく上
記発明の原理を採用したうえで、上記の問題を解消すべ
く種々の実験を行ない、その結果、一旦絶縁物製密閉容
器に一定時間以上10乃至16KVの高電圧を予じめ印
加したものでは、相当長期にわたつて放置したのちにお
いても、きわめて短時間6乃至10KVの高電圧を印加
すれば高い確率で放電を生ずるという実験的事実に着目
してなされたものである。
器に内部放電を100f)確実に起させるためには、大
容量の電力が必要となり、したがつて低い印加電圧では
長時間電圧を印加する必要があつて検査効率が悪くなる
一方、高い印加電圧では判別器の負荷が大きくなつてそ
の判別精度が悪くなる欠点があつた。このため、密閉容
器として、例えば製薬工場等で、多量のアンプルを検査
する場合には、高電圧の印加時間をできるだけ短くして
小型の判別器で判別精度を土げるものが強く望まれてい
た。発明の目的 したがつて、本発明は、上記従来の要望に答えるべく上
記発明の原理を採用したうえで、上記の問題を解消すべ
く種々の実験を行ない、その結果、一旦絶縁物製密閉容
器に一定時間以上10乃至16KVの高電圧を予じめ印
加したものでは、相当長期にわたつて放置したのちにお
いても、きわめて短時間6乃至10KVの高電圧を印加
すれば高い確率で放電を生ずるという実験的事実に着目
してなされたものである。
第2図は第1図のスイツチSを切換えることにより14
KVの予備印加電圧を2秒間予じめ胴径23m1厚み1
.2TWI1真空度10T0rrの粉入バイアル瓶に印
加してのち、夫々異なる時間設置してのち、これらに8
KVの高周波高電圧電源からの測定印加電圧を印加した
ものの放電実験の結果を示すものである。
KVの予備印加電圧を2秒間予じめ胴径23m1厚み1
.2TWI1真空度10T0rrの粉入バイアル瓶に印
加してのち、夫々異なる時間設置してのち、これらに8
KVの高周波高電圧電源からの測定印加電圧を印加した
ものの放電実験の結果を示すものである。
図中、1は2秒間の予備高電圧印加直後のものについて
測定高電圧印加時の放電確率、2は2秒間の予備高電圧
印加後4時間放置したものについて測定高電圧印加時の
放電確率、3は2秒間の予備高電圧印加後24時間放置
したものについて測定高電圧印加時の放電確率、4は2
秒間の予備高電圧印加後15日間放置したものについて
測定高電圧印加時の放電確率を夫々示す。
測定高電圧印加時の放電確率、2は2秒間の予備高電圧
印加後4時間放置したものについて測定高電圧印加時の
放電確率、3は2秒間の予備高電圧印加後24時間放置
したものについて測定高電圧印加時の放電確率、4は2
秒間の予備高電圧印加後15日間放置したものについて
測定高電圧印加時の放電確率を夫々示す。
第2図から、例えばバイアル瓶に予じめ14KVの高電
圧を2秒間印加して放電させた直後に、該バイアル瓶に
再び8KVの測定印加電圧を印加すると、0.5秒間で
再放電する確率は99%以上あることが分る。この実験
結果から明らかなように、予じめ所要時間の予備高電圧
を印加した場合には、必ずしもその間に放電を生ずると
は限らないが、一旦予備高電圧を印加しておくと、次に
測定高電圧を印加した場合に極めて高い確率で放電させ
ることができるのである。したがつて、本発明の目的は
、上記実験的事実に基づいて短時間に確実に絶縁物製密
閉容器の内部真空度を高精度で検査することができる力
法を提供することにある。
圧を2秒間印加して放電させた直後に、該バイアル瓶に
再び8KVの測定印加電圧を印加すると、0.5秒間で
再放電する確率は99%以上あることが分る。この実験
結果から明らかなように、予じめ所要時間の予備高電圧
を印加した場合には、必ずしもその間に放電を生ずると
は限らないが、一旦予備高電圧を印加しておくと、次に
測定高電圧を印加した場合に極めて高い確率で放電させ
ることができるのである。したがつて、本発明の目的は
、上記実験的事実に基づいて短時間に確実に絶縁物製密
閉容器の内部真空度を高精度で検査することができる力
法を提供することにある。
本発明の第2の目的はかかる力法を応用して、多量の製
品の内部真空度を連続的かつ短時間で検出し、小型にし
て判別精度の高い判別器を用いて施栓の良否を確実に検
査することができる検査装置を提供することにある。
品の内部真空度を連続的かつ短時間で検出し、小型にし
て判別精度の高い判別器を用いて施栓の良否を確実に検
査することができる検査装置を提供することにある。
発明の構成
かかる目的を達成するため、本発明方法においては、検
査対象たる絶縁物製密閉容器を予じめ高い高電圧で放電
させておき、予じめ放電させた絶縁物製密閉容器を一対
の電極間において、低い高電圧で短時間に再度放電させ
、その放電電流を検出することにより、内部真空度を検
査するようにしたことを基本的な特徴としている。
査対象たる絶縁物製密閉容器を予じめ高い高電圧で放電
させておき、予じめ放電させた絶縁物製密閉容器を一対
の電極間において、低い高電圧で短時間に再度放電させ
、その放電電流を検出することにより、内部真空度を検
査するようにしたことを基本的な特徴としている。
また、本発明装置は、本発明方法を実施するためのもの
であつて、検査対象たる絶縁物製密閉容器をスターホイ
ールの外周部に設けた半円形状の凹部内へ出入自在に送
り込んで、一定速度で回転駆動される上記スターホイー
ルの回転に伴つて上記容器と凹部と共に一方向へ搬送さ
れるようにし、かつ、スターホイールの上記凹部の底面
に電極を設ける一方、スターホイール外周部の外側にお
ける第1と第2の位置に上記底面電極と対面して夫夫第
1と第2の長さを持つ第1と第2の電極を設けて容器が
初めに対面する第1電極と底面電極との間に10乃至1
6Kの高電圧を印加する手段を設ける一方、その後一定
の間隔をおいて容器と対面する第2電極と底面電極との
間に6乃至10KVの高電圧を印加する手段を設け、さ
らにその後容器が第2位置において放電する際に第2電
極と底面電極の間に生じる電流を検出する手段を備えた
ことを特徴とするもので、簡単な構成よりなり、多量の
密閉容器の真空検査を、連続的にかつ確実に行える使い
易くて故障の少ない検出装置を新規に提供することがで
きるものである。
であつて、検査対象たる絶縁物製密閉容器をスターホイ
ールの外周部に設けた半円形状の凹部内へ出入自在に送
り込んで、一定速度で回転駆動される上記スターホイー
ルの回転に伴つて上記容器と凹部と共に一方向へ搬送さ
れるようにし、かつ、スターホイールの上記凹部の底面
に電極を設ける一方、スターホイール外周部の外側にお
ける第1と第2の位置に上記底面電極と対面して夫夫第
1と第2の長さを持つ第1と第2の電極を設けて容器が
初めに対面する第1電極と底面電極との間に10乃至1
6Kの高電圧を印加する手段を設ける一方、その後一定
の間隔をおいて容器と対面する第2電極と底面電極との
間に6乃至10KVの高電圧を印加する手段を設け、さ
らにその後容器が第2位置において放電する際に第2電
極と底面電極の間に生じる電流を検出する手段を備えた
ことを特徴とするもので、簡単な構成よりなり、多量の
密閉容器の真空検査を、連続的にかつ確実に行える使い
易くて故障の少ない検出装置を新規に提供することがで
きるものである。
実施例
以下、添付の図面を参考に、本発明の実施例について具
体的に説明する。
体的に説明する。
第3図及び第4図において、1,・・・,1はアンプル
・バイアル瓶等の被検査物としての絶縁物製密閉容器(
以下単に被検容器という。
・バイアル瓶等の被検査物としての絶縁物製密閉容器(
以下単に被検容器という。
)、2は被検容器1を一列縦隊で供給する供給コンベヤ
、3は供給コンベヤ2によつて供給される被検容器1を
ベークライト等の絶縁性底板3a.J:.VC載置する
とともに外周部に設けた半円形状の凹部4に受容し、駆
動軸3bによる回転駆動によつて受容した被検容器1を
略半円形状のガイド5に沿つて搬送する搬送手段として
のベークライト等の絶縁材よりなるスターホイール、6
は上記スターホイール3の各凹部4の底面に埋込んだ電
極7に複数個に亘つて接触する円弧状のステンレス等か
らなるアース電極8と、上記ガイド5のガイド壁5aV
C沿つてアース電極8に対峠し、搬送中の被検容器1に
は1〜2mの間隙を保持してガイド5上に設置した円弧
状の砲金等からなる高圧電極9と、これら電極8,9間
に、予備印加電圧として好ましくは10〜16KV1周
波数10〜20KH2の高周波高電圧を印加する高周波
電源10とからなる第1ステーシヨン、11はスターホ
イール3の回転方向において第1ステーシヨン6とは適
当な距離をおいて設置した第2ステーシヨンで、上記ス
ターホイール3の凹部4の電極7に接触するアース電極
12と、ガイド壁5aVC沿つて搬送中の被検容器1V
C1〜21wtの間隙を保持するように取付けられた高
圧電極13と、これら電極12,13間に、測定印加電
圧として好ましくは6〜10KV1周波数10〜20K
H2の高周波高電圧をたとえば500msec間印加す
る高周波電源14と、アース側に接続した検出用抵抗1
5間に生じる電圧を、予じめ設定したしきい値電圧Th
と比較して放電の有無、換言すれば所期の内部真空度の
有無を判定する判定回路16とからなる。なお、図中1
7は判定回路16によつて出力される判定信号に応じて
一対の分離ガイド18,19を相反的に作動する適当な
電磁作動機構で、判定回路16が、内部真空度が設定値
以上の良品と判定したときには、良品用分離ガイド18
を作動して不良品回収シユート20の入口を閉鎖すると
ともに不良品用分離ガイド19を待避させる一方、不良
品と判定したときには、逆に、不良品用分離ガイド19
で良品搬出シユート21の入口を閉塞するとともに、良
品用分離ガイド18を退避させ、不良品を不良品回収シ
ユート20により回収する。
、3は供給コンベヤ2によつて供給される被検容器1を
ベークライト等の絶縁性底板3a.J:.VC載置する
とともに外周部に設けた半円形状の凹部4に受容し、駆
動軸3bによる回転駆動によつて受容した被検容器1を
略半円形状のガイド5に沿つて搬送する搬送手段として
のベークライト等の絶縁材よりなるスターホイール、6
は上記スターホイール3の各凹部4の底面に埋込んだ電
極7に複数個に亘つて接触する円弧状のステンレス等か
らなるアース電極8と、上記ガイド5のガイド壁5aV
C沿つてアース電極8に対峠し、搬送中の被検容器1に
は1〜2mの間隙を保持してガイド5上に設置した円弧
状の砲金等からなる高圧電極9と、これら電極8,9間
に、予備印加電圧として好ましくは10〜16KV1周
波数10〜20KH2の高周波高電圧を印加する高周波
電源10とからなる第1ステーシヨン、11はスターホ
イール3の回転方向において第1ステーシヨン6とは適
当な距離をおいて設置した第2ステーシヨンで、上記ス
ターホイール3の凹部4の電極7に接触するアース電極
12と、ガイド壁5aVC沿つて搬送中の被検容器1V
C1〜21wtの間隙を保持するように取付けられた高
圧電極13と、これら電極12,13間に、測定印加電
圧として好ましくは6〜10KV1周波数10〜20K
H2の高周波高電圧をたとえば500msec間印加す
る高周波電源14と、アース側に接続した検出用抵抗1
5間に生じる電圧を、予じめ設定したしきい値電圧Th
と比較して放電の有無、換言すれば所期の内部真空度の
有無を判定する判定回路16とからなる。なお、図中1
7は判定回路16によつて出力される判定信号に応じて
一対の分離ガイド18,19を相反的に作動する適当な
電磁作動機構で、判定回路16が、内部真空度が設定値
以上の良品と判定したときには、良品用分離ガイド18
を作動して不良品回収シユート20の入口を閉鎖すると
ともに不良品用分離ガイド19を待避させる一方、不良
品と判定したときには、逆に、不良品用分離ガイド19
で良品搬出シユート21の入口を閉塞するとともに、良
品用分離ガイド18を退避させ、不良品を不良品回収シ
ユート20により回収する。
上記第1ステーシヨン6に設ける一対の電極8,9は、
一対の電極8,9間を通過する間に、被検容器1内で好
ましくは放電が生じるように、適当な範囲に亘つて比較
的長く設定する。上記高周波電源10の場合、最大限4
秒の時間で全ての被検容器1を放電させることができる
ことが実験的に確認されており、したがつて、一対の電
極8,9は、スターホイール3の回転速度との関係で、
被検容器1の通過時間が、最大限4秒、通常の場合2秒
程度となるように、その弧長を設定する。第1ステーシ
ヨン6VCよつて被検容器1に一旦高電圧を印加すると
、被検容器1内に僅かに存在する気体分子は印加された
高電圧によつて電離、イオン化される。この電離、イオ
ン化状態は、被検容器1が実質上絶縁物によつて密閉さ
れていることから、そのまま維持される。なお、第2図
に示す実験結果から明らかなように、第1ステーシヨン
6において、全ての被検容器1を放電させる必要は必ず
しもなく、要は、第2ステーシヨン11における放電が
確実に生じるのに必要な時間以上に高電圧を印加するよ
うにすればよい。その結果、スターホイール3の回転に
応じて一旦放電させた被検容器1を第2ステーシヨン1
1にまで搬送すると被検容器1は、第2ステーシヨン1
1の一対の電極12,13間に印加される高周波高電圧
によつて瞬時(最大限500msec内)に放電する。
したがつて、第2ステーシヨン11の一対の電極12,
13は第1ステーシヨン6の一対の電極8,9のように
長く設定する必要はない。なお、本発明者等の実験によ
れば、一旦放電させた被検容器1は、通常の内部真空度
に施栓されたものでは、3ケ月程度放電しやすい状態が
そのまま維持されることが確認されている。
一対の電極8,9間を通過する間に、被検容器1内で好
ましくは放電が生じるように、適当な範囲に亘つて比較
的長く設定する。上記高周波電源10の場合、最大限4
秒の時間で全ての被検容器1を放電させることができる
ことが実験的に確認されており、したがつて、一対の電
極8,9は、スターホイール3の回転速度との関係で、
被検容器1の通過時間が、最大限4秒、通常の場合2秒
程度となるように、その弧長を設定する。第1ステーシ
ヨン6VCよつて被検容器1に一旦高電圧を印加すると
、被検容器1内に僅かに存在する気体分子は印加された
高電圧によつて電離、イオン化される。この電離、イオ
ン化状態は、被検容器1が実質上絶縁物によつて密閉さ
れていることから、そのまま維持される。なお、第2図
に示す実験結果から明らかなように、第1ステーシヨン
6において、全ての被検容器1を放電させる必要は必ず
しもなく、要は、第2ステーシヨン11における放電が
確実に生じるのに必要な時間以上に高電圧を印加するよ
うにすればよい。その結果、スターホイール3の回転に
応じて一旦放電させた被検容器1を第2ステーシヨン1
1にまで搬送すると被検容器1は、第2ステーシヨン1
1の一対の電極12,13間に印加される高周波高電圧
によつて瞬時(最大限500msec内)に放電する。
したがつて、第2ステーシヨン11の一対の電極12,
13は第1ステーシヨン6の一対の電極8,9のように
長く設定する必要はない。なお、本発明者等の実験によ
れば、一旦放電させた被検容器1は、通常の内部真空度
に施栓されたものでは、3ケ月程度放電しやすい状態が
そのまま維持されることが確認されている。
したがつて、本発明力法では、一旦放電させた被検容器
を放電の直後に再放電させる必要はなく、したがつて、
多数の被検容器1,・・・,1を別異の個所で一定に放
電させ、このようにして放電させておいたものを連続検
査するようにしてもよい。しかし、上記の如く、第1ス
テーシヨン6から第2ステーシヨン11VC搬送手段を
用いて搬送するようにすれば、連続した製品検査が行な
える利点がある。上記第2ステーシヨン11における放
電によつて検出抵抗15に流れる放電電流1は、第5図
に定性的に示すように、内部真空度が絶対真空に近づく
程増大し、また、第6図に定性的に示すように、内部真
空度が高い(例えば、50T0rr以下)の被検容器し
たがつて施栓状態の良好な良品の場合、(図中実線Aで
示す。)には、内部真空度の低いしたがつて施栓状態の
悪い場合(図中点線Bで示す。)に比して、放電電流が
極めて多くなる傾向がある。上記検出抵抗15に対して
設けた判定回路16は、上記の如き放電電流の特性を利
用して、検出 C抵抗15間に生ずる電圧を検出し、検
出した電圧Vを予じめ内部真空度50T0rrをめどと
して設定したしきい値電圧Vthと比較して、製品とし
ての良否を判定するものである。
を放電の直後に再放電させる必要はなく、したがつて、
多数の被検容器1,・・・,1を別異の個所で一定に放
電させ、このようにして放電させておいたものを連続検
査するようにしてもよい。しかし、上記の如く、第1ス
テーシヨン6から第2ステーシヨン11VC搬送手段を
用いて搬送するようにすれば、連続した製品検査が行な
える利点がある。上記第2ステーシヨン11における放
電によつて検出抵抗15に流れる放電電流1は、第5図
に定性的に示すように、内部真空度が絶対真空に近づく
程増大し、また、第6図に定性的に示すように、内部真
空度が高い(例えば、50T0rr以下)の被検容器し
たがつて施栓状態の良好な良品の場合、(図中実線Aで
示す。)には、内部真空度の低いしたがつて施栓状態の
悪い場合(図中点線Bで示す。)に比して、放電電流が
極めて多くなる傾向がある。上記検出抵抗15に対して
設けた判定回路16は、上記の如き放電電流の特性を利
用して、検出 C抵抗15間に生ずる電圧を検出し、検
出した電圧Vを予じめ内部真空度50T0rrをめどと
して設定したしきい値電圧Vthと比較して、製品とし
ての良否を判定するものである。
上記しきい値Vthは、不良品の場合の検出電圧V3よ
り適当に ト大きな値に設定し(Vth>VB)、検出
電圧Vがしきい値電圧Vthより大きいときには良品と
して、小さいときには不良品として判定するようにすれ
ばよい。なお、かかる判定回路16は、周知の比較回路
を用いることによつて簡単に構成する .′ことができ
る。以上の実施例では、搬送手段としてスターホイール
3を用い、スターホイール3の搬送軌跡に沿つて、第1
、第2ステーシヨン6,11を設けたが、第7図に示す
ように、搬送手段として直線の ご搬送コンベヤ20を
用い、その上流側に第1ステーシヨン6′を、その下流
側に第2ステーシヨン11′を設置して、製品の良否を
判定するようにしてもよい。
り適当に ト大きな値に設定し(Vth>VB)、検出
電圧Vがしきい値電圧Vthより大きいときには良品と
して、小さいときには不良品として判定するようにすれ
ばよい。なお、かかる判定回路16は、周知の比較回路
を用いることによつて簡単に構成する .′ことができ
る。以上の実施例では、搬送手段としてスターホイール
3を用い、スターホイール3の搬送軌跡に沿つて、第1
、第2ステーシヨン6,11を設けたが、第7図に示す
ように、搬送手段として直線の ご搬送コンベヤ20を
用い、その上流側に第1ステーシヨン6′を、その下流
側に第2ステーシヨン11′を設置して、製品の良否を
判定するようにしてもよい。
この場合、不良品と判定したときには、相互に 4連動
する平行な一対のガイド板21,22をその電磁作動機
構23により図に点線で示すように切換え、不良品をラ
イン外に取出すようにすればよい。
する平行な一対のガイド板21,22をその電磁作動機
構23により図に点線で示すように切換え、不良品をラ
イン外に取出すようにすればよい。
なお、他の点において、この実施例は第3図および第4
図に示した実施例と実質的に異なることがないので、対
応する参照番号を付して説明を省略する。
図に示した実施例と実質的に異なることがないので、対
応する参照番号を付して説明を省略する。
以上詳述したことから明らかなように、本発明は、内部
の真空を保持するようにした絶縁物製密閉容器の内部真
空度を放電電流の検出によつて検査するようにした方法
において、予じめ放電させた絶縁物製密閉容器を用いて
該方法を実施するようにしたことを提供するものである
。
の真空を保持するようにした絶縁物製密閉容器の内部真
空度を放電電流の検出によつて検査するようにした方法
において、予じめ放電させた絶縁物製密閉容器を用いて
該方法を実施するようにしたことを提供するものである
。
と同時に、本発明は、上記本発明方法を実施するため、
絶縁物製密閉容器をスターホイールの外周部に設けた半
円形状の凹部内へ出入自在に送り込んで、一定速度で回
転駆動される上記スターホイールの回転に伴つて上記容
器と凹部と共に一方向へ搬送されるようにし、かつ、ス
ターホイールの上記凹部の底面に電極を設ける一方、ス
ターホイール外周部の外側における第1と第2の位置に
上記底面電極と対面して夫々第1と第2の長さを持つ第
1と第2の電極を設けて容器が初めに対面する第1電極
と底面電極との間VClO乃至16KVの高電圧を印加
する手段を設ける一力、その後一定の間隔をおいて容器
と対面する第2電極と底面電極との間VC6乃至10K
Vの高電圧を印加する手段を設け、さらにその後容器が
第2位置において放電する際に第2電極と底面電極の間
に生じる電流を検出する手段を備えたことを特徴とする
絶縁物製密閉容器の内部真空度検出装置を提供するもの
である。
絶縁物製密閉容器をスターホイールの外周部に設けた半
円形状の凹部内へ出入自在に送り込んで、一定速度で回
転駆動される上記スターホイールの回転に伴つて上記容
器と凹部と共に一方向へ搬送されるようにし、かつ、ス
ターホイールの上記凹部の底面に電極を設ける一方、ス
ターホイール外周部の外側における第1と第2の位置に
上記底面電極と対面して夫々第1と第2の長さを持つ第
1と第2の電極を設けて容器が初めに対面する第1電極
と底面電極との間VClO乃至16KVの高電圧を印加
する手段を設ける一力、その後一定の間隔をおいて容器
と対面する第2電極と底面電極との間VC6乃至10K
Vの高電圧を印加する手段を設け、さらにその後容器が
第2位置において放電する際に第2電極と底面電極の間
に生じる電流を検出する手段を備えたことを特徴とする
絶縁物製密閉容器の内部真空度検出装置を提供するもの
である。
したがつて、本発明方法によれば、この種内部真空度の
検査方法の実用性を著しくたかめることができ、本発明
装置によれば、アンプル・バイアル瓶等の施栓状態の良
否、換言すれば製品の良否の検出を、連続かつ大量に行
えるといつた効果がある。
検査方法の実用性を著しくたかめることができ、本発明
装置によれば、アンプル・バイアル瓶等の施栓状態の良
否、換言すれば製品の良否の検出を、連続かつ大量に行
えるといつた効果がある。
第1図は本発明に採用する検査原理の説明図、第2図は
高電圧印加後の放電特性を示すグラフ、第3図は本発明
の一実施例にかかる内部真空度検査装置の概略平面説明
図、第4図は第3図の−線方向断面説明図、第5図は内
部真空度(1′0rr)と放電電流(MA)との関係を
示すグラフ、第6図は印加電圧(KV)と放電電流(M
A)との関係を示すグラフ、第7図は本発明の他の実施
例を示す第3図と同様の検査装置の概略平面図である。 1・・・・・・被検容器、3・・・・・・スターホイー
ル、6・・・・・・第1ステーシヨン、8,9・・・・
・・一対の電極、10・・・・・・高周波電源、11・
・・・・・第2ステーシヨン、12,13・・・・・・
一対の電極、14・・・・・・高周波電源、15・・・
・・・検出抵抗、16・・・・・・判定回路。
高電圧印加後の放電特性を示すグラフ、第3図は本発明
の一実施例にかかる内部真空度検査装置の概略平面説明
図、第4図は第3図の−線方向断面説明図、第5図は内
部真空度(1′0rr)と放電電流(MA)との関係を
示すグラフ、第6図は印加電圧(KV)と放電電流(M
A)との関係を示すグラフ、第7図は本発明の他の実施
例を示す第3図と同様の検査装置の概略平面図である。 1・・・・・・被検容器、3・・・・・・スターホイー
ル、6・・・・・・第1ステーシヨン、8,9・・・・
・・一対の電極、10・・・・・・高周波電源、11・
・・・・・第2ステーシヨン、12,13・・・・・・
一対の電極、14・・・・・・高周波電源、15・・・
・・・検出抵抗、16・・・・・・判定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 一方の電極を絶縁物製密閉容器の外周面もしくは底
面に密着または近接させて配置するとともに、他方の電
極を上記容器の内部空間を介して一方の電極に対向する
ように容器外面に密着または近接させて配置し、両電極
間に高電圧を印加し、両電極間に流れる電流量を検出す
ることにより、絶縁物製密閉容器の内部真空度を検査す
る方法において、該方法による内部真空度の検査を行う
前に検出対象たる絶縁物製密閉容器に10乃至16KV
の高電圧を一定時間印加し、その後当該絶縁物製密閉容
器について6乃至10KVの高電圧を極短時間印加して
上記方法による内部真空度の検査を行なうようにしたこ
とを特徴とする絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方
法。 2 絶縁物製密閉容器をスターホィールの外周部に設け
た半円形状の凹部内へ出入自在に送り込んで、一定速度
で回転駆動される上記スターホィールの回転に伴つて上
記容器と凹部と共に一方向へ搬送されるようにし、かつ
、スターホィールの上記凹部の底面に電極を設ける一方
、スターホィール外周部の外側における第1と第2の位
置に上記底面電極と対面して夫々第1と第2の長さを持
つ第1と第2の電極を設けて容器が初めに対面する第1
電極と底面電極との間に10乃至16KVの高電圧を印
加する手段を設ける一方、その後一定の間隔をおいて容
器と対面する第2電極と底面電極との間に6乃至10K
Vの高電圧を印加する手段を設け、さらにその後容器が
第2位置において放電する際に第2電極と底面電極の間
に生じる電流を検出する手段を備えたことを特徴とする
絶縁物製密閉容器の内部真空度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3246779A JPS5945934B2 (ja) | 1979-03-20 | 1979-03-20 | 絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3246779A JPS5945934B2 (ja) | 1979-03-20 | 1979-03-20 | 絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55124533A JPS55124533A (en) | 1980-09-25 |
| JPS5945934B2 true JPS5945934B2 (ja) | 1984-11-09 |
Family
ID=12359767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3246779A Expired JPS5945934B2 (ja) | 1979-03-20 | 1979-03-20 | 絶縁物製密閉容器の内部真空度の検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5945934B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59195140A (ja) * | 1983-04-20 | 1984-11-06 | Sanpo:Kk | 容器の気密度測定方法及びその装置 |
| JPS6270725A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-01 | Nikka Densoku Kk | 密封食品におけるピンホ−ル等の検出装置 |
-
1979
- 1979-03-20 JP JP3246779A patent/JPS5945934B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55124533A (en) | 1980-09-25 |
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