JPS59501640A - デジタルシステムのための診断回路 - Google Patents
デジタルシステムのための診断回路Info
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- JPS59501640A JPS59501640A JP58503314A JP50331483A JPS59501640A JP S59501640 A JPS59501640 A JP S59501640A JP 58503314 A JP58503314 A JP 58503314A JP 50331483 A JP50331483 A JP 50331483A JP S59501640 A JPS59501640 A JP S59501640A
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Classifications
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- G—PHYSICS
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318555—Control logic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
デジタルシステムのための診断回路
発明の背景
発明の分野
この発明は、デジタルシステムにおける故障を診断するために有用な電気回路に
関し、より特定的には、直列走査手法によって故障を診断するための電気回路に
関するものれるシステムによって一般化される。論理ブロックは、複雑な機能を
実行する多数の論理ゲートから構成され、並列データの組合わせおよび制御信号
に基づいて動作する。これらの信号は、特定の論理ブロックに入っていき、転送
され、さらにこの論理ブロックを離れて次の論理ブロックへと進む。このデータ
は、システムの、要求された出力データとしてそれらが存在するまで、システム
の論理ブロックを介して移っていく。
電気的制御およびデータ信号のための信号経路は、これらの論理ブロックを接続
する。レジスタは、通常これらの信号経路に位置し、1つの論理ブロックからの
デジタル信号を一時的に保持し、さらに適切な時間において、そのデータを次の
論理ブロックへと解放する。このデータはまた、“°上流(upstream)
”の論理ブロックへのフィードバックとして解放される。レジスタは、システ
ムを介するデータの動きを、適切な対等関係調整する。
これらのシステムにおいて、故障を検査し、かつ診断することが問題となる。も
しも、システム内のどこかのポイントでに故障が発生し、かつシステムの入力お
よび出力ボートのみが検査に利用できるならば、そのときは、故障箇所の分離は
非常に困難となる。たとえば、とのテスト入力データも、そのデータがブロック
3における論理回路をテストするために使用され得る前に、論理ブロック1およ
び2を通過しなければならない。これらの、初めの方の論理ブロックにおける故
障は、このデータを、後の方の論理ブロックをテストするために使用できなくす
る。故障箇所から′″上流″に位置する論理回路が正確に機能したときでさえ、
テスト出力データは、介在する故障によって破壊される。このタイプのシステム
構成の欠点は、ハードウェアの故障が検出されるが、しかしその発生位置を判断
できないことである。
もしも中間テストポイントが利用できれば、故障箇所の分離は可能であり、種々
の設計が提案されている。これらの中間テストポイントを設けるために用いられ
る1つの手法は、直列走査手法である。上述の、一般化されたデジタルシステム
は、第1図に示されている。このシステムは、直列走査手法が使用可能なように
修正されている。一般化されたシステムにおいて、データおよびi制御信号は、
信号経路11に沿って、論理ブロックから論理ブロックへと勤いていく。シフト
レジスタ12.16.20は、信号の移動のタイミングを維持している。しかし
ながら、これらのレジスタは、それらが2つの態様で動作し得るように修正され
ている。通常のモードにおいて、これらのレジスタは、1つの論理ブロックから
他方の論理ブロックへと並列に信号を通過させる。診断モードにおいては、これ
らのレジスタは、直列シフトレジスタとして動作し、それによってテストデータ
は、そのレジスタへとシフトされる。その後、通常のモードにおけるレジスタは
、テストデータを、それに基づいて動作されるべき論理ブロックへと解放する。
このテストデータはその後、これらのレジスタによって読出され、故障を検査す
るためのテスト出力データを受取る。
たとえば、第1図の論理ブロック2は、テストデータをレジスタ12へ直列導入
すること、論理ブロック2を介してデータの通過させること、およびレジスタ1
6によってテストデータの直列的に除去することによって検査される。
直列走査手法の1つの変化例は、連続するレジスタの直列入力ラインに接続され
る直列出力ラインを有している。
テストデータのストリングは、これらのレジスタの中へと走査され、これらのレ
ジスタはその後、セットされて通常のモードで動作する。レジスタからのテスト
データに基づいて論理ブロックが動作した後に、そのテストデータは、ストリン
グにおいて、走査されて出力され、個々の論理ブロックに故障が発生しているか
どうかを判断する。直列走査手法の他の変化例もまた使用可能である。これらの
変化例のすべては、システムを修復し、またはデバッグするために必要なテスト
位置の相互影響の数を減少させ、これは費用の減少につながっている。
しかしながら、第1図の簡単な直列走査レジスタ回路にはいくつかの問題点があ
り、その1つは、ブOセッサのマイクロ命令レジスタのような、システムの制御
経路にレジスタがある場合に発生する。そのようなレジスタにおいては、一定の
ヒツト位置における一定のデータの組合わせが禁止される。この禁止された状態
は、データ情報が、直列シフトレジスタへまたは直列シフトレジスタから走査さ
れるにつれて、妨害される。
たとえば、マイクロ命令レジスタにおける典型的なフィールドは、一連の能動化
ビットを含み、バッファをバス上に能動化する。もしも直列テス[〜データが、
このマイクロ命令レジスタを介してシフトされると、通常の実行においては不適
当な状態がもたらされる(同時に、1つのビットのみがlowであり、または能
動化され得るというように、制限が制御フローにもたらされる)。この違法な組
合わせは、デバイスに必要以上の圧迫を与え、さらに関連する回路に深刻な損傷
を与えることになる。
他の問題点は、ラッチされたシステムおよび非同期システムにおいてもたらされ
る。非同期システムにおいて、もしも、シフトレジスタの出力の1つ、またはシ
フトレジスタの出力の論理的組合わせが、メモリまたは入力/出力デバイスなど
のような、非同期(クロック制御されていない)サブシステムへの信号を発生す
るために使用されると、レジスタがテスト動作のためにシフトされたときに、サ
ブシステムに対する望ましくないアクセスを生じる。これ(よ、システム状態の
予測できない中断をもたらし、故障箇所の分離をさらに困難なものにする。
ラッチされたシステムにおいて、マイクロ命令レジスタとして使用され、そのビ
ット出力、またはその論理的組合わせを有し、システムにおけるラッチをセット
し、リセットし、またはオープンにするレジスタもまた、問題を引き起こす。レ
ジスタを介してシフトされたテストデータは、システムの状態を乱す。この種の
問題点は、ラッチ内容が再度確立することができないとぎには、特に深刻であり
、それ以上のテストを事実上不可能にする。
この発明は、これらの問題点を解決し、または実質的に緩和し、さらに、簡単な
直列走査レジスタを実質的に改良するものである。デジタルシステムの完全性を
テストするために、回路が設けられ、それによってデータが信号経路へ直列に与
えられ、かつ取り除かれる。この回路は、費用を節減するために、最少限の制御
ラインしか有していないが、しかしながら適応性のある広範囲の制til1機能
は保有している。
この発明は、制御手段を含むデジタル信号経路のための回路を提供し、;第1の
手段は、信号経路において接続され、経路の信号を選択的に保持するために制御
手段に応答し:そして第2の手段は、第1の手段に接続され、さらに、第1の手
段からの信号を選択的に保持しかつ信号を第1の手段に解放するために制御手段
に応答し、第2の手段は、デジタル信号を選択的に受取り、選択的に送信するた
めの入力−出力手段を有し、これによって、デジタル信号は、入力−出力手段を
介して信号経路に挿入され、そして入力−出力手段を介して信号経路から取り除
かれる。
この発明はまた、デジタル信号のデジタル信号経路への選択的な導入およびデジ
タル信号のデジタル信号経路からの選択的な除去のための回路を提供し、この回
路は、マルチプレクサと、マルチプレクサに接続されてマルチプレクサからのデ
ジタル信号を保持する第1の信号記憶手段と、マルチプレクサおよび第1の信号
記憶手段に接続されて、第1の信号記憶手段からデジタル信号を選択的に保持し
、さらにマルチプレクサにデジタル信号を与える第2の信号記憶手段とを含み、
マルチプレクサは、デジタル信号経路および第2の信号記憶手段から、制御可能
な態様で信号を選択し、シフトレジスタはさらに、直列人力−出力端末手段へと
接続され、デジタル信号を選択的に導入しそして除去する。
この回路はさらに、マルチプレクサによるデジタル信号の制御可能な選択と、前
記第2の信号記憶手段によるデジタル信号の保持および供給、または導入および
除去の選択が、単一の制御ライン上の制御信号によってなされるように設計され
ている。さらに、入力−出力端末手段は、第1の端末が選択的に、入力端末であ
り、あるいは、制御ライン上の制御信号に応答する制御端末である、第1および
第2の端末である。
図面の簡単な説明
この発明の理解は、明細書における以下の詳細な説明を熟読し、以下の図面を参
照することによって成し遂げられるであろう。
第1図は、システムのエラーを診断するための先行技術による直列走査レジスタ
を有する一般化されたデジタルシステムを示す図である。
第2A図は、この発明の構成を示す図であり;第2B図は、第2A図に示された
システムの機能面の状態を示す表である。
第3図は、この発明の特定の実施例の構成を示す図である。
第4A図は、第3図に用いられる制御論理ブロックを詳細に示す図であり;第4
B図は、第4A図に示された制御論理ブロックの状態を示す表である。
第5図は、第3図に示される状態レジスタブロックの詳細を示す図である。
第6図は、第3図に示される診断レジスタブロックの詳細を示す図である。
111几1
この発明は、2つのレジスタを有しており、1つは、デジタルシステムにおける
データ信号経路の信号を保持する状態レジスタであり、さらに他方は、外部テス
ト装置に接続され、テスh f−夕をロードし、そしてアンロードする診断レジ
スタである。これらの2つのレジスタは、最少限の制御ラインが、2つのレジス
タの適正な調整のために用いられるように、互いに結合されている。信号の内容
は4一方のレジスタから他方のレジスタへと転送され、そして反対の方向でも転
送される。さらに、これらの信号は、診断レジスタに直列に導入され、さらに取
り除かれる。これらの機能は、1つの全時間IIJIXlライン、2つのクロッ
クライン、および2つの直列入力および出力ラインによって達成される。
状態レジスタおよび診断レジスタの提供は、単純な直列走査手法に関する問題点
の発生を防ぐ。もちろん、この発明はレジスタに制限されることはない。ラッチ
のような他の形式の信号記憶回路も用いられ得る。
第2A図はこの発明を示している。レジスタ24は、第1図に示された論理ブロ
ック間の信号経路11上におけるデジタル信号を一時的に保持する。デジタル信
号経路21は、入力信号として矢印によって示されている。この発明は、信号経
路25の分岐によって示されるように、その内容を並列にロードすることによっ
て状態レジスタ24の内容を保持することができる個別のシフトレジスタ26を
提供する。シフトレジスタ26の内容は、経路27に沿って、状態レジスタ24
へ再度ロードされて戻される。制御モードライン28上の制御信号によるマルチ
プレクサ22は、経路21の、または経路27の信号のうちいずれが選択された
方を選択する。
シフトレジスタ26はまた、直列入力ライン31を介して信号情報を直列的にロ
ードすることができ、さらに直列出力ライン32によって情報を直列的にアンロ
ードすることができる。双方のレジスタは、り0ツクによって制御されるが、状
態レジスタ24は、ライン33を介するシステムクロックによって制御され、そ
してシフトレジスタ26は、ライン29を介する診断クロックによって制御され
る。
双方のレジスタ24および26は、クロックパルス信号の立上がりにおいて動作
する。
第2B図は、第2A図に示された回路の機能面の動作を示している。ライン28
上の制御モード信号が’low”のときに、回路は“シフト′°モードとなり、
このため、クイーン29上の診断り0ツクからの立上がりクロックパルスによっ
て、診断レジスタ26は、ライン31に沿って信号データを受取り、そしてライ
ン32に沿って、1つの立上がりクロックパルスずつその内容をシフトアウトす
る。このように、第2B図の表における直列入力は、入力として“I ”で示さ
れ、そして直列出力は、出力として“O11で示される。これを、動作番号1と
する。依然”low”である制御モードと、システムクロックの立上がりクロッ
クパルスとによって、状態レジスタ24は、データ経路21および23によって
示されるように、システムのデータ信号をロードする。制御モード信号゛L′′
すなわち、lowを有するマルチプレクサ22は、経路21の信号を選択する。
制御モード信号が、high、すなわち゛ロード″モードになったときに、直列
入力ライン31は、制御ラインとなる。
動作2において、直列入力ラインはlowとなり、さらに、診断クロックからの
立上がりクロック信号に基づいて、データ経路25に沿って、シフトレジス26
は、状態レジスタ24の内容によって並列にロードされる。同一の制御信号およ
び立上がりシステムクロック信号とによって、動作番号5が生じる。状態レジス
タ24は、データ経路27を介して、診断レジスタ26のデータ内容によってロ
ードされる。マルチプレクサ22は、経路27を選択する。
第2B図は、上向きを示す矢印、すなわちクロック信号の立上がりパルスによる
特定の動作のタイミングを示していることに注意すべきである。他方のクロック
は、常に“”として示される。これは、回路のタイミングをクリアし規則正しく
維持するように、第1のクロックの立上がりパルスの持続期間中に、他のクロッ
ク信号が安定した信号を有していることを示している。動作番@3および6は、
そこでは制御モード信号がH″′、すなわちhighであり、さらに直列入力ラ
イン31もまたhighであるが、任意の動作であり、かつ以下のように示され
ている。たとえば、第3図に示された実施例において、動作6は、それによって
いかなる動作も起こらない、゛保持″動作であるように特に選択される。制御ラ
インの数が限られているにもかかわらず、回路は、回路に対する充分な制御状態
を有しており、これによってその機能を実行し、デジタル信号経路において信号
を導入させ、さらに除去させることができる。
この回路の他の特徴は、ライン32上の直列出力信号が、そのラインが制御ライ
ンとして使用されたときに、ライン31上の直列入力信号の後に続くということ
である。ライン32の信号が、high、またはlowであるときに、ライン3
1の信号は、各々旧gh1またはlowとなる。これは、有益な特徴である。多
くの場合に、これらの診断回路のいくつかを接続することは有用であり、これに
よって、直列出力ライン32は、他方の診断回路の直列入力ライン31へと接続
され、さらにこの診断回路は、第3の診断回路の入力ライン31等に接続された
固有の直列出力ライン32を有している。これは、上述のように、診断データを
、種々の診断シフトレジスタ26の中へと入力し、かつその中から出力するよう
に循環させる。制御モード信号が、これらの回路のすべてに対して、highと
なるとき、第1の診断回路の入力ライン31は、他の診断回路のすべてを制御す
る。
この発明の1つの詳細な実施例が第3図において示されており、さらに個々の構
成要素のブロックが、第4A図、第5図、および第6図において描かれている。
第3図において、状態レジスタ50は、第2A図に示されるマルチプレクサを含
んでいる。状態レジスタ50は、これによって、デジタルシステムのデータ経路
を表わしている経路71の信号を受取ることができる。診断レジスタ60は、経
路73に沿って、状態レジスタの内容を受取り、さらに、経路74に沿って順番
に状態レジスタ50をO−ドする。第3図に示されるように、これらの並列デー
タ経路は、n+1個の信号ラインを含む幅を有し、これら経路は、Be −BN
として示される入力システム信号と、Yo−YNとして示される、デジタルシス
テムにおける次の論理ブロックへの出力信号と、Ao−ANとして示される、診
断レジスタ60から状態レジスタへと戻る信号とを含む。この回路は、先に論じ
た態様と、同一の態様において機能する。制御論理ブロック40は、内部制御信
号を発生し、回路にとって有効な、望まれる機能のすべてを実行する。
制御論即ブロック40は、第4A図において詳細に描かれている。制御モードラ
イン75および直列データ人力/制御ライン76に対する、入力端子を介する制
御信号は、S選択ライン84、直列入力ライン83、およびD選択ライン80−
82に対する制御信号を発生する。さらに、ブロック40は、ライン84に沿っ
て、診断レジスタブロック60から直列出力信号を受取る。
第4B図は、制御ブロック40によって発生した、S選択およびD選択0−2の
ための制御信号の表である。D選択ラインの1つだけが、一度だけ’H”、すな
わちhigl+となることがその表から知ることができる。D選択Q high
は、パシフト″モードが選択されたことを示す。D選択1highは、゛ロード
″モードに対応し、さらにD選択2highは、“″保持”モードに対応し、そ
こではいかなる変化も起こらない。ライン83上の直列入力信号は、信号り選択
O1すなわち制御モード信号の補数と同じなので、含まれてはいない。したがっ
て、インバータ41.42およびANDゲート43.44は、診断レジスタブロ
ック60および状態レジスタブロック50のための制御信号を発生する。
fli制御信号に応答して、論理ブロック40はまた、直列出力信号またはライ
ン76上の信号のいずれがライン79上へと送られるべきか選択する。ライン7
5がlowであり、これによって診断回路が゛シフト″′モードにあるときに、
ANDゲート45は、ライン84上の信号をORゲート47へと入力させ、これ
は直列データ出力ライン79上の出力信号として現われる。制御モード信号がh
ighであるとき、ANDゲート45はライン84上の信号をもはや通過させて
、代わりに、ANDゲート46によって、ライン76上の信号が、直列データ出
力ライン79へのORゲートに対して選択される。この態様で、ライン76が制
御ラインとして用いられるときに、ライシフ6入力端末信号は、ライン79出力
端末を介して通過する。
状態レジスタブロック50の詳細な説明は、第5図に示されている。ブロック5
0は、ANDゲート51および52と、ORゲート53とによって実行される、
マルチプレクサ機能を有している。S選択ライン84上の、10W信号は、制御
モードに対するhigh信号を表わし、ANDゲート51を能動化し、これによ
って信号へ〇−ΔNが選択される。ライン84上の、high信号は、制御モー
ドに対する10W信号に対応し、データ経路入力端末を介して信号So −BN
を選択する。ORゲート53を介して選択された信号は、Dフリップフロップ5
4へと入る。これらのDフリップフロップ54は、ライン78、すなわちシステ
ムクロックラインの入力端末を介する、システムのクロック信号源からの正の立
上がりクロックパルスによってトリガされ、さらに信号はその後、記憶される。
これらの記憶された値は、Yo−YNとして、データ経路出力端末へのデータ出
力経路72上に現われる。
第6図は、診断レジスタブロック60の細部を示す図であり、これは診断クロッ
クライン77、D選択ライン80−82、および直列入力ライン83に沿って入
力信号を受取る。上述のように、D選択ラインの1つのみが、一度にhighと
なり得る。D選択ライン80が旧ghのとき、すなわち゛シフト″モードに対応
するとき、ANDゲート61は、ORゲート66を介してDフリップフロップ6
4へ、ライン83上の直列入力信号を選択する。これは、論理ゲートに対しては
真であり、O番目のビット位置に対するフリップフロップである。このゲートお
よびビット位置の1ないしnに対するノリツブフロップは、ANDゲート61に
よって、フィードバックライン65上の先行するフリップ70ツブ64の出力信
号を選択する。診断クロックパルスの立上がりがライン77上で生じるときに、
シフトが起こる。
最後のフリップフロップ64によって記憶された信号へ〇が直列出力ライン84
上に現われる。ライン77の入力端末を介する、診断回路のための、クロック信
号源からの立上がりクロックパルスによって、フリップフロップ60はその値を
記憶する。D選択1ライン81上の旧9h信号は、Dフリップロップ64によっ
てラッチされる入力信号として、データ経路72の値Yo−YNを選択する。ラ
イン82上のhigh信号は、ANDゲート63が能動化され、かつフリップフ
ロップ64における信号がフィードバックライン65を介して戻されるので、単
にフリップフロップ64の値を保持するだけである。
それゆえに、この発明は、好ましい実施例を参照することによって特定的に示さ
れかつ説明されてきたが、一方で、この発明の精神から離れることなく、形状お
よび細部における変化がなされ得るというとは当業者によって理解されるべきで
ある。それゆえに、添付された請求の範囲によってのみ制限される範囲内で、こ
の発明について排他的権利が認められることを要望するものである。
FIG、 1
ぐ
国際調査報告
Claims (1)
- 1. デジタル信号経路のための回路であって、制御手段と、 前記信号経路において接続され、かつ前記制御手段に応答し、前記経路の信号を 選択的に保持する第1の手段と、前記第1の手段に接続され、かつ前記制御手段 に応答して、前記第1の手段からの信号を選択的に保持し、前記第1の手段へ信 号を選択的に解敢する第2の手段とを含み、前記第2の手段は、入力−出力手段 を有し、デジタル信号を選択的に受取り、かつデジタル信号を選択的に送信し、 これによって、デジタル信号が、前記入力−出力手段を介して、前記信号経路へ 挿入され、かつ前記信号経路から取り除かれる、回路。 2、 前記第1の手段は、信号が第1の手段および第2の手段の間で並列に転送 されるような態様で、前記第2の手段に接続され、さらに前記入力−出力手段を 介して信号が直列に転送される、請求の範囲第1項記載の回路。 3、 前記制御手段は、前記第1の手段および前記第2の手段に対する選択され た動作を制御信号が決定する、第1の制御l端末を含む、請求の範囲第2項記載 の回路。 4、 前記入力−出力手段は、入力端末および出力端末を含み、前記入力端末は 、前記第1の制御端末を介する所定の制御信号によって第2の制御端末となり、 これによって前記回路動作の数が増大される、請求の範囲第3項記載の回路。 5、 前記所定の制御信号によって、前記出力端末は、前記出力端末からの信号 が前記入力端末への信号に応答する態様で、前記入力端末に結合される、請求の 範囲第4項記載の回路。 6、 デジタル信号経路にデジタル信号を選択的に導入し、かつデジタル信号経 路からデジタル信号を選択的に取り去るための回路であって、 マルチプレタブ手段と、 前記マルチプレクサ手段に接続され、前記マルチプレクサからのデジタル信号を 保持する、第1の信号記憶手段と、前記マルチプレクサ手段および前記第1の信 号記憶手段に接続され、前記第1のレジスタ手段からのデジタル信号を選択的に 保持し、さらに前記マルチプレクサ手段にデジタル信号を与える第2の信号記憶 手段とを備え、前記マルチプレクサ手段は、前記デジタル信号経路および前記第 2の信号記憶手段からの信号を制御可能な態様で選択し、 前記第2の信号記憶手段はさらに、直列人力−出力端末に接続されて、デジタル 信号を選択的に導入し、かつ取り去る、回路。 7、 前記マルチプレクサ手段によるデジタル信号の制御可能な選択と、デジタ ル信号の保持および供給の選択、または前記第2の信号記憶手段によるデジタル 信号の導入および除去の選択とは、単一制御ライン上の制御信号によって行なわ れる、請求の範囲第6項記載の回路。 8、 前記直列人力−出力端末手段は、入力端末および出力端末を含み、前記入 力端末は選択的に入力端末または制御端末であり、前記制御ライン上の制御信号 に応答する、請求の範囲第7項記載の回路。 9、 前記入力端末は選択的に制御端末であり、前記出力端末は、前記出力端末 からの信号が前記入力端末への信号に応答する態様で、前記入力端末に結合され た、請求の範囲第8項記載の回路。 10、前記第1の信号記憶手段は、第1のレジスタを含み、前記第2の信号記憶 手段は、シフトレジスタを含む、請求の範囲第9項記載の回路。 11、 前記第1のレジスタは、第1のタイミング手段に応答し、かつ前記シフ トレジスタは、第2のタイミング手段に応答する、請求の範囲第10項記載の回 路。 12、 デジタル信号経路にデジタル信号を導入し、かつデジタル信号経路から デジタル信号を取り去るための回路であって、 前記経路信号を受取るための複数の入力端末と、前記経路信号を送出するための 複数の出力端末と、信号を前記信号経路に導入させるための直列入力端末と、信 号を前記経路から除去させるための直列出力端末と、前記直列入力端末への信号 の移動および前記直列出力端末からの信号の移動に対する第1の信号に応答し、 さらに、前記直列入力端末が第2の制御端末となる第2の信号に応答する、第1 の制御端末とを有する、回路。 13、 前記第2の信号に応答して、前記直列出力端末は、前記直列入力端末に 結合され、これによって、前記直列出力端末を介する前記信号が、前記直列入力 端末を介する信号に対応する、請求の範囲第12項記載の回路。 14、 デジタル信号経路に信号を導入し、かつデジタル信号経路から信号を取 り去るための回路であって、前記デジタル信号経路に結合された第1の信号記憶 手段と、 前記第1の信号記憶手段に結合された第2の信号記憶手段と、 制御モード端末と、直列入力端末と、直列出力端末とを有し、前記第1および第 2の信号記憶手段に結合される制御論理手段とを備え、それによって前記制御モ ード端末上における第1の信号が、前記直列入力および出力端末を介して信号を 導入しかつ除去し、さらに、前記第1の信号記憶手段に信号経路の信号を転送す る、回路。 15、 前記制御モード端末上の第2の信号によって、前記直列入力端末が制御 端末として動作し、かつ前記直列入力端末上の第1の信号が、前記第1および第 2の信号記憶手段の間で信号を並列に転送させる、請求の範囲第14項記載の回 路。 16、 前記直列入力端末が制御端末として機能するときに、前記直列出力端末 が前記直列入力端末に結合され、これによって前記直列出力端末信号が、前記直 列入力端末信号に応答する、請求の範囲第15項記載の回路。 17、 前記第1の信号記憶手段に結合され、第1クロツク信号を受信したとき に、信号が前記第2の信号記憶手段から前記第1の信号記憶手段に転送される第 1のクロック端末と、 前記第2の信号記憶手段に結合され、これよって、第2のクロック信号を受信し たときに、信号が前記第1の信号記憶手段から前記第2の信号記憶手段に転送さ れる第2のクロック端末とを備えた、請求の範囲第16項記載の回路。 18、 前記第1の信号記憶手段は、レジスタを含み、前記第2の信号記憶手段 は、シフトレジスタを含む、請求の範囲第17項記載の回路。
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| US5535331A (en) * | 1987-09-04 | 1996-07-09 | Texas Instruments Incorporated | Processor condition sensing circuits, systems and methods |
| US5001712A (en) * | 1988-10-17 | 1991-03-19 | Unisys Corporation | Diagnostic error injection for a synchronous bus system |
| US5099481A (en) * | 1989-02-28 | 1992-03-24 | Integrated Device Technology, Inc. | Registered RAM array with parallel and serial interface |
| US5153882A (en) * | 1990-03-29 | 1992-10-06 | National Semiconductor Corporation | Serial scan diagnostics apparatus and method for a memory device |
| IL96808A (en) * | 1990-04-18 | 1996-03-31 | Rambus Inc | Introductory / Origin Circuit Agreed Using High-Performance Brokerage |
| US5528600A (en) * | 1991-01-28 | 1996-06-18 | Actel Corporation | Testability circuits for logic arrays |
| US5448525A (en) * | 1994-03-10 | 1995-09-05 | Intel Corporation | Apparatus for configuring a subset of an integrated circuit having boundary scan circuitry connected in series and a method thereof |
| JP2768910B2 (ja) * | 1995-02-27 | 1998-06-25 | 日本モトローラ株式会社 | 半導体集積装置におけるスキャンテスト回路 |
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| US4241307A (en) * | 1978-08-18 | 1980-12-23 | International Business Machines Corporation | Module interconnection testing scheme |
| US4317200A (en) * | 1978-10-20 | 1982-02-23 | Vlsi Technology Research Association | Method and device for testing a sequential circuit divided into a plurality of partitions |
| US4244048A (en) * | 1978-12-29 | 1981-01-06 | International Business Machines Corporation | Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits |
-
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