JPS5946845A - 物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法 - Google Patents
物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法Info
- Publication number
- JPS5946845A JPS5946845A JP15853382A JP15853382A JPS5946845A JP S5946845 A JPS5946845 A JP S5946845A JP 15853382 A JP15853382 A JP 15853382A JP 15853382 A JP15853382 A JP 15853382A JP S5946845 A JPS5946845 A JP S5946845A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- sample
- electrodes
- current
- phenomenon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 230000010287 polarization Effects 0.000 title abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 abstract description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 229910003480 inorganic solid Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- WNFSFUSCVXIYGN-UHFFFAOYSA-N phenylaluminum Chemical compound [Al]C1=CC=CC=C1 WNFSFUSCVXIYGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法に関す
るものである。
るものである。
一対の電極の間に固体試料を接触させ、この両電極間に
測定回路を介して直流電圧を印加すると、試料を通して
測定回路に電流が流れる。このようにして測定回路に流
れる電流は、定常状態において流れる定常電流と、′電
圧を印加してから定常状態に達する間に流れる過渡電流
とから成立っている。
測定回路を介して直流電圧を印加すると、試料を通して
測定回路に電流が流れる。このようにして測定回路に流
れる電流は、定常状態において流れる定常電流と、′電
圧を印加してから定常状態に達する間に流れる過渡電流
とから成立っている。
過渡電流は、通電により物ｔｑ構造が誘電現象によって
分極を受ける現象と、電圧の印加による物質破壊に伴う
現象とによるエネルギー吸収によって生起される。従っ
て、この定常電流の方向とは反対の方向に流れる電流を
測定１−ることによって、過渡現象に用いられたエネル
ギー、即ち、物質の分極性及び物質の絶縁破壊性を四側
することができる。
分極を受ける現象と、電圧の印加による物質破壊に伴う
現象とによるエネルギー吸収によって生起される。従っ
て、この定常電流の方向とは反対の方向に流れる電流を
測定１−ることによって、過渡現象に用いられたエネル
ギー、即ち、物質の分極性及び物質の絶縁破壊性を四側
することができる。
本発明は、このような観点によりなされたもので、２つ
の電極間に試料を接触させると共に、該電極間にはロー
１抵抗を介して直流定電１１二を印加し、それによって
試料及びロード抵抗に的流電流を流すと共に、該ロー１
２抵抗の両端に電圧を発生させ、この電圧を微分処理し
、得られた微分値を試料の分極性及び絶縁破壊性の関数
として測定し、次いでその測定終了後、該直流定電圧の
印加を停止させると共に、両電極間をロード抵抗を介し
て短絡させ、その際に流れる電流によりロード抵抗の両
端に電圧を発生させ、この電圧を微分処理し、得られた
微分値を試料の分極性として測定することを特徴とする
物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法を提供するもの
である。
の電極間に試料を接触させると共に、該電極間にはロー
１抵抗を介して直流定電１１二を印加し、それによって
試料及びロード抵抗に的流電流を流すと共に、該ロー１
２抵抗の両端に電圧を発生させ、この電圧を微分処理し
、得られた微分値を試料の分極性及び絶縁破壊性の関数
として測定し、次いでその測定終了後、該直流定電圧の
印加を停止させると共に、両電極間をロード抵抗を介し
て短絡させ、その際に流れる電流によりロード抵抗の両
端に電圧を発生させ、この電圧を微分処理し、得られた
微分値を試料の分極性として測定することを特徴とする
物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法を提供するもの
である。
次に本発明を図面により説明する。
図面は本発明の方法を実施するだめの測定装置系統図で
あり、Ｓは試料、Ｅ＋＋Ｅ２は針状の接触電極、Ｒはロ
ー１抵抗、１は高入力微分装置、２は直流定電圧電源、
３は手動型リレー回路、４は記録計を示す。
あり、Ｓは試料、Ｅ＋＋Ｅ２は針状の接触電極、Ｒはロ
ー１抵抗、１は高入力微分装置、２は直流定電圧電源、
３は手動型リレー回路、４は記録計を示す。
本発明においては、２個（一対）の針状電極Ｂ ｌ ＋
Ｅ２を試料Ｓの表面に接触させると共に、直流定電圧電
源２からの直流定電圧を両電極ＥＩ＋Ｅ２の間に印加す
る。この直流定電圧の印加により、試料Ｓを通じ、電極
Ｅｌ＋”２の間に設けられた測定回路に定常電流と過渡
電流が流れるが、この測定回路にはロード抵抗Ｉｔが挿
入されていることがら、このロード抵抗の両端に電流に
比例して電ｊ“１−が発生ずる。そして、この発生した
電Ｊ：Ｅ ｉｔ人カイノビ−ダンスの高い微分装置２て
微分処」４１１され、イ：１られだ微分値は、試料の分
極性及び絶縁破壊１シ１の関数として記録計４に記録さ
れる。
Ｅ２を試料Ｓの表面に接触させると共に、直流定電圧電
源２からの直流定電圧を両電極ＥＩ＋Ｅ２の間に印加す
る。この直流定電圧の印加により、試料Ｓを通じ、電極
Ｅｌ＋”２の間に設けられた測定回路に定常電流と過渡
電流が流れるが、この測定回路にはロード抵抗Ｉｔが挿
入されていることがら、このロード抵抗の両端に電流に
比例して電ｊ“１−が発生ずる。そして、この発生した
電Ｊ：Ｅ ｉｔ人カイノビ−ダンスの高い微分装置２て
微分処」４１１され、イ：１られだ微分値は、試料の分
極性及び絶縁破壊１シ１の関数として記録計４に記録さ
れる。
前記において、直流定圧電源か一定で、電極Ｅ、。
Ｅ２に印加される電圧が一定であれば、試に’ｌ Ｓに
流れる定常電流成分は一定であるから、この定常電流成
分の電圧を微分処理すればそのイ１１′昧」、零になる
。
流れる定常電流成分は一定であるから、この定常電流成
分の電圧を微分処理すればそのイ１１′昧」、零になる
。
これに対し、過渡電流成分は時間により変化することか
ら、ロード抵抗１ｔの両端に発生した電圧の微分値は過
渡電流成分によって形成され／こものであり、これによ
って過渡′ｆｌｊ流成分全成分電流成分から分離させる
ことが可能になるニ１′かりてなく、この微分値が零に
なったＩＬ’Ｉ Ｖ′Ｃ過、１隻現象が終Ｉｔ、ｌここ
とを示すため、過渡現象の終ｒ時を・決定することがで
きる。
ら、ロード抵抗１ｔの両端に発生した電圧の微分値は過
渡電流成分によって形成され／こものであり、これによ
って過渡′ｆｌｊ流成分全成分電流成分から分離させる
ことが可能になるニ１′かりてなく、この微分値が零に
なったＩＬ’Ｉ Ｖ′Ｃ過、１隻現象が終Ｉｔ、ｌここ
とを示すため、過渡現象の終ｒ時を・決定することがで
きる。
過渡現象終了後、手動型リレー回路３を作用させて、直
流定電圧電源を端子５，６がらはずして、電極Ｅｌ 、
Ｉ・ｒ２に対する電圧の印加を停止させると共に、端
子５，６の間を短絡させる。そして、その短絡により逆
方向に電流が流れる。この電光によりロード抵抗ＩＬの
両端に電圧が生じ、この電圧は微分装置ｉ’＋’により
微分処理され、その微分値は、試別の分極性の関数とし
て記録計４に記録される。
流定電圧電源を端子５，６がらはずして、電極Ｅｌ 、
Ｉ・ｒ２に対する電圧の印加を停止させると共に、端
子５，６の間を短絡させる。そして、その短絡により逆
方向に電流が流れる。この電光によりロード抵抗ＩＬの
両端に電圧が生じ、この電圧は微分装置ｉ’＋’により
微分処理され、その微分値は、試別の分極性の関数とし
て記録計４に記録される。
過渡現象のうち、分子の分極化により吸収されたエネル
ギーは・分子中に蓄積されるが、この蓄積されたエネル
ギーは、前記端子５，６の短絡により放出される。この
際の蓄積エネルギーの放出により生じる電流の流れは、
試別に対して電圧を印加し、エネルギー吸収を行わせた
場合の電流の方向とは逆方向になる。そして、この蓄積
エネルギーの放出による電流は、ロード抵抗Ｒの両端に
電圧として観測される。
ギーは・分子中に蓄積されるが、この蓄積されたエネル
ギーは、前記端子５，６の短絡により放出される。この
際の蓄積エネルギーの放出により生じる電流の流れは、
試別に対して電圧を印加し、エネルギー吸収を行わせた
場合の電流の方向とは逆方向になる。そして、この蓄積
エネルギーの放出による電流は、ロード抵抗Ｒの両端に
電圧として観測される。
本発明において、直流定電圧電源としては、一般に、１
０〜１０万ボルトの定電圧を発生するものが用いられ、
寸だローＩＳ抵抗Ｉｔとしては、通常１００〜１０メグ
オームのものが採用される。電極間の距離は、通常１〜
ｌ０ｃｍである。
０〜１０万ボルトの定電圧を発生するものが用いられ、
寸だローＩＳ抵抗Ｉｔとしては、通常１００〜１０メグ
オームのものが採用される。電極間の距離は、通常１〜
ｌ０ｃｍである。
本発明の方法は神々の低分子、１．Ｈ’ｐ；分子の翁機
又は無機の固体物質に対してＪｌ：？Ｊ川用＼れる。
又は無機の固体物質に対してＪｌ：？Ｊ川用＼れる。
次に、本発明による測定例を・；ｊ、ず。。
測定試料としてフェニル゛アルノ゛ヒト樹脂を用い、第
１図に示した装置を用いて測定を？−ｉ″っだ。この場
合、直流定圧電源による電圧として＋ （１０（ｌボル
ト、ロード抵抗１しとして１へ４Ω、電極間隔として１
０調、針状電極Ｂｌ’＋ ｌ＞２として白金製のものを
・用いた。
１図に示した装置を用いて測定を？−ｉ″っだ。この場
合、直流定圧電源による電圧として＋ （１０（ｌボル
ト、ロード抵抗１しとして１へ４Ω、電極間隔として１
０調、針状電極Ｂｌ’＋ ｌ＞２として白金製のものを
・用いた。
その測定結果を第２３図に／Ｊ、ず。第２図ｔ」、微分
曲線を示し、縦１１１＋はロー！５抵抗１（、の両ψ１
１．；に生じる電圧の微分値（Ｌ）であり、横１１’ｌ
ｌｌ ｉｔ： ｌ＋、１」間（【）を示ず３．波形Ａは
電圧印加時及び波形１３は上用−の印加を・停＋Ｌ Ｌ
、短絡した時のそれぞれの微分波形をノＪりず。
曲線を示し、縦１１１＋はロー！５抵抗１（、の両ψ１
１．；に生じる電圧の微分値（Ｌ）であり、横１１’ｌ
ｌｌ ｉｔ： ｌ＋、１」間（【）を示ず３．波形Ａは
電圧印加時及び波形１３は上用−の印加を・停＋Ｌ Ｌ
、短絡した時のそれぞれの微分波形をノＪりず。
この微分曲線によれば、′ｌＩＪ、ｌｌ二卵加’Ｂ」（
’ ｌ” ’ １ ）における微分信号の大きさ及び上
用コ印加後倣分イ１）号の最大ピークを示す捷での時間
（ｔ ；＋ ７ ＋＋）と、電圧の印加を停止し、短絡
時（１２以後）の倣分信弼の大きさ及び短絡後微分信号
の最大１″−りを示−Ｊ−までの時間（ｔｂ−ｔ２）は
、それぞれほぼ一致した値を示しており、それ故、この
試料に関して微分曲線で示される過渡現象は物質の可逆
現象を示し、そして、この現象は両電極間に電位差を与
えることによって発生ずるものであることから、物質の
分極性に起因するものであることがわかる。
’ ｌ” ’ １ ）における微分信号の大きさ及び上
用コ印加後倣分イ１）号の最大ピークを示す捷での時間
（ｔ ；＋ ７ ＋＋）と、電圧の印加を停止し、短絡
時（１２以後）の倣分信弼の大きさ及び短絡後微分信号
の最大１″−りを示−Ｊ−までの時間（ｔｂ−ｔ２）は
、それぞれほぼ一致した値を示しており、それ故、この
試料に関して微分曲線で示される過渡現象は物質の可逆
現象を示し、そして、この現象は両電極間に電位差を与
えることによって発生ずるものであることから、物質の
分極性に起因するものであることがわかる。
以上のことから、第２図において、ピークの高さから分
極性の大きさ、そしてピークに達す“る時間から分極に
要する時間を求めることができる。
極性の大きさ、そしてピークに達す“る時間から分極に
要する時間を求めることができる。
分極性の検討を行う方法としてミ従来から誘電率の測定
を行う方法が用いられている。この方法によれば、試料
に有える電場として交流の電場を用いて測定が行われて
いる。このため、位相差の小さい信号と位相差の大きい
信号とは互に重なり、観測の結果では合成位相として観
測されるようになり、正確な位相差を分離観測すること
は困難となる。
を行う方法が用いられている。この方法によれば、試料
に有える電場として交流の電場を用いて測定が行われて
いる。このため、位相差の小さい信号と位相差の大きい
信号とは互に重なり、観測の結果では合成位相として観
測されるようになり、正確な位相差を分離観測すること
は困難となる。
これに対し、本発明による測定法は、前記の誘電率の測
定とは異なり、単発発振法とも言われるものであること
から、スタートしてからの分極時間並びに消滅時間を直
接的に求めることができる。
定とは異なり、単発発振法とも言われるものであること
から、スタートしてからの分極時間並びに消滅時間を直
接的に求めることができる。
また、第２図に示され／こ微分向ｉｊｇｄにおいて、ピ
ークＡの積分値ＣＡ’Ｊとビ゛−り１３の積分値ＵＪと
を・求めて両者を比較し、両者の１的が一致すれば、両
者の現象は完全な可逆現象となり、この過渡現象は物質
の分極性にのみ起因、するととからこの微分曲線に示さ
れた測定結果は、絶縁破壊現象を伴わないことがわかる
。−ノブ１イ、′「分（１１’１’、 ＣＡ ］とイ、
１１、分値〔Ｂ〕との間に（（１−（１，＋ ’］ ）
が認められれし１：、この差は、過渡現象のうちの小用
逆現象、即ち、絶縁破壊成分に起因することがわかり、
絶縁破壊成分の、ｏラメータを求めることが１１」ゴ市
となる。
ークＡの積分値ＣＡ’Ｊとビ゛−り１３の積分値ＵＪと
を・求めて両者を比較し、両者の１的が一致すれば、両
者の現象は完全な可逆現象となり、この過渡現象は物質
の分極性にのみ起因、するととからこの微分曲線に示さ
れた測定結果は、絶縁破壊現象を伴わないことがわかる
。−ノブ１イ、′「分（１１’１’、 ＣＡ ］とイ、
１１、分値〔Ｂ〕との間に（（１−（１，＋ ’］ ）
が認められれし１：、この差は、過渡現象のうちの小用
逆現象、即ち、絶縁破壊成分に起因することがわかり、
絶縁破壊成分の、ｏラメータを求めることが１１」ゴ市
となる。
第１図は本発明の方法の実施のだめの測定装置系統図を
示し、第２図ＵＬ１本発明でイ（ｔられる微分曲線を示
す。 １・・・高入力微分装置Ｎｉ、２・・・ｌｌ′ｌ流定電
月０上用、３・・・手動型リレー回路、４ ・１．１録
、￥１、ｌ’：１．Ｉ・）２・接触電極、Ｒ・・ロード
抵抗。
示し、第２図ＵＬ１本発明でイ（ｔられる微分曲線を示
す。 １・・・高入力微分装置Ｎｉ、２・・・ｌｌ′ｌ流定電
月０上用、３・・・手動型リレー回路、４ ・１．１録
、￥１、ｌ’：１．Ｉ・）２・接触電極、Ｒ・・ロード
抵抗。
Claims (1)
- （１）２つの電極間に試料を接触させると共に、該電極
間にはロー１抵抗を介して直流定電圧を印加し、それに
よって試料及びロード抵抗に直流電流を流すと共に、該
ロード抵抗の両端に電圧を発生させ、この電圧を微分処
理し、得られた微分値を試料の分極性及び絶縁破壊性の
関数として測定し、次いでその測定終了後、該直流定電
圧の印加を停止させると共に、両電極間をロー１？抵抗
を介して短絡させ、その際に流れる電流によりロード抵
抗の両端に電圧を発生させ、この電圧を微分処理し、得
られた微分値を試料の分極性として測定することを特徴
とする物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15853382A JPS5946845A (ja) | 1982-09-11 | 1982-09-11 | 物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15853382A JPS5946845A (ja) | 1982-09-11 | 1982-09-11 | 物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946845A true JPS5946845A (ja) | 1984-03-16 |
| JPH0244015B2 JPH0244015B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=15673801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15853382A Granted JPS5946845A (ja) | 1982-09-11 | 1982-09-11 | 物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946845A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04504991A (ja) * | 1989-02-18 | 1992-09-03 | ホピ アンシュタルト | 梱包方法とその装置 |
| US6745544B2 (en) | 2000-04-04 | 2004-06-08 | Matsumoto System Engineering Co., Ltd. | Method of and apparatus for wrapping loadable objects |
| US7827766B2 (en) | 2001-10-24 | 2010-11-09 | Matsumoto System Engineering Co., Ltd. | Method and device for packaging load body |
| CN110672992A (zh) * | 2019-09-27 | 2020-01-10 | 清华大学 | 电极材料放电性能测试装置及方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153746A (en) * | 1980-04-30 | 1981-11-27 | Fujitsu Ltd | Measuring method for transient response characteristic |
-
1982
- 1982-09-11 JP JP15853382A patent/JPS5946845A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153746A (en) * | 1980-04-30 | 1981-11-27 | Fujitsu Ltd | Measuring method for transient response characteristic |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04504991A (ja) * | 1989-02-18 | 1992-09-03 | ホピ アンシュタルト | 梱包方法とその装置 |
| US6745544B2 (en) | 2000-04-04 | 2004-06-08 | Matsumoto System Engineering Co., Ltd. | Method of and apparatus for wrapping loadable objects |
| US7827766B2 (en) | 2001-10-24 | 2010-11-09 | Matsumoto System Engineering Co., Ltd. | Method and device for packaging load body |
| CN110672992A (zh) * | 2019-09-27 | 2020-01-10 | 清华大学 | 电极材料放电性能测试装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0244015B2 (ja) | 1990-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Cataliotti et al. | Metrological performances of voltage and current instrument transformers in harmonics measurements | |
| US4028615A (en) | Method of and device for testing hermetically enclosed reed contacts | |
| JPS5840703B2 (ja) | 非破壊絶縁試験装置 | |
| US9354192B2 (en) | Ferroelectric analyzing device and method for adjusting ferroelectric domain switching speed | |
| JPS5946845A (ja) | 物質の分極性及び絶縁破壊性の測定方法 | |
| US5359291A (en) | Method and apparatus for detecting short circuits | |
| JPH071289B2 (ja) | 分極の影響を除去した導電率測定方法及び装置 | |
| CN103424629B (zh) | 一种测试氧化石墨烯溶液阻抗的简易方法 | |
| DE2530723A1 (de) | Messeinrichtung zur messung von phasenverschiebungen an elektrischen vierpolen | |
| EP1098201A2 (de) | Zerstörungsfreie Prüfung von passiven Bauelementen | |
| US3500188A (en) | Method and means for measuring constriction resistance based on nonlinearity | |
| JPH01502391A (ja) | ケーブルの故障検出装置 | |
| CN114966382B (zh) | 气体绝缘组合电器机械电气联合试验系统 | |
| US4213087A (en) | Method and device for testing electrical conductor elements | |
| Moore | Membrane conductance changes in single nodes of Ranvier, measured by laser-induced temperature-jump experiments | |
| DE19716173A1 (de) | Prüfung des Leckstroms bei planaren Lambdasonden | |
| Bishop | The reactance of nerve and the effect upon it of electrical currents | |
| CA1120545A (en) | Method and device for testing electrical conductor elements | |
| US3566259A (en) | Instrument for measuring conductance or capacitance of an electrical load during operation | |
| Kumaravelu et al. | Partial discharges during impulse tests | |
| JPS61110064A (ja) | 回路定数測定器 | |
| US3644187A (en) | Instrument for measuring conductance or capacitance of an electrical load during operation | |
| JPS6259260B2 (ja) | ||
| US2481655A (en) | Apparatus for locating faults in cables | |
| JPS6319809Y2 (ja) |